JP2017168839A5 - 半導体装置、半導体ウエハ、モジュールおよび電子機器 - Google Patents

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  1. 1乃至第4の導電体と、第1乃至第3の酸化物と、第1および第2のバリア膜と、第1および第2の絶縁体を有し、
    前記第1の絶縁体は、前記第1の導電体と重なる領域を有し、
    前記第1の酸化物は、前記第1の絶縁体上にあり、
    前記第2の酸化物は、前記第1の酸化物上にあり、
    前記第2の酸化物は、第1乃至第3の領域を有し、
    前記第2の領域は、前記第1の領域と前記第3の領域の間に挟まれ、
    前記第2の導電体は、前記第2の酸化物上にあり、
    前記第1のバリア膜は、前記第2の導電体上にあり、前記第2の導電体と接する領域を有し、
    前記第2の導電体および前記第1のバリア膜は、前記第1の領域と重なる領域を有し、
    前記第3の導電体は、前記第2の酸化物上にあり、
    前記第2のバリア膜は、前記第3の導電体上にあり、前記第3の導電体と接する領域を有し、
    前記第3の導電体および前記第2のバリア膜は、前記第3の領域と重なる領域を有し、
    前記第3の酸化物は、前記第1のバリア膜と重なる領域と、前記第2のバリア膜と重なる領域と、前記第2の領域と重なる領域と、を有し、
    前記第2の絶縁体は、前記第3の酸化物上にあり、
    前記第4の導電体は、前記第2の絶縁体上にあり、前記第2の領域と重なる領域を有する半導体装置。
  2. 請求項1において、
    前記第1乃至前記第3の酸化物は、酸化物半導体を含む半導体装置。
  3. 請求項1または請求項2において、
    前記第1のバリア膜および前記第2のバリア膜は、金属および酸素を含む半導体装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
    前記第3の酸化物は、前記第1の酸化物の側面と接する領域と、前記第2の酸化物の側面と接する領域と、を有する半導体装置。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか一において、
    チャネル幅方向において、前記第4の導電体は、前記第1の酸化物の側面と面する領域と、前記第2の酸化物の側面と面する領域と、を有する半導体装置。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれか一において、
    第3の絶縁体を有し、
    前記第3の絶縁体は、前記第4の導電体上にあり、前記第3の酸化物の上面を接する領域を有する半導体装置。
  7. 請求項1乃至請求項のいずれか一に記載の半導体装置およびプリント基板を有するモジュール。
  8. 請求項1乃至請求項のいずれか一に記載の半導体装置、請求項に記載のモジュール、およびスピーカーまたは操作キーを有する電子機器。
  9. 請求項1乃至請求項のいずれか一に記載の半導体装置を複数個有し、ダイシング用の領域を有する半導体ウエハ。
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