JP2019009295A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】半導体装置において、接合材の収縮に起因する冷却板の反りを抑制することで冷却性能の低下を抑制することが可能な技術を提供することを目的とする。【解決手段】半導体装置100は、絶縁体1上に配置された回路パターン2を備える冷却板11と、冷却板11と対面して配置され、絶縁体1上に配置された回路パターン2を備える冷却板12と、冷却板11の回路パターン2と冷却板12の回路パターン2との間に接合材により接合された半導体チップ15と、冷却板11および冷却板12の外周部を保持し、かつ、冷却板11および冷却板12の一部と半導体チップ15とを収容するケース13とを備え、半導体チップ15は、冷却板11と冷却板12との間の半導体チップ搭載部11a,12aに搭載され、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分の上下幅は、ケース13における他の部分の上下幅より大きい。【選択図】図1

Description

本発明は、半導体チップの上面と下面の両方を冷却する両面冷却構造を有する半導体装置に関するものである。
半導体装置には、半導体チップの上面と下面の両方を冷却する両面冷却構造を有するものがある。従来の両面冷却構造を有する半導体装置では、例えば、半導体チップの上面と下面にCu材からなる一対の放熱板がはんだで接合され、一対の放熱板の間に絶縁材が封止されている。
例えば特許文献1には、絶縁性薄板上に金属製放熱板を積層し、金属製放熱板上に金属製薄板を積層したものを、半導体チップの上面と下面に接合した構造を有する半導体装置が提案されている。
特開平11−204703号公報
しかし、特許文献1に記載の半導体装置では、半導体チップを金属製薄板に接合する際に生じる接合材の収縮により、金属製薄板の半導体チップ搭載部が半導体チップ側に引き込まれる。これにより、上下の冷却板が反るため上側の金属製薄板と下側の金属製薄板との平行度が悪くなり、半導体装置の冷却性能が低下するという問題があった。
そこで、本発明は、半導体装置において、接合材の収縮に起因する冷却板の反りを抑制することで冷却性能の低下を抑制することが可能な技術を提供することを目的とする。
本発明に係る半導体装置は、絶縁体上に配置された回路パターンを備える第1冷却板と、前記第1冷却板と対面して配置され、絶縁体上に配置された回路パターンを備える第2冷却板と、前記第1冷却板の前記回路パターンと前記第2冷却板の前記回路パターンとの間に接合材により接合された半導体チップと、前記第1冷却板および前記第2冷却板の外周部を保持し、かつ、前記第1冷却板および前記第2冷却板の一部と前記半導体チップとを収容するケースとを備え、前記半導体チップは、前記第1冷却板と前記第2冷却板との間の半導体チップ搭載部に搭載され、前記ケースにおける前記半導体チップ搭載部およびその周辺に対応する部分の上下幅は、前記ケースにおける他の部分の上下幅より大きいものである。
本発明によれば、ケースにおける半導体チップ搭載部およびその周辺に対応する部分の上下幅は、ケースにおける他の部分の上下幅より大きい。したがって、半導体チップの接合時に接合材が収縮しても冷却板が反ることを抑制できる。これにより、上側の冷却板と下側の冷却板との平行度を最適な値に維持することができるため、半導体装置の冷却性能の低下を抑制できる。
実施の形態に係る半導体装置の断面図である。 半導体装置が備えるケースの斜視図である。 実施の形態の変形例に係る半導体装置の断面図である。
<実施の形態>
本発明の実施の形態について、図面を用いて以下に説明する。図1は、実施の形態に係る半導体装置100の断面図である。図2は、半導体装置100が備えるケース13の斜視図である。
図1に示すように、半導体装置100は、第1冷却板としての冷却板11、第2冷却板としての冷却板12、半導体チップ15、およびケース13を備えている。半導体装置100は、例えば自動車用半導体モジュールである。
冷却板11は、絶縁体1および回路パターン2を備えている。絶縁体1は平板状であり、例えばSi34、AlN、Al23またはZrAl23により構成されている。回路パターン2は、絶縁体1の上面において周縁部より内側に配置されており、絶縁体1および回路パターン2は一体化されている。回路パターン2は、例えばCuなどの金属により構成されている。冷却板11は、絶縁体1の下面から突出する複数の放熱フィン4をさらに備えている。
各冷却板11,12では、絶縁体1および回路パターン2は一体化されているため、絶縁体1と放熱フィン4との間にグリスを使用する必要がなくなる。グリスはポンプアウト等で熱抵抗が劣化する材料であるが、半導体装置100では絶縁体1と放熱フィン4との間にグリスを使用しないため、長期的な熱抵抗のばらつきを抑制することが可能となる。
冷却板12は、冷却板11と同じ部材であり、冷却板11を上下逆にしたものである。冷却板12は、冷却板11と対面した状態で冷却板11の上側に配置されている。
半導体チップ15は、冷却板11の回路パターン2と冷却板12の回路パターン2との間の半導体チップ搭載部11a,12aに搭載されている。より具体的には、半導体チップ15の上面は接合材により冷却板12の回路パターン2に接合され、半導体チップ15の下面は冷却板11の回路パターン2に接合されている。なお、接合材は、例えばはんだである。
半導体チップ15が冷却板12の回路パターン2と冷却板11の回路パターン2に接続されることで電気回路を構成している。また、半導体チップ15で発生した熱は、回路パターン2および絶縁体1を介して放熱フィン4に伝達され、放熱フィン4から放熱される。すなわち、冷却板11の回路パターン2の上面、および冷却板12の回路パターン2の下面は冷却面である。
図1に示すように、半導体チップ搭載部11aは冷却板11の回路パターン2の上面の中央部に位置し、半導体チップ搭載部12aは冷却板12の回路パターン2の下面の中央部に位置している。なお、半導体チップ15の個数に応じて半導体チップ搭載部11a,12aの位置および大きさは異なる。
図1と図2に示すように、ケース13は、前側面部13a、後側面部13b、左側面部13c、および右側面部13dを備えており、上下方向は開放されている。ケース13は、冷却板11および冷却板12の外周部を保持し、かつ、冷却板11および冷却板12の一部と半導体チップ15とを収容する。より具体的には、冷却板11の絶縁体1の上端部は他の部分より横方向の厚みが薄くなっており、また冷却板12の絶縁体1の下端部は他の部分より横方向の厚みが薄くなっている。これにより、冷却板11の絶縁体1の上端部および冷却板12の絶縁体1の下端部における外周部全体に渡って段差3が形成されている。
段差3に、ケース13が嵌め込まれている。冷却板11,12の絶縁体1のうちケース13が嵌め込まれる部分は横方向の厚みが薄くなっており、それ以外の部分は横方向の厚みが厚くなっている。ケース13は、PPS(ポリフェニレンサルファイド)、PBT(ポリブチレンテレフタレート)、またはエポキシなどの樹脂により構成されている。なお、図1では、前側面部13aは断面の手前側に位置し、図1の断面に表れないため点線で示されている。
ケース13の内部、すなわち、冷却板11および冷却板12で囲まれた空間に、絶縁材14が封止されている。絶縁材14は、例えば樹脂またはゲルにより構成されている。
次に、本実施の形態の特徴であるケース13の形状について説明する。図1と図2に示すように、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分の上下幅は、ケース13における他の部分の上下幅より大きい。より具体的には、ケース13の上下幅は連続的にカーブ状に変化しており、ケース13の前側面部13aの上端は、横方向中央部へ行く程上方に突出し、かつ、前側面部13aの下端は、横方向中央部へ行く程下方に突出している。後側面部13b、左側面部13c、および右側面部13dの形状についても、前側面部13aの場合と同様であるため説明を省略する。
なお、ケース13の上下幅は必ずしも連続的に変化している必要はなく、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分のみ、上端が上方に突出し下端が下方に突出していてもよい。
また、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分とは、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対面する部分であり、例えば図2の仮想線で示した部分である。
従来の半導体装置では、ケースの各側面は直線状であった。そのため、半導体チップを回路パターンに接合する際に生じる接合材の収縮により、回路パターンの半導体チップ搭載部が半導体チップ側に引き込まれていた。すなわち、下側の回路パターンの半導体チップ搭載部が上方に引き込まれて上方に凸形状となり、上側の回路パターンの半導体チップ搭載部が下方に引き込まれて下方に凸形状となる。このように、上下の回路パターンが反るため上側の回路パターンと下側の回路パターンとの平行度が悪くなり、半導体装置の冷却性能が低下するという問題があった。
これに対して本実施の形態では、接合材の収縮により回路パターン2の半導体チップ搭載部11a,12aが半導体チップ15側に引き込まれることを抑制するために、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分の上下幅は、ケース13における他の部分の上下幅より大きく設計されている。これにより、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分の剛性が向上し、接合材の収縮により回路パターン2の半導体チップ搭載部11a,12aが半導体チップ15側に引き込まれることを抑制できる。
このようにすることで、上下の冷却面の平行度を保証した上で、絶縁材14を冷却板11および冷却板12で囲まれた空間内に閉じ込めることが可能となる。ケース13の外側の冷却板11,12の部分、特に放熱フィン4に絶縁材14が付着することを抑制できるため、絶縁材14が付着した箇所を切削するなどの追加工が不要となる。
以上のように、実施の形態に係る半導体装置100では、ケース13における半導体チップ搭載部11a,12aおよびその周辺に対応する部分の上下幅は、ケース13における他の部分の上下幅より大きい。したがって、半導体チップ15の接合時に接合材が収縮しても冷却板11,12が反ることを抑制できる。これにより、上側の冷却板12と下側の冷却板11との平行度を最適な値に維持することができるため、半導体装置100の冷却性能の低下を抑制できる。
ケース13の上下幅は連続的に変化するため、ケース13における半導体チップ15が配置されない冷却板11,12の端部を除く部分に対応する部分の剛性を従来よりも向上させることができる。これにより、半導体チップ15の個数が増えた場合にも対応することが可能となる。
半導体装置100は自動車用半導体モジュールであるため、信頼性と放熱性の向上が要求される自動車用半導体装置にとって有益である。以上より、半導体装置100の小型化、耐久性向上、および歩留り向上が可能となる。
(変形例)
次に、実施の形態の変形例について説明する。図3は、実施の形態の変形例に係る半導体装置100Aの断面図である。
図3に示すように、半導体装置100Aでは、ケース13は開口部16,17をさらに備えている。開口部16は、ケース13内に絶縁材14を注入するための第1開口部であり、左側面部13cに設けられている。開口部17は、絶縁材14の注入時にエア抜きをするための第2開口部であり、右側面部13dに設けられている。開口部17は、開口部16に対向する位置であり、かつ、開口部16より上方に設けられているため、絶縁材14の注入時にケース13内のエアと一緒に絶縁材14がケース13の外部に流出することを抑制できる。また、ケース13内に絶縁材14が封止されるため、ケース13の外部にある放熱フィン4に絶縁材14が付着することを抑制できる。
なお、開口部16および開口部17は互いに対向する位置にあればよく、この関係を満たすのであれば、前側面部13a、後側面部13b、左側面部13c、および右側面部13dのいずれに設けられていてもよい。
以上のように、実施の形態の変形例に係る半導体装置100Aでは、ケース13は、ケース13内に絶縁材14を注入するための開口部16と、絶縁材14の注入時にエア抜きをするための開口部17とを備えたため、注入用の開口部16およびエア抜き用の開口部17の両方をケース13に設けることができる。これにより、部品点数を削減し、半導体装置100Aの組立性を向上させることができる。開口部17は、開口部16に対向する位置であり、かつ、開口部16より上方に設けられたため、絶縁材14の注入時にケース13内のエアと一緒に絶縁材14がケース13の外部に流出することを抑制できる。
なお、本発明は、その発明の範囲内において、実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
1 絶縁体、2 回路パターン、11 冷却板、11a 半導体チップ搭載部、12 冷却板、12a 半導体チップ搭載部、13 ケース、15 半導体チップ、16 開口部、17 開口部、100 半導体装置、100A 半導体装置。

Claims (4)

  1. 絶縁体上に配置された回路パターンを備える第1冷却板と、
    前記第1冷却板と対面して配置され、絶縁体上に配置された回路パターンを備える第2冷却板と、
    前記第1冷却板の前記回路パターンと前記第2冷却板の前記回路パターンとの間に接合材により接合された半導体チップと、
    前記第1冷却板および前記第2冷却板の外周部を保持し、かつ、前記第1冷却板および前記第2冷却板の一部と前記半導体チップとを収容するケースと、
    を備え、
    前記半導体チップは、前記第1冷却板と前記第2冷却板との間の半導体チップ搭載部に搭載され、
    前記ケースにおける前記半導体チップ搭載部およびその周辺に対応する部分の上下幅は、前記ケースにおける他の部分の上下幅より大きい、半導体装置。
  2. 前記ケースの上下幅は連続的に変化する、請求項1記載の半導体装置。
  3. 前記ケースは、前記ケース内に絶縁材を注入するための第1開口部と、前記絶縁材の注入時にエア抜きをするための第2開口部とを備え、
    前記第2開口部は、前記第1開口部に対向する位置であり、かつ、前記第1開口部より上方に設けられた、請求項1記載の半導体装置。
  4. 前記半導体装置は自動車用半導体モジュールである、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の半導体装置。
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