JP2017532561A - 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 - Google Patents
明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017532561A JP2017532561A JP2017520494A JP2017520494A JP2017532561A JP 2017532561 A JP2017532561 A JP 2017532561A JP 2017520494 A JP2017520494 A JP 2017520494A JP 2017520494 A JP2017520494 A JP 2017520494A JP 2017532561 A JP2017532561 A JP 2017532561A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- dark field
- arc
- imaging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 91
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 72
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000012876 topography Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 54
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 20
- 230000006872 improvement Effects 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 2
- 230000005355 Hall effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/082—Condensers for incident illumination only
- G02B21/084—Condensers for incident illumination only having annular illumination around the objective
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/12—Condensers affording bright-field illumination
- G02B21/125—Condensers affording bright-field illumination affording both dark- and bright-field illumination
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/361—Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/005—Diaphragms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本出願は、2014年10月14日に出願され、参照によって本明細書に組み込まれる米国特許仮出願第62/063,564号の利益を主張する。
Claims (14)
- 暗視野チャネル及び明視野チャネルを有するBD対物レンズを利用する撮像システムで試料の表面を撮像する方法であって、
前記BD対物レンズの周囲の第1の弧を通って前記試料を斜角照射する第1の弧状照射光が前記暗視野チャネルを通って前記試料を斜角照射するステップであって、前記第1の弧状照射光は前記試料の前記表面に反射する、斜角照射するステップと、
前記試料の前記表面に反射する前記第1の弧状照射光から前記試料の第1の画像を記録するステップと、
トポグラフィ撮像法を介して前記第1の画像を処理することにより前記試料の3Dトポグラフィを生成するステップと
を含む、方法。 - 前記第1の弧は1度以上180度以下である、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の弧は2度以上5度以下である、請求項2に記載の方法。
- 前記第1の弧と異なる前記周囲の第2の弧を通って前記試料を斜角照射する第2の弧状照射光が、前記暗視野チャネルを通って前記試料を斜角照射するステップであって、前記第2の弧状照射光は前記試料の前記表面に反射する、斜角照射するステップと、
前記試料の前記表面に反射する前記第2の弧状照射光から前記試料の第2の画像を記録するステップであって、3Dトポグラフィを生成する前記ステップは、トポグラフィ撮像法を介して前記第2の画像を処理することを含む、記録するステップと
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - すべての前記斜角照射するステップは、
前記暗視野チャネル内に光バリアを提供するステップであって、前記光バリアはそれを通る光が通過できない本体、及びそれを通る光が通過できる暗視野開口を前記本体内に有する、提供するステップと、
前記試料を斜角照射する前記弧状照射光を提供するために、照射光を前記暗視野チャネルの中に入れて前記光バリアまで達し、前記暗視野開口を通して送達するステップと
を含む、請求項4に記載の方法。 - あらゆる前記斜角照射ステップの前記斜角照射を制御し、あらゆる前記画像を記録するステップを制御する処理装置を含む、請求項5に記載の方法。
- 前記処理装置は3Dトポグラフィを生成する前記ステップを制御する、請求項6に記載の方法。
- 明視野照射光が前記明視野チャネルを通って前記試料を直角照射するステップであって、前記明視野照射光は前記試料の前記表面に反射する、直角照射するステップと、
前記試料の前記表面に反射する前記明視野照射光から前記試料の第3の画像を記録するステップであって、3Dトポグラフィを生成する前記ステップは、トポグラフィ撮像法を介して前記第3の画像を処理することを含む、記録するステップと
をさらに含む、請求項7に記載の方法。 - 前記トポグラフィ撮像法は、陰影からの形状復元法、フォトメトリックステレオ法、及びフーリエタイコグラフィ変調法から選択される、請求項1に記載の方法。
- 暗視野チャネル及び明視野チャネルを有するBD対物レンズを利用する、試料の表面を撮像するための撮像装置において、
改良は前記暗視野チャネル内に光バリアを置くことを含み、前記光バリアはそれを通る光が通過できない本体、及びそれを通る光が通過できる暗視野開口を前記本体内に有するので、前記本体は前記暗視野チャネルを通って前記試料に向かって移動する照射光を遮断し、前記開口は前記暗視野チャネルを通って前記試料に向かって移動する前記照射光の通路を画定し、従って前記開口は離散方向から前記BD対物レンズの周囲の弧のみを通る前記暗視野チャネルを通って前記試料を斜角照射する弧状照射光を画定する、撮像装置。 - 前記弧は1度以上180度以下である、請求項10に記載の撮像装置。
- 前記弧は2度以上5度以下である、請求項11に記載の撮像装置。
- 前記撮像装置によって撮られた画像上にトポグラフィ撮像法を利用する処理装置をさらに備える、請求項12に記載の撮像装置。
- 前記光バリアは前記周囲の種々の位置で前記開口の前記配置ができるように回転する、請求項10に記載の撮像装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201462063564P | 2014-10-14 | 2014-10-14 | |
US62/063,564 | 2014-10-14 | ||
PCT/US2015/055283 WO2016061070A1 (en) | 2014-10-14 | 2015-10-13 | Unique oblique lighting technique using a brightfield darkfield objective and imaging method relating thereto |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019178985A Division JP7072892B2 (ja) | 2014-10-14 | 2019-09-30 | 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017532561A true JP2017532561A (ja) | 2017-11-02 |
JP2017532561A5 JP2017532561A5 (ja) | 2018-12-13 |
JP6596492B2 JP6596492B2 (ja) | 2019-10-23 |
Family
ID=54364727
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017520494A Active JP6596492B2 (ja) | 2014-10-14 | 2015-10-13 | 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 |
JP2019178985A Active JP7072892B2 (ja) | 2014-10-14 | 2019-09-30 | 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019178985A Active JP7072892B2 (ja) | 2014-10-14 | 2019-09-30 | 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US10437034B2 (ja) |
EP (2) | EP4030201A1 (ja) |
JP (2) | JP6596492B2 (ja) |
KR (1) | KR102058453B1 (ja) |
CN (1) | CN107250872B (ja) |
TW (2) | TWI636281B (ja) |
WO (1) | WO2016061070A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210122293A (ko) * | 2019-02-07 | 2021-10-08 | 나노트로닉스 이미징, 인코포레이티드 | 형광 현미경 검사 시스템, 장치 및 방법 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10169852B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-01-01 | Nanotronics Imaging, Inc. | Systems, devices, and methods for providing feedback on and improving the accuracy of super-resolution imaging |
US10295476B1 (en) * | 2018-08-14 | 2019-05-21 | Applied Materials Israel Ltd. | System and method for multiple mode inspection of a sample |
DE102018128083A1 (de) * | 2018-11-09 | 2020-05-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopisches Durchlichtkontrastierverfahren |
AU2019403134A1 (en) | 2018-12-18 | 2021-06-17 | Pathware Inc. | Computational microscopy based-system and method for automated imaging and analysis of pathology specimens |
US10901327B2 (en) | 2018-12-20 | 2021-01-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic defect analyzer for nanoimprint lithography using image analysis |
CN109884082B (zh) * | 2019-03-27 | 2020-04-03 | 爱丁堡(南京)光电设备有限公司 | 一种光滑表面缺陷的检测方法 |
CN110609039B (zh) * | 2019-09-23 | 2021-09-28 | 上海御微半导体技术有限公司 | 一种光学检测装置及其方法 |
CN110926429A (zh) * | 2019-12-23 | 2020-03-27 | 中芯长电半导体(江阴)有限公司 | 一种光源识别设备 |
KR102315010B1 (ko) * | 2020-02-19 | 2021-10-21 | 한국표준과학연구원 | 파라볼릭 미러를 이용한 반사형 fpm |
US11689821B2 (en) * | 2020-08-07 | 2023-06-27 | The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | Incoherent Fourier ptychographic super-resolution imaging system with priors |
CN113092415A (zh) * | 2021-03-09 | 2021-07-09 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 用于无标记生物样品的相衬成像装置 |
CN116990320B (zh) * | 2023-09-27 | 2023-12-19 | 江西驰宇光电科技发展有限公司 | 一种用于疵病检测的暗场成像方法及装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04133017A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-07 | Wakomu:Kk | 疑似太陽光照射装置 |
JP2005227371A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-08-25 | Mitsutoyo Corp | 照明装置及び画像測定機 |
WO2006057033A1 (ja) * | 2004-11-24 | 2006-06-01 | Takashi Yoshimine | 対物レンズ及びコンデンサ |
JP2009175316A (ja) * | 2008-01-23 | 2009-08-06 | Olympus Corp | 観察装置 |
JP2009288329A (ja) * | 2008-05-27 | 2009-12-10 | Nikon Corp | 顕微鏡用対物レンズ、顕微鏡 |
JP2010518435A (ja) * | 2007-02-09 | 2010-05-27 | ライカ インストルメンツ(シンガポール)プライベート リミテッド | 顕微鏡の照明装置 |
JP2011128550A (ja) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Nikon Corp | 偏斜照明装置、顕微鏡 |
Family Cites Families (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT126714B (de) | 1930-03-24 | 1932-02-10 | Zeiss Carl Fa | Vorrichtung zur Erzielung verschiedenfarbiger Beleuchtung mikroskopischer Objekte. |
DE2331750C3 (de) | 1973-06-22 | 1978-04-20 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Auflicht-Beleuchtungseinrichtung für wahlweise Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung |
DE2542075A1 (de) * | 1975-09-20 | 1977-07-21 | Leitz Ernst Gmbh | Auflicht-beleuchtungseinrichtung fuer hell- und dunkelfeldbeleuchtung |
JPS6063514A (ja) * | 1983-09-17 | 1985-04-11 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 暗視野用落射顕微鏡 |
JPS6063514U (ja) | 1983-10-07 | 1985-05-04 | 株式会社クシタニ | オ−トバイライダ−用膝保護用プロテクタ− |
DE3409657A1 (de) | 1984-03-16 | 1985-09-19 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Dunkelfeldbeleuchtungseinrichtung fuer mikroskope |
US4585315A (en) | 1984-11-13 | 1986-04-29 | International Business Machines Corporation | Brightfield/darkfield microscope illuminator |
DE3442218A1 (de) | 1984-11-19 | 1986-05-28 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Auflichtbeleuchtungsapparat fuer mikroskope |
US5325331A (en) | 1991-04-04 | 1994-06-28 | Micron Technology, Inc. | Improved device for sensing information store in a dynamic memory |
US5867312A (en) * | 1991-04-19 | 1999-02-02 | Edge Scientific Instrument Company Llc | Illumination system and method for a 3-D high definition light microscope |
JPH04133017U (ja) | 1991-05-31 | 1992-12-10 | 武蔵精密工業株式会社 | ボールジヨイント |
JPH07294822A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-10 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡の落射暗視野照明装置 |
US5831736A (en) * | 1996-08-29 | 1998-11-03 | Washington University | Method and apparatus for generating a three-dimensional topographical image of a microscopic specimen |
CN1145820C (zh) * | 1997-08-29 | 2004-04-14 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 显微镜透过明视野照明装置 |
JP2000227557A (ja) * | 1999-02-04 | 2000-08-15 | Hideaki Ishizuki | 暗視野照明を用いた液中微粒子、濁度観察方法 |
US6891671B1 (en) * | 2000-04-18 | 2005-05-10 | Gary Greenberg | Apparatus and methods for creating real-time 3-D images and constructing 3-D models of an object imaged in an optical system |
GB0112392D0 (en) * | 2001-05-22 | 2001-07-11 | Medical Res Council | Optical imaging appartus and associated specimen support means |
DE20304412U1 (de) * | 2003-03-19 | 2003-06-12 | Schott Glas, 55122 Mainz | Steuereinheit für Mischlichtbeleuchtungen |
US7295303B1 (en) | 2004-03-25 | 2007-11-13 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Methods and apparatus for inspecting a sample |
US7345815B2 (en) * | 2004-04-28 | 2008-03-18 | Olympus Corporation | Illumination apparatus for microscope |
JP2005331888A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Keyence Corp | 蛍光顕微鏡 |
US7855844B2 (en) * | 2007-05-17 | 2010-12-21 | Mitutoyo Corporation | Objective lens and optical measuring device |
JP2009168582A (ja) | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Saki Corp:Kk | 外観検査装置 |
WO2011004714A1 (ja) * | 2009-07-06 | 2011-01-13 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置 |
JP2011027782A (ja) * | 2009-07-21 | 2011-02-10 | Nikon Corp | 対物レンズ、顕微鏡 |
TW201122543A (en) | 2009-12-30 | 2011-07-01 | Univ Nat Sun Yat Sen | Objective-type dark-field illumination device for microfluidic channel |
CN102033308B (zh) * | 2010-10-22 | 2012-08-29 | 浙江大学 | 一种超高分辨率的光学显微成像方法及装置 |
DE102011003603B4 (de) * | 2011-02-03 | 2019-12-24 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Durchlichtbeleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop |
DE102011002030A1 (de) | 2011-04-13 | 2012-10-18 | Jörg Piper | Vorrichtung zur Erzeugung einer variablen Hell/Dunkelfeld-Beleuchtung |
JP2013098262A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Canon Inc | 光学装置、位置検出装置及び顕微鏡装置 |
JP2013205202A (ja) | 2012-03-28 | 2013-10-07 | Azbil Corp | 半田ツノ外観検査装置 |
US9892812B2 (en) | 2012-10-30 | 2018-02-13 | California Institute Of Technology | Fourier ptychographic x-ray imaging systems, devices, and methods |
JP6108772B2 (ja) * | 2012-11-05 | 2017-04-05 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡及び暗視野対物レンズ |
CN103197413B (zh) * | 2013-04-15 | 2017-03-15 | 厦门大学 | 可产生三维立体图像的光学显微成像方法 |
-
2015
- 2015-10-13 EP EP22160787.2A patent/EP4030201A1/en active Pending
- 2015-10-13 KR KR1020177012920A patent/KR102058453B1/ko active IP Right Grant
- 2015-10-13 EP EP15787799.4A patent/EP3207409B1/en active Active
- 2015-10-13 CN CN201580063408.6A patent/CN107250872B/zh active Active
- 2015-10-13 WO PCT/US2015/055283 patent/WO2016061070A1/en active Application Filing
- 2015-10-13 JP JP2017520494A patent/JP6596492B2/ja active Active
- 2015-10-13 US US15/518,937 patent/US10437034B2/en active Active
- 2015-10-14 TW TW104133705A patent/TWI636281B/zh active
- 2015-10-14 TW TW107123342A patent/TWI683130B/zh active
-
2019
- 2019-09-05 US US16/561,541 patent/US10955651B2/en active Active
- 2019-09-30 JP JP2019178985A patent/JP7072892B2/ja active Active
-
2021
- 2021-03-22 US US17/208,222 patent/US11561383B2/en active Active
-
2023
- 2023-01-23 US US18/158,277 patent/US11846765B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04133017A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-07 | Wakomu:Kk | 疑似太陽光照射装置 |
JP2005227371A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-08-25 | Mitsutoyo Corp | 照明装置及び画像測定機 |
WO2006057033A1 (ja) * | 2004-11-24 | 2006-06-01 | Takashi Yoshimine | 対物レンズ及びコンデンサ |
JP2010518435A (ja) * | 2007-02-09 | 2010-05-27 | ライカ インストルメンツ(シンガポール)プライベート リミテッド | 顕微鏡の照明装置 |
JP2009175316A (ja) * | 2008-01-23 | 2009-08-06 | Olympus Corp | 観察装置 |
JP2009288329A (ja) * | 2008-05-27 | 2009-12-10 | Nikon Corp | 顕微鏡用対物レンズ、顕微鏡 |
JP2011128550A (ja) * | 2009-12-21 | 2011-06-30 | Nikon Corp | 偏斜照明装置、顕微鏡 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
GUOAN ZHENG: "Wide-field ,high-resolution Fourier ptychographic microscopy", NATURE PHOTONICS(ONLINE), JPN6018022513, 28 July 2013 (2013-07-28), US * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20210122293A (ko) * | 2019-02-07 | 2021-10-08 | 나노트로닉스 이미징, 인코포레이티드 | 형광 현미경 검사 시스템, 장치 및 방법 |
KR102675890B1 (ko) | 2019-02-07 | 2024-06-14 | 나노트로닉스 이미징, 인코포레이티드 | 형광 현미경 검사 시스템, 장치 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2016061070A1 (en) | 2016-04-21 |
TW201908805A (zh) | 2019-03-01 |
US11846765B2 (en) | 2023-12-19 |
EP4030201A1 (en) | 2022-07-20 |
JP2020079927A (ja) | 2020-05-28 |
US20210208377A1 (en) | 2021-07-08 |
US20200026053A1 (en) | 2020-01-23 |
US10437034B2 (en) | 2019-10-08 |
US11561383B2 (en) | 2023-01-24 |
JP7072892B2 (ja) | 2022-05-23 |
TWI683130B (zh) | 2020-01-21 |
KR102058453B1 (ko) | 2019-12-23 |
JP6596492B2 (ja) | 2019-10-23 |
US20230161144A1 (en) | 2023-05-25 |
TWI636281B (zh) | 2018-09-21 |
EP3207409A1 (en) | 2017-08-23 |
EP3207409B1 (en) | 2022-04-13 |
KR20170091089A (ko) | 2017-08-08 |
CN107250872B (zh) | 2020-09-08 |
US10955651B2 (en) | 2021-03-23 |
TW201617681A (zh) | 2016-05-16 |
CN107250872A (zh) | 2017-10-13 |
US20170235117A1 (en) | 2017-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7072892B2 (ja) | 明視野暗視野対物レンズを使用する独自の斜角照明法及びそれに関連した撮像方法 | |
CN107526156B (zh) | 光片显微镜以及用于运行光片显微镜的方法 | |
JP5764455B2 (ja) | 顕微鏡照明システム、顕微鏡および傾斜入射照明方法 | |
US5629773A (en) | Three-dimensional image measuring device | |
JP5599314B2 (ja) | 試料の検査のための方法および光学装置 | |
JP2017532561A5 (ja) | ||
JP2020079927A5 (ja) | ||
US20150131148A1 (en) | Spinning disk confocal using paired microlens disks | |
KR102537558B1 (ko) | 투명 기판 상의 결함 검사 방법 및 장치 | |
JPH1062354A (ja) | 透明板の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP2014235066A (ja) | 表面形状測定装置 | |
JP2023136718A (ja) | 光学検査方法、光学検査プログラム、処理装置、及び、光学検査装置 | |
JP4550488B2 (ja) | 検出光学装置及び欠陥検査装置 | |
JP2007139622A (ja) | 3次元形状計測装置 | |
EP3663812A1 (en) | Variable incidence angle dark-field microscopy | |
JP6347345B2 (ja) | 移植用角膜の観察装置及びこれに用いられる補助光源ユニット | |
WO2023228528A1 (ja) | 撮影装置及び撮影方法 | |
JP2012002650A (ja) | 撮像装置 | |
JPH02216406A (ja) | 立体形状測定装置及び測定方法 | |
JP3034940B2 (ja) | 顕微鏡写真撮影装置 | |
JP2003075727A (ja) | 顕微鏡 | |
JP2015225288A (ja) | オートフォーカス装置及びオートフォーカス方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181011 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181011 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20181011 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20181011 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20181015 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20190118 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190425 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190612 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190802 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190830 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190930 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6596492 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |