JP2020061608A - 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム - Google Patents
画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020061608A JP2020061608A JP2018189915A JP2018189915A JP2020061608A JP 2020061608 A JP2020061608 A JP 2020061608A JP 2018189915 A JP2018189915 A JP 2018189915A JP 2018189915 A JP2018189915 A JP 2018189915A JP 2020061608 A JP2020061608 A JP 2020061608A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- image inspection
- abnormality
- exclusion
- comparison
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 114
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 109
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 100
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 83
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 claims abstract description 59
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 92
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 77
- 241000254158 Lampyridae Species 0.000 claims description 25
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 16
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J29/00—Details of, or accessories for, typewriters or selective printing mechanisms not otherwise provided for
- B41J29/38—Drives, motors, controls or automatic cut-off devices for the entire printing mechanism
- B41J29/393—Devices for controlling or analysing the entire machine ; Controlling or analysing mechanical parameters involving printing of test patterns
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J3/00—Typewriters or selective printing or marking mechanisms characterised by the purpose for which they are constructed
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/70—Denoising; Smoothing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/11—Region-based segmentation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/12—Edge-based segmentation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/13—Edge detection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/136—Segmentation; Edge detection involving thresholding
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/00002—Diagnosis, testing or measuring; Detecting, analysing or monitoring not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/00002—Diagnosis, testing or measuring; Detecting, analysing or monitoring not otherwise provided for
- H04N1/00005—Diagnosis, testing or measuring; Detecting, analysing or monitoring not otherwise provided for relating to image data
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N2021/8909—Scan signal processing specially adapted for inspection of running sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N2021/8917—Paper, also ondulated
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2200/00—Indexing scheme for image data processing or generation, in general
- G06T2200/28—Indexing scheme for image data processing or generation, in general involving image processing hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10004—Still image; Photographic image
- G06T2207/10008—Still image; Photographic image from scanner, fax or copier
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30144—Printing quality
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30168—Image quality inspection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Accessory Devices And Overall Control Thereof (AREA)
- Cleaning In Electrography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
Description
11 コントローラ
12 画像形成装置
13 通信ネットワーク
20 画像検査装置
21 制御部
21a CPU
21b ROM
21c RAM
22 記憶部
23 ネットワークI/F部
24 表示操作部
25 給紙部
26 画像読み取り部
27 排紙部
28 除外処理部
29 フィルタ処理部
30 比較処理部
31 異常箇所検出部
Claims (21)
- 印刷ジョブに基づいて記録材に形成された元画像を読み取って、読み取り画像を生成する画像読み取り部と、前記読み取り画像を解析して、画像検査を行う制御部と、を備える画像検査装置において、
前記制御部は、
前記画像読み取り部から前記読み取り画像を取得し、当該読み取り画像からエッジを検出し、前記エッジの近傍領域を前記画像検査の対象から除外する除外処理部と、
除外処理後の前記読み取り画像に所定のフィルタ処理を行って、第1のリファレンス画像を生成するフィルタ処理部と、
除外処理後の前記読み取り画像と前記第1のリファレンス画像とを比較して、第1の比較画像を生成する比較処理部と、
予め定めた閾値を用いて前記第1の比較画像を2値化して、特定の異常が発生した箇所を検出し、検出結果を出力する異常箇所検出部と、を備える、
ことを特徴とする画像検査装置。 - 前記除外処理部は、前記元画像からエッジを検出し、前記エッジの近傍領域を前記画像検査の対象から除外し、
前記フィルタ処理部は、除外処理後の前記元画像に前記所定のフィルタ処理を行って、第2のリファレンス画像を生成し、
前記比較処理部は、除外処理後の前記元画像と前記第2のリファレンス画像とを比較して、第2の比較画像を生成し、
前記異常箇所検出部は、前記第2の比較画像に基づいて設定した閾値を用いて前記第1の比較画像を2値化して、前記特定の異常が発生した箇所を検出する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像検査装置。 - 前記異常箇所検出部は、前記箇所毎に領域を分離し、各々の前記領域の面積を算出し、前記面積が前記特定の異常に応じて定められる閾値から外れる箇所を前記検出結果から除外する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像検査装置。 - 前記異常箇所検出部は、前記箇所毎に領域を分離し、各々の前記領域の円形度を算出し、前記円形度が前記特定の異常に応じて定められる閾値から外れる箇所を前記検出結果から除外する、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一に記載の画像検査装置。 - 前記除外処理部は、前記元画像に前記特定の異常と同等の周波数成分を有するコンテンツが含まれる場合、当該コンテンツを前記画像検査の対象から除外する、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一に記載の画像検査装置。 - 前記所定のフィルタ処理は、前記特定の異常をフィルタリングする処理である、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一に記載の画像検査装置。 - 前記特定の異常は、ホタル現象に基づく異常である、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一に記載の画像検査装置。 - 印刷ジョブに基づいて記録材に形成された元画像を読み取って、読み取り画像を生成する画像読み取り部と、前記読み取り画像を解析して、画像検査を行う制御部と、を備える画像検査装置における画像検査方法であって、
前記画像読み取り部から前記読み取り画像を取得し、当該読み取り画像からエッジを検出し、前記エッジの近傍領域を前記画像検査の対象から除外する除外処理と、
除外処理後の前記読み取り画像に所定のフィルタ処理を行って、第1のリファレンス画像を生成するフィルタ処理と、
除外処理後の前記読み取り画像と前記第1のリファレンス画像とを比較して、第1の比較画像を生成する比較処理と、
予め定めた閾値を用いて前記第1の比較画像を2値化して、特定の異常が発生した箇所を検出し、検出結果を出力する異常箇所検出処理と、を実行する、
ことを特徴とする画像検査方法。 - 前記除外処理では、前記元画像からエッジを検出し、前記エッジの近傍領域を前記画像検査の対象から除外し、
前記フィルタ処理では、除外処理後の前記元画像に前記所定のフィルタ処理を行って、第2のリファレンス画像を生成し、
前記比較処理では、除外処理後の前記元画像と前記第2のリファレンス画像とを比較して、第2の比較画像を生成し、
前記異常箇所検出処理では、前記第2の比較画像に基づいて設定した閾値を用いて前記第1の比較画像を2値化して、前記特定の異常が発生した箇所を検出する、
ことを特徴とする請求項8に記載の画像検査方法。 - 前記異常箇所検出処理では、前記箇所毎に領域を分離し、各々の前記領域の面積を算出し、前記面積が前記特定の異常に応じて定められる閾値から外れる箇所を前記検出結果から除外する、
ことを特徴とする請求項8又は9に記載の画像検査方法。 - 前記異常箇所検出処理では、前記箇所毎に領域を分離し、各々の前記領域の円形度を算出し、前記円形度が前記特定の異常に応じて定められる閾値から外れる箇所を前記検出結果から除外する、
ことを特徴とする請求項8乃至10のいずれか一に記載の画像検査方法。 - 前記除外処理では、前記元画像に前記特定の異常と同等の周波数成分を有するコンテンツが含まれる場合、当該コンテンツを前記画像検査の対象から除外する、
ことを特徴とする請求項8乃至11のいずれか一に記載の画像検査方法。 - 前記所定のフィルタ処理は、前記特定の異常をフィルタリングする処理である、
ことを特徴とする請求項8乃至12のいずれか一に記載の画像検査方法。 - 前記特定の異常は、ホタル現象に基づく異常である、
ことを特徴とする請求項8乃至13のいずれか一に記載の画像検査方法。 - 印刷ジョブに基づいて記録材に形成された元画像を読み取って、読み取り画像を生成する画像読み取り部と、前記読み取り画像を解析して、画像検査を行う制御部と、を備える画像検査装置で動作する画像検査プログラムであって、
前記制御部に、
前記画像読み取り部から前記読み取り画像を取得し、当該読み取り画像からエッジを検出し、前記エッジの近傍領域を前記画像検査の対象から除外する除外処理、
除外処理後の前記読み取り画像に所定のフィルタ処理を行って、第1のリファレンス画像を生成するフィルタ処理、
除外処理後の前記読み取り画像と前記第1のリファレンス画像とを比較して、第1の比較画像を生成する比較処理、
予め定めた閾値を用いて前記第1の比較画像を2値化して、特定の異常が発生した箇所を検出し、検出結果を出力する異常箇所検出処理、を実行させる、
ことを特徴とする画像検査プログラム。 - 前記除外処理では、前記元画像からエッジを検出し、前記エッジの近傍領域を前記画像検査の対象から除外し、
前記フィルタ処理では、除外処理後の前記元画像に前記所定のフィルタ処理を行って、第2のリファレンス画像を生成し、
前記比較処理では、除外処理後の前記元画像と前記第2のリファレンス画像とを比較して、第2の比較画像を生成し、
前記異常箇所検出処理では、前記第2の比較画像に基づいて設定した閾値を用いて前記第1の比較画像を2値化して、前記特定の異常が発生した箇所を検出する、
ことを特徴とする請求項15に記載の画像検査プログラム。 - 前記異常箇所検出処理では、前記箇所毎に領域を分離し、各々の前記領域の面積を算出し、前記面積が前記特定の異常に応じて定められる閾値から外れる箇所を前記検出結果から除外する、
ことを特徴とする請求項15又は16に記載の画像検査プログラム。 - 前記異常箇所検出処理では、前記箇所毎に領域を分離し、各々の前記領域の円形度を算出し、前記円形度が前記特定の異常に応じて定められる閾値から外れる箇所を前記検出結果から除外する、
ことを特徴とする請求項15乃至17のいずれか一に記載の画像検査プログラム。 - 前記除外処理では、前記元画像に前記特定の異常と同等の周波数成分を有するコンテンツが含まれる場合、当該コンテンツを前記画像検査の対象から除外する、
ことを特徴とする請求項15乃至18のいずれか一に記載の画像検査プログラム。 - 前記所定のフィルタ処理は、前記特定の異常をフィルタリングする処理である、
ことを特徴とする請求項15乃至19のいずれか一に記載の画像検査プログラム。 - 前記特定の異常は、ホタル現象に基づく異常である、
ことを特徴とする請求項15乃至20のいずれか一に記載の画像検査プログラム。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018189915A JP7167615B2 (ja) | 2018-10-05 | 2018-10-05 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
US16/546,721 US11074683B2 (en) | 2018-10-05 | 2019-08-21 | Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program |
CN202210944870.9A CN115290666A (zh) | 2018-10-05 | 2019-09-29 | 图像检查装置、图像检查方法以及图像检查程序 |
CN201910932363.1A CN111007076B (zh) | 2018-10-05 | 2019-09-29 | 图像检查装置、图像检查方法以及记录介质 |
US17/366,548 US20210407068A1 (en) | 2018-10-05 | 2021-07-02 | Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program |
JP2022171331A JP7456472B2 (ja) | 2018-10-05 | 2022-10-26 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
JP2024036832A JP2024056087A (ja) | 2018-10-05 | 2024-03-11 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018189915A JP7167615B2 (ja) | 2018-10-05 | 2018-10-05 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022171331A Division JP7456472B2 (ja) | 2018-10-05 | 2022-10-26 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020061608A true JP2020061608A (ja) | 2020-04-16 |
JP7167615B2 JP7167615B2 (ja) | 2022-11-09 |
Family
ID=70051693
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018189915A Active JP7167615B2 (ja) | 2018-10-05 | 2018-10-05 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
JP2022171331A Active JP7456472B2 (ja) | 2018-10-05 | 2022-10-26 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
JP2024036832A Pending JP2024056087A (ja) | 2018-10-05 | 2024-03-11 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022171331A Active JP7456472B2 (ja) | 2018-10-05 | 2022-10-26 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
JP2024036832A Pending JP2024056087A (ja) | 2018-10-05 | 2024-03-11 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11074683B2 (ja) |
JP (3) | JP7167615B2 (ja) |
CN (2) | CN111007076B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7483459B2 (ja) * | 2020-03-27 | 2024-05-15 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
JP7532075B2 (ja) * | 2020-04-21 | 2024-08-13 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法およびプログラム |
JP7480591B2 (ja) * | 2020-05-28 | 2024-05-10 | コニカミノルタ株式会社 | 検査装置、画像形成システム、検査方法、および検査プログラム |
JP7440354B2 (ja) * | 2020-06-26 | 2024-02-28 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
JP2022103691A (ja) * | 2020-12-28 | 2022-07-08 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、および画像処理プログラム |
JP2022103690A (ja) * | 2020-12-28 | 2022-07-08 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、および画像処理プログラム |
CN112700440B (zh) * | 2021-01-18 | 2022-11-04 | 上海闻泰信息技术有限公司 | 物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 |
JP2022124648A (ja) * | 2021-02-16 | 2022-08-26 | 株式会社リコー | プログラム、方法、情報処理装置、および情報処理システム |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001209798A (ja) * | 2000-01-27 | 2001-08-03 | Sharp Corp | 外観検査方法及び検査装置 |
JP2003123073A (ja) * | 2001-10-15 | 2003-04-25 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検出方法 |
JP2005266244A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2006266780A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Aisin Seiki Co Ltd | 欠陥検査装置および方法 |
JP2006284471A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Mitsubishi Electric Corp | パターン検査方法及びパターン検査装置並びにパターン検査用プログラム |
JP2011047862A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像検査方法、プログラムおよび記録媒体 |
JP2018044896A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 株式会社リコー | 検査装置、検査方法及びプログラム |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04364446A (ja) * | 1991-06-12 | 1992-12-16 | Sekisui Chem Co Ltd | 欠陥検査装置 |
JP3097785B2 (ja) * | 1992-04-30 | 2000-10-10 | 株式会社リコー | 画像処理装置 |
JPH0994941A (ja) * | 1995-10-02 | 1997-04-08 | Futec Inc | オフセット印刷の印刷立上がりタイミング検出方法とその装置およびオフセット印刷検査装置 |
US5970183A (en) * | 1995-12-26 | 1999-10-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Detecting an outer shape of an original image and controlling to inhibit image frame processing in accordance with the detection result |
JP3340312B2 (ja) * | 1996-04-24 | 2002-11-05 | 積水化学工業株式会社 | 表面欠陥検査装置 |
JPH10123066A (ja) * | 1996-10-17 | 1998-05-15 | Asahi Glass Co Ltd | 特異点検出装置及び方法 |
WO2000055605A1 (fr) * | 1999-03-18 | 2000-09-21 | Nkk Corporation | Procede et dispositif de marquage de defauts |
JP2001159791A (ja) * | 1999-12-01 | 2001-06-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像処理装置 |
AU2002219847A1 (en) * | 2000-11-15 | 2002-05-27 | Real Time Metrology, Inc. | Optical method and apparatus for inspecting large area planar objects |
JP2003094827A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-03 | Fuji Photo Film Co Ltd | 感熱記録材料 |
JP4055385B2 (ja) * | 2001-10-11 | 2008-03-05 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像検査装置 |
JP4661238B2 (ja) * | 2005-01-31 | 2011-03-30 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 画像処理方法および画像処理装置ならびに画像処理プログラム |
CN100550996C (zh) * | 2006-07-31 | 2009-10-14 | 株式会社理光 | 图像处理装置,成像装置以及图像处理方法 |
CN101276363B (zh) * | 2007-03-30 | 2011-02-16 | 夏普株式会社 | 文档图像的检索装置及文档图像的检索方法 |
JP4725636B2 (ja) * | 2008-11-19 | 2011-07-13 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像処理装置及びプログラム |
CN102811863B (zh) * | 2010-01-21 | 2015-07-22 | 惠普印迪戈股份公司 | 打印图像的自动检查 |
JP5678595B2 (ja) * | 2010-11-15 | 2015-03-04 | 株式会社リコー | 検査装置、検査方法、検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
JP5699051B2 (ja) * | 2011-07-15 | 2015-04-08 | 株式会社Screenホールディングス | 画像検査装置および画像記録装置、並びに、画像検査方法 |
JP2013132042A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-07-04 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像形成装置、画像検査方法及びプログラム |
JP2013124868A (ja) * | 2011-12-13 | 2013-06-24 | Canon Inc | 検査装置、検査方法、コンピュータプログラム |
JP5867216B2 (ja) * | 2012-03-22 | 2016-02-24 | 株式会社リコー | 画像検査方法、画像検査装置、画像検査装置の制御プログラム |
JP6241120B2 (ja) * | 2012-09-14 | 2017-12-06 | 株式会社リコー | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査装置の制御プログラム |
CN106462090B (zh) * | 2014-06-13 | 2019-11-05 | 佳能株式会社 | 电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备 |
US9544447B2 (en) * | 2014-11-14 | 2017-01-10 | Ricoh Company, Ltd. | Inspecting device, method for changing threshold, and computer-readable storage medium |
JP6455252B2 (ja) * | 2014-12-24 | 2019-01-23 | 株式会社リコー | 画像検査装置、画像検査システム及び画像検査方法 |
KR102030100B1 (ko) * | 2015-03-05 | 2019-10-08 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 검사와 계측을 위한 방법 및 장치 |
JP2017053673A (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 株式会社リコー | 検査装置、検査方法及びプログラム |
JP2017116777A (ja) | 2015-12-25 | 2017-06-29 | コニカミノルタ株式会社 | 静電荷像現像用トナーの製造方法及び静電荷像現像用トナーの製造装置 |
JP6638453B2 (ja) * | 2016-02-16 | 2020-01-29 | コニカミノルタ株式会社 | 不良画像発生予測システム及び不良画像発生予測プログラム |
JP6716979B2 (ja) * | 2016-03-15 | 2020-07-01 | 株式会社リコー | 印刷物検査装置、印刷物検査方法およびプログラム |
JP6665671B2 (ja) * | 2016-05-11 | 2020-03-13 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置、画像形成装置及びプログラム |
JP6932947B2 (ja) * | 2017-03-02 | 2021-09-08 | コニカミノルタ株式会社 | 不良画像発生予測システム及び不良画像発生予測プログラム |
US10657635B2 (en) * | 2017-03-16 | 2020-05-19 | Ricoh Company, Ltd. | Inspection apparatus, inspection method and storage medium |
JP6358351B1 (ja) * | 2017-03-21 | 2018-07-18 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 |
JP7147436B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2022-10-05 | コニカミノルタ株式会社 | 検査装置、画像形成装置、および検査装置用プログラム |
JP7230444B2 (ja) * | 2018-11-12 | 2023-03-01 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
JP7211221B2 (ja) * | 2019-04-08 | 2023-01-24 | コニカミノルタ株式会社 | 検査システム、検査方法及び検査プログラム |
JP2022094791A (ja) * | 2020-12-15 | 2022-06-27 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及び、プログラム |
US11750747B2 (en) * | 2021-08-27 | 2023-09-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Inspection apparatus capable of preventing lowering of position matching accuracy, method of controlling same, and storage medium |
-
2018
- 2018-10-05 JP JP2018189915A patent/JP7167615B2/ja active Active
-
2019
- 2019-08-21 US US16/546,721 patent/US11074683B2/en active Active
- 2019-09-29 CN CN201910932363.1A patent/CN111007076B/zh active Active
- 2019-09-29 CN CN202210944870.9A patent/CN115290666A/zh active Pending
-
2021
- 2021-07-02 US US17/366,548 patent/US20210407068A1/en active Pending
-
2022
- 2022-10-26 JP JP2022171331A patent/JP7456472B2/ja active Active
-
2024
- 2024-03-11 JP JP2024036832A patent/JP2024056087A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001209798A (ja) * | 2000-01-27 | 2001-08-03 | Sharp Corp | 外観検査方法及び検査装置 |
JP2003123073A (ja) * | 2001-10-15 | 2003-04-25 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検出方法 |
JP2005266244A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2006266780A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Aisin Seiki Co Ltd | 欠陥検査装置および方法 |
JP2006284471A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Mitsubishi Electric Corp | パターン検査方法及びパターン検査装置並びにパターン検査用プログラム |
JP2011047862A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Ricoh Co Ltd | 画像検査装置、画像検査方法、プログラムおよび記録媒体 |
JP2018044896A (ja) * | 2016-09-15 | 2018-03-22 | 株式会社リコー | 検査装置、検査方法及びプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7456472B2 (ja) | 2024-03-27 |
JP2024056087A (ja) | 2024-04-19 |
CN115290666A (zh) | 2022-11-04 |
CN111007076B (zh) | 2022-08-23 |
US20210407068A1 (en) | 2021-12-30 |
CN111007076A (zh) | 2020-04-14 |
US20200111199A1 (en) | 2020-04-09 |
US11074683B2 (en) | 2021-07-27 |
JP2022186924A (ja) | 2022-12-15 |
JP7167615B2 (ja) | 2022-11-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7456472B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム | |
JP7230444B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム | |
JP7468716B2 (ja) | 検査システム、検査方法及び検査プログラム | |
US20200128135A1 (en) | Image inspection apparatus and image inspection program | |
CN110849909A (zh) | 检查装置、图像形成装置以及检查方法 | |
JP2017173000A (ja) | 検査装置、検査方法及びプログラム | |
EP4236286B1 (en) | Printed-matter inspection system, program, and printed-matter inspection method | |
JP2021063931A (ja) | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム | |
JP2015121635A (ja) | 画像形成装置及び画像の検査方法 | |
JP6323190B2 (ja) | 検査装置、画像形成装置及び画像の検査方法 | |
JP7517019B2 (ja) | 検査装置、画像形成装置、及び検査プログラム | |
JP4507523B2 (ja) | 印刷物検査装置、及び印刷物検査プログラム | |
JP7115266B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム | |
JP7501272B2 (ja) | 検査装置、画像形成装置、及び検査プログラム | |
JP2021021840A (ja) | 画像形成装置、画像作成方法及び画像作成プログラム | |
US20210082100A1 (en) | Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program | |
JP2021111117A (ja) | 画像検査装置、画像形成装置及びプログラム | |
US20240163376A1 (en) | Printed material inspection system and non-transitory computer readable medium | |
JP7205292B2 (ja) | 情報処理装置及び画像形成装置 | |
JP2021096195A (ja) | 画像検査装置、画像形成装置及びプログラム | |
JP2024046417A (ja) | 画像処理装置及び画像処理プログラム | |
JP2020033146A (ja) | 異常搬送検査装置及び画像形成装置 | |
JP2021071299A (ja) | 画像検査装置及び画像検査システム | |
JP3780184B2 (ja) | 被検査物の目視検査前検査方法および目視検査前検査装置 | |
JP2021096535A (ja) | 画像検査装置及び画像検査システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20191120 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20191122 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210820 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220422 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220426 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220627 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220712 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220909 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220927 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221010 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7167615 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |