JP2018038038A - 差動信号を受信するレシーバ、レシーバを有するic、および表示装置 - Google Patents

差動信号を受信するレシーバ、レシーバを有するic、および表示装置 Download PDF

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Abstract

【課題】差動信号を受信するレシーバの伝達遅延時間を短縮する。
【解決手段】レシーバの入力段には第1増幅回路が設けられ、出力段には第2増幅回路が設けられている。第1増幅回路は差動入力、差動出力の増幅回路である。第2増幅回路は差動入力、シングルエンド出力の増幅回路である。第1増幅回路、第2増幅回路には、それぞれ、高レベル側電源電圧として第1電源電圧が入力され、低レベル側電源電圧として第2電源電圧が入力される。第1増幅回路の差動対を構成するトランジスタの耐圧は、第1増幅回路を構成する他のトランジスタ、および第2増幅回路を構成するトランジスタの耐圧よりも高い。
【選択図】図1

Description

本出願の明細書、図面、および特許請求の範囲(以下、「本明細書等」と呼ぶ。)は、半導体装置、電子部品、及び電子機器、ならびにこれらの動作方法と作製方法に関する。例えば、本発明の一形態の技術分野としては、半導体装置、記憶装置、処理装置、スイッチ回路(例えば、パワースイッチ、配線スイッチ等)、表示装置、液晶表示装置、発光装置、照明装置、蓄電装置、入力装置、撮像装置、それらの駆動方法、または、それらの製造方法を一例として挙げることができる。
(1)データ伝送方式として差動伝送方式がある。代表的な差動伝送方式として、小振幅差動伝送方式(LVDS:Low Voltage Differential Signaling)が知られている(非特許文献1、2参照)。例えば、特許文献1には、LVDS規格に準拠したレシーバ(以下「LVDSレシーバ」と呼ぶ。)について、レベルシフト回路を使用することなく、電源電圧の異なる内部回路に受信した信号を出力する技術が開示されている。
表示装置の高精細化が進んでいる。表示装置の高精細化は、表示装置へ画像信号を伝達するための配線数の増加、消費電力の増加などが生じやすい。また、EMI(Electro Magnetic Interference)などのノイズの影響を受けやすく、表示品位の低下が生じやすい。これらの対策のため、画像信号を受信するインターフェース回路には、LVDSレシーバが採用されることが多い。
(2)1のサブ画素に液晶素子と発光素子が設けられているハイブリッド(複合型)表示装置が提案されている(例えば、特許文献2―4)。
特開2004‐112424号公報 特開2003‐157026号公報 国際公開第2004/053819号 国際公開第2007/041150号
Andrea Boni,et al."LVDS I/O Interface for Gb/s‐per‐Pin Operation in 0.35‐μm CMOS",IEEE J.Solid‐State Circuits,2001,vol.36,no.4,pp.706―711. Fei Zhao,et al."A LVDS Transceiver Chip Design in 0.5μm CMOS Technology",Congress on Image and Signal Processing,2008(CISP’08),vol.1,pp.124―127.
本発明の一形態は、レシーバの動作周波数を向上すること、レシーバの伝達遅延時間を短縮すること、レベルシフタを設ける必要のないレシーバを提供すること、信号を送信する内部回路と同じ電源電圧で動作するレシーバを提供すること、または、レシーバの消費電力を低減すること等を課題とする。
なお、複数の課題の記載は、互いの課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一形態は、これらの課題の全て解決する必要はない。また、列記した以外の課題が、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、これらの課題も、本発明の一形態の課題となり得る。
(1)本発明の一形態は、第1差動信号を受信し、第1シングルエンド信号を出力するレシーバであり、第1入力端子、第2入力端子、第1出力端子、第1増幅回路、および第2増幅回路を有し、第1入力端子および第2入力端子は第1差動信号用の入力端子であり、第1出力端子は第1シングルエンド信号用の出力端子であり、第1増幅回路は差動入力、差動出力の増幅回路であり、第2増幅回路は差動入力、シングルエンド出力の増幅回路であり、第1増幅回路の2個の入力端子の一方は第1入力端子に電気的に接続され、他方は第2入力端子に電気的に接続され、第1増幅回路の2個の出力端子の一方は第2増幅回路の2個の入力端子うちの一方に電気的に接続され、他方は第2増幅回路の他方の入力端子に電気的に接続され、第2増幅回路の出力端子は、第1出力端子に電気的に接続され、第1増幅回路および第2増幅回路には、それぞれ、第1電源電圧、第2電源電圧が供給され、第1電源電圧は高レベル側電源電圧であり、第2電源電圧は低レベル側電源電圧であり、第1増幅回路の差動対は第1トランジスタおよび第2トランジスタを有し、第1トランジスタおよび第2トランジスタの耐圧は、第1増幅回路を構成する他のトランジスタ、および第2増幅回路を構成するトランジスタの耐圧よりも高いレシーバである。
(2)本発明の一形態は、差動信号を受信することができるICであり、前記形態(1)に係るレシーバを有する。
(3)本発明の一形態は、表示装置を制御するための表示コントローラICであり、画像信号を受信する機能を備えるインターフェース回路が設けられ、インターフェース回路は、前記形態(1)に係るレシーバを有する。
(4)本発明の一形態は、表示装置のソース線を駆動する機能を備えるドライバICであり、画像信号を受信する機能を備えるインターフェース回路が設けられ、インターフェース回路は、前記形態(1)に係るレシーバを有する。
本明細書等において、「第1」、「第2」、「第3」などの序数詞は、順序を表すために使用される場合がある。または、構成要素の混同を避けるために使用する場合があり、この場合、序数詞の使用は構成要素の個数を限定するものではなく、順序を限定するものでもない。また、例えば、「第1」を「第2」または「第3」に置き換えて、発明の一形態を説明することができる。
本明細書等において、半導体装置とは、半導体特性を利用した装置であり、半導体素子(トランジスタ、ダイオード、フォトダイオード等)を含む回路、同回路を有する装置等をいう。また、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般をいう。例えば、集積回路、集積回路を備えたチップや、パッケージにチップを収納した電子部品は半導体装置の一例である。また、記憶装置、表示装置、発光装置、照明装置及び電子機器等は、それ自体が半導体装置であり、半導体装置を有している場合がある。
本明細書等において、XとYとが接続されていると記載されている場合は、XとYとが電気的に接続されている場合と、XとYとが機能的に接続されている場合と、XとYとが直接接続されている場合とが、本明細書等に開示されているものとする。したがって、所定の接続関係、例えば、図または文章に示された接続関係に限定されず、図または文章に示された接続関係以外のものも、図または文章に記載されているものとする。X、Yは、対象物(例えば、装置、素子、回路、配線、電極、端子、導電膜、層など)であるとする。
トランジスタは、ゲート、ソース、およびドレインと呼ばれる3つの端子を有する。ゲートは、トランジスタの導通状態を制御する制御端子として機能する端子である。ソースまたはドレインとして機能する2つの入出力端子は、トランジスタの型及び各端子に与えられる電位の高低によって、一方がソースとなり他方がドレインとなる。このため、本明細書等においては、ソースやドレインの用語は、入れ替えて用いることができるものとする。また、本明細書等では、ゲート以外の2つの端子を第1端子、第2端子と呼ぶ場合がある。
ノードは、回路構成やデバイス構造等に応じて、端子、配線、電極、導電層、導電体、不純物領域等と言い換えることが可能である。また、端子、配線等をノードと言い換えることが可能である。
電圧は、ある電位と、基準の電位(例えば接地電位(GND)またはソース電位)との電位差のことを示す場合が多い。よって、電圧を電位と言い換えることが可能である。なお、電位とは相対的なものである。よって、GNDと記載されていても、必ずしも0Vを意味しない場合もある。
本明細書等において、「膜」という言葉と「層」という言葉とは、場合によっては、または、状況に応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を「導電膜」という用語に変更することが可能な場合がある。例えば、「絶縁膜」という用語を「絶縁層」という用語に変更することが可能な場合がある。
本発明の一形態によって、レシーバの動作周波数を向上すること、レシーバの伝達遅延時間を短縮すること、レベルシフタを設ける必要のないレシーバを提供すること、信号を送信する内部回路と同じ電源電圧で動作するレシーバを提供すること、または、レシーバの消費電力を低減すること等が可能となる。
複数の効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。また、本発明の一形態は、必ずしも、例示した効果の全てを有する必要はない。また、本発明の一形態について、上記以外の課題、効果、および新規な特徴については、本明細書の記載および図面から自ずと明らかになるものである。
A:差動信号方式による信号伝送システムの概要を示す。B、C:レシーバの構成例を示す回路図。 レシーバの構成例を示す回路図。 レシーバの構成例を示す回路図。 レシーバの構成例を示す回路図。 レシーバの構成例を示す回路図。 レシーバの構成例を示す回路図。 バイアス電圧生成回路の構成例を示す回路図。 LVDSレシーバICの構成例を示すブロック図。 LVDSレシーバICの構成例を示すブロック図。 A:表示システムの構成例を示すブロック図。B:表示コントローラICの構成例を示すブロック図。 A:画素アレイの構成例を示す回路図。B:表示装置の表示原理を示す模式図。 画素アレイの構成例を示す回路図。 A、B:画素アレイの構成例を示す回路図。 LVDSレシーバユニットの構成例を示すブロック図。 表示コントローラICの構成例を示すブロック図。 ソースドライバ回路の構成例を示すブロック図。 A:スイッチアレイの構成例を示すブロック図。B、C:スイッチ回路の構成例を示す回路図。 A:スイッチアレイの構成例を示すブロック図。B:スイッチ回路の構成例を示す回路図。 表示システムの構成例を示すブロック図。 A:表示コントローラICの構成例を示すブロック図。B:ソースドライバICの構成例を示すブロック図。 A:表示システムの構成例を示すブロック図。B:タッチセンサ装置の構成例を示すブロック図。 A―G:電子機器の構成例を示す図。 A―E:電子機器の構成例を示す図。 A:車載用電子機器の構成例を示す図。B、C:医用表示装置の構成例を示す図。 DOSRAMの構成例を示すブロック図。 A:メモリセルアレイの構成例を示すブロック図。B:メモリセルの構成例を示す回路図。 DOSRAMの構成例を示す断面図。 A、B:トランジスタの構成例を示す断面図。 表示装置の構成例を示す断面図。 表示装置の構成例を示す断面図。 シミュレーション結果を示す図。A:入力した差動クロック信号の波形。B:図3のレシーバの出力信号の波形。C:図34のレシーバの出力信号の波形。 シミュレーション結果を示す図。A:入力した差動クロック信号の波形。B:図3のレシーバの出力信号の波形。C:図34のレシーバの出力信号の波形。 比較例のレシーバの構成例を示す回路図。 比較例のレシーバの構成例を示す回路図。
以下に、本発明の実施の形態および実施例を説明する。ただし、本発明の一形態は、以下の説明に限定されず、本発明の趣旨およびその範囲から逸脱することなくその形態および詳細を様々に変更し得ることは、当業者であれば容易に理解される。したがって、本発明の一形態は、以下に示す実施の形態および実施例の記載内容に限定して解釈されるものではない。
以下に示される複数の実施の形態および実施例は適宜組み合わせることが可能である。また1の実施の形態または1の実施例の中に、複数の構成例(作製方法例、動作方法例等も含む。)が示される場合は、互いの構成例を適宜組み合わせること、および他の実施の形態あるいは他の実施例に記載された1または複数の構成例と適宜組み合わせることも可能である。
図面において、同一の要素または同様な機能を有する要素、同一の材質の要素、あるいは同時に形成される要素等には同一の符号を付す場合があり、その繰り返しの説明は省略する場合がある。
本明細書において、例えば、高電源電位VDDを、電位VDD、VDD等と省略して記載する場合がある。これは、他の構成要素(例えば、信号、電圧、回路、素子、電極、配線等)についても同様である。
また、複数の要素に同じ符号が用いられている場合、そのうち1個を特定する必要があるときは、符号“_1”、“_2”、“<j>”、“[i,j]”等の識別用の符号を付記して記載する場合がある。例えば、複数の配線GLLのうち1本の配線を特定する場合、配線GLL<2>等と表記し、任意の配線を指す場合は、配線GLLと表記する。
〔実施の形態1〕
図1Aに、差動信号を使ってデジタル信号を伝送するためのシステム(差動伝送システム)の概要を示す。ここでは、一例として、差動伝送方式がLVDSである例を説明する。図1Aに示す差動伝送システム90において、受信側のインターフェース(I/F)回路102にはレシーバ(RX)100が設けられ、送信側のインターフェース回路106にはトランスミッタ(TX)105が設けられている。トランスミッタ105はシングルエンド信号を差動信号に変換する。差動信号は、伝送媒体108を経て、レシーバ100に送信される。
トランスミッタ105は、シングルエンド方式のデジタル信号を差動信号に変換する機能を有する。トランスミッタ105から出力される差動信号は伝送媒体108を介して、レシーバ100に入力される。伝送媒体108は2本の配線で構成される。抵抗Rtは受信側の終端抵抗であり、伝送媒体108の特性インピーダンスに適合する抵抗値をもつ。LVDS規格では、抵抗Rtは100Ωの抵抗である。具体的には、トランスミッタ105は±3.5mAの差動電流信号を伝送媒体108に送信する。差動電流信号が100Ωの抵抗Rtに流れることで、電圧差350mV(1.075V―1.425V)の差動電圧信号がレシーバ100に入力される。レシーバ100は差動電圧信号を検知し、シングルエンド信号に変換する。レシーバ100で生成されたシングルエンド信号は、受信側の内部回路に入力される。
<<レシーバ100>>
図1Bにレシーバ100の構成例を示す。レシーバ100は端子INP、INN、OUTを有する。レシーバ100の入力段には増幅回路110が設けられ、レシーバ100の出力段には増幅回路120が設けられている。
端子INP、INNは差動信号用の入力端子であり、伝送媒体108が電気的に接続される。端子INNの入力信号は、端子INPの入力信号の反転信号であり、位相差は180°である。端子OUTはシングルエンド信号用の出力端子であり、受信側の内部回路103に電気的に接続されている。
増幅回路110、120には電源電圧Vddd、Vssdが入力される。Vdddは高レベル電源電圧であり、Vssdは低レベル電源電圧である。電源電圧Vddd、Vssdは、レシーバ100の後段に接続される内部回路103の高レベル電源電圧、低レベル電源電圧と同じにすることができる。電源電圧Vdddはデータ“1”を表す電圧であり、電源電圧Vssdはデータ“0”を表す電圧である。
増幅回路110は差動入力、差動出力の増幅回路であり、端子INP1、INN1、OUTP1、OUTN1を有する。増幅回路120は差動入力、シングルエンド出力の増幅回路であり、端子INP2、INN2、OUT2を有する。端子INP1、INN1はそれぞれ端子INP、INNに電気的に接続されている。端子INP2、INN2はそれぞれ端子OUTP1、OUTN1に電気的に接続されている。端子OUT2は端子OUTに電気的に接続されている。
増幅回路110は、端子INP、INNに入力される差動信号を増幅し、差動信号を生成する。生成された差動信号は端子OUTP1、OUTN1から出力される。増幅回路120は、端子INP2、INN2に入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する機能を有する。増幅回路120で生成されたシングルエンド信号は端子OUT2を経て、端子OUTから出力される。また、増幅回路120は、コンパレータ回路の機能を備えており、端子INP2、INN2の電圧に応じて、高レベル電圧の信号または低レベル電圧の信号を出力する。
図1Cに増幅回路110の回路構成例を示す。増幅回路110は、トランジスタNM1、NM2、電流源112、負荷回路113を有する。トランジスタNM1、NM2は、増幅回路110の差動対111を構成する。トランジスタNM1、NM2はnチャネル型トランジスタ(以下、「NMOS」と表記する。)である。電流源112はバイアス電流Issを差動対111に供給するための定電流源である。例えば、電流源112はNMOSで構成される。負荷回路113は、トランジスタNM1、NM2に負荷Rd1、Rd2を与える。例えば、負荷回路113は、抵抗素子、トランジスタで構成される。
以下、本実施の形態に係るレシーバの構成、効果等の理解を助けるため、レシーバ100と比較例のレシーバとを対比して説明する。
図33は比較例のレシーバを示す。図33に示すレシーバ900はインターフェース回路902に設けられている。レシーバ900で生成されたシングルエンド信号は内部回路903に入力される。ここでは、一例として、インターフェース回路102、902の電源電圧Vdda/Vssaは3.3V/0Vであり、内部回路103、903の電源電圧Vddd/Vssdは1.2V/0Vである。
レシーバ900は端子INP、INN、OUT、増幅回路910、920、レベルシフタ930を有する。増幅回路910の差動対911はトランジスタPM1、PM2で構成される。トランジスタPM1、PM2はPチャネル型トランジスタ(以下、「PMOS」と表記する。)である。増幅回路910、920にはインターフェース回路902と同じ電源電圧Vdda、Vssaが入力される。
レシーバ100、900、内部回路103、903を構成するトランジスタは、動作電圧に応じた耐圧特性を備える。本明細書では、特段の断りがない場合、トランジスタの耐圧とは、ゲート‐ソース間、およびドレイン‐ソース間に印加可能な最大電圧のことをいう。
ここでは便宜的に、電源電圧Vddd(=1.2V)で動作するトランジスタを「LV(Low Voltage)デバイス」と呼び、電源電圧Vdda(=3.3V)で動作するトランジスタを「MV(Middle Voltage)デバイス」と呼ぶ。つまり、MVデバイスはLVデバイスよりも耐圧が高いデバイスである。また、電圧レベルがVddd、Vddaであることを、それぞれLVレベル、MVレベルのように表記する場合がある。
トランジスタの耐圧を高くするには、ゲート絶縁層を厚くする、チャネル長を大きくするなどの方法がある。例えば、MVデバイスとLVデバイスとは、Cox(単位面積当たりのゲート容量)の大きさによって分類することができる。Coxが大きい方のトランジスタがLVデバイスであり、Coxが小さい方のトランジスタがMVデバイスである。
増幅回路910、920はMVデバイスで構成され、電源電圧Vdda、Vssaが供給される。増幅回路910は、振幅350mVの差動信号を増幅し、MVレベルの差動信号を生成する。増幅回路910は、差動対911、電流源912を有する。差動対911は2のPMOSで構成される。電流源912は、差動対911のバイアス電流の電流源であり、例えばPMOSで構成される。増幅回路920は、入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する。増幅回路920の入力信号、出力信号の電圧レベルはMVレベルである。
内部回路903はLVデバイスで構成される。レベルシフタ930は、レシーバ900の出力信号の電圧レベルをMVレベルからLVレベルにレベルダウンするために設けられている。したがって、レベルシフタ930の入力段はMVデバイスで構成され、出力段はLVデバイスで構成される。入力段はMVレベル信号をレベルダウンし、LVレベル信号を生成する。出力段はLVレベル信号の波形整形を行う。
トランジスタのオン抵抗はCoxに反比例するので、MVデバイスの最大動作周波数はLVデバイスよりも低い。そのため、レシーバ900の最大動作周波数、および伝達遅延時間は、レシーバ900を構成するMVデバイスの周波数特性に依存する。特に、レベルシフタ930のMVデバイスを1.2Vで駆動することが、最大動作周波数の向上、および伝達遅延時間の短縮の妨げとなる大きな要因の一つである。
そこで、本実施の形態は、出力段にレベルシフタを設ける必要のないレシーバを提供することを課題とする。図1B、図1Cに示すレシーバ100はこのようなレシーバの一例である。
インターフェース回路102の電源電圧Vdda/Vssaは3.3V/0Vであり、内部回路103の電源電圧Vddd/Vssdは1.2V/0Vであるとする。増幅回路110、120の高レベル、低レベル電源電圧は、内部回路103と同じ電源電圧Vddd、Vssdである。したがって、増幅回路110、120の出力レベルは電源電圧Vdddを超えない。
増幅回路110において、差動対111のトランジスタNM1、NM2はMVデバイスであり、その他のトランジスタはLVデバイスである。差動対111をMVデバイスで構成するのは、端子INP、INNに入力される差動信号の最大電圧が電源電圧Vdddよりも高い1.425Vであること、インターフェース回路102の電源電圧がVddaであるため、差動対111には電圧Vddaが印加される可能性があることが理由である。
差動対111に入力される差動信号の電圧範囲が1.075V乃至1.425Vであり、電源電圧Vdddが1.2Vであるため、トランジスタNM1、NM2はNMOSである。これは、差動対111をPMOSで構成すると、入力電圧の全範囲において差動対111を正常に動作させることができないからである。同様の理由で、増幅回路910の差動対911はPMOSで構成されている。増幅回路110の差動対111がNMOSで構成されているため、増幅回路120の差動対はPMOSで構成されている。
増幅回路110において、トランジスタNM1、NM2以外のトランジスタは、1.2Vを超える電圧が印加されないため、これらはLVデバイスである。増幅回路110の出力レベルは、LVデバイスに入力可能なレベルにできるので、増幅回路120を構成する全てのトランジスタをLVデバイスにすることができる。よって、増幅回路120の出力レベルもLVデバイスに入力可能な電圧レベルにできるので、増幅回路120の出力信号をレベルダウンするためのレベルシフタを設ける必要がない。
また、増幅回路110の差動対111のみMVデバイスで構成することで、増幅回路110と増幅回路120を単電源電圧で駆動することが可能になる。
レシーバ100において、差動対111はトランスミッタ105から送信される差動信号を受信するので、トランジスタNM1、NM2は、耐圧性を持たせるためMVデバイスとし、その他のトランジスタを周波数特性のより優れたLVデバイスとすることが可能である。そのため、レシーバ100の動作周波数を向上でき、伝達遅延時間を短縮することができる。特に、レシーバ100の出力段にレベルシフタを設ける必要がないことが、動作周波数の向上、伝達遅延時間の短縮に大きく貢献する。レシーバ100をLVデバイスで構成できることから、回路面積の縮小、消費電力の低下などの効果を得ることができる。
増幅回路110、120は単電源増幅回路とすることができる。増幅回路110は入出力の直線性の高い回路であることが好ましい。増幅回路120はレールツーレール(rail‐to‐rail)出力が可能であることが好ましい。
以下、レシーバのいくつかのより具体的な回路構成例を示す。
<<レシーバ140>>
図2にレシーバの構成例を示す。レシーバ140は、増幅回路150、160、端子INP、INN、OUT、VH、VL、NCAS、PCAS、NBIAS、PBIASを有する。
増幅回路150は、フォールデッドカスコード型オペアンプである。増幅回路160は、バッファオペアンプである。
端子INP、INNは差動信号用の入力端子であり、端子OUTはシングルエンド信号用の出力端子である。端子VHは電源電圧Vddd用の入力端子であり、端子VLは電源電圧Vssd用の入力端子である。端子NCAS、PCAS、NBIAS、PBIASは、それぞれ、バイアス電圧用の入力端子である。端子NCAS、PCAS、NBIAS、PBIASには、それぞれ、電圧Vcs1、Vcs2、Vbs1、Vbs2が入力される。
<増幅回路150>
増幅回路150は、トランジスタNM11、NM12、NL13、NL14、PL11―PL14、抵抗素子R11、R12を有する。トランジスタNM11、NM12はMVデバイスであり、トランジスタNL13、NL14、PL11―PL14はLVデバイスである。
トランジスタNM11、NM12は差動対を構成する。ここでは、差動対(NM11、NM12)とは、トランジスタNM11、NM12によって構成される差動対であることを表している。ほかの構成要素についても同様に表記する。
トランジスタNL13は差動対(NM11、NM12)にバイアス電流Iss1を供給する電流源を構成する。トランジスタNL14はカスコードトランジスタである。場合によって、トランジスタNL14は設けなくてもよい。
トランジスタPL11、PL12はカスコードトランジスタである。トランジスタPL13はバイアス電流Iss2を生成する電流源であり、トランジスタPL14は、バイアス電流Iss3を生成する電流源である。ここでは、トランジスタPL13、PL14は、差動対(NM11、NM12)およびトランジスタPL11、PL12にバイアス電流を供給する負荷電流源として機能する。
抵抗素子R11、R12は、トランジスタPL11、PL12の負荷抵抗として機能する。なお、抵抗素子R11の代わりに1または複数のNMOSでなる負荷電流源を設けることも可能である。抵抗素子R12についても同様である。図2に例示するように、トランジスタPL11、PL12の負荷を線形素子で構成することで、増幅回路150の線形性を向上させることができる。
<増幅回路160>
増幅回路160は、トランジスタPL21―PL25、NL24―NL29を有する。トランジスタPL21―PL25、NL24―NL29はLVデバイスである。増幅回路160は2段オペアンプである。入力段の増幅回路は差動入力‐差動出力増幅回路であり、トランジスタPL21―PL23、NL26―NL29で構成される。出力段の増幅回路は差動入力‐シングルエンド出力増幅回路であり、トランジスタPL24、PL25、NL24、NL25で構成される。
(入力段) トランジスタPL21、PL22は、入力段の差動対を構成する。トランジスタPL23は差動対(PL21、PL22)にバイアス電流Iss4を供給する電流源を構成する。トランジスタNL26、NL27によってカレントミラー回路が構成され、トランジスタNL28、NL29によってカレントミラー回路が構成される。カレントミラー回路(NL26、NL27)、(NL28、NL29)は、それぞれ、差動対(PL21、PL22)にバイアス電流Iss5、Iss6を供給する電流負荷として機能する。
(出力段) トランジスタNL24、NL25はカレントミラー回路を構成し、トランジスタPL24、PL25はカレントミラー回路を構成する。カレントミラー回路(PL24、PL25)はバイアス電流Iss7、Iss8を差動対(NL24、NL25)に供給する機能を有する。
レシーバ140の入力段はフォールデッドカスコードオペアンプである。フォールデッドカスコードオペアンプは、ゲインの直線性は高いが、低ゲインである。そこで、レシーバ140の出力段にバッファオペアンプを設けることで、端子OUTの電圧振幅を、レシーバ140の出力に要求される|Vddd−Vssd|にすることを実現している。
入力段の増幅回路150は、端子INP、INNに入力された差動信号を線形的に増幅し、出力する。つまり、増幅回路150は、差動信号を、増幅回路160で検知可能な振幅に線形的に増幅する機能をもつ。出力段の増幅回路160は、入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する機能をもち、更に、入力される差動信号の電圧レベルを電源レールまで高速に増幅する機能をもつことが好ましい。
<<レシーバ141>>
図3にレシーバの構成例を示す。レシーバ141は、増幅回路151、161、端子INP、INN、OUT、VH、VL、NCAS、PCAS、NBIAS、PBIAS、STBY、STBYBを有する。レシーバ141はレシーバ140の変形例であり、動作モードにスタンバイモードをもつ。以下、レシーバ140との相違点を中心に、レシーバ141を説明する。
端子STBY、STBYBは、信号STBE、STBEB用の入力端子である。信号STBE、STBEBはスタンバイイネーブル信号である。信号STBEBは信号STBEの反転信号である。“H”の信号STBEが入力されることで、レシーバ141はスタンバイモードに移行する。
レシーバ141には、トランジスタNL31―NL34、PL31―PL33が設けられる。これらトランジスタは、LVデバイスであり、レシーバ141内の電流源を構成するトランジスタをオフ状態にするためのスイッチとして機能する。具体的には、トランジスタPL31は、電源電圧Vddd用の電源線と、トランジスタPL13、PL14、PL23のゲート間の導通状態を制御する。トランジスタNL33は、電源電圧Vssd用の電源線と、トランジスタNL26、NL27のゲート間の導通状態を制御する。他のトランジスタも同様の機能をもつ。
増幅回路151は増幅回路150の変形例であり、増幅回路150にトランジスタNL31、NL32、PL31、PL32を追加した回路である。増幅回路161は増幅回路160の変形例であり、増幅回路160にトランジスタNL33、NL34、PL33を追加した回路である。
(スタンバイモード)
信号STBEが“H”である(信号STBEBは“L”である)とき、増幅回路151において、3のカスコードトランジスタ(トランジスタNL14、PL11、PL12)はオフ状態となり、3の電流源(トランジスタNL13、PL13、PL14)がオフ状態となる。増幅回路161において、各電流源(トランジスタPL23、カレントミラー回路(NL26、NL27)、(NL28、NL29)、(NL24、NL25)(PL24、PL25))はオフ状態となる。
したがって、スタンバイモードではレシーバ141内の全ての電流源が停止するので、レシーバ141の消費電流を効果的に低減することができる。例えば、電源電圧Vdddが1.2Vであり、Vssdが0Vのとき、レシーバ141の消費電流はアクティブモードでは数mA乃至数十mAであるのを、スタンバイモードでは数nA乃至数十nAに低減することができる。
トランジスタNL31―NL34、PL31―PL33を適宜取捨することで、スタンバイモードを実現することができる。例えば、トランジスタNL31、PL31のみを設ける。この場合、スタンバイモードでは、バイアス電流Iss1の電流源(NL31)と、バイアス電流Iss3の電流源(PL23)とが停止するため、増幅回路151、161を停止させることができる。
スタンバイモードでは、レシーバ141の端子OUTの論理が不定になる。必要に応じて、スタンバイモードでの端子OUTの論理を固定するための回路をレシーバ141に設けてもよい。図4―図6にそのような構成を例示する。
<<レシーバ142>>
図4に示すレシーバ142は、レシーバ141の出力段にプルアップ回路172を設けたものである。プルアップ回路172はトランジスタPL42を有する。トランジスタPL42はLVデバイスである。スタンバイモードではトランジスタPL42はオン状態となるため、端子OUTの電圧レベルを電源電圧Vdddに固定することができる。
<<レシーバ143>>
図5に示すレシーバ143は、レシーバ141の出力段にプルダウン回路173を設けたものである。プルダウン回路173はトランジスタNL42を有する。トランジスタNL42はLVデバイスである。スタンバイモードではトランジスタNL42はオン状態となるため、端子OUTの電圧レベルを電源電圧Vssdに固定することができる。
<<レシーバ144>>
図6に示すレシーバ144は、レシーバ141の出力段にラッチ回路174を設けたものである。ラッチ回路174はLVデバイスで構成される。ラッチ回路174はクロックドインバータ175、176、インバータ177、178を有する。信号STBEが“L”のとき、クロックドインバータ175はアクティブであり、信号STBEが“H”のとき、クロックドインバータ176はアクティブである。
レシーバ144がアクティブモード(信号STBEが“L”である)のとき、増幅回路161の出力はクロックドインバータ175、インバータ177を経て、端子OUTから出力される。このとき、ラッチ回路174は、2段のインバータでなるバッファ回路として機能する。
レシーバ144がスタンバイモード(信号STBEが“H”である)のとき、ラッチ回路174はアクティブ状態になる。信号STBEが“H”になると、クロックドインバータ175は非アクティブとなり、増幅回路161の出力端子と端子OUT間が非導通状態となる。クロックドインバータ176はアクティブとなり、クロックドインバータ176とインバータ178とでなるラッチ回路が構成される。このラッチ回路によって、スタンバイモードになる直前のインバータ177の入力信号が保持される。したがって、スタンバイモードでは、レシーバ143の端子OUTの論理は、スタンバイモードになる直前の端子OUTの論理に固定される。
図2に示すレシーバ140の出力段に、プルアップ回路172、プルダウン回路173、またはラッチ回路174の何れかを設けてもよい。
<<バイアス電圧生成回路180>>
ここでは、レシーバ140にバイアス電圧Vbs1、Vbs2、Vcs1、Vcs2を供給するバイアス電圧生成回路について説明する。図7に示すバイアス電圧生成回路180は動作モードにスタンバイモードをもつ。
バイアス電圧生成回路180には、電源電圧Vddd、Vssd、参照電流Iref、信号STBE、STBEBが入力される。バイアス電圧生成回路180は参照電流Irefに応じたバイアス電圧Vbs1、Vcs1、Vbs2、Vcs2を生成する。例えば、参照電流Irefはバンドギャップレファレンス回路で生成される。
バイアス電圧生成回路180のトランジスタはLVデバイスである。図7において、トランジスタNL51―NL54、PL51、PL52はスタンバイモードを実現するために設けられているトランジスタである。信号STBEが“H”である(信号STBEBが“L”である)とき、参照電流Irefに関わらず、バイアス電圧生成回路180はバイアス電圧Vbs1、Vcs1として電圧Vssdを出力し、バイアス電圧Vbs2、Vcs2として電圧Vdddを出力する。
バイアス電圧生成回路180を用いることで、スタンバイモードのとき、レシーバ140の増幅回路150内の全ての電流源と、全てのカスコードトランジスタをオフ状態にすることができ、増幅回路161のトランジスタPL23をオフ状態にすることができる。すなわち、レシーバ140のスタンバイモードでの消費電力を低減できる。
バイアス電圧生成回路180は、レシーバ141のバイアス電圧生成回路として用いることができる。この場合、レシーバ141にトランジスタNL31、NL32、PL31、PL32を設けなくてもよい。レシーバ142―144についても同様である。
本実施の形態によって、レベルシフタが必要ないレシーバを提供することができる。本実施の形態のレシーバは、トランスミッタから送信される差動信号を受信する差動対のみをMVデバイスで構成し、他のトランジスタをLVデバイスとすることができる。その結果、本実施の形態によって、動作周波数の向上、伝達遅延時間の短縮、回路面積の縮小、通常動作時の消費電力の低減等が可能となる。また、レシーバが、スタンバイモードをサポートする構成であることで、スタンバイ時の消費電流を低減することができる。
<<LVDSレシーバIC>>
以下、LVDSレシーバICの構成例を説明する。
<構成例1>
図8に、入力チャンネル数が4であるLVDSレシーバICの構成例を示す。LVDSレシーバIC200は、レシーバ210<1>―210<4>、バイアス電圧生成回路212、参照電流生成回路213、ロジック回路215、ピンRINP1―RINP4、RINN1―RINN4、ROT1―ROT4、VH1、VL1、CEを有する。
ピンRINP1―RINP4、RINN1―RINN4は、差動信号入力用ピンである。LVDSレシーバIC200内には、ピンRINP1とピンRINN1とを終端処理するための抵抗が設けられている。その他の差動信号入力用ピンも同様に終端処理されている。
ピンROT1―ROT4はシングルエンド信号出力用ピンである。ピンVH1、VL1は電源電圧入力用ピンであり、例えば、ピンVH1には電源電圧Vdddが入力され、ピンVL1は接地電圧(GND)が入力される。ピンCEはチップイネーブル信号の入力ピンである。
ロジック回路215は、チップイネーブル信号に基づいて、信号STBE、STBEBを生成する。チップイネーブル信号が“H”であれば、信号STBEは“L”(信号STBEBは“H”)であり、チップイネーブル信号が“L”であれば、信号STBEは“H”(信号STBEBは“L”)である。信号STBE、STBEBはレシーバ210に入力される。レシーバ210には、スタンバイ機能を備えるレシーバを適用すればよく、ここでは、レシーバ143(図5)を適用することとする。チップイネーブル信号が“L”である間、レシーバ210はスタンバイ状態である。
バイアス電圧生成回路212はレシーバ210にバイアス電圧を供給する。バイアス電圧生成回路212には参照電流生成回路213が生成する参照電流が供給される。バイアス電圧生成回路212として、スタンバイ機能を備えたバイアス電圧生成回路180を用いてもよい。この場合、例えば、レシーバ210を、レシーバ140(図2)とプルダウン回路173(図5)とで構成することで、バイアス電圧生成回路212がスタンバイ状態になることで、レシーバ210をスタンバイ状態にすることができる。
<構成例2>
図9に、LVDSレシーバICの構成例を示す。LVDSレシーバIC201は、入力チャンネル数が4であり、32(4×8)ビットのパラレルデータ信号を出力する機能をもつ。LVDSレシーバIC201はデシリアライザの機能を備える。LVDSレシーバIC201は、レシーバ210<1>―210<5>、シリアル‐パラレル(S/P)変換回路220<1>―220<4>、位相同期(PLL;Phase Locked Loop)回路221、バイアス電圧生成回路212、参照電流生成回路213、ロジック回路215、ピンRINP1―RINP4、RINN1―RINN4、CKINP、CKINN、ROT1_1―ROT1_8、ROT2_1―ROT2_8、ROT3_1―ROT3_8、ROT4_1―ROT4_8、RCKO、VH1、VL1、CEを有する。
LVDSレシーバIC201は、4のデータレーンと、1のクロックレーンを有する。クロックレーンには、ピンCKINP、CKINNから差動クロック信号RCLK_P、RCLK_Nが入力される。レシーバ210<5>は差動クロック信号RCLK_P、RCLK_Nをシングルエンドクロック信号に変換する。PLL回路221はシングルエンドクロック信号から、クロック信号CLKOUT、サンプリング信号SMP1―SMP8を生成する。サンプリング信号SMP1―SMP8は、シリアル‐パラレル変換回路220<1>―220<4>に入力される。クロック信号CLKOUTはピンRCKOから出力される。
j番目(jは1乃至4の整数)のデータレーンにおいて、ピンRINPj、RINNjから差動データ信号DINj_P、DINj_Nが入力される。レシーバ210<j>は差動データ信号DINj_P、DINj_Nをシングルエンドデータ信号に変換する。シリアル‐パラレル変換回路220<j>は、サンプリング信号SMP1―SMP8に従い、レシーバ210<j>の出力信号をサンプリングして、8ビットのデータ信号DOj[7:0]に変換する。データ信号DOj[7:0]は、ピンROTj_1―ROTj_8から出力される。
本実施の形態のレシーバはLVDSレシーバに限定されるものではなく、差動信号を受信する様々なレシーバに適用することが可能である。
〔実施の形態2〕
本実施の形態では、LVDS伝送システムを備える半導体装置の一例として、表示システム、タッチパネルシステム等について説明する。
<<表示システム240>>
図10Aは、表示システムの構成例を示すブロック図である。表示システム240は、プロセッシングユニット250、電源回路254、表示装置270を有する。表示装置270は、画素アレイ280、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296、表示コントローラIC300を有する。
プロセッシングユニット250は、実行ユニット251およびメモリ装置252を有する。実行ユニット251は、プログラムを実行する機能を有する。例えば、実行ユニット251は、ALU(演算装置)であり、メモリ装置252は、キャッシュメモリである。または、実行ユニット251には、CPU(中央処理装置)、MPU(マイクロプロセッシングユニット)、プログラマブルロジックデバイス(例えば、FPGA)などの各種の処理装置を適用できる。この場合、メモリ装置252は処理装置のメインメモリでもよいし、キャッシュメモリでもよい。また、表示装置270が電子部品として電子機器に組み込まれている場合、プロセッシングユニット250は、電子機器(ホスト装置)の処理装置であってもよい。
プロセッシングユニット250は命令を実行し、表示システム240を統括的に制御するための回路である。プロセッシングユニット250が実行する命令は、外部から入力される命令、およびメモリ装置252に格納された命令である。プロセッシングユニット250は、電源回路254、表示装置270を制御する信号を生成する。
表示システム240は、使用環境、使用態様を検知するための1又は複数のセンサ装置を備える。例えば、表示システム240は、光センサ装置256、傾斜センサ装置257、開閉センサ装置258を有する。なお、ここでは便宜的に、これらセンサ装置256―258を総称して、センサユニット255と呼ぶ場合がある。センサユニット255の検知信号は、プロセッシングユニット250、表示装置270に送信される。
光センサ装置256は、外光5の照度を検出する機能を備える。光センサ装置256は、外光5の色温度を検出する機能を備えていてもよい。傾斜センサ装置257は、表示装置270の画面の傾きを検出するためのセンサ装置である。開閉センサ装置258は、表示装置270が組み込まれる筐体の開閉状態検知するためのセンサ装置である。
<表示装置270>
ここでは、表示装置270がハイブリッド表示装置である例を示す。表示装置270は、画素アレイ280、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296、表示コントローラIC300を有する。ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296は、画素アレイ280と共に同一基板上に作製された回路である。なお、画素アレイ280を支持する基板は、画素アレイ280の作製時に使用した基板と異なる場合がある。
表示装置270は単数または複数の表示コントローラIC300が実装される。表示コントローラIC300の数は、画素アレイ280の画素数に応じて決定される。ここでは、表示コントローラIC300の実装方式は、COG(Chip on Glass)方式としているが、実装方式に特段の制約はなく、COF(Chip on Flexible)方式、TAB(Tape Automated Bonding)方式などでもよい。表示コントローラIC300は、プロセッシングユニット250からの制御信号、センサユニット255の検知信号に基づいて、表示装置270の動作を統括的に制御する機能を備える。
(画素アレイ280)
画素アレイ280は、行列状に配列された複数のサブ画素20を有する。サブ画素20は対応する行のゲート線に電気的に接続され、対応する列のソース線に電気的に接続されている。図11Aに画素アレイ280の構成例を示す。
図11Aには、代表的に1行3列に配列された3のサブ画素20を示している。サブ画素20[j,2k]とは、第j行第2k列のサブ画素20であることを示し、配線GLL[j]は第j行の配線GLLであることを示し、配線SLE[k]は、第k列の配線SLEであることを示している。j、kは1よりも大きい整数である。
サブ画素20は、サブ画素25、27を有する。サブ画素25は配線GLL、SLL、CSLと電気的に接続されている。サブ画素27は配線GLE、SLE、ML、ANLに電気的に接続されている。
配線GLL、GLEはゲート線である。配線GLLはゲートドライバ回路290Aに電気的に接続され、配線GLEはゲートドライバ回路290Bに電気的に接続されている。なお、表示装置270に、2のゲートドライバ回路290Aを設け、一方は奇数行の配線GLLと電気的に接続し、他方は偶数行の配線GLLと電気的に接続してもよい。ゲートドライバ回路290Bも同様である。
配線SLL、SLEはソース線である。配線SLL[2k−1]と配線SLL[2k]は、配線ML[k]を挟んで隣接して設けられている。配線SLE[2k]と配線SLE[2k+1]は、隣接して設けられている。
配線SLL、SLEは、それぞれ、スイッチアレイ295を介して表示コントローラIC300に電気的に接続されている。スイッチアレイ295は、表示コントローラIC300に電気的に接続される配線SLL、SLEを選択する機能をもつ。
サブ画素25は反射型の表示画面を構成するサブ画素である。サブ画素27は発光型の表示画面を構成するサブ画素である。
(サブ画素25)
サブ画素25は、トランジスタM1、容量素子C1、LC(液晶)素子RE1を有する。LC素子RE1は、画素電極、コモン電極、液晶層で構成される。ここでは、画素電極は外光を反射する機能をもつ反射電極である。コモン電極には電圧VCMが入力される。電圧VCMはLC素子RE1のコモン電圧であり、電源回路254によって供給される。配線CSLは、容量素子C1に電圧を印加するための容量線である。
ここでは、サブ画素25は反射型液晶表示装置のサブ画素と同じ構成であるが、サブ画素25の構成はこれに限定されない。サブ画素25は外光を利用して表示ができる構造を有していればよい。例えば、サブ画素25に適用される表示素子として、MEMS素子、電気泳動方式の表示素子、粒子移動方式の表示素子、および粒子回転方式の表示素子などがある。
(サブ画素27)
サブ画素27は、トランジスタM2―M4、容量素子C2、EL(エレクトロルミネセンス)素子EE1を有する。EL素子EE1は、一対の電極(アノード電極、カソード電極)、および一対の電極に挟まれたEL層を有する。図11Aの例ではEL素子EE1の画素電極がアノード電極であり、コモン電極がカソード電極である。EL層は、発光性の物質を含む層(発光層)を少なくとも含む。EL層には、その他に、電子輸送物質を含む層(電子輸送層)、正孔輸送物質を含む層(正孔輸送層)など、他の機能層を適宜設けることができる。EL素子は、発光物質が有機物である場合は有機EL素子と呼ばれ、無機物である場合は無機EL素子と呼ばれる。サブ画素27の表示素子は発光素子であればよく、EL素子に限定されない。例えば、発光素子には、発光ダイオード、発光トランジスタ、量子ドット(Quantum‐dot)発光ダイオード等がある。
EL素子EE1のコモン電極に入力される電圧VCTはEL素子EE1のコモン電圧である。配線ANLはアノード線であり、電圧VCTよりも高い電圧が入力される。
トランジスタM2は選択トランジスタであり、トランジスタM3は駆動トランジスタである。容量素子C2はトランジスタM3のゲート電圧を保持するために設けられている。
トランジスタM4は、EL素子EE1の画素電極と配線ML間の導通状態を制御するスイッチとして機能する。配線MLはモニタ線であり、サブ画素27を流れる電流を検出するための配線である。また、配線MLは画素電極に定電圧を供給する電源線の機能をもつ。配線MLはスイッチアレイ296を介して表示コントローラIC300に電気的に接続されている。スイッチアレイ296は、配線MLと表示コントローラIC300間の導通状態を制御する機能、配線MLに定電圧を入力する機能をもつ。ここでは、偶数列と奇数列で1本の配線MLを共有している。
サブ画素20において、トランジスタM3はバックゲートを有する。トランジスタM3において、ゲートとバックゲートとを電気的に接続することで、トランジスタM3の電流駆動能力を向上させている。トランジスタM3のバックゲートをドレインまたはソースに電気的に接続してもよい。また、トランジスタM1にバックゲートを設け、バックゲートを、ゲート、ドレインまたはソースの何れかに電気的に接続してもよい。トランジスタM1、M2、M4も同様である。
表示装置270がカラー表示を行う場合、表示色の異なる複数のサブ画素20によって、1の画素が構成される。例えば、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)を表示する3のサブ画素20で、1画素を構成することができる。
本明細書では、サブ画素の表示色を用いて、構成要素を区別する場合、R、_R等の識別記号を付すことにする。例えば、サブ画素20Rは赤色を表示するサブ画素20を表す。配線SLL_G[k]とは、緑色用のデータ信号が入力される第k番目の配線SLLを表している。
画素の構成は上記に限らない。例えば、1のサブ画素20R、1のサブ画素20G、2のサブ画素20Bで画素を構成することもできる。表示色が異なる4のサブ画素20で単位画素を構成することもできる。この場合4種類の表示色の組み合わせとして、[R,G,B,W(白色)][R,G,B,Y(黄色)]、[R,G,B,C(シアン)]などが挙げられる。
表示色に応じて、サブ画素27のトランジスタのサイズを異ならせてもよい。例えば、RGBの3のサブ画素20で画素が構成される場合、サブ画素27BのトランジスタM3は、サブ画素27R、27GのトランジスタM3よりもチャネル幅は短い。
画素アレイ280において、サブ画素25は反射型の表示画面を構成し、サブ画素27は発光型の表示画面を構成する。図11Bを参照して、表示装置270の表示原理を説明する。
図11Bは、表示装置270の積層構造を模式的に示す図である。表示装置270は、基板401と基板402との間に、トランジスタ層410、EL素子層411、LC層412を有する。封止材405によって設けられた基板402とトランジスタ層410との隙間に、LC層412は存在する。図11Bの例では、トランジスタ層410、EL素子層411は作製時の支持基板から分離され、基板401に取り付けられている。
トランジスタ層410は、画素アレイ280、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296を構成する素子が設けられる層である。素子としては、トランジスタ、容量素子、整流素子、抵抗素子等がある。トランジスタ層410に、トランジスタを2層以上積層して設けてもよい。
トランジスタ層410に設けられるトランジスタ、容量素子等の各種素子のデバイス構造には、特段の制約はない。画素アレイ280、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296のそれぞれの機能に適したデバイス構造を選択すればよい。例えば、トランジスタの構造としては、ゲートの構造による分類では、トップゲート型、ボトムゲート型、およびゲート(フロントゲート)とボトムゲート双方を備えたデュアルゲート型、複数のチャネル形成領域を有するマルチチャネル型(マルチゲート型とも呼ぶ。)が挙げられる。トランジスタのチャネル形成領域(半導体層)を構成する半導体の種類(組成や結晶構造等)にも特段の制約はない。チャネル形成領域に用いられる半導体としては、単結晶半導体、非単結晶半導体に大別される。非単結晶としては、多結晶半導体、微結晶半導体、非晶質半導体などが挙げられる。半導体材料には、Si、Ge、C等の第14族元素を1種または複数含む半導体(例えば、シリコン、シリコンゲルマニウム、炭化シリコン等)、金属酸化物半導体、窒化ガリウム等の化合物半導体等が挙げられる。
トランジスタ層410には、LC素子RE1の画素電極415、EL素子EE1の画素電極416、および端子部417が設けられている。画素電極415は反射電極であり、画素電極416は透過電極である。画素電極415はEL素子EE1の光426を取り出すために開口415aを有する。端子部417には表示コントローラIC300、FPC406が電気的に接続されている。FPC406はプロセッシングユニット250と表示コントローラIC300間の伝送路として機能する。
EL素子層411には、EL層、EL素子EE1のコモン電極418が設けられている。コモン電極418は反射電極である。基板402には、LC素子のコモン電極419、カラーフィルタ420等が設けられている。基板402の外光424が入射する表面に、光学フィルム(例えば、偏光フィルム、位相差フィルム、プリズムシート、反射防止フィルム)などを設けてもよい。
表示装置270は、外光を利用して表示を行う反射型表示装置、および発光素子の光で表示を行う発光型表示装置双方の機能を備えるハイブリッド表示装置である。外光424は基板402から入射し、カラーフィルタ420、コモン電極419およびLC層412を経て画素電極415で反射される。画素電極415の反射された光425はLC層412、コモン電極419、カラーフィルタ420を通り、基板402から射出する。光425の輝度は画素電極415とコモン電極419間の電位差によって決まる。光426の輝度は、画素電極416とコモン電極418間を流れる電流によって決まる。光426は、コモン電極418で反射され、画素電極415の開口415aを通り、LC層412、コモン電極419、カラーフィルタ420を経て、基板402から取り出される。
図12、図13A、図13Bにハイブリッド表示装置の画素アレイの他の構成例を示す。
<<画素アレイ281>>
図12に示す画素アレイ281は画素アレイ280(図11A参照)の変形例である。画素アレイ281は配線MLを有さない。画素アレイ281はサブ画素21を有する。サブ画素21はサブ画素25、28を有する。サブ画素28は、EL素子EE2、トランジスタM5、M6、容量素子C3を有する。サブ画素28に、サブ画素27と同様に、トランジスタM6のゲートとEL素子EE2の画素電極間の電圧を保持する保持容量を設けてもよい。
<<画素アレイ282>>
画素アレイ282は、サブ画素22、配線GLL、GLE1、GLE2、SLL、SLE1、SLE2、CSL、ANLを有する。サブ画素22はサブ画素25、27a―27dを有する。サブ画素27a―27dはサブ画素27と同様の構成を有する。
配線GLE1はサブ画素27a、27bを選択するためのゲート線であり、配線GLE2は、サブ画素27c、27dを選択するためのゲート線である。配線SLE1はサブ画素27a、サブ画素27cにデータ信号を伝送するためのソース線であり、配線SLE2はサブ画素27b、サブ画素27dにデータ信号を伝送するためのソース線である。
図13Aの例では、1のサブ画素22によって、画素を構成することができる。例えば、反射型のサブ画素25は、モノクロ画像(白黒2値画像、またはグレースケール画像)を表示し、発光型の4のサブ画素27a―27dはカラー画像を表示する。この場合、サブ画素27a―27dの表示色を、それぞれ、R、G、B、Wなどとすればよい。
<<画素アレイ283>>
図13Bに示す画素アレイ283は画素アレイ282の変形例であり、サブ画素22に代えてサブ画素23を有する。画素アレイ283は配線MLを有さない。サブ画素23はサブ画素25、28a―28dを有する。サブ画素28a―28dはサブ画素28と同様の構成を有する。サブ画素23もサブ画素22と同様に、1のサブ画素23によって、画素を構成することができる。
本実施の形態の表示システムにおいて、表示装置はハイブリッド表示装置に限定されるものでなない。例えば、液晶表示装置、EL表示装置、電子ペーパー表示装置、量子ドット表示装置など、様々な表示装置が適用される。
<<表示コントローラIC300>>
図10Bに表示コントローラIC300の構成例を示す。表示コントローラIC300は、インターフェース回路310、318、コントローラユニット315、ドライバ回路ユニット317を有する。
インターフェース回路310は、プロセッシングユニット250、電源回路254、センサユニット255とのインターフェースである。プロセッシングユニット250から送信されるデータ信号を受信するために、LVDSレシーバユニット312を備える。データ信号は、デジタル形式のビデオ階調データ信号であり、階調レベルを表す。データ信号は、プロセッシングユニット250のLVDSトランスミッタユニットによって、差動信号に変換されている。LVDSレシーバユニット312はデータ信号をシングルエンド信号に変換し、コントローラユニット315に出力する。
コントローラユニット315は、プロセッシングユニット250から送信される制御信号、センサユニット255から送信される信号等にもとづいて、受信したデータ信号を画像処理する機能をもつ。コントローラユニット315は、ドライバ回路ユニット317、ゲートドライバ回路290A、290Bのためのタイミング信号を生成する機能をもつ。ゲートドライバ回路290A、290B用のタイミング信号は、ドライバ回路ユニット317でレベルシフトされ、インターフェース回路318から出力される。
ドライバ回路ユニット317は、コントローラユニット315で処理されたデータ信号を、アナログ信号に変換し、アナログ階調データ信号を生成する。アナログ階調データ信号はインターフェース回路318、スイッチアレイ295を経て、画素アレイ280に入力される。
画素アレイ280の配線MLを流れる電流信号は、スイッチアレイ296、インターフェース回路318を経て、ドライバ回路ユニット317に入力される。ドライバ回路ユニット317は電流信号をデジタル信号に変換し、コントローラユニット315に出力する。コントローラユニット315は、この信号をもとに、画像処理する機能をもつ。
<LVDSレシーバユニット312>
図14にLVDSレシーバユニット312の構成例を示す。LVDSレシーバユニット312は、表示コントローラIC300のピンP1に電気的に接続されている。
ここでは、データ信号が12ビット階調データ信号であるとする。プロセッシングユニット250から送信される、12ビットのデータ信号DRA[11:0]、DRB[11:0]、および信号STBEはピンP1を経て、LVDSレシーバユニット312に入力される。LVDSレシーバユニット312は、データ信号DRA[11:0]、DRB[11:0]をシングルエンドのデータ信号DRO[11:0]に変換する。データ信号DRO[11:0]はコントローラユニット315に入力される。
LVDSレシーバユニット312は12のデータレーンと、バイアス電圧生成回路314とを有する。各レーンにはレシーバ313が設けられている。バイアス電圧生成回路314は、各レシーバ313が使用するバイアス電圧を生成する。
レシーバ313は、LVDSレシーバであり、一対の入力端子は終端処理されている。レシーバ313には、実施の形態1に係るレシーバを適用することができる。レシーバ313はスタンバイ機能を備えていることが好ましく、ここでは、レシーバ313にレシーバ143(図5)を適用する。例えば、信号STBEはプロセッシングユニット250から送信される。レシーバ313のためのバイアス電圧生成回路、バイアス電流生成回路は、コントローラユニットに設けられる。信号STBEは、コントローラユニット315、ドライバ回路ユニット317にも入力される。
<<コントローラユニット315>>
図15に、コントローラユニット315の構成例を示す。コントローラユニット315は、コントローラ330、クロック生成回路332、タイミングコントローラ333、レジスタ334、フレームメモリ335、ラインメモリ336、デコーダ338、画像処理ユニット340、を有する。コントローラユニット315が有する回路、およびその機能は、プロセッシングユニット250の規格、表示装置270の仕様等によって、適宜取捨される。
コントローラ330は、プロセッシングユニット250、センサユニット255から送信される信号に基づいて、コントローラユニット315を統括的に制御する。コントローラ330はセンサユニット255を制御する機能を備える。コントローラ330は電源回路254を制御する機能を有していてもよい。
クロック生成回路332は、表示コントローラIC300が使用するクロック信号を生成する。タイミングコントローラ333は、ドライバ回路ユニット317、ゲートドライバ回路290A、290Bが使用するタイミング信号(例えば、スタートパルス信号、クロック信号)を生成する機能を有する。レジスタ334は、コントローラ330、画像処理ユニット340、プロセッシングユニット250等が生成するデータを格納する。データには、画像処理ユニット340が補正処理を行うために使用するパラメータ、タイミングコントローラ333が各種タイミング信号の波形生成に用いるパラメータなどがある。
フレームメモリ335は、データ信号DRO[11:0]を保存するためのメモリである。フレームメモリ335から読み出されたデータ信号は、デコーダ338で伸長され、画像処理ユニット340に送信される。あるいは、データ信号DRO[11:0]をデコーダ338で伸長し、伸長したデータ信号をフレームメモリ335で保存してもよい。データ信号を伸長する必要がない場合、デコーダ338は処理を行わない。
画像処理ユニット340は、データ信号に対して各種画像処理を行う機能を有する。例えば、画像処理ユニット340は、ガンマ補正回路341、調光回路342、調色回路343、EL補正回路344を有する。
ドライバ回路ユニット317がサブ画素27を流れる電流を検出する電流検出回路を備えている場合、EL補正回路344は設けられる。EL補正回路344は、ドライバ回路ユニット317の電流検出回路から送信される信号CMO[11:0]に基づいて、EL素子EE1の輝度を調節する機能をもつ。
画像処理ユニット340は、表示装置270の画素がサブ画素20R、20G、20B、20Wで構成される場合、RGB‐RGBW変換回路を有していることが好ましい。RGB‐RGBW変換回路とは、RGB階調データを、RGBW階調データに変換する機能をもつ回路である。表示色の変換は、RGB‐RGBW変換に限らず、例えば、RGB‐RGBY変換、グレースケール変換などがある。
ガンマ補正、調光、調色などの画像補正処理は、入力階調データXに対して出力の補正データYを作成する処理に相当する。階調データXを、補正データYに変換するためのパラメータがレジスタ334に格納されている。コントローラ330は、プロセッシングユニット250、センサユニット255から送信される信号に基づいて、補正処理が最適化されるための制御を行う。
画像処理ユニット340で処理されたデータ信号はラインメモリ336に一時的に格納される。ラインメモリ336から読み出されたデータ信号DE[11:0]はドライバ回路ユニット317に送信される。図16にドライバ回路ユニット317の構成例を示す。
<<ドライバ回路ユニット317>>
ピンSはデータ信号の出力用ピンである。ピンSは、スイッチアレイ295を介して、配線SLLまたは配線SLEに電気的に接続されている。ピンMは電流信号の入力用ピンである。ピンMは、スイッチアレイ296を介して、配線MLに電気的に接続されている。ピンP2は、制御信号出力用ピンである。ピンP2は、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296の何れかに電気的に接続されている。
ドライバ回路ユニット317は、コントロールロジック回路351、シフトレジスタ352、ラッチ回路353、レベルシフタ354、デジタル‐アナログ変換回路(DAC)355、増幅回路(AMP)356、電流検出回路360、バンドギャップリファレンス回路(BGR)370、バイアス電圧生成回路(BIAS)372、373、レベルシフタ375を有する。電流検出回路360は、コントロールロジック回路361、積分回路362、アナログ‐デジタル変換回路(ADC)363、パラレル‐シリアル(P/S)変換回路364を有する。
コントロールロジック回路351には、コントローラユニット315からクロック信号CKE、データ信号DE[11:0]が入力される。コントロールロジック回路351は、クロック信号CKEを用いて、データ信号DE[11:0]をパラレル変換し、データ信号DBUS[143:0]を生成する。データ信号DBUS[143:0]は内部バスに送信される。コントロールロジック回路351は、コントローラユニット315から送信される信号から、シフトレジスタ352で使用するクロック信号、スタートパルス信号、ならびにラッチ回路353が使用するラッチコントロール信号等を生成する。
シフトレジスタ352は、ラッチ回路353がデータ信号DBUS[143:0]を格納するタイミングを制御するサンプリング信号を生成する。
シフトレジスタ352のサンプリング信号に従い、ラッチ回路353はデータ信号DBUS[143:0]を格納する。ラッチ回路353はラインごとに12ビットのデータ信号DLT[11:0]を格納する。ラッチコントロール信号に従い、全ラインのラッチ回路353はデータ信号DLT[11:0]をレベルシフタ354に出力する。
レベルシフタ354の各ラインにおいて、ラッチ回路353から出力されたデータ信号DLT[11:0]を昇圧して出力する。DAC355は、ラインごとに、12ビットのデータ信号をアナログデータ信号に変換する機能、アナログデータ信号の極性を決定する機能をもつ。DAC355の各ラインから出力されるアナログデータ信号は増幅回路356で増幅され、インターフェース回路318を経て、ピンSから出力される。
ピンMを流れる電流信号は、積分回路362によって電圧信号に変換される。ADC363は電圧信号を12ビットのデジタル信号に変換する。パラレル‐シリアル変換回路364は12ビットのパラレル信号をシリアル信号に変換し、出力する。信号CMO[11:0]はパラレル‐シリアル変換回路364の出力信号である。
バイアス電圧生成回路372は、増幅回路356で用いられるバイアス電圧を生成する回路であり、バイアス電圧生成回路373は、積分回路362で用いられるバイアス電圧を生成する回路である。BGR370は、バイアス電圧生成回路372、373で用いられる参照電流を生成する回路である。また、BGR370は、LVDSレシーバユニット312のバイアス電圧生成回路314で用いられる参照電圧も生成する(図14参照)。
レベルシフタ375は、コントローラユニット315で生成されるゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296の制御信号を昇圧するための回路である。レベルシフタ375で昇圧された制御信号は、インターフェース回路318を経て、ピンP2から出力される。
<<スイッチアレイ295>>
図17Aにスイッチアレイ295の構成例を示す。スイッチアレイ295は、スイッチ回路295a、295bを有し、表示コントローラIC300のピンS、ピンP1に電気的に接続される。ピンP1は、ソース線を選択するための信号(信号SELL_R、SELL_G、SELL_B、SELE_O、SELE_E)の出力用ピンである。ここでは、3(RGB)のサブ画素20によって画素が構成されている。
スイッチアレイ295は、ソース線を時分割駆動するために設けられる。スイッチアレイ295を設けることで、表示コントローラIC300のピンSの数を減らすことができる。スイッチアレイ295は表示コントローラIC300のピンSの数と配線SLE、SLLの本数とに応じて、適宜設ければよい。
スイッチ回路295aは、データ信号を入力する配線SLLを選択する機能をもつ。図17Bにスイッチ回路295a[k]の構成例を示す。スイッチ回路295a[k]は2入力6出力デマルチプレクサ(DeMUX)で構成されており、トランジスタMS1―MS6を有する。スイッチ回路295aは、表示コントローラIC300から入力されるデータ信号を3(RGB)分割する機能をもつ。例えば、表示コントローラIC300から出力されるデータ信号がRのデータ信号である期間に、信号SELL_Rが“H”となり、配線SLL_R[2k−1]、SLL_R[2k]にデータ信号が入力される。
スイッチ回路295bは、データ信号を入力する配線SLEを選択する機能をもつ。図17Cにスイッチ回路295b[k]の構成例を示す。スイッチ回路295b[k]は3入力6出力デマルチプレクサ(DeMUX)で構成されており、トランジスタMS11―MS16を有する。スイッチ回路295bは、表示コントローラIC300から入力されるR、G、Bのデータ信号をそれぞれ、2分割する機能をもつ。信号SELE_Oが“H”のとき、奇数列の配線SLE_R、SLE_G、SLE_Bにデータ信号が入力され、信号SELE_Eが“H”のとき、偶数列の配線SLE_R、SLE_G、SLE_Bにデータ信号が入力される。
<<スイッチアレイ296>>
図18Aにスイッチアレイ296の構成例を示す。スイッチアレイ296は、スイッチ回路296aを有し、表示コントローラIC300のピンM、ピンP2に電気的に接続される。ピンP2は、配線MLを選択するための信号(信号SELM1―SELM3)、信号MPONの出力用ピンである。電圧V0が、電源回路254からスイッチアレイ296に入力される。
図18Bにスイッチ回路296a[h](hは1以上の整数)の構成例を示す。スイッチ回路296a[h]は、トランジスタMS31―MS36を有する。トランジスタMS31―MS33により、3入力1出力マルチプレクサが構成される。トランジスタMS34―MS36は、それぞれ、配線MLに電圧V0を供給するためのパワースイッチとして機能する。
画素アレイ280を流れる電流を検出する場合は、信号MPONにより、トランジスタMS34―MS36はオフ状態である。スイッチ回路296a[k]は、信号SELM1―SELM3に従い、配線ML[3h−2]―ML[3h]の一部または全てを選択し、選択された配線とピンM[h]間を導通状態にする。
表示システム240で表示を行う場合は、配線ML[3h−2]―ML[3h]の電圧を固定する。そのため、信号SELM1―SELM3により、トランジスタMS31―MS33をオフ状態にし、信号MPONによりトランジスタMS34―MS36をオン状態にする。
<<表示システムの動作モード>>
以下、表示システム240の動作例について説明する。
表示システム240は3の表示モードを有することができる。第1の表示モードはLC素子RE1とEL素子EE1双方によって表示を行うモード(ハイブリッドモード)である。第2の表示モードはLC素子RE1のみで表示を行うモード(LCモード)であり、第3の表示モードはEL素子EE1のみで表示を行うモード(ELモード)である。図11Bに示す表示装置270の表示原理によれば、LCモードは反射モードと呼ぶことができ、ELモードは発光モードまたは透過モードと呼ぶことができる。
表示モードの決定は、表示コントローラIC300で行うことができる。表示コントローラIC300のコントローラ330は、センサユニット255の検知信号、使用者の操作等基づくプロセッシングユニット250の割り込み信号等により、表示モードを決定する。例えば、明るい環境(例えば、晴天の昼間の屋外。)では表示モードはLCモードに設定され、暗い環境(例えば、夜間の屋外)ではELモードに設定される。外光の照度が低い環境(例えば、照明器具で照明された室内、曇天の屋外。)、つまりLC素子RE1での反射光のみでは、良好な表示品位が得られないような環境では表示モードはハイブリッドモードに設定される。
コントローラ330は決定した表示モードを実行するための制御信号を画像処理ユニット340に送信する。画像処理ユニット340は、制御信号に従い、表示モードおよび表示装置270の構造に応じて、階調データ信号を処理する。
なお、プロセッシングユニット250で表示モードを決定し、決定した表示モードが実行されるための制御信号を表示コントローラIC300に送信することも可能である。
<ハイブリッドモード>
ハイブリッドモードでは、階調に応じた電圧レベルのデータ信号が表示コントローラIC300から配線SLL、配線SLEに出力される。
ハイブリッドモードは、LC素子RE1の表示に、EL素子EE1の表示を組み合わせることで、画面の色調を補正するために実行される場合がある。このような色調補正のためには、光センサ装置256に、外光5の色調を測定する機能を追加すればよい。例えば、夕暮れ時の赤みがかった外光環境下で表示システムを使用する場合、LC素子RE1による表示のみでは、表示色にB(青)成分が足りないため、EL素子EE1を発光させることで、画像の色調を補正することができる。
<ELモード>
ELモードが設定された場合、サブ画素25は黒表示を行う。そのため、配線SLL用のピンSからは、階調レベルが0のデータ信号が出力される。
<LCモード>
LCモードが設定された場合、サブ画素27は黒表示を行う。別言するとEL素子EE1を発光させない。そのため、配線SLE用のピンSからは、階調レベルが0のデータ信号が出力される。
(IDS駆動)
静止画は、フレームごとの画像信号のデータに変化がないため、1フレームごとに、サブ画素20、特にサブ画素25のデータの書き換えを行う必要がない。そこで、LCモードで静止画を表示する際は、1フレーム期間よりも長い時間、サブ画素20のデータ書き換えを一時的に停止するような駆動方法を実行させてもよい。ここでは、このような駆動方法を、「アイドリングストップ(IDS)駆動」と呼ぶこととする。
データ書き換え回数は、リフレッシュレート等を考慮して設定すればよい。また、IDS駆動におけるデータ保持時間は液晶の焼き付きを考慮して決定すればよく、例えば、最長1秒間であり、0.5秒以下0.2秒以下程度である。
データ書き換えを停止している期間、LVDSレシーバユニット312、ゲートドライバ回路290A、290B等、動作させる必要がない回路をスタンバイモードにすることができる。これにより、表示装置270の消費電力を低減することができる。
また、IDS駆動でも通常駆動と同じ表示品位を保つために、サブ画素25の容量素子C1(図11A参照)からの電荷のリークをできるだけ少なくすることが望ましい。電荷がリークしてしまうと、LC素子RE1に印加される電圧が変動して、サブ画素25の透過率が変化してしまうからである。そのため、トランジスタM1はオフ電流が小さいトランジスタであることが好ましい。そのようなトランジスタには、チャネルが金属酸化物半導体で形成されているトランジスタ(以下、「金属酸化物トランジスタ」、または「OSトランジスタ」と呼ぶ場合がある。)がある。OSトランジスタがSiトランジスタよりもオフ電流が小さいのは、金属酸化物でなる半導体のバンドギャップがSi、Geよりも広い(3.0eV以上)であるからである。
チャネル形成領域に用いられる酸化物には、In‐Sn‐Ga‐Zn酸化物、In‐Ga‐Zn酸化物、In‐Sn‐Zn酸化物、In‐Al‐Zn酸化物、Sn‐Ga‐Zn酸化物、Al‐Ga‐Zn酸化物、Sn‐Al‐Zn酸化物、In‐Zn酸化物、Sn‐Zn酸化物、Al‐Zn酸化物、Zn‐Mg酸化物、Sn‐Mg酸化物、In‐Mg酸化物や、In‐Ga酸化物、In酸化物、Sn酸化物、Zn酸化物等の金属酸化物を用いることができる。また、これら金属酸化物に、他の材料、例えば、SiOを含ませてもよい。OSトランジスタの酸化物半導体は、In、Znの少なくとも一方を含むものが好ましい。
電子供与体(ドナー)となる水分または水素等の不純物を低減し、かつ酸素欠損も低減することで、酸化物半導体をi型(真性半導体)にする、あるいはi型に限りなく近づけることができる。ここでは、このような酸化物半導体を高純度化酸化物半導体と呼ぶことにする。高純度化酸化物半導体でチャネルを形成することで、チャネル幅で規格化されたOSトランジスタのオフ電流を数yA/μm以上数zA/μm以下程度に低くすることができる。
OSトランジスタのオフ電流が極めて小さいのは、金属酸化物でなる半導体のバンドギャップが3.0eV以上であるからである。チャネル形成領域に金属酸化物を有するためOSトランジスタは、熱励起によるリーク電流が小さく、またオフ電流が極めて小さい。
OSトランジスタは高耐圧のトランジスタである。これは、金属酸化物でなる半導体は、電子が励起されにくく、ホールの有効質量が大きいからある。このため、OSトランジスタは、シリコン等を用いた一般的なトランジスタと比較して、アバランシェブレークダウン等が生じにくい。アバランシェブレークダウンに起因するホットキャリア劣化等が抑制されることで、OSトランジスタは高いドレイン耐圧を有することになり、ソースドレイン間電圧が高電圧となるような駆動方法が可能である。そのため、OSトランジスタはサブ画素20のトランジスタに適している。
上記金属酸化物を半導体としてトランジスタに用いることで、電界効果移動度が高く、かつ、スイッチング特性が高いトランジスタを提供することができる。そのため、OSトランジスタは、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296を構成するトランジスタに好適である。また、OSトランジスタは短チャネル効果の影響を受けにくいので、チャネル長の短いOSトランジスタで、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296を構成することで、表示装置270の狭額縁化を図れる。
IDS駆動で静止画表示を行う表示システムの好適な態様は、電子書籍を読む、デジタルカメラで撮影した写真を鑑賞する、ホーム画面、または壁紙を表示する等である。つまり、同じ画面である状態が比較的長く、また使用者の操作により画面全体の表示を切り換えるような状況では、IDS駆動で静止画を表示することが好ましい。
IDS駆動は、LCモードだけでなくハイブリッドモードでも実行することができる。ハイブリッドモードにおいて、静止画を表示する場合は、サブ画素27はフレーム期間ごとにデータを書き換え、サブ画素25はIDS駆動でデータを書き換えればよい。
表示システム240において、傾斜センサ装置257、または開閉センサ装置258の検知信号に基づいて、表示装置270を制御することができる。例えば、傾斜センサ装置257の検知信号によって表示装置270の画面の向きを検出し、プロセッシングユニット250または表示コントローラIC300において、階調データ信号の並び替えを行う。これにより、画面の向きの変化に合わせて、画像を回転させることができる。
例えば、開閉センサ装置258は、折りたたみ式の電子機器(携帯電話、ノート型パーソナルコンピュータ等)に表示システム240が用いられる場合に設ければよい。開閉センサ装置258の検知信号によって、プロセッシングユニット250または表示コントローラIC300は、電子機器が折りたたまれ、表示部が使用されない状態になったと判断すると、表示装置270での表示を停止する制御を行う。
表示システム240は、使用環境の照度に応じた3つの表示モード(反射、透過、ハイブリッド)を持つため、気象(晴天、雨天、曇天)、時間(昼、夜)等に制約されず、高品位(高コントラスト、高い色再現性)の表示が可能である。そのため、様々な場所で利用される携帯型の電子機器の表示部に好適である。
もちろん、本表示システムは、携帯型電子機器に限らず、様々な電子機器の表示部に適用することができる。
以下に、表示システムの他の構成例を示す。以下に例示される表示システムも、表示システム240と同様、3の表示モード(ハイブリッド、透過、反射)を備える。
<<表示システム241>>
図19に、表示システムの他の構成例を示す。図19に示す表示システム241は、図10Aに示す表示システム240の変形例であり、表示装置270に代えて表示装置271を有する。表示装置271は表示装置270の変形例であり、表示コントローラIC300に代えて、表示コントローラIC301、ソースドライバIC303が実装されている。
図19の例では、ソースドライバIC303の実装方式はCOG方式である。表示コントローラIC301とソースドライバIC間の伝送路として、例えばFPCが用いられる。図20Aに表示コントローラIC301の構成例を示し、図20BにソースドライバIC303の構成例を示す。
(表示コントローラIC301)
表示コントローラIC301は、インターフェース回路320、327、コントローラユニット325を有する。表示コントローラIC301は、表示コントローラIC300からドライバ回路ユニット317を除いたものに相当する。コントローラユニット325は、コントローラユニット315と同様の回路構成である。コントローラユニット325に、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296の制御信号を昇圧するためのレベルシフタ375を設けてもよい。
インターフェース回路320は、LVDSレシーバユニット322を有する。LVDSレシーバユニット322は差動のデータ信号DRA[11:0]、DRB[11:0]を受信し、シングルエンドのデータ信号DRO[11:0]を出力する。LVDSレシーバユニット322は、LVDSレシーバユニット312と同様の構成である。
インターフェース回路327は、LVDSトランシーバユニット328を有する。LVDSトランシーバユニット328はLVDS方式で階調レベルデータ信号をソースドライバIC303に送信するために設けられている。LVDSトランシーバユニット328は、コントローラユニット325で生成されたデータ信号DC[11:0]、クロック信号CKCを差動信号に変換する。LVDSトランシーバユニット328は、データ信号DA[11:0]、DB[11:0]、クロック信号CKA、CKBを出力する。
(ソースドライバIC303)
ソースドライバIC303は、インターフェース回路380、387、ドライバ回路ユニット385を有する。ドライバ回路ユニット385は、ドライバ回路ユニット317と同様の機能をもち、同様の回路構成をもつ。インターフェース回路387は、インターフェース回路318と同様の機能をもち、同様の構成をもつ。
インターフェース回路380は、LVDSレシーバユニット382を有する。LVDSレシーバユニット382は、LVDSレシーバユニット312と同様の構成であり、クロック信号CKA、CKBを受信するためのクロックレーンが追加されている。LVDSレシーバユニット382は、データ信号DA[11:0]、DB「11:0」、クロック信号CKA、CKBを受信し、受信したデータ信号、クロック信号をそれぞれシングルエンド形式のデータ信号DE[11:0]、クロック信号CKE[11:0]に変換する。
<<表示システムの変形例>>
図21Aに、表示システムの他の構成例を示す。図21Aに示す表示システム242は、図19に示す表示システム241にタッチセンサ装置260を設けたシステムである。タッチセンサ装置260はセンサアレイ261、タッチセンサコントローラIC262を有する。
電源回路254はタッチセンサ装置260に電源電圧を供給する。プロセッシングユニット250はタッチセンサ装置260を制御する機能をもつ。タッチセンサ装置260で取得されたデータは、プロセッシングユニット250に送信される。図21Bにタッチセンサ装置260の構成例を示す。
<タッチセンサユニット>
図21Bには、タッチセンサ装置260が相互容量タッチセンサユニットである例を示す。タッチセンサ装置260は、センサアレイ261、およびタッチセンサコントローラIC262を有する。タッチセンサコントローラIC262は、インターフェース回路263、264、コントローラ回路ユニット265、ドライバ回路ユニット266、センス回路ユニット267を有する。
センサアレイ261は、m本(mは1以上の整数)の配線DRL、n本(nは1以上の整数)の配線SNLを有する。配線DRLはドライブ線であり、配線SNLはセンス線である。容量CTqrは、配線DRL[q]と配線SNL[r]との間に形成される容量である。
m本の配線DRLはドライバ回路ユニット266に電気的に接続されている。ドライバ回路ユニット266は配線DRLを駆動する機能を有する。n本の配線SNLはセンス回路ユニット267に電気的に接続されている。センス回路ユニット267は、配線SNLの信号を検出する機能を有する。ドライバ回路ユニット266によって配線DRL[q]が駆動されているときの配線SNL[r]の信号は、容量CTqrの容量値の変化量の情報をもつ。センス回路ユニット267は、検知した信号をデジタル変換し、シリアル‐パラレル変換をする機能をもつ。センス回路ユニット267から出力されるデータ信号は、インターフェース回路263を経て、プロセッシングユニット250に送信される。
プロセッシングユニット250は、タッチ情報を反映した画像データを生成し、表示コントローラIC301に送信する。表示コントローラIC301において、画像データにタッチ情報を反映する信号処理をしてもよい。
一般的に、タッチセンサ装置の構造は、アウトセル型(外付け型)、内蔵型に大別され、内蔵型タッチセンサ装置の構造には、例えば、オンセル型とインセル型とがある。また、インセル型とオンセル型とを複合したハイブリッド‐インセル型が知られている。タッチセンサ装置260の構造はいずれの構造でもよく、画素アレイ280等の構造等により、決定すればよい。
タッチセンサ装置260がインセル型またはハイブリッド‐インセル型であれば、配線DRLを駆動するドライバ回路を、ゲートドライバ回路290A、290Bと共にトランジスタ層410に形成することができる。このような構成例では、タッチセンサコントローラICには、ドライバ回路ユニットを内蔵していないものを用いることができる。
本実施の形態の表示システムの表示装置には、様々な表示装置を適用でき、ハイブリッド型表示装置に限定されない。例えば、液晶表示装置、電子ペーパー表示装置、OLED(有機EL)表示装置、マイクロLED表示装置、量子ドット表示装置などが適用できる。
また、本実施の形態の表示システムは、階調データを受信するレシーバに、実施の形態1のレシーバが用いられているため、表示コントローラIC、ソースドライバICの消費電流を低減することができる。また、レシーバを高い動作周波数で動作させることができるので、階調データのビット数の増加、画素数の増加が容易になる。例えば、8K規格の映像信号(12ビット、120Hz)の表示が可能な表示システムを提供することができる。高階調の画像を高解像度の表示システムで表示することで、使用者の臨場感、実物感、奥行き感を高めることができる。
本表示システムは、様々な電子機器の表示部に用いることができる。上掲の特長を活かされる電子機器には、テレビジョン受信装置(TV)、VR(仮想現実)ヘッドマウントディスプレイ、医用表示装置(画像診断装置の表示装置)、航空機、船舶、自動車、機械等の操作を模擬する模擬装置(シミュレータ)等がある。
以下に、図面を参照して、本実施の形態の表示システムを適用可能な電子機器の幾つかの具体例を示す。
電子機器としては、例えば、テレビジョン装置(テレビ、又はテレビジョン受信機ともいう)、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機(携帯電話、携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。可撓性の電子機器は、家屋やビルなどの建築物の内壁もしくは外壁、又は、自動車の内装もしくは外装の曲面に沿って組み込むことも可能である。図22A―図24Cに電子機器の構成例を示す。図22A―図24Cに示す電子機器の表示部には、実施の形態1の表示装置、およびこの表示装置にタッチセンサを設けたタッチパネルを適用することができる。
図22Aに示す情報端末2010は、筐体2011に組み込まれた表示部2012の他、操作ボタン2013、外部接続ポート2014、スピーカ2015、マイクロフォン2016を有する。ここでは、表示部2012の表示領域は、湾曲している。情報端末2010は、バッテリで駆動する携帯型情報端末であり、タブレット型情報端末、あるいはスマートフォンとして使用することができる。情報端末2010は、電話、電子メール、手帳、インターネット接続、音楽再生等の機能を有する。指などで表示部2012に触れることで、情報を入力することができる。また、電話を掛ける、或いは文字を入力するなどの操作は、指などで表示部2012に触れることにより行うことができる。また、マイクロフォン2016から音声を入力することで、情報端末2010を操作することもできる。また、操作ボタン2013の操作により、電源のオン/オフ動作や、表示部2012の画面切り替え動作などを行うことができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。
図22Bに腕時計型の情報端末の一例を示す。情報端末2030は、筐体2031、表示部2032、リュウズ2033、ベルト2034、検知部2035を有する。リュウズ2033を回転することで情報端末2030を操作することができる。また、表示部2032にタッチパネルを設けてもよい。これにより、表示部2032を指で触れることで、情報端末2030を操作することができる。
検知部2035は、使用環境の情報や、使用者生体情報を取得する機能を備える。検知部2035は少なくとも照度センサを備えている。その他に、マイクロフォン、撮像素子、加速度センサ、方位センサ、圧力センサ、温度センサ、湿度センサ、測位センサ(例えば、GPS(全地球測位システム))等を検知部2035に設けてもよい。
情報端末2010および情報端末2030に同じ規格の無線通信装置を組み込み、無線信号2020により双方向の通信を行うようにしてもよい。このようにすることで、例えば、情報端末2010が電子メールや電話などを着信すると、情報端末2030の表示部2032に着信を知らせる情報を表示させることができる。
図22Cに、折りたたみ可能な情報端末の構成例を示す。図22Cに示す情報端末2050は、筐体2051、表示部2052、ヒンジ2053を有する。情報端末2050も携帯型情報端末であり、情報端末2010と同様の機能を有する。図22Cは、展開された状態の情報端末2050を示している。図22Eは、折りたたんだ状態の情報端末2050を示す。図22Dの情報端末2050の状態は、展開中の状態、あるいは折り畳み中の状態である。折りたたむことで情報端末2050の携帯性が向上し、展開することで、広い表示画面を得られため、情報端末2050の利便性が向上する。
表示部2052はヒンジ2053によって連結された3つの筐体2051に支持されている。ヒンジ2053を介して2つの筐体2051間を屈曲させることで、情報端末2050を展開した状態から折りたたんだ状態に可逆的に変形できる。表示部2052は、例えば、曲率半径1mm以上150mm以下で曲げることができる。
表示部2052が折り畳まれた状態(図22E)であることを検知して、検知情報を供給する開閉センサを備える構成としてもよい。また、センサで、同様に、表示部2052が展開された状態(図22C)を検知してもよい。表示部2052が折りたたまれていることを検知すると、折りたたまれた部分(又は折りたたまれて使用者に視認されない部分)の表示を停止してもよい。または、タッチセンサによる検知を停止してもよい。また、表示部2052が展開された状態であることを示す情報を取得して、表示やタッチセンサによる検知を再開するような制御を行ってもよい。
図22F、図22Gに、折りたたみ可能な情報端末の構成例を示す。情報端末2070は、筐体2071、筐体2072、表示部2073、表示部2074、及びヒンジ部2075を有する。例えば、筐体2071及び筐体2072には、電源ボタン、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク等を設けることができる。
筐体2071と筐体2072は、ヒンジ部2075で連結されている。そのため、表示部2073、2074が露出した状態(情報端末2070を展開した状態、図22G)から、筐体2071と筐体2072とを重ねた状態(情報端末2070を折り畳んだ状態、図22F)にすることができる。情報端末2070も情報端末2050と同様に、開閉センサの検知情報に基づいて、表示部2073、2074を制御してもよい。
図23Aに示す表示装置2110は、筐体2101、表示部2102、支持台2103等を有する。表示装置2110は、コンピュータ、遊技機等のモニタとして用いることができる。表示装置2110にテレビジョン放送の受信装置を組み込むことで、表示装置2110をテレビ受像(TV)装置として利用することができる。
図23Bに示すノート型パーソナルコンピュータ2120は、筐体2121、表示部2122、キーボード2123、ポインティングデバイス2124を有する。
図23C示すビデオカメラ2130は、筐体2131、表示部2132、筐体2133、操作キー2134、レンズ2135、接続部2136を有する。表示部2132は筐体2131に設けられ、操作キー2134およびレンズ2135は筐体2133に設けられている。筐体2131と筐体2133とは、接続部2136により接続されており、筐体2131と筐体2133間の角度は、接続部2136により変更が可能である。接続部2136における筐体2131と筐体2133間の角度に従って、表示部2132の映像を切り替える構成としてもよい。
図23D、図23Eにヘッドマウントディスプレイ(HMD)の構成例を示す。HMD2170は、筐体2171、表示部2172、操作ボタン2173、バンド状の固定具2174を有する。例えば、HMD2170は、VRヘッドマウントディスプレイとして用いることができる。
図24Aに、車載用電子機器の構成例を示す。例えば、自動車2200は、ナビゲーションシステム2210、リアビューモニタ2220、後部座席モニタ2230等が設けられている。図24は、自動車2200の後部座席からみた室内を模式的に示す。
リアビューモニタ2220は、後写鏡(インナーリアビューミラーとも呼ぶ。)として機能する。リアビューモニタ2220は、筐体2221、接続部2222、表示部2223を有する。接続部2222によって、表示部2223は、画面の向きを変更可能に室内に取り付けられている。自動車2200には、車体の後方を撮影するカメラが設けられており、カメラの映像はリアルタイムでリアビューモニタ2220に表示される。ナビゲーションシステム2210に自動車2200の後退時にカメラの映像を表示する機能をもたせてもよい。
後部座席モニタ2230は、筐体2231、表示部2232を有する。筐体2231は、前部座席のヘッドレスト2235のシャフトに固定するための取付け部を有する。後部座席モニタ2230には、例えば、ナビゲーションシステム2210の映像、TV放送の映像、記録媒体(DVD、SDカード等)に保存されている映像コンテンツ等が表示される。
図24B、図24Cに医用表示装置の構成例を示す。図24Bに示す医用表示装置2250は、筐体2251、表示部2252、支持部2253を有する。支持部2253によって、天井、壁面等に医用表示装置2250を固定することができる。例えば、医用表示装置2250は、手術室、集中治療室等に設置される。表示部2252には、術野、患部の映像、患者の情報(例えば、心電図)、医用画像(例えば、X線画像、MRI画像)が表示される。
図24Cに示す医用表示装置2260は、筐体2261、表示部2262、支持台2263、を有する。医用表示装置2260は、据え置き型の表示装置であり、例えば、医用画像診断に用いられる。筐体2261は回転できるように支持台2263に取り付けられており、表示する画像に応じて表示部2262を横向き(ランドスケープ)、縦向き(ポートレート)に回転することができる。
〔実施の形態3〕
本実施の形態では、表示コントローラIC、およびソースドライバICなどに用いられるフレームメモリについて説明する。
フレームメモリには、例えば、1T(トランジスタ)1C(容量)型のメモリセルを備えたDRAM(ダイナミックランダムアクセスメモリ)を適用することができる。また、メモリセルにOSトランジスタが用いられるメモリ装置(以下、「OSメモリ」と呼ぶ。)を用いることができる。ここでは、OSメモリの一例として、1T1C型のメモリセルを有するRAMについて説明する。ここでは、このようなRAMを、「DOSRAM(登録商標)」と呼ぶこととする。DOSRAM(ドスラム)とは、Dynamic Oxide Semiconductor RAMの略称である。図25に、DOSRAMの構成例を示す。
<<DOSRAM1400>>
DOSRAM1400は、コントローラ1405、行回路1410、列回路1415、メモリセルおよびセンスアンプアレイ1420(以下、「MC‐SAアレイ1420」と呼ぶ。)を有する。
行回路1410はデコーダ1411、ワード線ドライバ回路1412、列セレクタ1413、センスアンプドライバ回路1414を有する。列回路1415はグローバルセンスアンプアレイ1416、入出力回路1417を有する。グローバルセンスアンプアレイ1416は複数のグローバルセンスアンプ1447を有する。MC‐SAアレイ1420はメモリセルアレイ1422、センスアンプアレイ1423、グローバルビット線GBLL、GBLRを有する。
(MC‐SAアレイ1420)
MC‐SAアレイ1420は、メモリセルアレイ1422をセンスアンプアレイ1423上に積層した積層構造をもつ。グローバルビット線GBLL、GBLRはメモリセルアレイ1422上に積層されている。DOSRAM1400では、ビット線の構造に、ローカルビット線とグローバルビット線とで階層化された階層ビット線構造が採用されている。
メモリセルアレイ1422は、N個(Nは2以上の整数)のローカルメモリセルアレイ1425<0>―1425<N−1>を有する。図26Aにローカルメモリセルアレイ1425の構成例を示す。ローカルメモリセルアレイ1425は、複数のメモリセル1445、複数のワード線WL、複数のビット線BLL、BLRを有する。図26Aの例では、ローカルメモリセルアレイ1425の構造はオープンビット線型であるが、フォールデッドビット線型であってもよい。
図26Bにメモリセル1445の回路構成例を示す。メモリセル1445はトランジスタMW1、容量素子CS1、端子B1、B2を有する。トランジスタMW1は容量素子CS1の充放電を制御する機能をもつ。トランジスタMW1のゲートはワード線に電気的に接続され、第1端子はビット線に電気的に接続され、第2端子は容量素子CS1の第1端子に電気的に接続されている。容量素子CS1の第2端子は端子B2に電気的に接続されている。端子B2には、定電圧(例えば、低電源電圧)が入力される。
トランジスタMW1はバックゲートを備えており、バックゲートは端子B1に電気的に接続されている。そのため、端子B1の電圧によって、トランジスタMW1の閾値電圧を変更することができる。例えば、端子B1の電圧は固定電圧(例えば、負の定電圧)であってもよいし、DOSRAM1400の動作に応じて、端子B1の電圧を変化させてもよい。
トランジスタMW1のバックゲートをトランジスタMW1のゲート、ソース、またはドレインに電気的に接続してもよい。あるいは、トランジスタMW1にバックゲートを設けなくてもよい。
センスアンプアレイ1423は、N個のローカルセンスアンプアレイ1426<0>―1426<N−1>を有する。ローカルセンスアンプアレイ1426は、1のスイッチアレイ1444、複数のセンスアンプ1446を有する。センスアンプ1446には、ビット線対が電気的に接続されている。センスアンプ1446は、ビット線対をプリチャージする機能、ビット線対の電圧差を増幅する機能、この電圧差を保持する機能を有する。スイッチアレイ1444は、ビット線対を選択し、選択したビット線対とグローバルビット線対との間を導通状態にする機能を有する。
ここで、ビット線対とは、センスアンプによって、同時に比較される2本のビット線のことをいう。グローバルビット線対とは、グローバルセンスアンプによって、同時に比較される2本のグローバルビット線のことをいう。ビット線対を一対のビット線と呼ぶことができ、グローバルビット線対を一対のグローバルビット線と呼ぶことができる。ここでは、ビット線BLLとビット線BLRが1組のビット線対を成す。グローバルビット線GBLLとグローバルビット線GBLRとが1組のグローバルビット線対をなす。以下、ビット線対(BLL,BLR)、グローバルビット線対(GBLL,GBLR)とも表す。
(コントローラ1405)
コントローラ1405は、DOSRAM1400の動作全般を制御する機能を有する。コントローラ1405は、外部からの入力されるコマンド信号を論理演算して、動作モードを決定する機能、決定した動作モードが実行されるように、行回路1410、列回路1415の制御信号を生成する機能、外部から入力されるアドレス信号を保持する機能、内部アドレス信号を生成する機能を有する。
(行回路1410)
行回路1410は、MC‐SAアレイ1420を駆動する機能を有する。デコーダ1411はアドレス信号をデコードする機能を有する。ワード線ドライバ回路1412は、アクセス対象行のワード線WLを選択する選択信号を生成する。
列セレクタ1413、センスアンプドライバ回路1414はセンスアンプアレイ1423を駆動するための回路である。列セレクタ1413は、アクセス対象列のビット線を選択するための選択信号を生成する機能をもつ。列セレクタ1413の選択信号によって、各ローカルセンスアンプアレイ1426のスイッチアレイ1444が制御される。センスアンプドライバ回路1414の制御信号によって、複数のローカルセンスアンプアレイ1426は独立して駆動される。
(列回路1415)
列回路1415は、データ信号WDA[31:0]の入力を制御する機能、データ信号RDA[31:0]の出力を制御する機能を有する。データ信号WDA[31:0]は書き込みデータ信号であり、データ信号RDA[31:0]は読み出しデータ信号である。
グローバルセンスアンプ1447はグローバルビット線対(GBLL,GBLR)に電気的に接続されている。グローバルセンスアンプ1447はグローバルビット線対(GBLL,GBLR)間の電圧差を増幅する機能、この電圧差を保持する機能を有する。グローバルビット線対(GBLL,GBLR)へのデータの書き込み、および読み出しは、入出力回路1417によって行われる。
DOSRAM1400の書き込み動作の概要を説明する。入出力回路1417によって、データがグローバルビット線対に書き込まれる。グローバルビット線対のデータは、グローバルセンスアンプアレイ1416によって保持される。アドレス信号が指定するローカルセンスアンプアレイ1426のスイッチアレイ1444によって、グローバルビット線対のデータが、対象列のビット線対に書き込まれる。ローカルセンスアンプアレイ1426は、書き込まれたデータを増幅し、保持する。指定されたローカルメモリセルアレイ1425において、行回路1410によって、対象行のワード線WLが選択され、選択行のメモリセル1445にローカルセンスアンプアレイ1426の保持データが書き込まれる。
DOSRAM1400の読み出し動作の概要を説明する。アドレス信号によって、ローカルメモリセルアレイ1425の1行が指定される。指定されたローカルメモリセルアレイ1425において、対象行のワード線WLが選択状態となり、メモリセル1445のデータがビット線に書き込まれる。ローカルセンスアンプアレイ1426によって、各列のビット線対の電圧差がデータとして検出され、かつ保持される。スイッチアレイ1444によって、ローカルセンスアンプアレイ1426の保持データの内、アドレス信号が指定する列のデータが、グローバルビット線対に書き込まれる。グローバルセンスアンプアレイ1416は、グローバルビット線対のデータを検出し、保持する。グローバルセンスアンプアレイ1416の保持データは入出力回路1417に出力される。以上で、読み出し動作が完了する。
容量素子CS1の充放電によってデータを書き換えるため、DOSRAM1400には原理的には書き換え回数に制約はなく、かつ、低エネルギーで、データの書き込みおよび読み出しが可能である。また、メモリセル1445の回路構成が単純であるため、大容量化が容易である。
トランジスタMW1はOSトランジスタである。OSトランジスタはオフ電流が極めて小さいため、容量素子CS1から電荷がリークすることを抑えることができる。したがって、DOSRAM1400の保持時間はDRAMに比べて非常に長い。したがってリフレッシュの頻度を低減できるため、リフレッシュ動作に要する電力を削減できる。そのため、DOSRAM1400をフレームメモリとして用いることで、表示コントローラIC、およびソースドライバICの消費電力を削減することができる。
MC‐SAアレイ1420が積層構造であることよって、ローカルセンスアンプアレイ1426の長さと同程度の長さにビット線を短くすることができる。ビット線を短くすることで、ビット線容量が小さくなり、メモリセル1445の保持容量を低減することができる。また、ローカルセンスアンプアレイ1426にスイッチアレイ1444を設けることで、長いビット線の本数を減らすことができる。以上の理由から、DOSRAM1400のアクセス時に駆動する負荷が低減されるので、表示コントローラIC、およびソースドライバICの消費エネルギーを低減できる。
<<DOSRAMの積層構造>>
図27は、DOSRAM1400の積層構造例を説明するための断面図である。DOSRAM1400は、層L10―L14の積層を有する。ローカルセンスアンプアレイ1426は、層L10とL11の積層に設けられる。ローカルメモリセルアレイ1425は、層L12―L14のローカルセンスアンプアレイ1426に重なる領域に設けられている。
層L10には、DOSRAM1400を構成するSiトランジスタが設けられている。層L10は配線、プラグ等を有する。Siトランジスタの活性層は単結晶シリコンウエハ5200に設けられている。図27に示すトランジスタMQ1は、ローカルセンスアンプアレイ1426のトランジスタである。層L11は、配線、プラグなどを有する。層L10と層L11との積層にローカルセンスアンプアレイ1426等のSiで構成される回路が設けられている。
層L12には、OSトランジスタ、配線(例えば、ワード線)、プラグ等が設けられている。図27に示すトランジスタMW1の構成は、後述するOSトランジスタ5001(図28A参照)と同様である。層L13はDOSRAM1400の保持容量(容量素子CS1)が設けられる容量層である。層L13には、容量素子CS1とトランジスタMW1とを電気的に接続するためのプラグなども設けられている。層L14には、配線(例えば、ビット線BLL、BLR、グローバルビット線GBLL、GBLR)、プラグなどが設けられている。
以下、OSメモリ等に用いられるOSトランジスタの構成例を説明する。
<<OSトランジスタの構成例1>>
図28AにOSトランジスタの構成例を示す。図28Aに示すOSトランジスタ5001は、金属酸化物トランジスタである。図28Aの左側の図は、OSトランジスタ5001のチャネル長方向の断面図であり、右側の図は、OSトランジスタ5001のチャネル幅方向の断面構造を示す図である。
OSトランジスタ5001は絶縁表面に形成される。ここでは、絶縁層5021上に形成されている。OSトランジスタ5001は、絶縁層5028、5029で覆われている。OSトランジスタ5001は、絶縁層5022―5027、5030、金属酸化物層5011―5013、導電層5050―5054を有する。
なお、図中の絶縁層、金属酸化物層、導電体等は、単層でも積層でもよい。これらの作製には、スパッタリング法、分子線エピタキシー法(MBE法)、パルスレーザ堆積法(PLD法)、CVD法、原子層堆積法(ALD法)などの各種の成膜方法を用いることができる。なお、CVD法には、プラズマCVD法、熱CVD法、有機金属CVD法などがある。
金属酸化物層5011―5013をまとめて酸化物層5010と呼ぶ。図28Aに示すように、酸化物層5010は金属酸化物層5011、金属酸化物層5012、金属酸化物層5013の順に積層している部分を有する。OSトランジスタ5001がオン状態のとき、チャネルは酸化物層5010の金属酸化物層5012に主に形成される。
OSトランジスタ5001のゲート電極は導電層5050で構成され、ソース電極またはドレイン電極として機能する一対の電極は、導電層5051、5052で構成される。バックゲート電極は導電層5053と導電層5054との積層で構成される。OSトランジスタ5001はバックゲート電極を有さない構造としてもよい。後述するOSトランジスタ5002も同様である。
ゲート(フロントゲート)側のゲート絶縁層は絶縁層5027で構成され、バックゲート側のゲート絶縁層は、絶縁層5024―5026の積層で構成される。絶縁層5028は層間絶縁層である。絶縁層5029はバリア層である。
金属酸化物層5013は、金属酸化物層5011、5012、導電層5051、5052でなる積層体を覆っている。絶縁層5027は金属酸化物層5013を覆っている。導電層5051、5052はそれぞれ、金属酸化物層5013、絶縁層5027を介して、導電層5050と重なる領域を有する。
導電層5050―5054に用いられる導電材料には、リン等の不純物元素をドーピングした多結晶シリコンに代表される半導体、ニッケルシリサイド等のシリサイド、モリブデン、チタン、タンタル、タングステン、アルミニウム、銅、クロム、ネオジム、スカンジウム等の金属、または上述した金属を成分とする金属窒化物(窒化タンタル、窒化チタン、窒化モリブデン、窒化タングステン)等がある。また、インジウム錫酸化物、酸化タングステンを含むインジウム酸化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化ケイ素を添加したインジウム錫酸化物などの導電性材料を用いることができる。
例えば、導電層5050は、窒化タンタル、またはタングステン単層である。あるいは、導電層5050が2層構造、および3層構造の場合、次のような組み合わせがある。先に記載した導電体が絶縁層5027側の層を構成する。(アルミニウム、チタン)、(窒化チタン、チタン)、(窒化チタン、タングステン)、(窒化タンタル、タングステン)、(窒化タングステン、タングステン)、(チタン、アルミニウム、チタン)、(窒化チタン、アルミニウム、チタン)、(窒化チタン、アルミニウム、窒化チタン)。
導電層5051と導電層5052は同じ層構造をもつ。例えば、導電層5051が単層である場合、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、またはタングステンなどの金属、またはこれを主成分とする合金で構成すればよい。導電層5051が2層構造、および3層構造の場合、次のような組み合わせがある。先に記載した導電体が絶縁層5027側の層を構成する。(チタン、アルミニウム)、(タングステン、アルミニウム)、(タングステン、銅)、(銅‐マグネシウム‐アルミニウム合金、銅)、(チタン、銅)、(チタン又は窒化チタン、アルミニウムまたは銅、チタンまたは窒化チタン)、(モリブデンまたは窒化モリブデン、アルミニウムまたは銅、モリブデンまたは窒化モリブデン)。
例えば、導電層5053は、水素に対するバリア性を有する導電層(例えば、窒化タンタル層)とし、導電層5054は、導電層5053よりも導電率の高い導電層(例えばタングステン)とすることが好ましい。このような構造であることで、導電層5053と導電層5054の積層は配線としての機能と、酸化物層5010への水素の拡散を抑制する機能とをもつ。
絶縁層5021―5030に用いられる絶縁材料には、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム、窒化酸化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、酸化マグネシウム、窒化シリコン、酸化シリコン、窒化酸化シリコン、酸化窒化シリコン、酸化ガリウム、酸化ゲルマニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ランタン、酸化ネオジム、酸化ハフニウム、酸化タンタル、アルミニウムシリケートなどがある。絶縁層5021―5030はこれらの絶縁材料でなる単層、または積層して構成される。絶縁層5021―5030を構成する層は、複数の絶縁材料を含んでいてもよい。
なお、本明細書等において、酸化窒化物とは、酸素の含有量が窒素よりも多い化合物であり、窒化酸化物とは、窒素の含有量が酸素よりも多い化合物のことをいう。
OSトランジスタ5001において、酸素および水素に対してバリア性をもつ絶縁層(以下、バリア層)によって酸化物層5010が包み込まれる構造であることが好ましい。このような構造であることで、酸化物層5010から酸素が放出されること、酸化物層5010への水素の侵入を抑えることができるので、OSトランジスタ5001の信頼性、電気特性を向上できる。
例えば、絶縁層5029をバリア層として機能させ、かつ絶縁層5021、5022、5024の少なくとも1つをバリア層と機能させればよい。バリア層は、酸化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、酸化ガリウム、酸化窒化ガリウム、酸化イットリウム、酸化窒化イットリウム、酸化ハフニウム、酸化窒化ハフニウム、窒化シリコンなどの材料で形成することができる。酸化物層5010と導電層5050の間に、バリア層をさらに設けてもよい。もしくは、金属酸化物層5013として、酸素および水素に対してバリア性をもつ金属酸化物層を設けてもよい。
絶縁層5030は、導電層5050の酸化を防ぐバリア層であることが好ましい。絶縁層5030が酸素に対してバリア性を有することで、絶縁層5028等から離脱した酸素によって、導電層5050が酸化することを抑制することができる。例えば、絶縁層5030には、酸化アルミニウムなどの金属酸化物を用いることができる。
絶縁層5021―5030の構成例を記す。この例では、絶縁層5021、5022、5025、5029、5030は、それぞれ、バリア層として機能する。絶縁層5026―5028は過剰酸素を含む酸化物層である。絶縁層5021は窒化シリコンであり、絶縁層5022は酸化アルミニウムであり、絶縁層5023は酸化窒化シリコンである。バックゲート側のゲート絶縁層(5024―5026)は、酸化シリコン、酸化アルミニウム、酸化シリコンの積層である。フロントゲート側のゲート絶縁層(5027)は、酸化窒化シリコンである。層間絶縁層(5028)は、酸化シリコンである。絶縁層5029、5030は酸化アルミニウムである。
図28Aは、酸化物層5010が3層構造の例であるが、これに限定されない。酸化物層5010は、例えば、金属酸化物層5011または金属酸化物層5013のない2層構造とすることができるし、金属酸化物層5011―5013の何れか1層で構成してもよい。または、酸化物層5010を4層以上の金属酸化物層で構成してもよい。
<<OSトランジスタの構成例2>>
図28BにOSトランジスタの構成例を示す。図28Bに示すOSトランジスタ5002は、OSトランジスタ5001の変形例であり、主に、ゲート電極の構造が異なる。図28Bの左側にはOSトランジスタ5002のチャネル長方向の断面図を、右側にはチャネル幅方向の断面図を示す。
絶縁層5028に形成された開口部には、金属酸化物層5013、絶縁層5027、導電層5050が設けられている。つまり、絶縁層5028の開口部を利用して、ゲート電極が自己整合的に形成されている。よって、OSトランジスタ5002では、ゲート電極(5050)は、ゲート絶縁層(5017)を介してソース電極およびドレイン電極(5051、5052)と重なる領域を有していない。そのためゲート‐ソース間の寄生容量、ゲート‐ドレイン間の寄生容量が低減でき、周波特性を向上できる。また、絶縁層5028の開口によってゲート電極幅を制御できるため、チャネル長の短いOSトランジスタの作製が容易である。
〔実施の形態4〕
本実施の形態では、ハイブリッド表示装置について説明する。
<<ハイブリッド表示装置>>
図29は、サブ画素20R(図11A参照)の断面構造を示す。サブ画素20G、20Bの断面構造もサブ画素20Rと同様である。図29の左側にサブ画素25Rの要部を示し、右側にサブ画素27Rの要部を示す。画素アレイ280と共に、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296が作製されている。ここでは、ゲートドライバ回路290A、290B、およびスイッチアレイ295、296を総称して、周辺回路299と呼ぶこととする。図30には、周辺回路299として、代表的に、スイッチアレイ295のトランジスタMS1(図17A、図17B参照)の断面構造を示す。さらに、図30には、コモンコンタクト部795、端子部796の断面構造を示す。
表示装置270は、基板701、702、封止材704、705、配向膜756、757、トランジスタ層790、EL素子層791、液晶層792を有する。
トランジスタ層790、EL素子層791の作製には、基板702とは異なるトランジスタ製造用基板(ここでは「仮基板」と呼ぶ)が用いられる。仮基板には、例えば、EL表示パネル製造用のマザーガラスを用いることができる。仮基板上に分離層を形成し、分離層上にトランジスタ層790を形成し、トランジスタ層790上にEL素子層791を形成する。封止材704によって、EL素子層791の上方に基板701を固定する。しかる後、分離層と共に仮基板をトランジスタ層790から分離する。次いで、液晶表示パネル製造工程と同様のセル工程を行う。分離工程によって露出されたトランジスタ層790の表面に、必要に応じて配向膜756を形成する。
配向膜757等が形成された基板702を準備する。封止材705によってトランジスタ層790と基板702との間に液晶層792を封止する。
<トランジスタ層790>
トランジスタ層790は、半導体層711―713、導電層720―722、725―727、731―736、741―749、絶縁層770―775、カラーフィルタ層760_Rを有する。
トランジスタ層790に設けられる各種の素子(例えば、トランジスタ、容量素子、抵抗素子等)のデバイス構造には、特段の制約はない。画素アレイ280、ゲートドライバ回路290A、290B、スイッチアレイ295、296のそれぞれの機能に適したデバイス構造を選択すればよい。例えば、トランジスタのデバイス構造としては、トップゲート型、ボトムゲート型、およびゲート(フロントゲート)とボトムゲート双方を備えたデュアルゲート型、1つの半導体層に対して複数のゲート電極を有するマルチゲート型が挙げられる。トランジスタのチャネル形成領域(活性層)を構成する半導体の種類(組成や結晶構造等)にも特段の制約はない。活性層に用いられる半導体としては、単結晶半導体、非単結晶半導体に大別される。非単結晶としては、多結晶半導体、微結晶半導体、非晶質半導体などが挙げられる。半導体材料には、Si、Ge、C等の第14族元素を1種または複数含む半導体(例えば、シリコン、シリコンゲルマニウム、炭化シリコン等)、酸化物半導体、窒化ガリウム等の化合物半導体等が挙げられる。
ここでは、画素アレイ280、および周辺回路299は、1種類の導電型のトランジスタで構成されている例を示している。トランジスタ層790に設けられるトランジスタは、n型トランジスタであり、かつOSトランジスタである。
絶縁層770はトランジスタ層790のパッシベーション膜として機能する。絶縁層771は画素アレイ280および周辺回路299のトランジスタの下地絶縁層として機能する。導電層725は、LC素子RE1の画素電極であり、開口725aを有する。
絶縁層770に開口を形成するためのエッチング工程において、導電層720―722はエッチストップ層として機能する。導電層720―722が存在することで、エッチング工程で分離層が損傷することを防ぐことができる。
導電層731―736は絶縁層771上に設けられている。導電層731は配線GLLを構成し、トランジスタM1のゲート電極として機能する領域を有する。導電層732は配線GLEを構成し、トランジスタM2のゲート電極として機能する領域を有する。導電層733、734はそれぞれ配線ANL、CSLを構成する。
絶縁層772上に、半導体層711―713が設けられている。絶縁層772は、画素アレイ280、周辺回路299のトランジスタのゲート絶縁層を構成する。半導体層711、712、713は、それぞれ、トランジスタM1、M3、MS1の半導体層である。ここでは、半導体層711―713は金属酸化物で構成される。
絶縁層772上に、導電層741―747が設けられている。導電層741は配線SLLを構成し、トランジスタM1のソース電極およびドレイン電極として機能する領域を有する。導電層742はトランジスタM1のソース電極およびドレイン電極を構成し、導電層725と電気的に接続されている。導電層743、744はそれぞれ、トランジスタM3のソース電極およびドレイン電極を構成する。導電層744は導電層733と電気的に接続されている。導電層745、746はそれぞれ、トランジスタMS1のソース電極およびドレイン電極を構成する。
導電層734、絶縁層772および導電層742が重なっている領域が容量素子C1として機能する。
コモンコンタクト部795は端子765を有し、端子部796は端子766を有する。端子765は導電層721、726、を有し、端子766は導電層722、727を有する。導電層747は引き回し配線を構成する。図30の例では、導電層747によって、端子765と端子766とが電気的に接続される。
絶縁層773、774は画素アレイ280および周辺回路299のトランジスタのパッシベーション膜として機能する。絶縁層773上に導電層748、749が設けられている。導電層748はトランジスタM3のバックゲート電極を構成し、導電層749はトランジスタMS1のバックゲート電極を構成する。
絶縁層773を覆ってカラーフィルタ層760_Rが設けられている。カラーフィルタ層760_Rはサブ画素20Rの色に応じた赤色のカラーフィルタ層である。サブ画素20G、20Bにも、それぞれ、緑色、青色のカラーフィルタ層が設けられる。EL素子EE1用のカラーフィルタ層は適宜設ければよい。カラーフィルタ層を覆って、絶縁層775が設けられている。絶縁層775は平坦化膜として機能する。そのため、絶縁層775は、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂などの樹脂で形成することが好ましい。
<EL素子層791>
EL素子層791は、導電層750、751、EL層752、絶縁層776、777を有する。
導電層750はEL素子EE1の画素電極である。導電層750は導電層743と電気的に接続されている。導電層750を覆って絶縁層776が設けられている。絶縁層776上に絶縁層777が設けられている。絶縁層777は、基板701とEL素子層791との間の空間を維持するためのスペーサとして機能する。絶縁層775、776上にEL層752、導電層751が積層されている。導電層751はEL素子EE1のコモン電極である。絶縁層776は、導電層725の開口725aと重なる領域に開口726aを有する。開口726aにおいて、導電層750が露出される。開口726aに形成される導電層750、EL層752、導電層751の積層がEL素子EE1の発光領域を構成する。
EL層752は、正孔と電子とが再結合することで発光することが可能な発光材料を少なくとも有する。EL層752には、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、電子注入層などの機能層を有してもよい。ここでは、EL層752はサブ画素20の色で発光する。あるいは、全てのサブ画素20に白色で発光するEL層752を設けてもよい。サブ画素20の色で発光するEL層752を設けることで、EL素子EE1の光782を効率よく基板702から取り出すことができるため、省電力化につながる。また、表示装置270の表示品位(コントラスト、色再現性)を高めることができる。
<基板702(対向基板)>
基板702は液晶表示パネルの対向基板に対応する。基板702には、絶縁層728、導電層755、配向膜757、オーバーコート層758、カラーフィルタ層761_R、遮光層762が設けられている。
絶縁層728は、基板702と基板701(トランジスタ層790)との間の空間を維持するためのスペーサとして機能する。導電層755はLC素子RE1のコモン電極である。カラーフィルタ層761_RはLC素子RE1用のカラーフィルタ層であり、赤色のカラーフィルタ層である。基板702には、サブ画素20の色に応じたカラーフィルタ層が設けられる。ここでは、赤、緑、青のカラーフィルタ層がストライプ状に配列されている。遮光層762は、表示に寄与しない領域を遮光する。周辺回路299は遮光層762で覆われている。画素アレイ280では、隣接する画素電極(導電層725)の間が遮光層762で覆われている。
封止材705は、導電性粒子705aを有する。導電性粒子705aを含む封止材705によって液晶層792を封止することで、コモンコンタクト部795において、導電層755を端子765に電気的接続することができる。なお、封止材705中のコモンコンタクト部795とその近傍のみに導電性粒子705aを設けてもよい。
導電性粒子706aを含むACF(異方性導電フィルム)706によって、FPC797が端子766と電気的に接続される。つまり、基板702に設けられたコモン電極(導電層755)は、端子765、引き回し配線(導電層747)、端子766を介して、FPC797に電気的に接続される。
表示装置270の表示原理は実施の形態1(図11B参照)で述べたとおりである。基板702から入射した外光780は、カラーフィルタ層761_R、導電層755、液晶層792等を通り導電層725で反射される。導電層725で反射された光781は、再び、カラーフィルタ層761_R、液晶層792、導電層755等を通過し、基板702から射出する。EL素子EE1の光782は、導電層751で反射され、導電層750、カラーフィルタ層760_R、導電層725の開口725a、カラーフィルタ層761_R等を通り、基板702から射出する。
表示装置270を構成する各種の層は、単層構造でも積層構造でもよい。例えば、導電層に用いられる導電材料には、アルミニウム、クロム、銅、銀、金、白金、タンタル、ニッケル、チタン、モリブデン、タングステン、ハフニウム、バナジウム、ニオブ、マンガン、マグネシウム、ジルコニウム、ベリリウム等の金属、これら金属の合金および化合物がある。また、リン等の不純物元素を含有させた多結晶シリコン、金属酸化物を有する透光性導電体などがある。透光性導電体としては、例えば酸化タングステンを含むインジウム酸化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム錫酸化物(ITOと呼ばれる)、インジウム亜鉛酸化物、酸化ケイ素を添加したインジウム錫酸化物等の金属酸化物を挙げることができる。
また、表示装置270の絶縁層に用いられる絶縁材料には、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化ガリウム、酸化ゲルマニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ランタン、酸化ネオジム、酸化ハフニウムおよび酸化タンタル等があげられる。また、樹脂材料でもよく、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、シロキサン系樹脂、ポリアミド樹脂、エポキシ樹脂等を用いることができる。なお、本明細書において、酸化窒化物とは、窒素よりも酸素の含有量が多い化合物をいい、窒化酸化物とは、酸素よりも窒素の含有量が多い化合物をいう。
実施の形態1のレシーバ141(図3参照)、および比較例のレシーバの動作を回路シミュレーションにて確認した。
図34に、シミュレーションを行った比較例のレシーバの回路図を示す。レシーバ950は、増幅回路951、952、レベルシフタ953を有する。レシーバ950のトランジスタは全てMVデバイスである。増幅回路951、952は、増幅回路150、160(図2)を構成するNMOS、PMOSをPMOS、NMOSに変更した回路に相当する。レベルシフタ953は、CMOSインバータ回路で構成されている。増幅回路951、952には電源電圧Vdda、Vssaが入力され、レベルシフタ953には電源電圧Vddd、Vssdが入力される。レベルシフタ953は、増幅回路952から出力されるMVレベルの信号をLVレベルの信号にレベルダウンするために設けられている。
シミュレーションにおいて、レシーバ141、950の電源電圧、バイアス電圧の値は以下のとおりである。
Vddd=1.2V、Vssd=0V、Vdda=3.3V、Vssa=0V、Vcs1=0.573V、Vbs1=0.756V、Vcs2=0.466V、Vbs2=0.623V。
また、MVデバイスのTox(等価酸化膜厚)はNMOS、PMOSともに14.3nmである。LVデバイスのToxは、NMOSでは2.6nmであり、PMOSでは2.75nmである。
図31A―、図32Cに回路シミュレーションの結果を示す。シミュレータにはSPICEを用いた。回路シミュレーションでは、周波数300MHz、750MHzの差動クロック信号を入力したときの、レシーバ141、950の動作を確認した。
(伝達遅延時間)
図31Aは、レシーバ141、950の端子INP、INNに入力される300MHzの差動クロック信号の波形を示す。端子INP、INNの最大電圧は1.425Vであり、最小電圧は1.075Vである。図31Bは、300MHzの差動クロック信号が入力されたときのレシーバ141の出力信号の波形を示し、図31Cは、レシーバ950の出力波形を示す。300MHzの差動クロック信号の入力に対して、レシーバ141、950とも正常に動作していること、およびレシーバ141の方がレシーバ950よりも伝達遅延時間が短いことが確認できる。
(動作周波数)
図32Aは、レシーバ141、950の端子INP、INNに入力される750MHzの差動クロック信号の波形を示す。端子INP、INNの最大電圧、最小電圧は図31Aと同じである。図32Bは、750Hzの差動クロック信号が入力されたときのレシーバ141の出力信号の波形を示し、図32Cは、レシーバ950の出力波形を示す。
図32Bに示すように、750MHzの差動クロック信号の入力に対して、レシーバ141はシングルエンドクロック信号を出力し、正常な動作を行っている。他方、図32Cは、レシーバ950が正常に動作していないこと示している。つまり、レシーバ141はレシーバ950よりも最大動作周波数が高いことが確認できる。
本実施例において、レシーバを、出力段にレベルシフタを設ける必要のない回路で構成することで、伝達遅延時間の短縮、動作周波数の向上できることが確認された。
5:外光、
20、20R、20G、20B、20W、21、22、23、25、25R、27、27R、27G、27B、27a、27b、27c、27d、28、28a、28b、28c、28d:サブ画素、
90:差動伝送システム、 100:レシーバ、 102:インターフェース回路、 103:内部回路、 105:トランスミッタ、 106:インターフェース回路、 108:伝送媒体、 110:増幅回路、 111:差動対、 112:電流源、 113:負荷回路、 120:増幅回路、 140、141、142、143、144:レシーバ、 150、151、160、161:増幅回路、 172:プルアップ回路、 173:プルダウン回路、 174:ラッチ回路、 175、176:クロックドインバータ、 177、178:インバータ、 180:バイアス電圧生成回路、
200、201:LVDSレシーバIC、 210:レシーバ、 212:バイアス電圧生成回路、 213:参照電流生成回路、 215:ロジック回路、 220:シリアル‐パラレル変換回路、 221:位相同期(PLL)回路、
240、241、242:表示システム、 250:プロセッシングユニット、 251:実行ユニット、 252:メモリ装置、 254:電源回路、 255:センサユニット、 256:光センサ装置、 257:傾斜センサ装置、 258:開閉センサ装置、 260:タッチセンサ装置、 261:センサアレイ、 262:タッチセンサコントローラIC、 263、264:インターフェース回路、 265:コントローラ回路ユニット、 266:ドライバ回路ユニット、 267:センス回路ユニット、 270、271:表示装置、 280、281、282、283:画素アレイ、 290A、290B:ゲートドライバ回路、 295:スイッチアレイ、 295a、295b:スイッチ回路、 296:スイッチアレイ、 296a:スイッチ回路、
300、301:表示コントローラIC、 303:ソースドライバIC、 310:インターフェース回路、 312:LVDSレシーバユニット、 313:レシーバ、 314:バイアス電圧生成回路、 315:コントローラユニット、 317:ドライバ回路ユニット、 318、320:インターフェース回路、 322:LVDSレシーバユニット、 325:コントローラユニット、 327:インターフェース回路、 328:LVDSトランシーバユニット、 330:コントローラ、 332:クロック生成回路、 333:タイミングコントローラ、 334:レジスタ、 335:フレームメモリ、 336:ラインメモリ、 338:デコーダ、 340:画像処理ユニット、 341:ガンマ補正回路、 342:調光回路、 343:調色回路、 344:EL補正回路、 351:コントロールロジック回路、 352:シフトレジスタ、 353:ラッチ回路、 354:レベルシフタ、 355:デジタル‐アナログ変換回路(DAC)、 356:増幅回路、 360:電流検出回路、 361:コントロールロジック回路、 362:積分回路、 363:アナログ‐デジタル変換回路(ADC)、 364:パラレル‐シリアル変換回路、 372、373:バイアス電圧生成回路、 375:レベルシフタ、 380:インターフェース回路、 382:LVDSレシーバユニット、 385:ドライバ回路ユニット、 387:インターフェース回路、
401、402:基板、 405:封止材、 406:FPC、 410:トランジスタ層、 411:EL素子層、 412:LC層、 415:画素電極、 415a:開口、 416:画素電極、 417:端子部、 418、419:コモン電極、 420:カラーフィルタ、 424:外光、 425、426:光、
701、702:基板、 704、705:封止材、 705a、706a:導電性粒子、 706:ACF(異方性導電フィルム)、 711、712、713:半導体層、 720、721、722、725、726、727、731、732、733、734、741、742、743、744、745、746、747、748、749、750、751、755:導電層、 725a、726a:開口、 752:EL層、 756、757:配向膜、 758:オーバーコート層、 760_R、761_R:カラーフィルタ層、 762:遮光層、 765、766:端子、 728、770、771、772、773、774、775、776、777:絶縁層、 780:外光、 781、782:光、 790:トランジスタ層、 791:EL素子層、 792:液晶層、 795:コモンコンタクト部、 796:端子部、 797:FPC、
900、950:レシーバ、 902:インターフェース回路、 903:内部回路、 910、920、951、952:増幅回路、 911:差動対、 912:電流源、 930、953:レベルシフタ、
1400:DOSRAM、 1405:コントローラ、 1410:行回路、 1411:デコーダ、 1412:ワード線ドライバ回路、 1413:列セレクタ、 1414:センスアンプドライバ回路、 1415:列回路、 1416:グローバルセンスアンプアレイ、 1417:入出力回路、 1420:MC‐SA(メモリセルおよびセンスアンプ)アレイ、 1422:メモリセルアレイ、 1423:センスアンプアレイ、 1425:ローカルメモリセルアレイ、 1426:ローカルセンスアンプアレイ、 1444:スイッチアレイ、 1445:メモリセル、 1446:センスアンプ、 1447:グローバルセンスアンプ、
2010、2030、2050、2070:情報端末、 2011、2031、2051、2071、2072、2101、2121、2131、2133、2171、2221、2231、2251、2261:筐体、 2012、2032、2052、2073、2074、2102、2122、2132、2172、2223、2232、2252、2262:表示部、 2013:操作ボタン、 2014:外部接続ポート、 2015:スピーカ、 2016:マイクロフォン、 2020:無線信号、 2033:リュウズ、 2034:ベルト、 2035:検知部、 2110:表示装置、 2134:操作キー、 2136:接続部、 2173:操作ボタン、 2053:ヒンジ、 2103、2263:支持台、 2120:ノート型パーソナルコンピュータ、 2123:キーボード、 2124:ポインティングデバイス、 2130:ビデオカメラ、 2135:レンズ、 2170:HMD、 2174:固定具、 2200:自動車、 2210:ナビゲーションシステム、 2220:リアビューモニタ、 2222:接続部、 2230:後部座席モニタ、 2235:ヘッドレスト、 2250、2260:医用表示装置、 2253:支持部、
5001、5002:OSトランジスタ、 5010:酸化物層、 5011、5012、5013:金属酸化物層、 5021、5022、5023、5024、5025、5026、5027、5028、5029、5030:絶縁層、 5050、5051、5052、5053、5054:導電層、 5200:単結晶シリコンウエハ、
R11、R12:抵抗素子、 Rt:抵抗、 Rd1、Rd2:負荷、
C1、C2、C3、CS1:容量素子、
EE1:EL(エレクトロルミネセンス)素子、 RE1:LC(液晶)素子、
NL13、NL14、NL24、NL25、NL26、NL27、NL28、NL29、NL31、NL32、NL33、NL34、NL42、NL51、NL52、NL53、NL54、NM1、NM2、NM11、NM12、M1、M2、M3、M4、M5、M6、MQ1、MS1、MS2、MS3、MS4、MS5、MS6、MS11、MS12、MS13、MS14、MS15、MS16、MS31、MS32、MS33、MS34、MS35、MS36、MW1、PL11、PL12、PL13、PL14、PL21、PL22、PL23、PL24、PL25、PL31、PL32、PL33、PL42:トランジスタ、
PM1、PM2、B1、B2、INN1、INN2、INN、INP1、INP2、INP、NBIAS、NCAS、OUT2、OUTN1、OUTP1、OUT、PBIAS、PCAS、STBY、VH、VL:端子、
CE、CKINN、CKINP、M、P1、P2、RCKO、RINN1、RINN2、RINN3、RINN4、RINP1、RINP2、RINP3、RINP4、ROT1、ROT2、ROT3、ROT4、S、VH1、VL1:ピン、
ANL、CSL、DRL、GLE、GLE1、GLE2、GLL、ML、SLE、SLE1、SLE2、SLL、SNL:配線、
L10、L11、L12、L13、L14:層

Claims (18)

  1. 第1差動信号を受信し、第1シングルエンド信号を出力するレシーバであり、
    第1入力端子、第2入力端子、第1出力端子、第1増幅回路、および第2増幅回路を有し、
    前記第1入力端子および前記第2入力端子は前記第1差動信号用の入力端子であり、
    前記第1出力端子は前記第1シングルエンド信号用の出力端子であり、
    前記第1増幅回路は差動入力、差動出力の増幅回路であり、
    前記第2増幅回路は差動入力、シングルエンド出力の増幅回路であり、
    前記第1増幅回路の2個の入力端子の一方は前記第1入力端子に電気的に接続され、他方は前記第2入力端子に電気的に接続され、
    前記第1増幅回路の2個の出力端子の一方は前記第2増幅回路の2個の入力端子うちの一方に電気的に接続され、他方は前記第2増幅回路の他方の入力端子に電気的に接続され、
    前記第2増幅回路の出力端子は、前記第1出力端子に電気的に接続され、
    前記第1増幅回路および前記第2増幅回路には、それぞれ、第1電源電圧、第2電源電圧が供給され、
    前記第1電源電圧は高レベル側電源電圧であり、
    前記第2電源電圧は低レベル側電源電圧であり、
    前記第1増幅回路の差動対は第1トランジスタおよび第2トランジスタを有し、
    前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタの耐圧は、前記第1増幅回路を構成する他のトランジスタ、および前記第2増幅回路を構成するトランジスタの耐圧よりも高いレシーバ。
  2. 請求項1において、
    前記第1トランジスタ、および前記第2トランジスタはnチャネル型トランジスタであるレシーバ。
  3. 請求項2において、
    前記第2増幅回路の差動対は、第3トランジスタおよび第4トランジスタを有し、
    前記第3トランジスタ、および前記第4トランジスタはpチャネル型トランジスタであるレシーバ。
  4. 請求項1乃至3の何れか1項において、
    前記第1電源電圧は、前記第1シングルエンド信号が入力される回路の高レベル側電源電圧と同じであり、
    前記第2電源電圧は、当該回路の低レベル側電源電圧と同じであるレシーバ。
  5. 請求項1乃至4の何れか1項において、
    前記第1増幅回路は、第5トランジスタおよび第6トランジスタを有し、
    前記第2増幅回路は、第7トランジスタおよび第8トランジスタを有し、
    前記第5トランジスタは、前記第1増幅回路の前記差動対に供給される第1バイアス電流を生成する機能を有し、
    前記第6トランジスタは、前記第5トランジスタをオフ状態にする機能を有し、
    前記第7トランジスタは、前記第2増幅回路の前記差動対に供給される第2バイアス電流を生成する機能を有し、
    前記第8トランジスタは、前記第7トランジスタをオフ状態にする機能を有するレシーバ。
  6. 請求項5において、
    プルアップ回路が前記第1出力端子に電気的に接続され、
    前記プルアップ回路は、前記第5トランジスタ、前記第7トランジスタがオフ状態であるときアクティブ状態であるレシーバ。
  7. 請求項5において、
    プルダウン回路が前記第1出力端子に電気的に接続され、
    前記プルダウン回路は、前記第5トランジスタ、前記第7トランジスタがオフ状態であるときアクティブ状態であるレシーバ。
  8. 請求項5において、
    ラッチ回路が前記第1出力端子に電気的に接続され、
    前記ラッチ回路は、前記第5トランジスタ、前記第7トランジスタがオフ状態であるときアクティブ状態であるレシーバ。
  9. 請求項1乃至8の何れか1項において、
    前記第1増幅回路はフォールデッドカスコードオペアンプであるレシーバ。
  10. 請求項1乃至9の何れか1項において、
    前記第2増幅回路はバッファオペアンプであるレシーバ。
  11. 差動信号を受信することができるICであり、
    請求項1乃至6の何れか一項に記載のレシーバを有するIC。
  12. 差動信号を受信することができるICであり、
    請求項1乃至11の何れか一項に記載のレシーバと、
    前記レシーバの出力信号が入力されるシリアル‐パラレル変換回路と、を有するIC。
  13. 表示装置を制御するための表示コントローラICであり、
    画像信号を受信する機能を備えるインターフェース回路が設けられ、
    前記インターフェース回路は、請求項1乃至11の何れか一項に記載のレシーバを有する表示コントローラIC。
  14. 表示装置のソース線を駆動する機能を備えるドライバICであり、
    画像信号を受信する機能を備えるインターフェース回路が設けられ、
    前記インターフェース回路は、請求項1乃至11の何れか一項に記載のレシーバを有するドライバIC。
  15. 画素アレイと、
    ゲートドライバ回路と、
    請求項13に記載の表示コントローラICと、を有し、
    前記画素アレイはゲート線、ソース線、およびサブ画素を有し、
    前記ゲートドライバ回路は前記表示コントローラICに電気的に接続されている表示装置。
  16. 画素アレイと、
    ゲートドライバ回路と、
    請求項14に記載のドライバICと、を有し、
    前記画素アレイはゲート線、ソース線、およびサブ画素を有し、
    前記ゲートドライバ回路、および前記ドライバICは前記画素アレイに電気的に接続されている表示装置。
  17. 請求項15または16において、
    タッチパネル装置が設けられている表示装置。
  18. 表示部を有する電子機器であって、
    前記表示部は、請求項15乃至17の何れか1項に記載の表示装置を有する電子機器。
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