JP2018531326A - 排ガス分解装置を有する基板処理装置及び該装置用排ガス処理方法 - Google Patents

排ガス分解装置を有する基板処理装置及び該装置用排ガス処理方法 Download PDF

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Abstract

基板処理装置及び排ガス処理方法を開示する。本発明による基板処理装置及び排ガス処理方法において、排ガス分解モジュールは処理チャンバから排出されたソースガスを分解して、該ソースガスのリガンドを分解する。また、リガンド及び該リガンドが分解されたソースガスを、別々に供給したO2、N2O、又はO3と反応させて安定化させ、その後、これと混ぜた反応ガスを有する混合ガスに変えることが出来る。続いて、混合ガスを排気ポンプに流し込み、放出させる。或いは、リガンドとソースガスを、反応ガスと混ぜてこれを放出するさせることが出来る。従って、リガンドとリガンドが分解したソースガスは、反応ガス又は、排気ポンプで発生する熱とは反応せず、排気ポンプに流れ込むリガンドが分解したソースガスとリガンドは、排気ポンプの内面に堆積しない。また、排気ポンプにたまったリガンドが分解したソースガスとリガンドは爆発しない。【選択図】図1

Description

本発明は、処理チャンバから放出されるソースガスを分解して、排ガスにより排気ポンプにダメージが加わるのを防ぐ、排ガス分解装置を有する基板処理装置及び該装置用排ガス処理方法に関する。
半導体装置、フラットパネル表示装置、太陽電池は、シリコンウェハやガラス等の基板上に源材料を堆積させる薄膜堆積工程、感光材料を用いて、堆積した薄膜の選択領域を露光し又は被覆するフォトリソグラフィ工程、及び選択領域で薄膜を取り除いて、所望のパターンを形成するエッチング工程により製造される。
薄膜蒸着法の例としては、物理蒸着(PVD)法、化学蒸着(CVD)法、原子層堆積(ALD)法が挙げられる。
薄膜堆積法は、各種材料を用いて、基板上に薄膜を堆積させる。この場合、堆積処理法では、基板を処理する空間を有する処理チャンバ内を流れる前駆体であるソースガスを少量使い、該堆積過程で発生する副産物と一緒に、殆どのソースガスを処理チャンバ外に放出させる。
堆積工程で使われない処理チャンバのソースガスと副産物を、排気ラインと排気ポンプにより処理チャンバ外に放出させる。即ち、堆積工程で使用されない処理チャンバのソースガスと副産物を排気ポンプにより抽出し、これを排気ラインと排気ポンプを介して排気ポンプ外に放出させる。
更に、堆積工程で使われないソースガスを、排気ポンプ内で発生する熱と、処理チャンバから放出された反応ガスとを反応させることにより分解させ、分解したソースガスが、排気ポンプの内面に堆積されて、薄膜が形成される。この場合、排気ポンプを構成する要素間の隙間が変わることにより、該排気ポンプが損傷してしまう。
低温用のソースガスが、処理チャンバ外に放出され、排気ポンプに堆積すると、ソースガスが排気ポンプで発生する熱により爆発することもあり得る。
本発明の観点は、上記関連技術の問題点を全て解決した、排ガス分解装置を有する基板処理装置及びこのための排ガス処理方法を提供することに向けられる。
本発明の別の観点は、処理チャンバから放出され、堆積工程では使われないソースガスを分解し、該分解したソースガスを、排気ポンプを介して放出することにより、該ソースガスにより排気ポンプが損傷を受けるのを防止すると共に、ソースガスが爆発するのを完全に防止することが出来る、排ガス分解装置を有する基板処理装置及びこのための排ガス処理方法を提供することに向けられる。
基板処理装置は、基板を処理する空間を有する処理チャンバ、前記処理チャンバ内に設置した、上に基板を配置した基板支持手段、ソースガスを前記基板に分配するソースガス分配手段、反応ガスを前記基板に分配する反応ガス分配手段、前記処理チャンバのソースガスを、該処理チャンバの外に放出させるよう案内するソースガス排気ライン、前記処理チャンバの反応ガスを、該処理チャンバの外に放出させるよう案内する反応ガス排気ライン、前記ソースガスと前記反応ガスを、それぞれ前記ソースガス排気ライン及び反応ガス排気ラインに排出し得るように、該ソースガス排気ライン及び該反応ガス排気ラインに連通する排気ポンプ、及び前記ソースガス排気ラインを介して前記排気ポンプ内に流れ込むソースガスを分解する、前記処理チャンバと前記排気ポンプ間の前記ソースガス排気ラインに設置された排ガス分解モジュールを有する。
本発明の別の観点では、基板を処理する処理チャンバに分配され、基板上に薄膜を堆積させるソースガス及び反応ガスの内、堆積処理において使用しない該ソースガス及び該反応ガスを排出処理する、基板処理装置の排ガス処理方法において、排気ポンプを用いて、ソースガス及び反応ガスをソースガス排気ライン及び反応ガス排気ラインにそれぞれ排出し、該ソースガス排気ラインの一端を、該処理チャンバに連通させ、該ソースガス排気ラインの他端を、前記排気ポンプに連通させ、前記反応ガス排気ラインの一端を、処理チャンバに連通させ、該該反応ガス排気ラインの他端を該排気ポンプに連通させ、前記ソースガス排気ラインに流れ込んだ前記ソースガスを分解し、及び前記ソースガス排気ラインの分解ソースガスを前記反応ガス排気ラインの反応ガスと混合してできた混合ガスを、前記排気ポンプの内部を介して放出することを特徴とする、基板処理装置の排ガス処理方法が設けられる。
本発明の実施例による基盤処理装置及び排ガス処理方法においては、排ガス分解モジュールは処理チャンバから排出されたソースガスを分解して該ソースガスのリガンドを分解することが出来る。また、リガンド及びリガンドが分解されたソースガスを、別々に供給したO、NO、Oと反応させて、安定状態に置くことが出来、これを反応ガスと混合させた反応ガスを含む混合ガスに変える。続いて、混合ガスを排気ポンプに流し込み、放出することが出来る。或いは、リガンド及びソースガスを、反応ガスと混合し、放出させることが出来る。従って、リガンド及びリガンドが分解されたソースガスは、反応ガスや排気ポンプで発生する熱とは反応せず、排気ポンプに流れ込むリガンド分解ソースガス及びリガンドは排気ポンプの内面に堆積しない。また、排気ポンプにたまったリガンド分解ソースガス及びリガンドは爆発しない。
図1は、本発明の実施例による基板処理装置の構成を説明する概略図である。 図2は、図1の平面断面図である。 図3は、本発明の別の実施例による基板処理装置の構成を説明する概略図である。 図4は、本発明の実施例による基板処理装置の排ガス処理方法を説明するフローチャートである。
以下、本発明の例示実施例に詳細に言及し、例を添付の図面で説明する。可能な限り、同一又は同様の要素には図面を通して、同一の符号を使用する。
明細書においては、各図面において要素に符号を加える際は、他の図面で同様の要素を示すために既に使用した同様の符号は、可能な限りにおいて、該要素に使うものとする。
明細書に記載した用語は、以下に示すように理解するものとする。
明細書の記載のように、単数形「1つの」、「その」は、文脈上明瞭に違うとの記載が無い限り、同様に複数形を含むものとする。「第1」、「第2」等の用語は、1の要素を他の要素から区別するために使用し、これらの要素がこの用語により制限を受けるべきではない。
ここで使用する「から構成する」、「を有する」、「を含む」等は、言及した特徴、整数、段階、操作、要素及び/又は構成要素の存在を特定するが、1以上の他の特徴、整数、段階、操作、要素、構成要素及び/又はそのグループの存在又は、この追加を排除するものではない。
用語「少なくとも1つ」は、1以上の関連項目のいずれか、又はこれら全ての組み合わせを含むものとする。例えば、「第1項目〜第3項目のうち少なくとも1つ」の意味は、第1項目、第2項目、又は第3項目を示すと同様に、第1、第2、第3項目のうち、2以上からなる全ての項目の組み合わせを示すこともある。
用語「及び/又は」は、1以上の関連項目のいずれか、又はこれら全ての組み合わせとして理解すべきである。例えば、「第1項目、第2項目及び/又は第3項目」の意味は、第1項目、第2項目、又は第3項目を示すと同様に、第1、第2、第3項目のうち、2以上からなる全ての項目の組み合わせを示すこともある。
ある要素が、別の要素の「上」に存在するとの記載は、それが他の要素の上に直接存在するか、又は、介在要素が存在する場合もある。更にある要素が他の要素の「下に」存在するとの記載は、それが直接下に存在する場合の他、1以上の介在要素が存在する場合もある。加えて、ある要素が、2つの要素の「間に」存在するとの記載は、2つの要素間に1つだけ存在する場合の他、1以上の介在要素が存在する場合もあるものとする。要素間の関係を示す他の記載、例えば、「間に」や「直接間に」は、同様に解釈することが出来る。
各ステップにおいて、符号、例えば、S100、S110、S120等は、記載の都合上使用するものであり、ステップの順序を規定するものではない。また、特定の順序が、文脈上明瞭化されていない限り、ステップは、記載した順序で実行することが出来る。即ち、ステップは記載どおりに実行することが出来、また、同時に実行することが出来るし、又は反対の順序で実行することも出来る。
以下、本発明の実施例による、排ガス分解装置を有する基板処理装置及び該装置用排ガス処理方法を、添付の図面に言及して詳細に説明する。
初めに、本発明の実施例による基板処理装置について説明する。
図1は、本発明の実施例による基板処理装置の構成を説明する概略図であり、図2は、図1の平面断面図である。
図に示すように、本発明の実施例による基板処理装置は、シリコンウェハ、ガラス、又はこれと同等なものである基板50をロードし、処理する空間を持つ処理チャンバ110を有している。処理チャンバ110は、開放上部を有し、相対的に下側に配置された本体111と、該本体111の開放上部に連結し、相対的に上側に配置された蓋115を有している。
基板50を載置し、支持する基板支持手段120を、処理チャンバ110の内下面に設置することが出来る。基板支持手段120は、処理チャンバ110内に設けられ、基板50を配置し、支持する上部を有する支持体121及び、支持体121の底部に連結した上端部と処理チャンバ110の底部の外側に露出し、駆動部130に連結した下端部からなる支持軸125を有する。
基板50は複数設けることが出来る。複数の基板50は、支持体121上に、該支持体121の中心から放射状に設置され、支持される。駆動部130は上昇し、下降し、また、基板支持手段120を回転させることが出来る。このため、支持体121上に設置、支持した基板50を上昇、下降、回転させることが出来る。
基板50を加熱する、ヒータ等の加熱ユニット(図示無し)を、基板50を設置支持している支持体121近くに設けることが出来る。
基板50上に薄膜を堆積させるためには、該基板上に堆積したソースガスと、該ソースガスを基板50上に堆積しやすくさせる反応ガスを、処理チャンバ110に供給する。このため、ソースガスを支持体121上に設置した基板50に分配するソースガス分配手段141と、反応ガスを基板50に分配する反応ガス分配手段145を、処理チャンバ110の内側上面に設ける。
ソースガス分配手段141と反応ガス分配手段145を、それぞれシャワーヘッドとして設けることが出来、相互に分割し、設置することが出来る。また、ソースガス分配手段141から分配されたソースガスを、該ソースガス分配手段141と対向するソースガス領域121aだけに分配することが出来、反応ガス分配手段145から分配された反応ガスを、該反応ガス分配手段145に対向する反応ガス領域121bだけに分配することが出来る。この場合、ソースガス分配手段141から分配されたソースガスと、反応ガス分配手段145から分配された反応ガスは、基板に分配する途中で、互いに混合しないで分配することが出来る。
このため、基板支持手段120が回転するにつれて、基板支持手段120上に設置、支持された複数の基板は、順番にソースガス領域121aに配置され、及び順番に反応ガス領域121bに配置させることが出来る。即ち、ソースガス領域121aに配置され、ソースガスを供給された基板50は、基板支持手段120の回転に伴い、反応ガス領域121bに配置され反応ガスが供給されると、ソースガスと反応ガスが反応することにより、基板50上にソースガスを堆積させることが出来る。
堆積工程では、処理チャンバ110に供給するソースガス及び反応ガスはそれぞれ少量だけ用いることができ、ソースガス及び反応ガスの殆どは、堆積工程で発生する副産物と共に、処理チャンバ110の外に放出させることが出来る。
ソースガス排気ライン151、反応ガス排気ライン153及び排気ポンプ155を設けて、堆積工程で使用しないソースガス及び反応ガスを、副産物と共に処理チャンバ110の外に排出することが出来る。
ソースガス排気ライン151の一端を、処理チャンバ110の底部と連通させ、ソースガス排気ライン151の他端を、排気ポンプ155と連通させることができる。反応ガス排気ライン153の一端を、処理チャンバ110の底部と連通させ、反応ガス排気ライン153の他端を、排気ポンプ155と連通させることができる。この場合、ソースガス排気ライン151の一端と反応ガス排気ライン153の一端をそれぞれ、ソースガス領域121a及び反応ガス領域121bの真下に配置された処理チャンバ110の底部と連通させることが出来る。
従って、真空ポンプ等として設けられた排気ポンプ155が駆動すると、ソースガス領域121aに分配されるけれども、堆積工程では使われないソースガスを抽出することが出来、これがソースガス排気ライン151に流れ込むと共に、反応ガス領域121bに分配されるけれども、堆積工程では使われない反応ガスを抽出することが出来、これが反応ガス排気ライン153に流れ込む。続いて、ソースガスと反応ガスを混合ガスに変え、これが排気ポンプ155に流れ込み、該混合ガスを、排気ポンプ155の内側を介して排気ポンプ155外に放出させることが出来る。
堆積工程では使われず、排気ライン151を介して排気ポンプ155に流れ込むソースガスは、排気ポンプ155内で発生する熱又は、反応ガス排気ライン153を介して排気ポンプ155に流れ込む反応ガスと反応し、これが排気ポンプ155の内面に堆積される。このため、排気ポンプ155にダメージが加わり得る。特に、ソースガスが低温用の場合、排気ポンプ155内に堆積したソースガスは、排気ポンプ155で発生する熱により爆発する可能性がある。
このような問題点を防ぐために、本発明の実施例による基板処理装置は、ソースガス排気ライン151に流れ込むソースガスを分解する排ガス分解モジュール160を設けることが出来る。
排ガス分解モジュール160は、処理チャンバ110と排気ポンプ155間のソースガス排気ライン151近くに設置することが出来、ソースガス排気ライン151に流れ込むソースガスを分解することが出来る。この場合、排ガス分解モジュール160は、ソースガスのリガンド(ligand)を分解することが出来、リガンド分解ソースガスを排気ポンプ155に供給することが出来る。
リガンド及びリガンド分解ソースガスは不安定な状態にあるので、これを安定させることが要求される。このため、O、NO、Oを、排ガス分解モジュール160と排気ポンプ155間のソースガス排気ライン151に供給することが出来る。従って、リガンド及びリガンド分解ソースガスはO、NO、又はOと反応して安定な状態に置かれる。
続いて、リガンド及びリガンド分解ソースガスを、これと混合した反応ガス排気ライン153の反応ガスを含む混合ガスに変える。このため、リガンド及びリガンド分解ソースガスは、反応ガス又は排気ポンプ155内で発生する熱と反応せず、排気ポンプ155内に流れ込むリガンド分解ソースガス及びリガンドは、排気ポンプ155の内面には堆積しない。また、排気ポンプ155内にたまったリガンド分解ソースガス及びリガンドは爆発しない。
この場合、排ガス分解モジュール160を、プラズマを生成させてソースガスを分解するプラズマ生成装置又は、該ソースガスを加熱し、これを分解する熱源として設けることが出来る。
図3は、本発明の別の実施例による基板処理装置の概略構成を説明する図である。図3と図1の相違だけを以下に説明する。
図に示すように、本発明の別の実施例による基板処理装置において、排ガス分解モジュール260により分解されたソースガス排気ライン251のリガンド、リガンド分解ソースガス及び、反応ガス排気ライン253の反応ガスは排気ポンプ255内に流れ込み、その後、排気ポンプ255内で互いに混合される。続いて、混合ガスが、排気ポンプ外に放出される。
以下、本実施例による基板処理装置の排ガス処理方法を、図1〜図4に言及して説明する。図4は、本発明の実施例による基板処理装置の排ガス処理方法を説明するフローチャートである。
図に示すように、ステップS110において、処理チャンバ110に分配したソースガス及び反応ガスのうち、基板50に薄膜を堆積させる堆積工程で使用しないソースガス及び反応ガスはそれぞれ、ソースガス排気ライン151及び反応ガス排気ライン153に供給し、処理チャンバ110の外に放出することが出来る。
上述したように、ソースガス排気ライン151の一端は、処理チャンバ110と連通しており、他端は、排気ポンプ155に連通している。また、反応ガス排気ライン153の一端は、処理チャンバ110と連通しており、他端は、排気ポンプ155に連通している。このため、排気ポンプが駆動されると、処理チャンバ110のソースガスと反応ガスは、ソースガス排気ライン151及び反応ガス排気ライン153にそれぞれ抽出され、排出される。
続いて、ステップS120において、ソースガス排気ライン151に流れ込むソースガスを、排ガス分解モジュール160により分解することができる。また、ステップS130において、ソースガス排気ライン151の分解ソースガスと反応ガス排気ライン153の反応ガスを混合させて、混合ガスにする。続いて、ステップS140において、混合ガスを排気ポンプ155の内部を介して外に放出する。
この場合、排ガス分解モジュール160は、プラズマを生成してソースガスを分解するプラズマ生成装置とするか、又は、該ソースガスを加熱し、分解する熱源とすることが出来る。また、リガンドをソースガス排気ライン151のソースガスから分離することが出来る。
上述したように、リガンド及びリガンド分解ソースガスを、別々に供給したO、NO、又はOと反応させて、安定状態に置くことが出来、これを排気ポンプ155の反応ガスと混合させ、排気ポンプ内に流し込み、放出させることが出来る。或いは、リガンド及びソースガスを排気ポンプ155内で反応ガス排気ライン153の反応ガスと混合させ、放出させることが出来る。
本実施例による基板処理装置及び排ガス処理方法においては、排ガス分解モジュール160(260)はソースガスのリガンドを分解することが出来る。続いて、既に安定化したリガンド、リガンド分解ソースガス及び反応ガス排気ライン153(253)の反応ガスを混合ガスに変える。混合ガスは排気ポンプ155(255)に流れ込み、放出され、又は、リガンドとリガンド分解ソースガスを排気ポンプ155(255)の反応ガスと混合させて、放出させることが出来る。このため、リガンドとリガンド分解ソースガスは、反応ガス又は排気ポンプ155(255)で発生する熱と反応せず、排気ポンプ155(255)内に流れるリガンド分解ソースガスとリガンドは、排気ポンプ155(255)の内面に堆積しない。また、排気ポンプ155(255)内にたまったリガンド分解ソースガスとリガンドは爆発しない。
発明の真意又は範囲を逸脱しない限り、本発明は、種々の変更、変形が可能であることは当業者にとって明らかである。それ故、添付のクレームの範囲及びこれと均等である限り、本発明は、種々の変更、修正をカバーするものである。

Claims (11)

  1. 基板を処理する空間を有する処理チャンバ、
    前記処理チャンバ内に設置した、上に基板を配置した基板支持手段、
    ソースガスを前記基板に分配するソースガス分配手段、
    反応ガスを前記基板に分配する反応ガス分配手段、
    前記処理チャンバのソースガスを、該処理チャンバの外に放出させるよう案内するソースガス排気ライン、
    前記処理チャンバの反応ガスを、該処理チャンバの外に放出させるよう案内する反応ガス排気ライン、
    前記ソースガスと前記反応ガスを、それぞれ前記ソースガス排気ライン及び反応ガス排気ラインに排出し得るように、該ソースガス排気ライン及び該反応ガス排気ラインに連通する排気ポンプ、及び
    前記ソースガス排気ラインを介して前記排気ポンプ内に流れ込むソースガスを分解する、前記処理チャンバと前記排気ポンプ間の前記ソースガス排気ラインに設置された排ガス分解モジュールから構成されることを特徴とする、基板処理装置。
  2. 前記排ガス分解モジュールは、プラズマ生成装置又は、前記ソースガスを加熱する熱源であることを特徴とする、請求項1記載の基板処理装置。
  3. 前記排ガス分解モジュールにより分解されたソースガスを、前記反応ガス排気ラインの反応ガスと混合させ、これを前記排気ポンプに流し込ませることを特徴とする、請求項1記載の基板処理装置。
  4. 前記排ガス分解モジュールにより分解されたソースガスを、前記排気ポンプ内で反応ガス排気ラインの反応ガスと反応させることを特徴とする、請求項1記載の基板処理装置。
  5. 前記ソースガス排気ラインのソースガスのリガンドを前記排ガス分解モジュールにより分解させ、
    前記ソースガス排気ラインの前記リガンドと前記リガンド分解ソースガスを、前記ソースガス排気ラインに供給したO、NO、Oから選択した1の物質と反応させて安定化させ、これを前記排気ポンプに流し込むことを特徴とする、請求項1記載の基板処理装置。
  6. 処理チャンバに分配され、基板上に薄膜を堆積させるソースガス及び反応ガスの内、堆積処理において使用しない該ソースガス及び該反応ガスを排出処理する、基板処理装置の排ガス処理方法において、
    排気ポンプを用いて、ソースガス及び反応ガスをソースガス排気ライン及び反応ガス排気ラインにそれぞれ排出し、該ソースガス排気ラインの一端を、該処理チャンバに連通させ、該ソースガス排気ラインの他端を、前記排気ポンプに連通させ、前記反応ガス排気ラインの一端を、処理チャンバに連通させ、該該反応ガス排気ラインの他端を該排気ポンプに連通させ、
    前記ソースガス排気ラインに流れ込んだ前記ソースガスを分解し、及び
    前記ソースガス排気ラインの分解ソースガスを前記反応ガス排気ラインの反応ガスと混合してできた混合ガスを、前記排気ポンプの内部を介して放出することを特徴とする、基板処理装置の排ガス処理方法。
  7. 前記ソースガス排気ラインのソースガスを、プラズマ生成装置によって生成したプラズマにより分解し、又は、これを加熱により分解することを特徴とする、請求項6記載の排ガス処理方法。
  8. 前記ソースガス排気ラインのソースガスのリガンドを分解することを特徴とする、請求項7記載の排ガス処理方法。
  9. 前記ソースガス排気ラインの前記リガンドと前記リガンド分解ソースガスを、前記ソースガス排気ラインに供給したO、NO、Oから選択した1の物質と反応させて安定化させ、これを前記排気ポンプに流し込むことを特徴とする、請求項8記載の排ガス処理方法。
  10. 前記ソースガス排気ラインの分解ソースガスと前記反応ガス排気ラインの反応ガスを混合させて、これを前記排気ポンプに流し込むことを特徴とする、請求項6記載の排ガス処理方法。
  11. 前記ソースガス排気ラインの分解ソースガスと前記反応ガス排気ラインの反応ガスを前記排気ポンプ内で混合させることを特徴とする、請求項6記載の排ガス処理方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102477302B1 (ko) 2015-10-05 2022-12-13 주성엔지니어링(주) 배기가스 분해기를 가지는 기판처리장치 및 그 배기가스 처리방법
JP7080140B2 (ja) * 2018-09-06 2022-06-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
CN113169101B (zh) * 2019-01-08 2022-09-30 应用材料公司 用于基板处理腔室的泵送设备与方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002151489A (ja) * 2000-08-11 2002-05-24 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置および処理方法
JP2005515647A (ja) * 2002-01-17 2005-05-26 サンデュー・テクノロジーズ・エルエルシー Ald装置及び方法
JP2010141248A (ja) * 2008-12-15 2010-06-24 Toshiba Corp 成膜装置及び成膜方法
JP2014116484A (ja) * 2012-12-11 2014-06-26 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置および処理容器内圧力調整方法

Family Cites Families (99)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5137701A (en) * 1984-09-17 1992-08-11 Mundt Randall S Apparatus and method for eliminating unwanted materials from a gas flow line
JP2888253B2 (ja) * 1989-07-20 1999-05-10 富士通株式会社 化学気相成長法およびその実施のための装置
US5647945A (en) * 1993-08-25 1997-07-15 Tokyo Electron Limited Vacuum processing apparatus
US5891350A (en) * 1994-12-15 1999-04-06 Applied Materials, Inc. Adjusting DC bias voltage in plasma chambers
US5772770A (en) * 1995-01-27 1998-06-30 Kokusai Electric Co, Ltd. Substrate processing apparatus
JP2872637B2 (ja) * 1995-07-10 1999-03-17 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド マイクロ波プラズマベースアプリケータ
US6193802B1 (en) * 1995-09-25 2001-02-27 Applied Materials, Inc. Parallel plate apparatus for in-situ vacuum line cleaning for substrate processing equipment
US6045618A (en) * 1995-09-25 2000-04-04 Applied Materials, Inc. Microwave apparatus for in-situ vacuum line cleaning for substrate processing equipment
US6194628B1 (en) * 1995-09-25 2001-02-27 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for cleaning a vacuum line in a CVD system
US5965034A (en) * 1995-12-04 1999-10-12 Mc Electronics Co., Ltd. High frequency plasma process wherein the plasma is executed by an inductive structure in which the phase and anti-phase portion of the capacitive currents between the inductive structure and the plasma are balanced
US5928426A (en) * 1996-08-08 1999-07-27 Novellus Systems, Inc. Method and apparatus for treating exhaust gases from CVD, PECVD or plasma etch reactors
US6156107A (en) * 1996-11-13 2000-12-05 Tokyo Electron Limited Trap apparatus
JP3991375B2 (ja) * 1996-11-13 2007-10-17 東京エレクトロン株式会社 トラップ装置
EP0854210B1 (en) * 1996-12-19 2002-03-27 Toshiba Ceramics Co., Ltd. Vapor deposition apparatus for forming thin film
US6099649A (en) * 1997-12-23 2000-08-08 Applied Materials, Inc. Chemical vapor deposition hot-trap for unreacted precursor conversion and effluent removal
US20030164225A1 (en) * 1998-04-20 2003-09-04 Tadashi Sawayama Processing apparatus, exhaust processing process and plasma processing
US6366346B1 (en) * 1998-11-19 2002-04-02 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for optical detection of effluent composition
JP2000256856A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理装置用真空排気システム及び減圧cvd装置及び減圧cvd装置用真空排気システム及びトラップ装置
JP4092821B2 (ja) * 1999-07-27 2008-05-28 東京エレクトロン株式会社 処理装置の排気システム
US6255222B1 (en) * 1999-08-24 2001-07-03 Applied Materials, Inc. Method for removing residue from substrate processing chamber exhaust line for silicon-oxygen-carbon deposition process
US6773687B1 (en) * 1999-11-24 2004-08-10 Tokyo Electron Limited Exhaust apparatus for process apparatus and method of removing impurity gas
US6367412B1 (en) * 2000-02-17 2002-04-09 Applied Materials, Inc. Porous ceramic liner for a plasma source
US6391146B1 (en) * 2000-04-11 2002-05-21 Applied Materials, Inc. Erosion resistant gas energizer
US6673323B1 (en) * 2000-03-24 2004-01-06 Applied Materials, Inc. Treatment of hazardous gases in effluent
US6592817B1 (en) * 2000-03-31 2003-07-15 Applied Materials, Inc. Monitoring an effluent from a chamber
US6863019B2 (en) * 2000-06-13 2005-03-08 Applied Materials, Inc. Semiconductor device fabrication chamber cleaning method and apparatus with recirculation of cleaning gas
JP2002057144A (ja) * 2000-08-08 2002-02-22 Hitachi Ltd プラズマ処理装置および方法
AU2001277755A1 (en) * 2000-08-11 2002-02-25 Tokyo Electron Limited Device and method for processing substrate
US6541353B1 (en) * 2000-08-31 2003-04-01 Micron Technology, Inc. Atomic layer doping apparatus and method
JP4720019B2 (ja) * 2001-05-18 2011-07-13 東京エレクトロン株式会社 冷却機構及び処理装置
US7169540B2 (en) * 2002-04-12 2007-01-30 Tokyo Electron Limited Method of treatment of porous dielectric films to reduce damage during cleaning
US6858264B2 (en) * 2002-04-24 2005-02-22 Micron Technology, Inc. Chemical vapor deposition methods
US6869641B2 (en) * 2002-07-03 2005-03-22 Unaxis Balzers Ltd. Method and apparatus for ALD on a rotary susceptor
KR100799377B1 (ko) * 2002-07-05 2008-01-30 동경 엘렉트론 주식회사 기판 처리 장치의 클리닝 방법 및 기판 처리 장치
US6843882B2 (en) * 2002-07-15 2005-01-18 Applied Materials, Inc. Gas flow control in a wafer processing system having multiple chambers for performing same process
KR100497748B1 (ko) * 2002-09-17 2005-06-29 주식회사 무한 반도체소자 제조용 원자층 증착 장치 및 원자층 증착 방법
JP4113755B2 (ja) * 2002-10-03 2008-07-09 東京エレクトロン株式会社 処理装置
JP4423914B2 (ja) * 2003-05-13 2010-03-03 東京エレクトロン株式会社 処理装置及びその使用方法
US8580076B2 (en) * 2003-05-22 2013-11-12 Lam Research Corporation Plasma apparatus, gas distribution assembly for a plasma apparatus and processes therewith
US20040235299A1 (en) * 2003-05-22 2004-11-25 Axcelis Technologies, Inc. Plasma ashing apparatus and endpoint detection process
US7083903B2 (en) * 2003-06-17 2006-08-01 Lam Research Corporation Methods of etching photoresist on substrates
US7408225B2 (en) * 2003-10-09 2008-08-05 Asm Japan K.K. Apparatus and method for forming thin film using upstream and downstream exhaust mechanisms
US7647886B2 (en) * 2003-10-15 2010-01-19 Micron Technology, Inc. Systems for depositing material onto workpieces in reaction chambers and methods for removing byproducts from reaction chambers
KR20060096445A (ko) * 2003-10-29 2006-09-11 에이에스엠 아메리카, 인코포레이티드 박막 성장용 반응 시스템
US7021903B2 (en) * 2003-12-31 2006-04-04 The Boc Group, Inc. Fore-line preconditioning for vacuum pumps
US7276122B2 (en) * 2004-04-21 2007-10-02 Mattson Technology, Inc. Multi-workpiece processing chamber
JP4879509B2 (ja) * 2004-05-21 2012-02-22 株式会社アルバック 真空成膜装置
US7845309B2 (en) * 2004-07-13 2010-12-07 Nordson Corporation Ultra high speed uniform plasma processing system
TWI279260B (en) * 2004-10-12 2007-04-21 Applied Materials Inc Endpoint detector and particle monitor
KR100614656B1 (ko) * 2005-01-25 2006-08-22 삼성전자주식회사 밸브 어셈블리 및 이를 가지는 반도체 제조 장치, 그리고트랩을 세정하는 방법
KR100599056B1 (ko) * 2005-07-21 2006-07-12 삼성전자주식회사 포토레지스트 제거 장치 및 방법
JP4282650B2 (ja) * 2005-10-03 2009-06-24 エルピーダメモリ株式会社 プラズマ処理装置
US20070207625A1 (en) * 2006-03-06 2007-09-06 Ravinder Aggarwal Semiconductor processing apparatus with multiple exhaust paths
US8932430B2 (en) * 2011-05-06 2015-01-13 Axcelis Technologies, Inc. RF coupled plasma abatement system comprising an integrated power oscillator
KR101213689B1 (ko) * 2006-06-12 2012-12-18 주식회사 테라텍 반도체 및 lcd 제조장치의 공정 반응 챔버의 배기부 및진공펌프의 세정장치
KR100806113B1 (ko) 2006-12-26 2008-02-21 주식회사 코윈디에스티 박막증착 장치의 원료가스 공급장치 및 잔류가스 처리장치및 그 방법
KR100905278B1 (ko) * 2007-07-19 2009-06-29 주식회사 아이피에스 박막증착장치, 박막증착방법 및 반도체 소자의 갭-필 방법
JP2009188332A (ja) * 2008-02-08 2009-08-20 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置用基板載置台、プラズマ処理装置および絶縁皮膜の成膜方法
US7699935B2 (en) * 2008-06-19 2010-04-20 Applied Materials, Inc. Method and system for supplying a cleaning gas into a process chamber
US9997325B2 (en) * 2008-07-17 2018-06-12 Verity Instruments, Inc. Electron beam exciter for use in chemical analysis in processing systems
JP5696348B2 (ja) 2008-08-09 2015-04-08 東京エレクトロン株式会社 金属回収方法、金属回収装置、排気系及びこれを用いた成膜装置
KR101021372B1 (ko) * 2008-12-29 2011-03-14 주식회사 케이씨텍 원자층 증착장치
US8293013B2 (en) * 2008-12-30 2012-10-23 Intermolecular, Inc. Dual path gas distribution device
JP5634037B2 (ja) * 2009-06-18 2014-12-03 三菱重工業株式会社 排気構造、プラズマ処理装置及び方法
US8617347B2 (en) * 2009-08-06 2013-12-31 Applied Materials, Inc. Vacuum processing chambers incorporating a moveable flow equalizer
KR101108879B1 (ko) * 2009-08-31 2012-01-30 주식회사 원익아이피에스 가스분사장치 및 이를 이용한 기판처리장치
US20110136346A1 (en) * 2009-12-04 2011-06-09 Axcelis Technologies, Inc. Substantially Non-Oxidizing Plasma Treatment Devices and Processes
KR101620053B1 (ko) * 2009-12-22 2016-05-26 주식회사 원익아이피에스 기판처리장치
JP5597463B2 (ja) * 2010-07-05 2014-10-01 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び基板処理方法
US9728429B2 (en) * 2010-07-27 2017-08-08 Lam Research Corporation Parasitic plasma prevention in plasma processing chambers
CN107164742B (zh) * 2011-03-01 2020-10-16 应用材料公司 具有共享泵的真空腔室
US9129778B2 (en) * 2011-03-18 2015-09-08 Lam Research Corporation Fluid distribution members and/or assemblies
KR101804128B1 (ko) * 2011-12-26 2017-12-05 주식회사 원익아이피에스 기판처리장치
JP2013163841A (ja) * 2012-02-10 2013-08-22 Jtekt Corp 炭素膜成膜装置および炭素膜成膜方法
JP5874469B2 (ja) * 2012-03-19 2016-03-02 東京エレクトロン株式会社 トラップ装置及び成膜装置
US9490152B2 (en) * 2012-05-29 2016-11-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Asymmetrical chamber configuration
DE102014100092A1 (de) * 2013-01-25 2014-07-31 Aixtron Se CVD-Anlage mit Partikelabscheider
EP3012352B1 (en) 2013-06-19 2017-07-12 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Fluorine-containing polymer, cation exchange membrane, and electrolysis vessel
US20150176124A1 (en) * 2013-12-19 2015-06-25 Intermolecular, Inc. Methods for Rapid Generation of ALD Saturation Curves Using Segmented Spatial ALD
KR101552666B1 (ko) * 2013-12-26 2015-09-11 피에스케이 주식회사 기판 처리 장치 및 방법
KR101505184B1 (ko) 2014-01-06 2015-03-23 주식회사 티지오테크 회전 부재를 포함하는 증착막 형성 장치
US9852905B2 (en) * 2014-01-16 2017-12-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Systems and methods for uniform gas flow in a deposition chamber
US10153141B2 (en) 2014-02-14 2018-12-11 Electronics And Telecommunications Research Institute Apparatus for monitoring gas and plasma process equipment including the same
KR101871809B1 (ko) * 2014-02-14 2018-08-03 한국전자통신연구원 가스 모니터링 장치 및 그를 포함하는 플라즈마 공정 설비
JP2017510453A (ja) * 2014-03-06 2017-04-13 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated プラズマ・フォアライン・サーマル・リアクタ・システム
KR102386812B1 (ko) * 2014-05-16 2022-04-15 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 샤워헤드 설계
US9920425B2 (en) * 2014-08-13 2018-03-20 Toshiba Memory Corporation Semiconductor manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device
KR102297567B1 (ko) * 2014-09-01 2021-09-02 삼성전자주식회사 가스 주입 장치 및 이를 포함하는 박막 증착 장비
US9657757B2 (en) * 2015-03-16 2017-05-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. System of exhuast and operation method thereof
WO2016204974A1 (en) * 2015-06-17 2016-12-22 Applied Materials, Inc. Gas control in process chamber
KR102477302B1 (ko) * 2015-10-05 2022-12-13 주성엔지니어링(주) 배기가스 분해기를 가지는 기판처리장치 및 그 배기가스 처리방법
KR102619304B1 (ko) * 2015-10-05 2024-01-02 인피콘, 인크. 가스 분석을 위한 국소 환경의 생성
US20190035607A1 (en) * 2016-01-26 2019-01-31 Jusung Engineering Co., Ltd. Substrate processing apparatus
KR20170090194A (ko) * 2016-01-28 2017-08-07 삼성전자주식회사 복수 개의 가스 배출관 들 및 가스 센서들을 가진 반도체 소자 제조 설비
US11332824B2 (en) * 2016-09-13 2022-05-17 Lam Research Corporation Systems and methods for reducing effluent build-up in a pumping exhaust system
US10381200B2 (en) * 2017-03-08 2019-08-13 Applied Materials, Inc. Plasma chamber with tandem processing regions
JP7055035B2 (ja) * 2018-03-02 2022-04-15 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置および排気制御方法
JP2020033619A (ja) * 2018-08-30 2020-03-05 キオクシア株式会社 排気配管装置及びクリーニング装置
CN113169101B (zh) * 2019-01-08 2022-09-30 应用材料公司 用于基板处理腔室的泵送设备与方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002151489A (ja) * 2000-08-11 2002-05-24 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置および処理方法
JP2005515647A (ja) * 2002-01-17 2005-05-26 サンデュー・テクノロジーズ・エルエルシー Ald装置及び方法
JP2010141248A (ja) * 2008-12-15 2010-06-24 Toshiba Corp 成膜装置及び成膜方法
JP2014116484A (ja) * 2012-12-11 2014-06-26 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置および処理容器内圧力調整方法

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