JP2016522527A - Rramおよびrramに対して情報を格納し検索する方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (29)
- X個のメモリセルの抵抗性ランダムアクセスメモリアレイに対してデータを格納して検索する方法であって、
前記RRAMアレイがX/Y個のメモリビットしか有しないようにY個のメモリセルを各メモリビットに結合することを含み、各メモリビットの結合された前記メモリセルは、読み出しおよび書き込み動作中に、互いに共通の抵抗状態に維持され、前記メモリビットは、唯一つのメモリセルを有するメモリビットと比較すると、信頼性の向上をもたらす結合されたメモリセルを有する、
ことを特徴とする方法。 - メモリビットの結合されたメモリセルは同時に読み出される、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - メモリビットの結合されたメモリセルは実質的に同時にプログラムされる、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - メモリビットの結合されたメモリセルは、同時にはプログラムおよび/または読み出されない、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - Yは2である、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 各メモリセルは、ワード線およびビット線の前記組み合わせによって一意的にアドレス指定され、メモリビットの前記メモリセルは、対になったワード線および個々のビット線によってアドレス指定される、
ことを特徴とする請求項5に記載の方法。 - 各メモリセルは、ワード線およびビット線の前記組み合わせによって一意的にアドレス指定され、メモリビットの前記メモリセルは、対になったビット線および個々のワード線によってアドレス指定される、
ことを特徴とする請求項5に記載の方法。 - Yは3以上である、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、相変化メモリを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、多価金属酸化物を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、導電性ブリッジランダムアクセスメモリを含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、二元酸化物を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 抵抗性ランダムアクセスメモリアレイに対してデータを格納し、検索する方法であって、
複数のメモリビットに前記抵抗性ランダムアクセスメモリアレイを細分することであって、各メモリビットは、少なくとも二つのメモリセルを含む、ことと、
前記メモリビット内の全てのメモリセルの抵抗状態を実質的に同時に変化させることによってメモリビットをプログラムすることと、
前記メモリビット内の全てのメモリセルを流れる合計電流を判定することによって、前記メモリビットを読み出すことと、
を含む、
ことを特徴とする方法。 - メモリビットの前記メモリセルは同時に読み出される、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - メモリビットの前記メモリセルは、同時に読み出されない、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - 各メモリビットは、二つのメモリセルを含み、各メモリセルは、ワード線とビット線の組み合わせによって一意的にアドレス指定され、メモリビットの前記メモリセルは、対になったワード線および個々のビット線によってアドレス指定される、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - 各メモリビットは、二つのメモリセルを含み、各メモリセルは、ワード線とビット線の組み合わせによって一意的にアドレス指定され、メモリビットの前記メモリセルは、対になったビット線および個々のワード線によってアドレス指定される、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは相変化メモリを含む、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、多価金属酸化物を含む、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、導電性ブリッジランダムアクセスメモリを含む、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、二元酸化物を含む、
ことを特徴とする請求項13に記載の方法。 - プログラマブル材料を含む複数のメモリセルであって、前記プログラマブル材料は、選択的に交換可能な抵抗状態を有し、前記メモリセルの各々は、ビット線/ワード線の組み合わせを通じて一意的にアドレス指定される、前記複数のメモリセルと、
互いに結合された複数のメモリセルを含むメモリビットであって、各メモリビット内の前記結合されたメモリセルは、互いに同一の抵抗状態にある、前記メモリビットと、
を含む、
ことを特徴とする抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 前記メモリビットは対になったメモリセルを含み、メモリビットの前記対になったメモリセルは、対になったワード線および個々のビット線によってアドレス指定される、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 前記メモリビットは、対になったメモリセルを含み、メモリビットの前記対になったメモリセルは、対になったビット線および個々のワード線によってアドレス指定される、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 各メモリビット内に3つ以上の結合されたメモリセルを含む、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、相変化メモリを含む、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、多価金属酸化物を含む、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、導電性ブリッジランダムアクセスメモリを含む、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。 - 前記抵抗性ランダムアクセスメモリは、二元酸化物を含む、
ことを特徴とする請求項22に記載の抵抗性ランダムアクセスメモリ。
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