JP2016188999A - 電子写真用の導電性部材、プロセスカートリッジおよび電子写真装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 長期に亘って安定して被帯電体を帯電させることができる電子写真用の導電性部材を提供する。【解決手段】 該導電性部材は、導電性支持体と、その上に形成された表面層と、を有する。該表面層は３次元的に連続な骨格を有し、かつ、厚み方向に連通してなる細孔を有し、該表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、貫通孔が含まれている正方形の数が１００個以下である。該骨格は、非導電性であり、かつ、該骨格が、ネックを介して互いに結合した複数の粒子で構成され、該粒子の円相当径の平均値Ｄ１が０．１μｍ以上２０μｍ以下である。【選択図】 図５

Description

本発明は、電子写真用の導電性部材、プロセスカートリッジおよび電子写真装置に関する。

電子写真画像形成装置（以降、「電子写真装置」ともいう）には、帯電部材の如き電子写真用の導電性部材が使用されている。 電子写真感光体の如き被帯電体と接触させて該被帯電部材の表面を帯電させるための帯電部材に対しては、被帯電体を長期に亘って安定に帯電させることが求められている。
特許文献１には、長期に亘って繰り返し使用した場合にも、表面の汚れに起因する帯電不良や帯電能力の低下が生じ難い帯電部材が開示されている。具体的には、帯電部材の表面層に、導電性樹脂粒子に由来する凸部を設けてなる帯電部材を開示している。

また、特許文献２は、導電性被覆部材の表面自由エネルギーを３０ｍＮ／ｍ以上とし、かつ、その表面全面に粒子径が３．０μｍ以下の有機微粒子または無機微粒子の層を有する帯電ロールを開示している。

特開２００８−２７６０２６号公報 特開２００６−９１４９５号公報

本発明は、安定して被帯電体を帯電させることができる電子写真用の導電性部材を提供することに向けたものである。また、本発明は、高品位な電子写真画像の形成に資するプロセスカートリッジおよび電子写真画像形成装置の提供に向けたものである。

本発明の一態様によれば、導電性支持体と、該導電性支持体の上に形成された表面層とを有し
該表面層が３次元的に連続な骨格を有し、かつ、厚み方向に連通してなる細孔を有し、
該表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、貫通孔が含まれている正方形の数が１００個以下であり、
該骨格は、非導電性であり、かつ、
該骨格は、ネックを介して互いに結合した複数の粒子で構成され、
該粒子の円相当径の平均値Ｄ１が０．１μｍ以上２０μｍ以下である、
電子写真用の導電性部材が提供される。

また本発明の他の態様によれば、電子写真装置の本体に着脱可能に構成されるプロセスカートリッジであって、上記の導電性部材を具備しているプロセスカートリッジが提供される。
さらに本発明の他の態様によれば、上記の導電性部材を具備している電子写真装置が提供される。

本発明の一態様によれば、安定して被帯電体を帯電させることができる電子写真用の導電性部材を得ることができる。また、本発明の他の態様によれば、高品位な電子写真画像の安定した形成に資するプロセスカートリッジおよび電子写真装置を得ることができる。

帯電部材の表面への汚れの付着のメカニズムの説明図である。 本発明に係るローラ形状の導電性部材の一例を示す断面図である。 表面層のチャージアップを説明するための図である。 ネックの説明図である。 細孔の評価方法の説明図である。 ネックの確認画像例を示す図である。 離間部材の一例を示す図である。 本発明に係るプロセスカートリッジの説明図である。 本発明に係る電子写真画像形成装置の説明図である。 本発明に係る表面層の形成に用いる塗布装置の説明図である。

本発明者らは、特許文献１および特許文献２に係る帯電部材について検討を行い、トナーや外添剤の付着を抑制する効果を有することを確認した。しかしながら、近年、電子写真画像の高精細化に伴って、帯電部材と被帯電体との間に印加する帯電電圧が大きくなる傾向にある。すなわち、帯電電圧を大きくすることによって、現像コントラストを大きくでき、その結果、色の階調を増大させることができる。
しかし、帯電電圧を大きくすると、局所的に放電電荷量が増加する異常放電が生じ易くなる。低温低湿環境下においては、異常放電が特に生じやすくなる。

（汚れ）
また、特許文献１および特許文献２に係る帯電部材によれば、トナーや外添剤の表面への物理的な付着を抑制し得ることを確認した。しかしながら、トナーや外添剤の、帯電部材の表面への静電的な付着の抑制には未だ改善の余地があるものと認識した。

すなわち、帯電部材の表面及び付着物には、放電により帯電電圧とは逆極性のイオンが付着する。そのため、放電を受けるにつれ静電的な付着力が増加する。特に、低温低湿環境下においては、空気中の水分によって汚れの荷電がキャンセルされにくい。そのため、帯電部材の表面には、トナーや外添剤がより付着しやすくなる。

図１を用いてマイナス帯電の場合について説明する。帯電部材１０は電源１３に接続され、アース１４に接地された感光ドラム１１と対向する。この帯電部材１０と感光ドラム１１との空隙で放電は生成し、電界に従ってマイナス極性の電子が感光ドラム１１へ、プラス極性のイオンが帯電部材１０の表面へひきつけられる。このとき、帯電部材１０の表面に、トナーの如き汚れ１２が存在すると、帯電部材１０に引き付けられたプラス極性のイオンが汚れ１２に付着し、汚れ１２はプラスに帯電する。その結果、マイナスに帯電された帯電部材１０との静電引力が増加し、汚れ１２は帯電部材１０の表面に強力に付着することになる。また、使用の進行に対しこの現象は繰り返し発生するため、汚れ１２の付着力は増大する。

ところで、帯電部材からの被帯電部材への放電はパッシェンの法則に従って発生する。また、放電現象とは、電離した電子が、空気中の分子や電極と衝突して電子と正イオンを生成する過程を繰り返しながら指数関数的に増加する電子雪崩の拡散現象と説明できる。この電子雪崩は電界に従って拡散し、この拡散の度合が最終的な放電電荷量を決定する。

また、異常放電は、パッシェンの法則よりも余剰な電圧が印加され、電子雪崩が大きく拡散して非常に大きい放電電荷量を有する場合に発生する。実際に高速度カメラとイメージインテンシファイアを用いて観察することが可能で、そのサイズは約２００μｍ〜７００μｍのサイズを有しており、その放電電流量を測定すると、正常放電の放電電流量のおよそ１００倍以上となる。したがって、異常放電を抑制するためには、印加電圧が大きい条件下において、電子雪崩の拡散により生成する放電電荷量を正常な範囲に抑制すればよい。

そして、本発明者らは、帯電電圧を増加させた場合にも異常放電を生じ難く、かつ、表面へのトナーの如き汚れの静電的な付着を有効に抑制し得る帯電部材を得るべく検討を重ねた。

その結果、
導電性支持体と、
該導電性支持体の上に形成された表面層と、を有し、
該表面層は３次元的に連続な骨格を有し、かつ、厚み方向に連通してなる細孔を有し、
該表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、該細孔が含まれている正方形の数が１００個以下であり、
該骨格は、非導電性であり、かつ、
該骨格が、ネックを介して互いに結合した複数の粒子で構成され、該粒子の円相当径の平均値Ｄ１が０．１μｍ以上２０μｍ以下である、導電性部材が、上記の要求をよく満たすことを見出した。

以下、図面を参照して本発明に係る帯電部材について説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。

本発明者らは、上記の構成に係る帯電部材によって、異常放電の発生が抑制され、また、トナーの如き汚れの表面への静電的な付着をより一層抑制し得る理由を以下のように推測している。

（異常放電抑制）
異常放電は上記した通り、概略２００μｍ〜７００μｍのサイズを有する。このサイズは、正常放電が、空間内で電界に従って成長した結果である。つまり、異常放電を抑制するためには、正常放電の成長を抑制すればよい。正常放電は、異常放電と同様に高速度カメラとイメージインテンシファイアで確認でき、そのサイズは３０μｍ以下である。

本発明に係る表面層は、３次元的に連続な骨格を有し、かつ、表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、貫通孔が含まれている正方形の数が１００個以下である。このことにより、電子雪崩の拡散が空間的に制限され、正常放電が異常放電のサイズにまで成長することを抑制できているものと考えられる。すなわち、表面層は、厚み方向に連通している細孔を有するものの、電界と同じ方向に貫通する貫通孔の数が少ない。そのため、導電性支持体の表面からの放電が分断され、正常放電のサイズが大きくなることが制限されるものと考えられる。

本発明に係る電子写真用の導電性部材と感光ドラムとの間に生じる放電を、高感度カメラを用いて直接観察した結果、多孔質体である表面層が導電性部材表面に存在した場合、単発の放電が細分化する現象が確認できている。このことからも、上記の推定メカニズムが正しいものと考えられる。

（汚れ抑制）
次に、汚れ付着抑制について述べる。まず、汚れは、物理付着力あるいは静電引力によって導電性部材の表面に付着する。特に、帯電部材に突入してくる汚れは、プラスからマイナスまでの電荷分布を有するので、汚れの静電付着は避けられない。また、上述のように、従来の導電性部材においては、帯電部材の表面及び付着物には、放電により印加電圧とは逆極性のイオンが付着するため、放電を受けるにつれ静電的な付着力が増大するばかりで、一度付着した汚れの剥離は期待されにくい。
本発明では、上記のような汚れの物理付着および静電付着の両方を抑制することができる。まず、物理付着に関して説明する。表面層は、微細な骨格と細孔を有する多孔質体であるために、接触点を非常に小さくでき、汚れの物理付着を抑制できる。

次に静電付着の抑制に関して図３で説明する。
図３はマイナス帯電の場合の帯電部材３１、感光ドラム３２の模式図である。放電が生じると、マイナスの電荷３４は感光ドラムの表面へ電界に従って進捗し、プラス極性の電荷３３は表面層３０へ進捗する。このとき、表面層３０は非導電性であるため、プラス極性の電荷３３を捕捉するため、表面層３０はプラスにチャージアップする。このとき、電界によって帯電部材の表面に付着しようとするプラスに帯電した汚れと静電的に反発するため、汚れに働く静電引力を低減できる。すなわち、従来全く抑制できなかった静電付着を低減することができる。

さらに、仮に表面層３０の表面に汚れが付着したとしても、表面層３０が多孔質体であるために、表面層３０で多く発生したマイナス放電電荷が汚れに付着し、その結果、汚れが帯びる極性がマイナスになるため、逆転させて、電界によって汚れが剥離する。
すなわち、汚れの物理付着と静電付着とを同時に、非常に効率よく抑制できるため、汚れ付着に由来する画像不良を低減できると予想される。
以上のような理由から、本発明によれば、異常放電の抑制と汚れ付着に起因する画像不良の抑制の両立を達成することができる。さらに、本発明によれば、長期間に亘って白抜け画像を抑制でき、汚れ付着に起因する画像不良を抑制するプロセスカートリッジおよび電子写真装置を提供することができる。以下、本発明を詳細に説明する。

（部材構成一例）
図２（ａ）および図２（ｂ）に、ローラ形状の導電性部材の一例の断面図を示す。この導電性部材は、導電性支持体と、該導電性支持体の外側に形成された表面層とを備えており、該表面層は多孔質体である。導電性部材の構造としては、図２（ａ）や図２（ｂ）に示す構成を一例として挙げることができる。

図２（ａ）の導電性部材は、導電性の軸芯体としての芯金２２からなる導電性支持体と、その外周に形成された表面層２１とによって構成されている。また、図２（ｂ）の導電性部材は、導電性の軸芯体としての芯金２２とその外周に設けられた導電性樹脂層２３とを備える導電性支持体と、その外周に形成された表面層２１によって構成されている。なお、導電性部材は、必要に応じて本発明の効果を疎外しない範囲で当該導電性樹脂層２３を複数配置した多層構成であってもよい。また、導電性部材はローラ形状に限られず、例えばブレード形状であってもよい。

＜導電性支持体＞
導電性支持体は、例えば、図２（ａ）に示すように、導電性の軸芯体としての芯金２２からなってもよい。また、図２（ｂ）に示すように、導電性の軸芯体としての芯金２２とその外周に設けられた導電性樹脂層２３とを備える構成でもよい。また、必要に応じて本発明の効果を阻害しない範囲で当該導電性樹脂層２３を複数配置した多層構成であってもよい。
これらの中でも、導電性樹脂層の導電剤に起因する抵抗ムラを抑制できる図２（ａ）の構成が好ましい。

〔導電性の軸芯体〕
導電性の軸芯体を構成する材料としては、電子写真用の導電性部材の分野で公知なものから適宜選択して用いることができる。例えば炭素鋼合金の表面に５μｍ程度の厚さのニッケルメッキを施した円柱材等が挙げられる。

〔導電性樹脂層〕
導電性樹脂層２３を構成する材料としては、ゴム材料、樹脂材料などを用いることが可能である。
ゴム材料としては、特に限定されるものではなく、電子写真用の導電性部材の分野において公知のゴムを用いることができ、具体的には以下のものが挙げられる。エピクロルヒドリンホモポリマー、エピクロルヒドリン−エチレンオキサイド共重合体、エピクロルヒドリン−エチレンオキサイド−アリルグリシジルエーテル３元共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体（ＮＢＲ）、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体の水素添加物、シリコーンゴム、アクリルゴム及びウレタンゴム等。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。

樹脂材料としても、電子写真用の導電性部材の分野において公知の樹脂を用いることができ、具体的には以下のものが挙げられる。アクリル樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリオレフィン樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂等。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。

上記導電性樹脂層２３を形成するゴム材料や樹脂材料に対して、電気抵抗値の調整のため、必要に応じて、以下の材料を添加してもよい。電子導電性を示すカーボンブラック；グラファイト；酸化錫などの酸化物；銅、銀などの金属、酸化物や金属を粒子表面に被覆して導電性を付与した導電性粒子；イオン導電性を示す第四級アンモニウム塩、スルホン酸塩などのイオン交換性能を有するイオン導電剤等。

また、本発明の効果を損なわない範囲で、ゴムや樹脂の配合剤として一般的に用いられている充填剤、軟化剤、加工助剤、粘着付与剤、粘着防止剤、分散剤、発泡剤、粗し粒子などを添加することができる。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。

導電性樹脂層２３を構成する材料としては、表面層のチャージアップが導電性支持体へ抜けていく現象を低減できる、カーボンブラックのような導電剤を使用した電子導電性の樹脂を用いることが好ましい。カーボンブラックのような導電剤を使用する際には、体積抵抗値が低すぎると、導電性支持体へチャージアップが抜ける現象が生じ、本発明の効果が低減する。したがって、導電性支支持体に添加する導電剤の部数は本発明の効果を制限しない範囲で少ない方が好ましい。また、イオン導電性の導電性支持体を使用すると、導電性支持体の表面の導電点が全面に均一に存在するため、表面層のチャージアップが抜ける現象が顕著になり、汚れ付着抑制の効果が低減する場合がある。

＜表面層＞
表面層は、３次元的に連続な骨格を有し、かつ、厚み方向に連通してなる細孔を有する。該表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、貫通孔が含まれている正方形の数は１００個以下である。該骨格は非導電性であり、かつ、該骨格は、ネックを介して互いに結合した複数の粒子で構成されている。粒子の円相当径の平均値Ｄ１は０．１μｍ以上２０μｍ以下である。

〔（１）３次元的に連続した骨格および連通した細孔〕
表面層は、３次元的に連続な骨格を有する。ここで、３次元的に連続な骨格とは、複数の分岐を有しており、導電性部材の最表面から導電性支持体の表面につながる箇所を複数個有する骨格のことをいう。

また、表面層は、上記の骨格内で生成した放電をドラムの表面に輸送するために、厚み方向に連通してなる細孔を有する。ここで、厚み方向に連通してなる細孔とは、表面層の表面のある開口から導電性支持体の表面にまで到達していることをいう。
また、当該細孔は、表面層の表面の複数の開口部を繋いでおり、かつ、複数の分岐を有していることが好ましい。このように、複数の開口を繋ぐとともに、複数の分岐を有することによって、表面層内において電子雪崩をより確実に分断させ得る。

さらに、連通してなる細孔が導電性支持体の表面から表面層の表面まで放電の経路を確保するので、非導電性の表面層であっても画像形成に好適な量の放電電荷を、得ることができる。
さらに、汚れの接触面積を低減して汚れの付着を抑制する。さらに、汚れが付着しても、細孔を通ってきた放電電荷が、付着した汚れに付着することで、汚れの電荷を反転させ、静電的に剥離することが可能になる。

表面層の骨格が３次元的に連続であり、細孔が厚み方向に連通してなることは、電子顕微鏡（ＳＥＭ）で得られるＳＥＭ像や、３次元透過型電子顕微鏡やＸ線ＣＴ検査装置等で得られる多孔質体の３次元像において確認できる。すなわち、当該ＳＥＭ像や当該３次元像において、骨格が複数の分岐を有し、表面層の表面から導電性支持体の表面に繋がる箇所を複数有すればよい。さらに、細孔が表面層の表面の複数の開口部を繋いでおり、かつ、複数の分岐を有し、表面層の表面から導電性支持体の表面に到達していることを確認すればよい。

〔（２）貫通孔の存在の程度〕
表面層は、表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、貫通孔が含まれている正方形の数が１００個以下、より好ましくは、２５個以下である。ここで、貫通孔とは、表面層の表面に正対したときに、導電性支持体の表面が直接観察できる、細孔をいう。

帯電装置においては、帯電部材の導電性支持体と、被帯電体の導電性支持体との間にバイアスが印加される。そのため、電界の方向に直線的な孔、すなわち、貫通孔が表面層に多く存在すると、導電性支持体の表面からの放電が、異常放電に成長し易くなる。そこで、電界と同じ方向に延びる細孔、すなわち、貫通孔の数を、上記のように制限することで、異常放電の発生を抑制することができる。
なお、該貫通孔を含む正方形群の数の下限は特に限定されないが、値が小さい方が好ましい。具体的には、０個であることが異常放電の発生を抑制する観点からは最も好ましい。

表面層における貫通孔の有無の確認は以下のようにして行うことができる。まず、表面層を当該表面層に正対した方向から観察し、当該表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影する。このとき、レーザー顕微鏡、光学顕微鏡、電子顕微鏡等、１５０μｍ四方の領域を観察できる方法を適宜使用すればよい。
次いで、図５にその一部を示すように、該領域を縦に６０等分、横に６０等分したときに、貫通孔を含む正方形群の数を数えればよい。

〔（３）非導電性〕
表面層の骨格は非導電性である。非導電性とは体積抵抗率が１×１０^１０Ω・ｃｍ以上であることをいう。表面層が非導電性であることで、表面層の骨格が、放電により帯電電圧とは逆極性のイオンを捕捉し、チャージアップすることができる。このチャージアップが、汚れの静電的な付着を低減し、さらに、付着した汚れの電荷を反転させて剥離させることができる。

表面層の骨格の体積抵抗率は１×１０^１０Ω・ｃｍ以上１×１０^１７Ω・ｃｍ以下であることが好ましい。体積抵抗率を１×１０^１０Ω・ｃｍ以上とすることで、骨格がチャージアップし始め、汚れの付着を抑制できる。一方で、体積抵抗率を１×１０^１７Ω・ｃｍ以下とすることで、表面層の細孔内の放電の生成を促進し、汚れの静電的な剥離が可能となる。さらに、体積抵抗率が１×１０^１５Ω・ｃｍ以上１×１０^１７Ω・ｃｍ以下であることで、表面層のチャージアップのばらつきの影響が低減でき、汚れの静電的な剥離をより一層促進できるので、より好ましい。

なお、表面層の体積抵抗率の測定方法は次のようにして行う。まず、導電性部材の表面に存在する表面層から、骨格の細孔を含まない状態の試験片をピンセットで取り出す。次いで、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）のカンチレバーを接触させ、カンチレバーと導電性基板との間に当該試験片を挟むことで体積抵抗率を測定する。導電性部材の長手方向を１０等分し、得られた１０領域の各領域における任意の１箇所（合計１０箇所）において前記体積抵抗率の測定を行い、その平均値を表面層の体積抵抗率とする。

〔（４）ネック〕
表面層の骨格は、ネックを介して互いに結合した複数の粒子からなる。
ここでネックとは、粒子間において、粒子の構成物質の物質移動により形成された、不連続点のないなだらかな曲面で、１葉双曲面状（鼓状）にくびれた部分のことを言う。
図４は表面層の骨格の一例として、球状の粒子を使用して製造した表面層の骨格の一部を２次元的に模式的に示した図である。図４において、粒子４１はネック４２を介して結合している。ネック４２は図４においては、直線として表現されているが、実際は、図４で示した破線によって切断された断面を示す。

図４（ａ）〜（ｃ）は結合した複数の粒子の切断面を示し、図４（ｄ）はネック部の切断面を示す。
図４（ａ）および図４（ｂ）は導電性支持体の表面に平行な切断面を示し、図４（ｃ）および図４（ｄ）は導電性支持体の表面に垂直な切断面を示す。
図４（ａ）および図４（ｂ）は、図４（ｃ）および図４（ｄ）に示す矢印４８の向きから見た断面図を示す。図４（ｃ）は、図４（ｄ）に示す矢印４０１の向きから見た断面図を示す。図４（ｄ）は、図４（ｃ）に示す矢印４９の向きから見た断面図を示す。

図４（ａ）に実線で示す切断面４３は、図４（ｃ）に示す面４６で切断することによって得られる切断面である。図４（ｂ）に実線で示す切断面４４は、図４（ｃ）に示す面４７で切断することによって得られる切断面であり、図４（ｂ）に示す二点破線４５は、図４（ａ）に実線で示す切断面４３に対応する。図４（ａ）〜（ｃ）に示すように、表面層の骨格を切断する面の導電性支持体の表面からの高さによって、切断面の面積が変化し、その切断面に現れるネック４２の長さも変化する。
複数の粒子を、ネックを介して３次元的に連結させることで、細孔の壁が凹凸を有することとなるため、細孔の形状が、より複雑化するため、電子雪崩の拡散を抑制する効果がより高まる。その結果、異常放電の発生を抑制する効果をより一層高めることができる。

さらに、粒子同士がネックを介して結合することで、粒子間の電気的な界面が無くなる。そのため、表面層を構成する骨格を１個の誘電体として見做すことができるようにあんる。骨格が１個の誘電体として機能することによって、チャージアップのばらつきを抑制し、表面層全体で均一な放電を形成することができる。
また、複数個の粒子がネックを介して結合していることにより、表面層の構造の変化が生じにくくなり、上記の効果を電子写真装置の寿命に亘って維持することができる。

さらに、ネックがあることで、細孔の形状に凹凸が増加し、より複雑な構造になる。細孔の凹凸は電界分布にも凹凸を付与し、このような電界分布の不均一な箇所は放電の契機となりやすい特徴を持つと考えられる。すなわち、ネックが形成する複雑な細孔の形状が、細孔内での放電の発生の確率を増大させ、チャージアップの量を増大させる。その結果、汚れの付着低減、剥離の促進の効果を得ることができる。

なお、粒子同士がネックを介して結合していることの確認は、Ｘ線ＣＴによる測定によって得られる３次元像や、レーザー顕微鏡、光学顕微鏡、電子顕微鏡等によって、粒子の結合部を観察すればよい。このとき、骨格及びネックを撮影し、粒子の結合部が不連続点のないなだらかな曲面で、１葉双曲面状（鼓状）にくびれていることを確認すればよい。
また、別のネックの確認の方法として、ピンセットによって表面層をくずすことで、結合していた粒子を分解することができる。分解して別れた粒子をさらに観察すると、図６のように、結合していた痕跡が確認でき、粒子同士がネックを介して結合していたことが確認できる。

〔粒子形状〕
表面層の骨格を形成するための粒子の形状は、３次元的に連続な骨格と厚み方向に連通した細孔を形成できればよく、その形状は、円形、楕円形、四角形などの多角形、半円形、または任意の形状を有することができる。その中でも、球状粒子であれば、膜厚、空孔率などの構造制御が好適に実現でき、良好な画質を得られるので好ましい。
粒子の形状は、Ｘ線ＣＴによる測定によって得られる３次元像や、レーザー顕微鏡、光学顕微鏡、電子顕微鏡等によって、粒子の結合部を観察すればよい。このとき、骨格及びネックを撮影し、画像処理において、ネックによって切断される粒子の形状を目視で確認し、粒子形状とすればよい。
また、別の粒子形状の確認の方法として、ピンセットによって表面層をくずすことで、結合していた粒子を分解することができる。分解して別れた粒子をさらに観察することで確認できる。

〔粒子の円相当径の平均値Ｄ１〕
表面層の骨格を形成する粒子の円相当径の平均値Ｄ１は、０．１μｍ以上であることが好ましい。０．１μｍ以上であると細孔が適度に形成され、表面層内の放電を促進できるので、汚れを剥離することができる。また、平均値Ｄ１は、２０μｍ以下、特には、３．５μｍ以下であることが好ましい。平均値Ｄ１を、２０μｍ以下とすることで、非導電性の構造に由来する画像不良を抑制することができる。また、平均値Ｄ１を、３．５μｍ以下とすることで、細孔内での放電の拡散抑制効果が大きくなり、異常放電の発生をより一層抑制できる。また、平均値Ｄ１を、３．５μｍ以下にすることで、表面層の表面の細孔にはまる汚れを低減し、汚れ付着に由来する画像不良を抑制することができる。

なお、粒子の円相当径の平均値Ｄ１は、Ｘ線ＣＴによる測定によって得られる３次元像や、レーザー顕微鏡、光学顕微鏡、電子顕微鏡等によって、粒子の結合部を観察すればよい。特に、Ｘ線ＣＴによる測定が、３次元的に表面層の測定ができるので好ましい。例えば、Ｘ線ＣＴ検査装置（商品名：ＴＯＨＫＥＮ−ＳｋｙＳｃａｎ２０１１（線源：ＴＸ−３００）、マース東研Ｘ線検査（株）製）を用い、骨格及びネックのスライス像を撮影する。そして得られたスライス像に対し、Ｉｍａｇｅ−ｐｒｏ ｐｌｕｓ（製品名、ＭｅｄｉａＣｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）などの画像処理ソフトによって計測すればよい。

具体的には、あるネックを介して結合した２つの粒子に対し、得られたスライス像を利用する。そして、図４のような、ネック断面に垂直な断面であり、導電性支持体の表面に平行な複数の切断面の中で当該切断面に含まれるネックの長さが最も長くなる切断面を探し、大津法によって２値化する。次に、例えばｗａｔｅｒｓｈｅｄ処理を施し、輪郭線の最も凹んだ部分を結ぶネックを作成する。次いで、このネックによって切断された粒子の重心を計算し、この重心を中心とし、粒子の境界線に接する外接円の半径を、粒子の円相当径として測定すればよい。これを、導電性部材の長手方向を１０等分し、得られた１０領域の各領域内の任意の画像内の、任意の５０個の粒子（合計５００個）において粒子の円相当径の測定をし、その算術平均値（以下、「平均値」とも記載する。）を粒子の円相当径の平均値Ｄ１とする。

また、別の粒子形状の確認の方法として、ピンセットによって表面層をくずすことで、結合していた粒子を分解することができる。そして導電性支持体の表面上で、分解して別れた粒子の画像をレーザー顕微鏡、光学顕微鏡、電子顕微鏡等によって取得し、上記と同様の方法で円相当径の平均値Ｄ１を測定すればよい。

〔ネック断面の円相当径と粒子の円相当径の比〕
表面層の骨格を形成するための、ネックの断面の円相当径の平均値Ｄ２は粒子の円相当径の平均値Ｄ１の０．１倍以上０．７倍以下であることが好ましい。０．１倍以上であることで放電空間を分断し、異常放電を抑制する効果を生むことができる。０．７倍以下にすることで、細孔内の電界が、入り組んだ複雑な分布になり、細孔内で放電の発生する確率が上昇し、細孔内の放電電荷が増大する結果、汚れ剥離の効果および画質の向上が得られる。

〔ネックの断面の円相当径の平均値Ｄ２〕
なお、ネックの断面の円相当径の測定は、Ｘ線ＣＴによる測定によって得られる３次元像や、レーザー顕微鏡、光学顕微鏡、電子顕微鏡等によって、粒子の結合部を観察すればよい。特に、Ｘ線ＣＴによる測定が、３次元的に表面層の測定ができるので好ましい。
具体的には、あるネックを介して結合した２つの粒子に対し、前記Ｘ線ＣＴで得られたスライス像を利用し、図４（ｄ）に示すようなネック４２の断面像を作成し、大津法によって２値化する。次に、ネック断面の重心を計算し、この重心を中心とし、ネック断面の境界線に接する外接円の半径を、ネック断面の円相当径として測定すればよい。これを、導電性部材の長手方向を１０等分し、得られた１０領域の各領域内の任意の画像内の、任意の２０個の粒子（合計２００個）においてネックの断面の円相当径の測定をし、平均値Ｄ２を算出する。

また別のネック断面の円相当径の測定方法としては、ピンセットによって表面層をくずすことで、結合していた粒子を分解することができる。そして導電性支持体の表面上で分解して別れた粒子の画像を取得し、粒子の円相当径および、ネックの断面に当たる結合部だった箇所の円相当径を測定すればよい。

〔厚さ〕
表面層の膜厚は、本発明の効果を損なわない範囲であればよく、具体的には１μｍ以上５０μｍ以下であることが好ましい。表面層の厚さが１μｍ以上である場合、骨格がチャージアップし始め、異常放電の抑制効果が発現する。また、表面層の厚さが５０μｍ以下であることで、細孔内の放電が感光ドラムへ到達し、帯電不足が発生しない画像形成を行うことができる。さらに好ましくは、８μｍ以上２０μｍ以下である。８μｍ以上であることで放電の拡散が促進され、異常放電をより抑制できる。２０μｍ以下であることで、表面層に付着した汚れの極性を好適に反転し、汚れ付着に由来する画像不良をより抑制することができる。

また、上記の効果は粒子の円相当径の平均と膜厚との比も影響することが分かっている。粒子の層が複数積み重なることで、細孔の形状が複雑になり、本発明の効果をより一層確実に発現できるため、（膜厚）／（粒子の円相当径の平均値Ｄ）との比は１．５以上１０以下であることが好ましい。

なお、表面層の厚さは次のようにして確認する。導電性部材から、導電性支持体及び当該表面層を含む切片を切り出し、Ｘ線ＣＴ測定を行うことで表面層の厚さを測定する。具体的には、前記のＸ線ＣＴの測定で得られた２次元のスライス画像を大津法により２値化し、骨格部と細孔部とを識別した。２値化したスライス画像それぞれにおいて、骨格部の占める割合を数値化し、導電性支持体側から表面層側へ数値の確認を行った。

そして、表面層の導電性基体に最も近い側の最表面とは、Ｘ線ＣＴを用いて表面層の下方（導電性基体側）から導電性基体から離れる方向に順次スライスしていったときに、骨格部の占める割合が初めて２％以上となったスライス面を与える面であると定義した。なお、表面層の導電性基体に最も近い側の最表面は、「表面層の最下部」とも表記する。

例えば、
導電性支持体からの高さｈ１で得られた（ｎ―１）番目のスライス画像における骨格部の占める割合が２％未満、
導電性支持体からの高さｈ２で得られたｎ番目のスライス画像における骨格部の占める割合も２％未満、
導電性支持体からの高さｈ３で得られた（ｎ＋１）番目のスライス画像における骨格部の占める割合は２％以上、
（高さｈ１＜高さｈ２＜高さｈ３であり、かつｎは任意の自然数である。）
というように、骨格部の占める割合が２％未満から２％以上に変化した際の（ｎ＋１）番目のスライス画像が得られた高さｈ３が、表面層の最下部の高さとなる。

同様に、表面層の導電性基体から最も離れた側の最表面とは、Ｘ線ＣＴを用いて表面層の上方から導電性基体に向けて順次スライスしていったときに、骨格部の占める割合が初めて２％以上となったスライス面を与える面であると定義した。なお、表面層の導電性基体から最も離れた側の最表面は、「表面層の最表面部」とも表記する。

例えば、
導電性支持体からの高さＨ１で得られた（Ｎ−１）番目のスライス画像における骨格部の占める割合が２％以上、
導電性支持体からの高さＨ２で得られたＮ番目のスライス画像における骨格部の占める割合も２％以上、
導電性支持体からの高さＨ３で得られた（Ｎ＋１）番目のスライス画像における骨格部の占める割合は２％未満、
（高さＨ１＜高さＨ２＜高さＨ３であり、かつＮは任意の自然数である。）
というように、骨格部の占める割合が２％以上から２％未満に変化した際のＮ番目のスライス画像が得られた高さＨ２が、表面層の最表面部の高さとなる。

そして、表面層の最下部の高さと、表面層の最表面部の高さとの差を表面層の厚さと定義した。
ここで、「骨格部の占める割合」とは｛（骨格部の面積）／（骨格部の面積＋細孔部の面積）｝を意味する。導電性部材の長手方向を１０等分し、得られた１０領域の各領域における任意の１箇所（合計１０箇所）において前記表面層の厚さの測定を行い、その平均値を表面層の厚さとする。

〔空孔率〕
表面層の空孔率は本発明の効果を損なわない範囲であればよく、具体的には２０％以上８０％以下であることが好ましい。該空孔率が２０％以上であることで画像形成に十分な量の細孔内の放電を発生させることができる。また、該空孔率が８０％以下であることで、放電の拡散を低減する効果が発現し異常放電を抑制できる。該空孔率は５０％以上７５％以下がより好ましい。

表面層の空孔率は次のようにして確認する。導電性部材から、導電性支持体及び当該表面層を含む切片を切り出し、Ｘ線ＣＴ測定を行うことで空孔率を測定する。具体的には、前記のＸ線ＣＴによる測定で得られた２次元のスライス画像を大津法により２値化し、骨格部と細孔部とを識別した。２値化したスライス画像それぞれにおいて、骨格部の面積および細孔部の面積を数値化し、導電性支持体側から表面層側へ数値の確認を行い、骨格部の占める割合が２％以上になる領域を表面層とし、最表面部と最下部を前記のように定義した。
次いで、骨格部と細孔部の体積をそれぞれ算出し、細孔部の体積を両者の合計体積で除することで空孔率を得た。これを、導電性部材の長手方向を１０等分し、得られた１０領域の各領域における任意の１箇所（合計１０箇所）において前記表面層の空孔率の測定を行い、その平均値を表面層の空孔率とする。

〔材料〕
表面層を構成する骨格の材料は、当該骨格を形成できる限りにおいて特に制限はなく、樹脂などの高分子材料、シリカ、チタニアなどの無機材料、前記高分子材料と前記無機材料とをハイブリッド化させた材料などを用いることができる。ここで高分子材料とは分子量が大きい材料を示し、半合成高分子や合成高分子などのモノマーを重合させて得られるポリマーや、天然高分子などの分子量の大きい化合物を表す。

前記高分子材料としては例えば以下のものが挙げられる。ポリメタクリル酸メチル（ＰＭＭＡ）などの（メタ）アクリル系ポリマー、ポリエチレン、ポリプロピレンなどのポリオレフィン系ポリマー；ポリスチレン；ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド；ポリパラフェニレンオキサイド、ポリパラフェニレンスルフィドなどのポリアリーレン類（芳香族系ポリマー）；ポリエーテル；ポリビニルエーテル；ポリビニルアルコール（ＰＶＯＨ）；ポリオレフィン系ポリマー、ポリスチレン、ポリイミド、ポリアリーレン類（芳香族系ポリマー）に、スルホン酸基（−ＳＯ３Ｈ）、カルボキシル基（−ＣＯＯＨ）、リン酸基、スルホニウム基、アンモニウム基、または、ピリジニウム基を導入したもの；ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデンなどの含フッ素系のポリマー；含フッ素系のポリマーの骨格にスルホン酸基、カルボキシル基、リン酸基、スルホニウム基、アンモニウム基、または、ピリジニウム基を導入したパーフルオロスルホン酸ポリマー、パーフルオロカルボン酸ポリマー、パーフルオロリン酸ポリマー；ポリブダジエン系化合物；エラストマーやゲルなどのポリウレタン系化合物；エポキシ系化合物；シリコーン系化合物；ポリ塩化ビニル；ポリエチレンテレフタレート；（アセチル）セルロース；ナイロン；ポリアリレート等。なおこれらのポリマーは単独であるいは複数を組み合わせて用いてもよい。また、これらのポリマーはポリマー鎖中に特定の官能基が導入されたものであってもよい。また、これらのポリマーはこれらのポリマーの原料となる単量体の２種以上の組み合わせから製造される共重合体であってもよい。

前記無機材料としては、Ｓｉ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｓｎ及びＺｎの酸化物等が挙げられる。より具体的には以下の金属酸化物が挙げられる。シリカ、酸化チタン、酸化アルミニウム、アルミナゾル、酸化ジルコニウム、酸化鉄、酸化クロムなどを挙げることができる。これらの無機材料は一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。
上記に挙げた材料の中でも、好適なチャージアップが可能である有機材料を使用することが好ましい。その中でも、絶縁性が高いＰＭＭＡに代表されるアクリル系ポリマーを使用することがより好ましい。

〔添加剤〕
表面層には、電気抵抗率の調整のため、発明の効果を損なわない範囲で、かつ、表面層を形成できる限りにおいて、骨格の材料に添加剤を加えてもよい。添加剤の例としては、以下のものが挙げられる。電子導電性を示すカーボンブラック、グラファイト、酸化錫などの酸化物、銅、銀などの金属、酸化物や金属を粒子表面に被覆して導電性を付与した導電性粒子、イオン導電性を示す第四級アンモニウム塩、スルホン酸塩などのイオン交換性能を有するイオン導電剤等。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。また、本発明の効果を損なわない範囲で、樹脂の配合剤として一般的に用いられている充填剤、軟化剤、加工助剤、粘着付与剤、粘着防止剤、分散剤などを添加してもよい。

〔表面層の形成方法およびネック径の制御〕
表面層の形成方法は、表面層を形成できる限りにおいて特に制限はなく、粒子を導電性支持体上に堆積させた後に、後工程によってネックを介して粒子同士を結合すればよい。

粒子を導電性支持体上に堆積させる方法としては、以下の方法を用いることができる。微粒子をブラシローラあるいはスポンジローラに含ませロールトゥロールで塗布する方法、静電粉体塗装法、流動浸漬塗装法、静電流動浸漬塗装法、溶射粉体塗装法の如き直接塗装法、エレクトロスプレー法、微粒子分散液のスプレー塗装法。中でも、微粒子のはぎとりと塗布とが同時に起きるため、表面層の膜厚制御が好適に実現でき、さらに、塗布と同時に圧縮も実現できる、微粒子をブラシローラあるいはスポンジローラに含ませロールトゥロールで塗布する方法が好ましい。ロールの回転数、回転時間により、塗布量を好適に制御することが可能である。

ネックを介して粒子同士を結合する方法としては、加熱、加熱圧着、赤外線放射、決着樹脂によって結合させる方法等が挙げられる。その中でも、表面層内部の粒子まで好適に融着することができるため、粒子を堆積させた粒子堆積膜を加熱あるいは加熱圧着する方法が好ましい。
上記ネック比Ｒの制御に関しては、結合する工程での条件、例えば、加熱温度および加熱時間で制御すればよい。

＜表面層を保護する剛体構造体＞
表面層に付着しようとする汚れは、物理的にあるいは静電的に付着する。表面層を保護する剛体構造体を導入すると、表面層が感光ドラムに接触しなくなるため、物理的に汚れが付着する現象をほとんど回避することができる。
また、表面層の構造が変化すると、放電特性も変化する可能性がある。したがって、特に長期に亘る使用を目的とした場合、表面層を保護する剛体構造体を導入することで、感光ドラムの表面と表面層との摩擦、摩耗を低減し、表面層の構造の変化を抑制することが好ましい。ここで、剛体構造体とは、感光ドラムとの当接によって生じる当該剛体構造体の変形量が１μｍ以下である構造体のことを指す。当該剛体構造体を設ける方法は、本発明の効果を妨げない限りにおいて制限はなく、例えば導電性支持体の表面に凸部を形成する方法、導電性部材に離間部材を導入する方法等が挙げられる。

〔導電性支持体の表面の凸部〕
導電性支持体が図２（ａ）のような構成の場合、芯金２２の表面を、凸部を有する形状に加工する方法が挙げられる。例としては、サンドブラスト、レーザー加工、研磨等により、芯金２２の表面に凸部を形成する方法が挙げられる。なお、これ以外の方法により凸部を形成してもよい。

導電性支持体が図２（ｂ）のような構成の場合、導電性樹脂層２３の表面を、凸部を有する形状に加工する方法が挙げられる。例としては、当該導電性樹脂層２３をサンドブラスト、レーザー加工、研磨等により加工する方法、当該導電性樹脂層２３に有機粒子、無機粒子などのフィラーを分散させる方法等が挙げられる。
有機粒子の構成材料の例としては、以下のものが挙げられる。ナイロン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリウレタン樹脂、スチレン−アクリル共重合体、ポリメチルメタクリレート樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、セルロース樹脂、ポリオレフィン樹脂、シリコーン樹脂等。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。
また無機粒子の構成材料の例としては、以下のものが挙げられる。シリカなどの酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、ケイ酸アルミニウム、ケイ酸ストロンチウム、ケイ酸バリウム、タングステン酸カルシウム、粘土鉱物、マイカ、タルク、カオリン等。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。また、有機粒子と無機粒子の両方ともを用いてもよい。
上記のような導電性支持体を加工する方法に加え、導電性支持体とは独立した凸部を導入する方法が挙げられる。例えば、ワイヤーの如き糸状の部材を巻きつける方法等が挙げられる。

当該凸部の密度としては、多孔質体を保護する効果を得るために、表面層に正対した方向から観察したときに、該表面層の表面における１辺が１．０ｍｍの正方形の領域内に少なくとも当該剛体構造体の一部が観察される状態が好ましい。当該凸部の大きさ、太さは、本発明の効果を妨げない限りにおいて制限はない。具体的には、凸部が存在することに起因する画像不良が生じない範囲であることが好ましい。当該凸部の高さは、表面層の厚さよりも大きく、かつ、本発明の効果を妨げない限りにおいて制限はない。具体的には、少なくとも表面層の厚さよりも大きい高さを有し、かつ、放電ギャップが大きいことに起因する帯電不良が生じない範囲であることが好ましい。

〔離間部材〕
当該離間部材は、感光ドラムと表面層とを離間でき、かつ、本発明を妨げない限りにおいて制限はなく、例えばリング、スペーサ等が挙げられる。
当該離間部材を導入する方法の一例としては、導電性部材がローラ形状の場合は、導電性部材よりも外径が大きく、かつ、感光ドラムと導電性部材との空隙を保持できる硬度を有するリングを導入する方法が挙げられる。また別の離間部材を導入する方法の一例としては、導電性部材がブレード形状である場合は、多孔質体と感光ドラムとが摩擦、摩耗しないように、両者を離間できるようなスペーサを導入する方法が挙げられる。

当該離間部材を構成する材料は、本発明の効果を妨げない範囲で制限はなく、かつ、当該離間部材を介した通電を防ぐために、非導電性の公知の材料を適宜使用すればよい。例えばポリアセタール樹脂、高分子量ポリエチレン樹脂、ナイロン樹脂のような摺動性に優れた高分子材料、酸化チタン、酸化アルミニウムのような金属酸化物材料が挙げられる。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。
当該離間部材を導入する位置としては、本発明の効果を妨げない範囲で制限はなく、例えば導電性支持体の長手方向の端部に設置等すればよい。
図７に、当該離間部材を導入した場合の導電性部材の一例（ローラ形状）を示す。図７中、７０は導電性部材、７１は離間部材、７２は導電性の軸芯体を示す。

＜プロセスカートリッジ＞
図８は導電性部材を帯電ローラとして具備している電子写真用のプロセスカートリッジの概略断面図である。このプロセスカートリッジは、現像装置と帯電装置とを一体化し、電子写真装置の本体に着脱可能に構成されたものである。現像装置は、少なくとも現像ローラ８３とトナー容器８６とを一体化したものであり、必要に応じてトナー供給ローラ８４、トナー８９、現像ブレード８８、攪拌羽８１０を備えていても良い。帯電装置は、感光ドラム８１、クリーニングブレード８５、および帯電ローラ８２を少なくとも一体化したものであり、廃トナー容器８７を備えていても良い。帯電ローラ８２、現像ローラ８３、トナー供給ローラ８４、および現像ブレード８８は、それぞれ電圧が印加されるようになっている。

＜電子写真装置＞
図９は、導電性部材を帯電ローラとして用いた電子写真装置の概略構成図である。この電子写真装置は、四つの前記プロセスカートリッジが着脱可能に装着されたカラー電子写真装置である。各プロセスカートリッジには、ブラック、マゼンダ、イエロー、シアンの各色のトナーが使用されている。感光ドラム９１は矢印方向に回転し、帯電バイアス電源から電圧が印加された帯電ローラ９２によって一様に帯電され、露光光９１１により、その表面に静電潜像が形成される。一方トナー容器９６に収納されているトナー９９は、攪拌羽９１０によりトナー供給ローラ９４へと供給され、現像ローラ９３上に搬送される。そして現像ローラ９３と接触配置されている現像ブレード９８により、現像ローラ９３の表面上にトナー９９が均一にコーティングされるとともに、摩擦帯電によりトナー９９へと電荷が与えられる。上記静電潜像は、感光ドラム９１に対して接触配置される現像ローラ９３によって搬送されるトナー９９が付与されて現像され、トナー像として可視化される。

可視化された感光ドラム上のトナー像は、一次転写バイアス電源により電圧が印加された一次転写ローラ９１２によって、テンションローラ９１３と中間転写ベルト駆動ローラ９１４に支持、駆動される中間転写ベルト９１５に転写される。各色のトナー像が順次重畳されて、中間転写ベルト上にカラー像が形成される。
転写材９１９は、給紙ローラにより装置内に給紙され、中間転写ベルト９１５と二次転写ローラ９１６の間に搬送される。二次転写ローラ９１６は、二次転写バイアス電源から電圧が印加され、中間転写ベルト９１５上のカラー像を、転写材９１９に転写する。カラー像が転写された転写材９１９は、定着器９１８により定着処理され、装置外に廃紙されプリント動作が終了する。

一方、転写されずに感光ドラム上に残存したトナーは、クリーニングブレード９５により掻き取られて廃トナー収容容器９７に収納され、クリーニングされた感光ドラム９１は、上述の工程を繰り返し行う。また転写されずに一次転写ベルト上に残存したトナーもクリーニング装置９１７により掻き取られる。

＜実施例１＞
（１．未加硫ゴム組成物の調製）
下記表１に示す種類と量の各材料を加圧式ニーダーで混合してＡ練りゴム組成物を得た。さらに、前記Ａ練りゴム組成物１６６質量部と下記表２に示す種類と量の各材料とをオープンロールにて混合し未加硫ゴム組成物を調製した。

（２．導電性支持体の作製）
［２−１．導電性の軸芯体］
快削鋼の表面に無電解ニッケルメッキ処理を施した全長２５２ｍｍ、外径６ｍｍの丸棒を用意した。次にロールコーターを用いて、前記丸棒の両端部１１ｍｍずつを除く２３０ｍｍの範囲の全周にわたって、接着剤（商品名：メタロックＵ−２０、（株）東洋化学研究所製）を塗布した。本実施例において、前記接着剤を塗布した丸棒を導電性の軸芯体として使用した。

［２−２．導電性樹脂層］
次に、導電性の軸芯体の供給機構、及び未加硫ゴムローラの排出機構を有するクロスヘッド押出機の先端に内径１２．５ｍｍのダイスを取付け、押出機とクロスヘッドの温度を８０℃に、導電性の軸芯体の搬送速度を６０ｍｍ／秒に調整した。この条件で、押出機より未加硫ゴム組成物を供給して、クロスヘッド内にて導電性の軸芯体の外周部を未加硫ゴム組成物で被覆し、未加硫ゴムローラを得た。次に、温度１７０℃の熱風加硫炉中に前記未加硫ゴムローラを投入し、６０分間加熱することで未加硫ゴム組成物を加硫し、導電性の軸芯体の外周部に導電性樹脂層が形成されたローラを得た。その後、導電性樹脂層の両端部を各１０ｍｍ切除して、導電性樹脂層部の長手方向の長さを２３１ｍｍとした。最後に、導電性樹脂層の表面を回転砥石で研磨した。これによって、中央部から両端部側へ各９０ｍｍの位置における各直径が８．４ｍｍ、中央部直径が８．５ｍｍである導電性支持体Ａ１を得た。

（３．表面層の形成）
粒子を塗布して表面層を形成する塗布装置の概略を図１０に示す。当該粉塗布装置は粒子１００、粒子貯蓄部１０１、粒子塗布ローラ１０２、粒子被塗布部材１０３からなり、粒子被塗布部材１０３として導電性支持体Ａ１を設置することで、表面層を形成できる。

粒子塗布ローラ１０２は、導電性芯金の外周に発泡層が形成された弾性スポンジローラであり、粒子被塗布部材１０３との対向部において所定の接触領域（ニップ部）を形成して配設され、図示矢印方向（時計まわり）に回転する。このとき、粒子塗布ローラ１０２は粒子被塗布部材に対し、所定の侵入量、すなわち、粒子塗布ローラ１０２が粒子被塗布部材１０３により凹状とされる、凹みを持って接触している。粒子を塗布する際には、接触領域において互いに逆方向に移動するよう回転しており、この動作により、粒子塗布ローラ７２による粒子被塗布部材１０３への粒子塗布、及び粒子被塗布部材１０３上の粒子の剥ぎ取りを行っている。

表面層を形成する粒子１００として非架橋アクリル粒子（型式：ＭＸ−３００ 総研化学（株）製）、粒子塗布ローラ１０２を９０ｒｐｍ、導電性支持体Ａ１を１００ｒｐｍで１０秒間駆動回転し、導電性支持体Ａ１に塗布し、未加熱導電性部材ａ１を得た。
次いで、オーブンに搬入し、温度１４０℃で３時間の加熱を行って導電性部材Ａ１を得た。

（４．特性評価）
本実施例の導電性部材Ａ１を以下の評価試験に供した。評価結果を表７に示す。なお、導電性部材がローラ形状の導電性部材である場合、ｘ軸方向、ｙ軸方向、及びｚ軸方向は、それぞれ以下の方向を意味する。
ｘ軸方向は、ローラ（導電性部材）の長手方向である。
ｙ軸方向は、ｘ軸に直交するローラ（導電性部材）の横断面（すなわち、円形断面）における接線方向である。
ｚ軸方向は、ｘ軸に直交するローラ（導電性部材）の横断面における直径方向である。また「ｘｙ平面」とはｚ軸に直交する平面を意味し、「ｙｚ断面」とはｘ軸に直交する断面を意味する。

［４−１．３次元的に連続な骨格と厚み方向に連通した細孔の確認］
多孔質体が共連続構造を有するか否かは以下の方法により確認した。導電性部材Ａ１の表面層に対して剃刀を当てて、ｘ軸方向及びｙ軸方向に各２５０μｍの長さ、ｚ軸方向には導電性支持体Ａ１を含む７００μｍの深さで切片を切り出した。次に、Ｘ線ＣＴ検査装置（商品名：ＴＯＨＫＥＮ−ＳｋｙＳｃａｎ２０１１（線源：ＴＸ−３００）、マース東研Ｘ線検査（株）製）を用い、この切片に対して３次元再構築を行った。得られた３次元像から、ｚ軸に対して間隔１μｍで２次元のスライス画像（ｘｙ平面と平行）を切り出した。次に、これらのスライス画像を２値化し、骨格部と細孔部とを識別した。当該スライス画像をｚ軸に対して順に確認していき、骨格部が３次元的に連続で細孔部が厚み方向に連通していることを確認した。

［４−２．貫通孔の評価］
表面層の表面の任意の１５０μｍ四方の領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、３６００個の当該正方形の群の中で、貫通孔が存在している正方形の数は次のようにして評価した。
すなわち、前記切片の表面に白金を蒸着させて蒸着切片を得た。次いで当該切片の表面をｚ軸方向から、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（商品名：Ｓ−４８００、（株）日立ハイテクノロジーズ製）を用いて１０００倍で撮影し、表面画像を得た。
次に当該表面画像を画像処理ソフト（商品名：Ｉｍａｇｅ−ｐｒｏ ｐｌｕｓ、ＭｅｄｉａＣｙｂｅｒｎｅｔｉｃｓ社製）を用いて、１５０μｍ四方の領域に２．５μｍ間隔で分割線を縦に５９本、横に５９本作製し、合計３６００個の正方形群を形成し、評価用の画像を得た。次いで、当該評価用の画像において、３６００個の正方形の中で、導電性支持体の表面が確認できる孔、すなわち、貫通孔が存在する正方形の数を数えた。

［４−３．表面層の非導電性の評価］
表面層（多孔質体）の非導電性の評価は以下の方法により行った。表面層の体積抵抗率は、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）（商品名：Ｑ−Ｓｃｏｐｅ２５０、ＱｕｅｓａｎｔＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ社製）を用い、コンタクトモードで測定した。

まず、導電性部材Ａ１から当該表面層の多孔質体を形成する骨格をピンセットで回収し、ステンレス鋼製の金属プレート上に回収した骨格の一部を設置して測定切片を得た。次に、金属プレートに直接接触している箇所を選び、ＳＰＭのカンチレバーを接触させ、カンチレバーに５０Ｖの電圧を印加し、電流値を測定した。次に、当該ＳＰＭで当該測定切片の表面形状を観察して、得られる高さプロファイルから測定箇所の厚さを算出した。さらに、表面形状観察結果から、カンチレバーの接触部の凹部面積を算出した。当該厚さと当該凹部面積とから体積抵抗率を算出し、表面層の体積抵抗率とした。

導電性部材Ａ１を長手方向に１０個の領域に１０等分し、それぞれの領域内から任意に１点ずつ、合計１０点から当該表面層の多孔質体を形成する骨格をピンセットで回収して上記測定を行った。その平均値を、表面層の体積抵抗率とした。評価結果を表８に示す。

［４−４．表面層のチャージアップ量の評価］
コロナ放電による導電性部材（帯電部材）の表面電位の測定は、帯電量測定装置（商品名：ＤＲＡ−２０００Ｌ、（株）ＱＥＡ社製）を用いて測定した。具体的には、当該帯電量測定装置のコロナ放電器を、そのグリッド部と、導電性部材Ａ１の表面との間隙が１ｍｍとなるように配置する。次いで、該コロナ放電器に８ｋＶの電圧を印加して放電を発生させて、導電性部材の表面を帯電させ、放電終了後、１０秒経過後の導電性部材の表面電位を測定する。

［４−５．粒子径の評価］
粒子の円相当径の平均値Ｄ１の評価は次のようにして行った。１０００倍の実体顕微鏡で観察しながら、前記切片の表面にある表面層をピンセットによって崩し、導電性支持体の表面上で、粒子が変形しないように留意し、１つ１つにまで分解した。次に白金を蒸着させて蒸着切片を得た。次いで当該蒸着切片の表面をｚ軸方向から、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（商品名：Ｓ−４８００、（株）日立ハイテクノロジーズ製）を用いて１０００倍で撮影し、表面画像を得た。

次いで、当該表面画像を画像処理ソフト（商品名：イメージプロ プラス（Ｉｍａｇｅ−ｐｒｏ ｐｌｕｓ）、メディア サイバネティックス（Media Cybernetics）社製）を使用して、粒子が白、導電性支持体の表面、が黒くなるように処理し、カウント機能で任意の５０個の粒子の円相当径を測定した。これを、導電性部材Ａ１の長手方向を１０等分し、得られた１０領域に対して上記の測定を行い、任意の合計５００個の粒子の円相当径の測定をし、この５００個の円相当径の算術平均を粒子の円相当径Ｄとした。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

［４−６．ネック径の評価］
ネック断面の円相当径の平均値Ｄ２の評価は次のようにして行った。上記［４−１．３次元的に連続な骨格と厚み方向に連通した細孔の確認］と同様にして３次元像を構築し、当該３次元像中の、２０箇所のネックの円相当径を測定した。
上記作業を、導電性部材Ａ１を長手方向に１０等分して得られる１０個の領域の各領域内の任意の１点（合計２００点）で行い、この２００個のネックの円相当径の算術平均をネックの円相当径の平均値Ｄ２とした。
次いで、円相当径の平均値Ｄ１と、ネックの円相当径の平均値Ｄ２の比Ｄ２／Ｄ１をネック比Ｒとして算出した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

［４−７．表面層の厚さの評価］
表面層の厚さは次のようにして評価した。
まず、[４−１．３次元的に連続な骨格と厚み方向に連通した細孔の確認]に記載したように、導電性部材Ａ１の表面層に対して剃刀を当てて、ｘ軸方向およびｙ軸方向に各２５０μｍ、ｚ軸方向には導電性支持体を含む７００μｍの深さで切片を切り出した。
この切片について、表面層の上方（ｚ軸上方）からｚ軸に沿って導電性基体に向かって間隔１μｍで下記のＸ線ＣＴ検査装置を用いて、導電性支持体の表面に平行なスライス面の画像（スライス画像）を順次取得する。
Ｘ線ＣＴ検査装置（商品名：ＴＯＨＫＥＮ−ｋｙＳｃａｎ２０１１（線源：ＴＸ−３００）、マース東研Ｘ線検査（株）製）

なお、表面層の導電性基体から離れた側の最表面を特定するため、スライス画像を、表面層が明らかに存在しない表面層上方から導電性基体の方向に向かってスライス画像を順次取得していく。これによって、後述する手法により算出される、スライス画像に占める骨格部の割合が初めて２％以上となるスライス面が特定できるようにする。
また、表面層の導電性基体に近い側の最表面を特定するため、導電性基体の部分から表面層の上方（ｚ軸上方）に向かってスライス画像を順次取得する。これによって、表面層の導電性基体に近い側における、スライス画像に占める骨格の割合が初めて２％以上となるスライス面を特定できるようにする。

Ｘ線ＣＴの測定で得られる２次元のスライス画像は、大津法（判別分析法）を用いて２値化し、骨格部と細孔部とを識別する。２値化したスライス画像それぞれにおいて、骨格部の占める割合を数値化し、導電性支持体側から表面層側へ数値の確認を行い、骨格部の占める割合を算出する。そして、上記したように、表面層の上方から測定を開始したときに、導電性基体から最も離れた側において、骨格の占める割合が２％以上となるスライス画像が得られたスライス面を、表面層の導電性基体から離れた側の最表面とみなす。

また、導電性基体から測定を開始したときに、導電性基体に近い側において、骨格の占める割合が初めて２％以上となるスライス画像が得られたスライス面を、表面層の導電性基体に近い側の最表面とみなす。
なお、上記の作業は、導電性部材Ａ１を長手方向に１０等分して得られる１０個の領域の各領域内の任意の１点（合計１０点）で行い、その算術平均値を、表面層の厚さとした。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

［４−８．表面層の空孔率の評価］
表面層の空孔率は以下の方法により測定した。前記のＸ線ＣＴの評価で得られる３次元像において、細孔部の占める割合を数値化し、表面層の空孔率を求めた。上記作業を、導電性部材Ａ１を長手方向に１０等分して得られる１０個の領域の各領域内の任意の１点（合計１０点）で行い、その平均値を表面層の空孔率とした。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

（５．画像評価）
導電性部材Ａ１を以下の評価試験に供した。
［５−１．画質の評価］
導電性部材Ａ１の初期（耐久試験（繰り返し使用試験）前）の非導電性の骨格に由来する画像不良（黒ポチ）を抑制する効果を以下の方法により確認した。電子写真装置として、電子写真方式のレーザープリンタ（商品名：Ｌａｓｅｒｊｅｔ ＣＰ４５２５ｄｎ、ＨＰ社製）を用意した。ただし、導電性部材を、より過酷な評価環境に置くために、当該レーザープリンタを、単位時間当たりの出力枚数が、Ａ４サイズの用紙で、５０枚／分となるように改造した。その際、記録メディアの出力スピードは３００ｍｍ／秒、画像解像度は１２００ｄｐｉとした。

次に、当該レーザープリンタ専用のトナーカートリッジに、帯電ローラとして導電性部材Ａ１を装着した。このトナーカートリッジを上記のレーザープリンタに装填し、Ｌ／Ｌ環境（温度１５℃、相対湿度１０％の環境）下で、ハーフトーン画像（感光ドラムの回転方向と垂直方向に幅１ドット、間隔２ドットの横線を描く画像）を出力した。
このときの帯電ローラと電子写真感光体との間の印加電圧を−１０００Ｖとした。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

［非導電性の骨格に由来する画像不良の評価］
Ａ：黒点画像が無い。
Ｂ：一部に軽微な黒点状の白い線が見られる。
Ｃ：全面に軽微な黒点状の白い線が見られる。
Ｄ：スジ状の黒い線が見られ、目立つ。

［５−２−１．白抜け画像の評価］
［５−１．画質の評価］において得られた画像を目視で観察し、帯電部材からの局所的な強い放電に起因する画像ムラ（白抜け画像）の有無を観察した。
次いで、印加電圧を−１０１０Ｖ、−１０２０Ｖ、−１０３０Ｖ・・・と１０Ｖ毎に変えた以外は、上記と同様にして電子写真画像の出力、目視での評価を繰り返した。そして、帯電部材からの局所的な強い放電に起因する画像ムラ（白抜け画像）が目視にて確認できる電子写真画像が形成されたときの印加電圧を測定した。このときの印加電圧を耐久試験前の白抜け画像発生電圧として、表８Ａ及び８Ｂに記載した。

［５−２．耐久試験後の汚れ付着に由来する画像不良の評価］
導電性部材Ａ１が耐久試験後の汚れ付着に由来する画像不良（白ポチ・白帯）を抑制する効果を以下の方法により確認した。上記横スジの評価で得られた画像について、画像欠陥を確認し、以下の基準で評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

［汚れ付着に由来する画像不良の評価］
Ａ：汚れ付着に由来する画像欠陥が無い。
Ｂ：一部に軽微な汚れ付着に由来する画像欠陥（白ポチ）が見られる。
Ｃ：全面に軽微な汚れ付着に由来する画像欠陥（白ポチ）が見られる。
Ｄ：全面に汚れ付着に由来する画像欠陥（白ポチ）が見られ、かつ、縦スジとして観察される。

＜実施例２〜実施例１０＞
粒子材料、粒子の塗布条件および加熱条件を表３に示すように変更して、表面層の構造が変化するようにした以外は、実施例１と同様にして、導電性部材Ａ２〜導電性部材Ａ１０を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例１１＞
粒子としてＰＡＮ粒子（タフチックＡ２０ 東洋紡（株）製）を使用し、加熱温度を２５０℃、加熱時間を１２時間にして、粒子形状を異形とした以外は実施例１と同様に導電性部材Ａ１１を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例１２〜実施例１４＞
表面層の加熱の条件を表４に示すように変更して、ネックの径を変化させた以外は、実施例１と同様にして、導電性部材Ａ１２〜導電性部材Ａ１４を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例１５＞
未加硫ゴム組成物に分散する導電剤としてのカーボンブラックの添加量を８０ｐｈｒに変更した以外は、実施例１と同様にして、導電性部材Ａ１５を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。なお、「ｐｈｒ」は、未加硫ゴム組成物１００質量部に対する添加量（質量部）を意味する。

＜実施例１６＞
表５−１に示す材料（エピクロルヒドリンを含む材料）を使用してＡ練りゴム組成物を調整した。未加硫ゴムの材料として、当該Ａ練りゴム組成物１６６質量部と下記表５−２に示す種類と量の各材料とをオープンロールにて混合し未加硫ゴム組成物を調製したこと以外は実施例１と同様にして導電性部材Ａ１６を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例１７＞
導電性支持体Ａ１の外周面上に、以下の方法に従って、さらに導電性樹脂層を設けたこと以外は実施例１と同様にして導電性部材Ａ１７を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。
先ず、カプロラクトン変性アクリルポリオール溶液にメチルイソブチルケトンを加え、固形分が１０質量％となるように調整した。このアクリルポリオール溶液１０００質量部（固形分１００質量部）に対して、下記の表６に示す材料を用いて混合溶液を調製した。このとき、ブロックＨＤＩとブロックＩＰＤＩとの混合物は、「ＮＣＯ／ＯＨ＝１．０」であった。

次いで、４５０ｍＬのガラス瓶に上記混合溶液２１０ｇと、メディアとして平均粒径０．８ｍｍのガラスビーズ２００ｇとを混合し、ペイントシェーカー分散機を用いて２４時間前分散を行い、導電性樹脂層形成用の塗料を得た。
前記導電性支持体Ａ１を、その長手方向を鉛直方向にして、前記導電性樹脂層形成用の塗料中に浸漬してディッピング法で塗工した。ディッピング塗布の浸漬時間は９秒間、引き上げ速度は、初期速度が２０ｍｍ／秒、最終速度が２ｍｍ／秒、その間は時間に対して直線的に速度を変化させた。得られた塗工物を常温で３０分間風乾し、次いで温度９０℃に設定した熱風循環乾燥機中において１時間乾燥し、さらに温度１６０℃に設定した熱風循環乾燥機中において１時間乾燥した。

＜実施例１８＞
導電性支持体として、前記丸棒のみを使用したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材Ａ１８を製造し、評価した。なお、評価に当たり、導電性部材Ａ１８が感光ドラムに接触するようにカートリッジを変更した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例１９＞
厚さ２００μｍのアルミニウム製のシート上に、実施例１６の導電性樹脂層形成用の塗料を実施例１８と同条件でディッピング塗布し、アルミニウム製シート上に導電性樹脂層を設け、ブレード状の導電性支持体を作製した。次に、実施例１と同様にして、ブレード状の導電性支持体の外周面上に表面層を設け、導電性部材Ａ１９を製造した。

この導電性部材Ａ１９を帯電ブレードとして実施例１の画像評価で使用したものと同様の電子写真方式のレーザープリンタに取り付け、感光ドラムの回転方向に対して、順方向になるよう当接配置させた。なお、導電性部材Ａ１９の感光ドラムに対する当接点における接点と帯電ブレードとのなす角θは帯電性の点から２０°に設定した。また導電性部材Ａ２０の感光ドラムに対する当接圧は２０ｇ／ｃｍ（線圧）に初期設定した。実施例１と同様の条件で画像評価を行った。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例２０＞
導電性樹脂層を形成しなかったこと以外は、実施例１９と同様にして導電性部材Ａ２０を製造し、評価した。なお、評価に当たり、実施例１９と同様に、導電性部材Ａ２０が感光ドラムに接触するようにカートリッジを変更した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例２１〜実施例２４＞
粒子材料、粒子の塗布条件を表７に示すように変更して、抵抗を変化させた以外は、実施例１と同様にして、導電性部材Ａ２１〜導電性部材Ａ２４を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例２５＞
粒子材料としてポリアクリル酸エステル粒子（テクポリマーＡＢＸ−５ 積水化成品（株）製）を使用し、加熱温度を２００℃に変更し、抵抗を変化させた以外は、実施例１と同様にして、導電性部材Ａ２５を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例２６＞
粒子材料としてシリカ粒子（商品名：ｓｉｃａｓｔａｒ ４３−００−３０３、Ｍｉｃｒｏｍｏｄ社製）に変更し、加熱温度を１０００℃、加熱時間を２時間とした以外は、実施例１９と同様にして、導電性部材Ａ２６を製造し、評価した。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例２７＞
前記未加熱導電性部材ａ１に対し、固形分を１％、カーボンブラックを０ｐｈｒにした以外は実施例１７と同様の方法で、前記未加熱導電性部材ａ１に導電性樹脂層を塗工して、導電性部材Ａ２７を製造し、評価した。このとき、導電性樹脂層は結着樹脂として機能し、粒子間にネックを形成する。評価結果を表８Ａ及び８Ｂに示す。

＜実施例２８＞
導電性部材Ａ１に対し、離間部材（導電性樹脂層端部に、外径８．６ｍｍ、内径６ｍｍ、幅２ｍｍのリング）を取り付け、導電性部材ＡＡ１を得た。次いで、導電性部材ＡＡ１を帯電ローラとして搭載した上記レーザープリンタを用いて、Ｌ／Ｌ環境下で耐久試験を行った。耐久試験は、２枚の画像を出力した後、感光ドラムの回転を完全に約３秒間停止させ、画像出力を再開する間欠的な画像形成動作を繰り返して、４００００枚の電子写真画像を出力して行った。この際の出力画像は、サイズが４ポイントのアルファベットの「Ｅ」の文字が、Ａ４サイズの紙の面積に対し被覆率が４％となるように印字されるような画像とした。 このときの帯電ローラと電子写真感光体との間の印加電圧を−１２００Ｖとした。
この耐久試験後、印加電圧を−１２１０Ｖ、−１２２０Ｖ、−１２３０Ｖ・・・と１０Ｖずつ変化させ、白抜け画像が確認できる電子写真画像が形成されたときの印加電圧を測定した。このときの印加電圧を耐久試験後の白抜け画像発生電圧として、表８Ａ及び８Ｂに記載した。

＜比較例１＞
実施例１８の導電性樹脂層形成用の塗料に、非架橋アクリル粒子（型式：ＭＸ−５００総研化学（株）製）を１０ｐｈｒ添加し、分散させて導電性樹脂を形成した。ついで、表面層を形成せずに、実施例１と同様にして、導電性部材Ｂ１を評価した。評価結果を表９Ａ及び表９Ｂに示す。
本比較例においては、表面層を形成していないため、白抜け画像が抑制されない。

＜比較例２＞
表面層を加熱しなかったこと以外は実施例１と同様にして、導電性部材Ｂ２を製造し、評価した。評価結果を表９Ａ及び表９Ｂに示す。
本比較例においては、ネックが形成されていないため、チャージアップ量にばらつきが生じ、ばらつきに由来する画像不良が生じる。また、付着した汚れや、チャージアップした粒子が静電気的にドラムに飛翔し、表面層が破壊されるため、白抜け画像を抑制することができない。

＜比較例３＞
粒子として非架橋アクリル粒子（型式：ＭＸ−３０００ 総研化学（株）製）を使用して、粒子の円相当径の平均値Ｄ１を大きくした以外は実施例１と同様にして、導電性部材Ａ１２を製造し、評価した。評価結果を表９Ａ及び９Ｂに示す。
本比較例においては、粒子の円相当径の平均が３２μｍと大きいため、細孔の微細さが低下し、画像不良として現れる。また、表面積も低下するため、チャージアップ量が低く、汚れを抑制することができない。
＜比較例４＞
粒子塗布条件として、導電性支持体Ａ１の回転数を１５０ｒｐｍに上げ、塗布時間を３秒と短くした以外は実施例１と同様にして、導電性部材Ｂ４を製造し、評価した。評価結果を表９Ａ及び表９Ｂに示す。
本比較例においては、貫通孔が含まれる正方形群の数が２００個存在するため、貫通孔が表面層の結果として画像不良に現れる。

＜比較例５＞
表面層の加熱を２００℃で３時間行ったこと以外は実施例１と同様にして、導電性部材Ｂ５を製造し、評価した。評価結果を表９Ａ及び表９Ｂに示す。
本比較例においては、粒子が溶融し、絶縁の表層膜が形成されるため、帯電不良により、画像評価は不可能であった。

＜比較例６＞
粒子として炭素粒子（ＰＣ１０２０ 日本カーボン（株）製）を使用し、加熱温度を８００℃、加熱時間を１２時間に変更した以外は実施例１９と同様にして、導電性部材Ｂ６を製造し、評価した。評価結果を表９Ａ及び表９Ｂに示す。
本比較例においては、表面層の電気抵抗率が低く、チャージアップが不可能であるため、白抜け画像を抑制できない。

１０ 帯電部材
１１ 感光ドラム
１２ 汚れ
１３ 電源
１４ アース
２１ 表面層
２２ 芯金
２３ 導電性樹脂層
３０ 表面層
３１ 導電性支持体
３２ 感光ドラム
３３ プラス極性のイオン
３４ マイナスの電荷
４１ 粒子
４２ ネック
７０ 導電性部材
７１ 離間部材
７２ 導電性の軸芯体
８１ 感光ドラム
８２ 帯電ローラ
８３ 現像ローラ
８４ トナー供給ローラ
８５ クリーニングブレード
８６ トナー容器
８７ 廃トナー容器
８８ 現像ブレード
８９ トナー
８１０ 攪拌羽
９１ 感光ドラム
９２ 帯電ローラ
９３ 現像ローラ
９４ トナー供給ローラ
９５ クリーニングブレード
９６ トナー容器
９７ 廃トナー収容容器
９８ 現像ブレード
９９ トナー
９１０ 攪拌羽
９１１ 露光光
９１２ 一次転写ローラ
９１３ テンションローラ
９１４ 中間転写ベルト駆動ローラ
９１５ 中間転写ベルト
９１６ 二次転写ローラ
９１７ クリーニング装置
９１８ 定着器
９１９ 転写材
１００ 粒子
１０１ 粒子貯蓄部
１０２ 粒子塗布ローラ
１０３ 粒子被塗布部材

Claims (9)

1. 導電性支持体と、
   該導電性支持体の上に形成された表面層と、を有する電子写真用の導電性部材であって、
   該表面層は３次元的に連続な骨格を有し、かつ、厚み方向に連通してなる細孔を有し、
   該表面層の表面の、任意の１５０μｍ四方の領域を撮影し、該領域を縦に６０等分、横に６０等分して３６００個の正方形に等分割したときに、貫通孔が含まれている正方形の数が１００個以下であり、
   該骨格は、非導電性であり、かつ、
   該骨格が、ネックを介して互いに結合した複数の粒子で構成され、該粒子の円相当径の平均値Ｄ１が０．１μｍ以上２０μｍ以下である、
   ことを特徴とする電子写真用の導電性部材。
2. 前記ネックの断面の円相当径の平均値Ｄ２が前記平均値Ｄ１の０．１倍以上０．７倍以下である請求項１に記載の電子写真用の導電性部材。
3. 前記表面層の厚さが１μｍ以上５０μｍ以下である請求項１または２に記載の電子写真用の導電性部材。
4. 前記表面層の体積抵抗率が１×１０^１０Ω・ｃｍ以上１×１０^１７Ω・ｃｍ以下である請求項１〜３のいずれか一項に記載の電子写真用の導電性部材。
5. 前記表面層の空孔率が２０％以上８０％以下である請求項１〜４のいずれか一項に記載の電子写真用の導電性部材。
6. 前記表面層が粒子堆積膜の加熱により粒子同士を融着させることにより形成される多孔質体である請求項１〜５のいずれか一項に記載の電子写真用の導電性部材。
7. 前記導電性部材が前記表面層を保護する剛体構造体を備える請求項１〜６のいずれか一項に記載の電子写真用の導電性部材。
8. 電子写真装置の本体に着脱可能に構成されているプロセスカートリッジであって、請求項１〜７のいずれか一項に記載の導電性部材を具備していることを特徴とするプロセスカートリッジ。
9. 請求項１〜７のいずれか一項に記載の導電性部材を具備していることを特徴とする電子写真装置。