JP2016515695A - 絶縁検査装置および絶縁検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、絶縁検査装置1の概略構成を示す概略構成図である。
この絶縁検査装置1による絶縁検査においては、被検査基板(回路基板)に設けられた複数の配線パターンのうちの絶縁検査対象配線パターンPA,PB間における絶縁状態の良否が判定される。このような絶縁検査対象配線パターンPA,PB間における絶縁状態の良否判定動作が全ての組み合わせに係る配線パターン対について実行され、全ての組み合わせに係る配線パターン対に関する絶縁状態が良好であることが判定されると、当該基板が良品である旨が判定される。一方、全ての組み合わせのうちいずれかの組み合わせに係る配線パターン対に関する絶縁状態が不良であることが判定されると、当該基板は不良品である旨が判定される。
つぎに、電圧降下検出によるスパーク検出について説明する。
つぎに、図4を参照しながら、絶縁検査装置1における動作についてさらに詳細に説明する。図4は、絶縁検査装置1の動作を示すフローチャートである。
以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
のいずれかに設定されるようにしてもよい。より詳細には、記憶部8に記憶される検査点の数(複数の配線パターンのそれぞれに設けられた検査点の数)を所定数のグループに区分し、検査対象の上流側配線パターンPAに設けられた検査点の数Nが属するグループに応じた電流値が供給電流として設定されればよい。また、比較的少ない検査点数に対応するグループに対しては、比較的多い検査点数に対応する他のグループに対して設定される電流値よりも小さな電流値が設定されればよい。
2 電源
3 電圧計
4 スイッチ
5 電流計
90 被検査基板
P11,P12,P21〜P23,P31〜P37 電極(検査点)
PA 上流側配線パターン
PB 下流側配線パターン
PT1〜PT5 配線パターン
Claims (5)
- 被検査基板における絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、
被検査基板に設けられた複数の配線パターンの中から絶縁検査対象配線パターンとして選択された、上流側配線パターンと下流側配線パターンとの両配線パターン間に、電圧印加を行う電源手段と、
前記電圧印加の際における前記電源手段からの供給電流を調整する電流調整手段と、
前記電圧印加によって生じる前記両配線パターン間の電圧を検出する電圧検出手段と、
前記電圧印加の開始から前記両配線パターン間の前記電圧が安定する所定のタイミングまでの期間において、前記両配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段と、
前記電圧降下検出手段により前記電圧降下が検出されると、前記被検査基板が不良品である旨を判定する判定手段と、
前記複数の配線パターンのそれぞれに設けられた検査点の数を記憶する記憶手段と、
を備え、
前記電流調整手段は、前記上流側配線パターンに設けられた検査点の数である第1の検査点数に応じて、前記供給電流を調整することを特徴とする絶縁検査装置。 - 請求項1に記載の絶縁検査装置において、
前記電流調整手段は、
前記第1の検査点数が前記所定数よりも大きい場合には、前記供給電流を第1の電流値に設定し、
前記第1の検査点数が前記所定数よりも小さい場合には、前記供給電流を前記第1の電流値よりも小さな第2の電流値に設定することを特徴とする絶縁検査装置。 - 請求項1に記載の絶縁検査装置において、
前記電流調整手段は、前記記憶手段に記憶される検査点の数を所定数のグループに区分し、前記第1の検査点数の属するグループに応じた電流値を前記供給電流として設定し、
比較的少ない検査点数に対応するグループに応じて設定される電流値は、比較的多い検査点数に対応する他のグループに応じて設定される電流値よりも小さいことを特徴とする絶縁検査装置。 - 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の絶縁検査装置において、
前記判定手段は、前記所定のタイミングにおける前記両配線パターン間の電圧と前記所定のタイミングにおける前記両配線パターン間に流れる電流とに基づいて、前記両配線パターン間の抵抗値を算出し、当該抵抗値に基づく前記被検査基板の良否判定をも行うことを特徴とする絶縁検査装置。 - 被検査基板における絶縁検査を行う絶縁検査方法であって、
a)被検査基板に設けられた複数の配線パターンの中から絶縁検査対象配線パターンとして選択された、上流側配線パターンと下流側配線パターンとの両配線パターン間に対して、電圧印加を開始するステップと、
b)前記電圧印加の開始から前記両配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミングまでの期間において、前記電圧印加によって生じる前記両配線パターン間の電圧を検出するステップと、
を備え、
前記期間においては、前記上流側配線パターンに設けられた検査点の数である第1の検査点数に応じて、前記電圧印加の際における供給電流が調整され、
前記期間において前記両配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下が検出されると、前記被検査基板が不良品である旨が判定されることを特徴とする絶縁検査方法。
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