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株式会社半導体エネルギー研究所 |
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株式会社半導体エネルギー研究所 |
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High speed processing unit with non-volatile register
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株式会社半導体エネルギー研究所 |
電源制御回路、及び信号処理回路
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Mikrocontroller und Herstellungsverfahren dafür
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弘一 関根 |
動き検出用撮像装置、動き検出カメラおよび動き検出システム
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株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
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삼성전자주식회사 |
이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치
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(ja)
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2014-02-07 |
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株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
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(ja)
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2014-04-08 |
2019-03-27 |
キヤノン株式会社 |
画像処理装置、その制御方法及びプログラム
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JP2016127471A
(ja)
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2015-01-06 |
2016-07-11 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
撮像装置、及びそれを備える電気機器
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(en)
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2015-05-11 |
2018-03-06 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
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CN205193998U
(zh)
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2015-10-30 |
2016-04-27 |
重庆金鑫智慧科技有限公司 |
一种物联网的家居警报装置
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US20170365209A1
(en)
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2016-06-17 |
2017-12-21 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, display device, and electronic device
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