JP2016109858A - 観察装置 - Google Patents

観察装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2016109858A
JP2016109858A JP2014246951A JP2014246951A JP2016109858A JP 2016109858 A JP2016109858 A JP 2016109858A JP 2014246951 A JP2014246951 A JP 2014246951A JP 2014246951 A JP2014246951 A JP 2014246951A JP 2016109858 A JP2016109858 A JP 2016109858A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical path
light
objective lens
sample
illumination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014246951A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6419558B2 (ja
Inventor
本田 進
Susumu Honda
進 本田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2014246951A priority Critical patent/JP6419558B2/ja
Priority to US14/957,403 priority patent/US9625693B2/en
Publication of JP2016109858A publication Critical patent/JP2016109858A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6419558B2 publication Critical patent/JP6419558B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0048Scanning details, e.g. scanning stages scanning mirrors, e.g. rotating or galvanomirrors, MEMS mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)

Abstract

【課題】1つのLCOSにより、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と所望のパターン照明とを実現する。【解決手段】光源1から発せられたレーザ光を集光して標本Sに照射する対物レンズ9と、対物レンズ9の瞳位置と光学的に共役な位置に配置され、対物レンズ9により標本Sに照射されるレーザ光の波面を波面変調パターンに基づいて変調可能なLCOS33と、LCOS33と光学的に共役な位置に配置され、対物レンズ9により標本Sに照射されるレーザ光を2次元的に走査可能なスキャナ7と、標本Sにおける対物レンズ9の光軸方向の焦点位置を調整する焦準機構25と、焦準機構25により調整された焦点位置における収差の補正および標本Sにおける所望の照明パターンの形成を行うようにLCOS33を制御する制御装置27とを備える観察装置100を提供する。【選択図】図1

Description

本発明は、観察装置に関するものである。
従来、位相変調型の空間光変調器(LCOS−SLM:Liquid Crystal On Silicon − Spatial Light Modulator)を備えた観察装置が知られている(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)。
特許文献1に記載の観察装置は、LCOSと、2枚のガルバノミラーと、これら2枚のガルバノミラーを瞳リレーするリレー光学系とを備え、LCOSによって変調したレーザ光の波面をリレー光学系により2枚のガルバノミラーを介して対物光学系の入射瞳位置に正確にリレーし、集光性能を低下させることなくLSM(Laser Scanning Microscope)として観察できるようにしている。
特許文献2の観察装置は、LCOSによりレーザ光の波面を変調する照明光路と、2次元スキャナによりレーザ光を走査させる照明光路とを備え、これら各照明光路のレーザ光を標本に同時に照射することで、LCOSによるパターン照明と2次元スキャナによるLSMとしての観察とを同時に行えるようにしている。
特開2012−150238号公報 特開2011−099986号公報
しかしながら、特許文献1に記載の観察装置は、LCOSによりパターン照明するものではない。また、特許文献2に記載の観察装置は、LCOSによる照明光路と2次元スキャナによる照明光路とが別々のため、収差補正を行いながらのLSMとしての観察を実現することはできないという不都合がある。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、1つのLCOSにより、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と所望のパターン照明とを実現することができる観察装置を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、光源から発せられた照明光を集光して標本に照射する対物レンズと、該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置され、前記対物レンズにより前記標本に照射される照明光の波面を変調可能な空間光変調素子と、該空間光変調素子と光学的に共役な位置に配置され、前記対物レンズにより前記標本に照射される照明光を2次元的に走査可能な走査部と、前記標本における前記対物レンズの光軸方向の焦点位置を調整する焦準部と、前記焦点位置における収差の補正および前記標本における所望の照明パターンの形成を行うように、前記空間光変調素子を制御する制御部とを備える観察装置を提供する。
本発明によれば、焦準部により標本における対物レンズの光軸方向の焦点位置を調整することで、標本における深さ方向の観察位置を変更することができる。この場合において、制御部により標本内の屈折率分布等によって発生する収差を補正するように制御された空間光変調素子によって波面が変調された照明光を走査部により走査させて対物レンズにより標本に照射することで、標本の所望の深さ位置を精度よく観察することができる。
また、制御部により標本において所望の照明パターンが形成されるように制御された空間光変調素子によって波面が変調された照明光を対物レンズにより標本に照射することで、標本の所望の複数の照射位置を同時に光刺激することができる。
したがって、制御部による空間光変調素子の制御に従い、1つの空間光変調素子によって、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と所望のパターン照明とを実現することができる。
上記発明においては、前記対物レンズと前記走査部と前記空間光変調素子とが同一の光路上に配され、前記制御部が、前記所望の照明パターンを形成するための前記空間光変調素子の制御を前記走査部による前記照明光の走査が停止している期間に行うこととしてもよい。
このように構成することで、標本におけるパターン照明を形成する位置を固定することができる。したがって、標本の複数の照射位置に同時に精度よく光刺激を与えることができる。
上記発明においては、前記空間光変調素子と前記走査部との間の光路における前記標本と共役な位置に挿脱可能に配され、前記制御部により前記所望の照明パターンを形成するように制御された前記空間光変調素子によって波面が変調された前記照明光に含まれる0次光を除去する0次光除去部材を備えることとしてもよい。
空間光変調素子により波面変調が施された照明光の軸中心には、波面変調の影響を受けない0次光が含まれる。そのため、標本における刺激光中の0次光が照射される位置付近は、所望の強度分布で光刺激することができないことになる。
そこで、標本に光刺激を与える場合は、光路に0次光除去部材を挿入して照明光に含まれる0次光を除去すれば、所望しない照明パターンによる光刺激を防ぐことができる。一方、LSMとして標本を観察する場合は、光路から0次光除去部材を外せば、0次光除去部材の影響を受けることなく精度よく収差補正を行うことができる。
上記発明においては、前記空間光変調素子と前記走査部との間の光路を2つに分岐する光路分岐部と、該光路分岐部により分岐された2つの光路を前記走査部と前記対物レンズとの間で合成する光路合成部とを備え、前記対物レンズの瞳位置と前記空間光変調素子とが前記2つの光路においてそれぞれ光学的に共役な位置関係を有することとしてもよい。
このように構成することで、収差補正を行いながらLSMとして標本を観察する場合は、光路分岐部により分岐された光路の内の走査部が配置されている光路において照明光を走査して標本に照射し、標本を光刺激する場合は、光路分岐部により分岐された光路の内の走査部が配置されていない光路において走査部を介さずに標本にパターン照明すればよい。
この場合において、空間光変調素子の制御と走査部の動作とを連動させる必要がなくなるので、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と標本の光刺激との切り替えの迅速化を図ることができる。
上記発明においては、前記光路分岐部より分岐された光路の内の前記走査部が配置されていない光路における前記標本と共役な位置に配され、前記制御部により前記所望の照明パターンを形成するように制御された前記空間光変調素子によって波面が変調された前記照明光に含まれる0次光を除去する0次光除去部材を備えることとしてもよい。
このように構成することで、光路に対して0次光除去部材を挿脱することなく、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と所望の照明パターンによる標本の光刺激とを迅速に切り替えることができる。
上記発明においては、前記光路分岐部が、前記標本と共役な位置に配置され、前記空間光変調素子からの前記照明光の光路を0次光を含む一部の前記照明光の光路と0次光を含まない一部の前記照明光の光路とに分岐し、前記走査部が、前記0次光を含む一部の前記照明光の光路に配置されていることとしてもよい。
このように構成することで、対物レンズの焦点位置における収差の補正と標本における所望の照明パターンの形成とで制御部による空間光変調素子の制御を切り替えることなく、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と所望のパターン照明とを実現することができる。
本発明によれば、1つのLCOSにより、収差補正を行いながらのLSMとしての観察と所望のパターン照明とを実現することができるという効果を奏する。
本発明の第1実施形態に係る観察装置を示す全体構成図である。 本発明の第2実施形態に係る観察装置を示す全体構成図である。 本発明の第2実施形態の一変形例に係る観察装置の全体構成図である。
〔第1実施形態〕
本発明の第1実施形態に係る観察装置について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係る観察装置100は、図1に示すように、レーザ光(照明光)を発生する光源1と、光源1から発せられたレーザ光をオンオフするAOM(Acousto−Optic Modulator)2と、AOM2を通過したレーザ光の波面を略平面波に変換するビーム変換光学系3と、略平面波に変換されたレーザ光の波面を変調する波面変調部5と、レーザ光を2次元的に走査させるスキャナ(走査部)7と、標本Sにレーザ光を照射する一方、標本Sにおいて発生した蛍光を集光する対物レンズ9と、対物レンズ9により集光された標本Sからの蛍光をレーザ光の光路から分岐させるダイクロイックミラー11と、ダイクロイックミラー11により分岐された蛍光を検出する光電子増倍管(Photomultiplier Tube)のような検出器13とを備えている。
また、この観察装置100は、波面変調部5とスキャナ7との間に配置された第1リレー光学系15と、スキャナ7の内部に設けられた第2リレー光学系17と、スキャナ7とダイクロイックミラー11との間に配置された第3リレー光学系19と、ダイクロイックミラー11と検出器13との間に配置された第4リレー光学系21と、第1リレー光学系15によりリレーされるレーザ光から0次光をカットするマスク(0次光除去部材)23と、対物レンズ9を光軸方向に沿って移動させる焦準機構(焦準部)25と、AOM2、波面変調部5、スキャナ7およびマスク23の制御等を行う制御装置(制御部)27と、1光子刺激用の可視レーザ光源部29とを備えている。
光源1は、例えば、多光子励起を生じさせる近赤外域の超短パルスレーザ光源(IRパルスレーザ光源)である。
AOM2は、制御装置27からの指令により、光源1から発せられた超短パルスレーザ光(以下、単にレーザ光とする。)をオンオフするようになっている。
波面変調部5は、ビーム変換光学系3により略平面波に変換されたレーザ光を反射するプリズム31と、プリズム31により反射されたレーザ光を反射してプリズム31に戻す反射型のLCOS(Liquid Crystal On Silicon、空間光変調素子)33とを備えている。
プリズム31は、ビーム変換光学系3からのレーザ光をLCOS33に向けて反射する一方、LCOS33から戻されたレーザ光をビーム変換光学系3側とは反対側に向けて、ビーム変換光学系3からのレーザ光の光路と同軸の光路に沿って反射するようになっている。
LCOS33は、制御装置27からの指令により、その表面形状を任意に変化させることができるセグメントタイプのMEMSによって構成されている。このLCOS33は、プリズム31からのレーザ光を反射する際に、その表面形状に従う形態にレーザ光の波面を変調するようになっている。以下、LCOS33において、入射したレーザ光に波面の変調を付与する領域を変調領域という。
また、LCOS33は、変調領域の表面形状に応じて、例えば、対物レンズ9の焦点位置においてレーザ光を1点に集光させたり、所望の3次元的な照明パターンを形成させたりすることができるようになっている。LCOS33の変調領域の表面形状は、各種光学系の収差や標本Sにおける屈折率分布等を考慮して、予め算出あるいは測定しておくことができる。また、LCOS33は、対物レンズ9の瞳位置と光学的に共役な位置に配置されている。
スキャナ7は、互いに対向して配された2枚の揺動ミラー35A,35Bを備えている。このスキャナ7は、制御装置27からの指令により、2枚の揺動ミラー35A,35Bを相互に直交する軸線回りにそれぞれ揺動させて、ラスタスキャン動作によりレーザ光を偏向するようになっている。これにより、スキャナ7は、揺動ミラー35A,35Bの揺動動作に応じて、標本S上でレーザ光を2次元的に走査させることができるようになっている。
一方の揺動ミラー35Aの揺動速度は、他方の揺動ミラー35Bの揺動速度に対して十分に速く設定されている。高速側の揺動ミラー35Aは標本S上におけるX方向の走査のために使用され、低速側の揺動ミラー35Bは標本S上におけるX方向に直交するY方向の走査のために使用される。これら揺動ミラー35A,35Bは、図示しないモータにより互いに軸線回りに揺動させられるようになっている。
ダイクロイックミラー11は、光源1からのレーザ光を対物レンズ9に向けて反射する一方、対物レンズ9からの蛍光を検出器13に向けて透過させるようになっている。
検出器13は、検出した蛍光の強度情報を出力するようになっている。検出器13から出力された蛍光の強度情報とその検出時のスキャナ7によるレーザ光の走査位置情報とに基づいて、図示しないPC(Personal Computer)等により、標本Sの2次元的な蛍光画像を生成することができる。
第1リレー光学系15は、波面変調部5のLCOS33上の像をスキャナ7の揺動ミラー35A上にリレーするようになっている。
第2リレー光学系17は、揺動ミラー35Aと揺動ミラー35Bとの間に配置され、揺動ミラー35A上の像を揺動ミラー35B上にリレーするようになっている。
第3リレー光学系19は、揺動ミラー35B上の像を対物レンズ9の瞳位置にリレーするようになっている。
したがって、LCOS33の表面位置、揺動ミラー35Aの表面位置および揺動ミラー35Bの表面位置は、いずれも対物レンズ9の入射瞳位置と光学的に共役な位置に配置されている。
また、第1リレー光学系15、第2リレー光学系17、第3リレー光学系19および第4リレー光学系21は、いずれも複数のレンズにより構成されている。例えば、第3リレー光学系19は、瞳投影レンズ37と結像レンズ39とにより構成されている。
マスク23は、第1リレー光学系15おけるレーザ光の光路上の標本Sと共役な位置に挿脱可能(IN/OUT)に配置されている。
焦準機構25は、対物レンズ9を光軸方向に沿って移動させることで、標本Sにおける対物レンズ9の光軸方向の焦点位置を調整することができるようになっている。
可視レーザ光源部29は、可視レーザ光を発生する可視レーザ光源61と、AOTF(Acousto−Optic Tunable Filter)63と、AOTF63を通過したレーザ光の波面を略平面波に変換するビーム変換光学系65と、略平面波に変換されたレーザ光を反射する反射ミラー67と、反射ミラー67により反射されたレーザ光を光源1からのレーザ光の光路に合流させるダイクロイックミラー69とを備えている。
制御装置27は、AOM2、スキャナ7のモータ、マスク23、LCOS33、AOTF63等を制御するCPU(図示略)と、このCPUを作動するプログラムと、CPUに入力する各種信号等を記憶するメモリとを備えている。
制御装置27は、CPUによるプログラムの実行により、AOM2に対してオンオフ切り替え指令信号を出力してレーザ光のオンオフの切り替えを制御するようになっている。また、制御装置27は、CPUによるプログラムの実行により、スキャナ7のモータに対して角度指令信号を出力して、各揺動ミラー35A,35Bの揺動角度を制御するようになっている。また、制御装置27は、CPUによるプログラムの実行により、マスク23に対して挿脱指令信号を出力して、レーザ光の光路への挿入および光路からの脱離を制御するようになっている。
また、制御装置27は、CPUによるプログラムの実行により、LCOS33に対して形状指令信号を出力して、予め設定された表面形状となるように変調領域を制御するようになっている。また、制御装置27は、対物レンズ9の焦点位置における収差を補正したり、標本Sにおける所望の照明パターンを形成したりするように、LCOS33を制御するようになっている。
例えば、標本Sを多光子励起観察する場合は、制御装置27は、レーザ光の光路からマスク23を脱離するとともにスキャナ7の各揺動ミラー35A,35Bを揺動させ、対物レンズ9の焦点位置において1点に集光するようにレーザ光の波面を変調する表面形状をLCOS33に設定するようになっている。LCOS33の変調領域の表面形状は、各種光学系の収差や標本Sにおける屈折率分布等を考慮して予め算出あるいは測定されている。
焦準機構25により対物レンズ9の光軸方向の焦点位置を変更した場合は、制御装置27は、焦準機構25から読み出される標本Sの表面を基準とした対物レンズ9の焦点位置の深さ方向の位置情報に基づいて、対物レンズ9の焦点位置における収差を補正するように、LCOS33における変調領域の表面形状を変化させるようになっている。
また、標本Sを光刺激する場合は、制御装置27は、レーザ光の光路にマスク23を挿入するとともにスキャナ7の各揺動ミラー35A,35Bを停止させ、標本Sに所望の照明パターンを形成するようにレーザ光の波面を変調する表面形状をLCOS33に設定するようになっている。
このように構成された観察装置100の作用について説明する。
まず、本実施形態に係る観察装置100により標本Sを多光子励起観察する場合は、制御装置27が、レーザ光の光路からマスク23を脱離するとともに、スキャナ7を駆動して揺動ミラー35A,35Bを揺動させる。また、制御装置27は、標本Sにおける深さ方向の任意の観察位置に応じて予め設定された表面形状をLCOS33に設定し、光源1からレーザ光を発生させる。
光源1から発せられたレーザ光は、AOM2およびビーム変換光学系3を介して略平面波として波面変調部5に入射する。波面変調部5においては、レーザ光がプリズム31により反射されてLCOS33に入射し、LCOS33により波面が変調されてプリズム31に戻され、プリズム31により第1リレー光学系15に向けて反射される。
そして、レーザ光は、第1リレー光学系15によりリレーされてスキャナ7に入射し、揺動ミラー35A,35Bおよび第2リレー光学系17を介して出射される。スキャナ7においては、高速側の揺動ミラー35Aが揺動させられることにより、揺動ミラー35Aによって反射されたレーザ光がX方向に走査される。そして、揺動ミラー35AによるX方向の1走査ラインが走査されるごとに低速側の揺動ミラー35Bが揺動させられることにより、揺動ミラー35Bによって反射されたレーザ光がY方向に走査されてX方向の走査ラインが切り替えられる。これにより、レーザ光が2次元的に走査される。
スキャナ7により走査されたレーザ光は、第3リレー光学系19によりリレーされてダイクロイックミラー11により反射され、対物レンズ9により集光されて標本Sに照射される。これにより、スキャナ7の揺動ミラー35A,35Bの動作に応じて標本S上でレーザ光が2次元的に走査される。
レーザ光が照射されることにより標本Sにおいて発生した蛍光は、対物レンズ9により集光されてダイクロイックミラー11を透過し、第4リレー光学系21によりリレーされて検出器13により検出される。すなわち、標本Sからの蛍光は、スキャナ7に戻されずに検出器13により検出される(ノンデスキャン検出方式)。
これにより、検出器13から出力される蛍光の強度情報とスキャナ7によるレーザ光の走査位置情報とに基づいて、PC等によって標本Sにおける深さ方向の任意の観察位置の2次元的な画像を生成することができる。PCにより生成された画像は図示しないモニタ等に表示することで、標本Sを多光子励起観察することができる。
続いて、焦準機構25により標本Sにおける対物レンズ9の光軸方向の焦点位置を調整し、標本Sにおける観察位置を深さ方向の次の断面に変更する。この場合、標本S内の屈折率分布等によって対物レンズ9の焦点がずれるので、制御装置27により、焦準機構25からの前記位置情報に基づき、標本S内の屈折率分布等によって発生する収差を補正するようにLCOS33が制御される。
そして、変調領域の表面形状が変更されたLCOS33により、対物レンズ9の焦点位置における収差を補正するようにレーザ光の波面が変調され、そのレーザ光がスキャナ7により走査されて対物レンズ9により標本Sに照射される。これにより、標本Sにおける深さ方向の次の断面を精度よく多光子励起観察することができる。
同様にして、焦準機構25により標本Sにおける観察位置を深さ方向に変更する度に、制御装置27により、対物レンズ9の焦点位置における収差を補正するようにLCOS33が制御される。したがって、標本Sにおける深さ位置が異なる各断面を精度よく多光子励起観察することができる。
次に、本実施形態に係る観察装置100により標本Sを多光子パターン刺激する場合は、制御装置27が、レーザ光の光路上にマスク23を挿入するとともに、スキャナ7の揺動ミラー35A,35Bをノーマル位置に固定する。また、制御装置27は、標本Sにおける所望の照明パターンの形成を行うようにレーザ光の波面を変調する表面形状をLCOS33に設定して、光源1からレーザ光を発生させる。
光源1から発せられて、波面変調部5のLCOS33により波面が変調されたレーザ光は、第1リレー光学系15によりリレーされてマスク23により0次光がカットされる。そして、レーザ光は、スキャナ7により反射されるとともに第2リレー光学系17によりリレーされ、第3リレー光学系19およびダイクロイックミラー11を介して対物レンズ9により標本Sに照射される。
これにより、LCOS33における変調領域の表面形状に応じて標本Sにおける所望の位置に所望の照明パターンが形成され、その照明パターンに従って標本Sが光刺激される。例えば、LCOS33における変調領域の表面形状に応じて、標本Sにおける所望の複数箇所を同時に多光子パターン刺激することができる。
ユーザは、制御装置27により、光源1、AOM2、LCOS33、マスク23およびスキャナ7等の制御を切り替えて、光刺激を与えた標本Sの画像を取得することにより、多光子パターン刺激による標本Sの反応を多光子励起観察することができる。
一方、本実施形態に係る観察装置100により標本Sを1光子パターン刺激する場合は、光源1に代えて、可視レーザ光源61からレーザ光を発生させる。可視レーザ光源61から発せられたレーザ光は、AOTF63、ビーム変換光学系65および反射ミラー67を介して、ダイクロックミラー69により光源1からのレーザ光の光路に合流される。光源1からのレーザ光の光路に合流した可視レーザ光源61からのレーザ光は、多光子パターン刺激の場合と同様にして標本Sに照射される。
これにより、LCOS33における変調領域の表面形状に応じて標本Sにおける所望の位置に所望の照明パターンが形成され、その照明パターンに従って標本Sが光刺激される。ユーザは、制御装置27により、光源1、AOM2、LCOS33、マスク23およびスキャナ7等の制御を切り替えて、光刺激を与えた標本Sの画像を取得することにより、1光子パターン刺激による標本Sの反応を多光子励起観察することができる。
以上説明したように、本実施形態に係る観察装置100によれば、制御装置27によるLCOS33の制御に従い、1つのLCOS33によって、収差補正を行いながらのLSMとしての多光子励起観察と所望のパターン照明とを実現することができる。また、標本Sを多光子パターン刺激または1光子パターン刺激する場合に、スキャナ7の駆動を停止することで、標本Sにおけるパターン照明を形成する位置を固定し、精度よく光刺激を与えることができる。
また、LCOS33により波面変調が施されたレーザ光の軸中心には波面変調の影響を受けない0次光が含まれているため、標本Sにおける0次光の照射位置付近は本来は所望の強度分布で光刺激することができないが、マスク23によりレーザ光に含まれる0次光を除去することで、所望しない照明パターンによる光刺激を防ぐことができる。なお、標本Sを多光子励起観察する場合は、光路からマスク23を外すことで、マスク23の影響を受けることなく精度よく収差補正を行うことができる。
〔第2実施形態〕
次に、本発明の第2実施形態に係る観察装置について説明する。
本実施形態に係る観察装置200は、図2に示すように、波面変調部5とスキャナ7との間の光路を2つに分岐する分岐ダイクロイックミラー(光路分岐部)41、分岐ダイクロイックミラー41により分岐された2つの光路をスキャナ7と対物レンズ9との間で合成する合成ダイクロイックミラー(光路合成部)42とを備える点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係る観察装置100と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
分岐ダイクロイックミラー41は、波面変調部5と第1リレー光学系15との間の光路上に配置されている。この分岐ダイクロイックミラー41は、ある波長域のレーザ光を第1リレー光学系15に向けて透過させる一方、他の波長域のレーザ光を反射することにより、レーザ光の光路を分岐するようになっている。
合成ダイクロイックミラー42は、第3リレー光学系19の瞳投影レンズ37と結像レンズ39との間の光路上に配置されている。この合成ダイクロイックミラー42は、分岐ダイクロイックミラー41を透過してきたある波長域のレーザ光を結像レンズ39に向けて透過させる一方、分岐ダイクロイックミラー41により反射された他の波長域のレーザ光を結像レンズ39に向けて反射することにより、レーザ光の光路を合成するようになっている。
分岐ダイクロイックミラー41により反射された他の波長域のレーザ光の光路には、分岐ダイクロイックミラー41からのレーザ光をリレーする第5リレー光学系43と、第5リレー光学系43によりリレーされたレーザ光を反射する反射ミラー45,46と、反射ミラー46からのレーザ光を集光して合成ダイクロイックミラー42に入射させる瞳投影レンズ47とが配置されている。
瞳投影レンズ47は、第3リレー光学系19の結像レンズ39と第6リレー光学系49を構成するようになっている。第5リレー光学系43および第6リレー光学系49は、LCOS33上の像を対物レンズ9の瞳位置にリレーするようになっている。マスク23は、第1リレー光学系15のレンズ間に代えて、第5リレー光学系43のレンズ間の光路上に挿入されたままになっている。
制御装置27は、標本Sを多光子励起観察する場合も多光子パターン刺激または1光子パターン刺激する場合も、スキャナ7を駆動させたままにしておくようになっている。
このように構成された観察装置200の作用について説明する。
本実施形態に係る観察装置200により、標本Sを多光子励起観察する場合は、制御装置27が、スキャナ7を駆動して揺動ミラー35A,35Bを揺動させるとともに、標本Sにおける深さ方向の任意の観察位置に応じて予め設定された表面形状をLCOS33に設定する。そして、制御装置27は、AOM2を制御し、分岐ダイクロイックミラー41を透過する波長域のレーザ光を光源1から出射させる。
光源1から出射されたレーザ光は、ビーム変換光学系3および波面変調部5を介して分岐ダイクロイックミラー41を透過し、第1リレー光学系15および第2リレー光学系17を介してスキャナ7により2次元的に走査される。スキャナ7により走査されたレーザ光は、瞳投影レンズ37を介して合成ダイクロイックミラー42を透過し、結像レンズ39およびダイクロイックミラー11を介して対物レンズ9により標本Sに照射される。
これにより、第1実施形態と同様に、標本Sにおいて発生する蛍光を検出器13により検出してPCにより画像を生成し、標本Sを多光子励起観察することができる。
焦準機構25により標本Sにおける対物レンズ9の深さ方向の焦点位置を変更した場合は、第1実施形態と同様に、制御装置27により、焦準機構25からの前記位置情報に基づき、標本S内の屈折率分布等によって発生する収差を補正するようにLCOS33が制御される。
これにより、変調領域の表面形状が変更されたLCOS33によって対物レンズ9の焦点位置における収差を補正するように波面が変調されたレーザ光がスキャナ7によって走査されて対物レンズ9により標本Sに照射されることで、標本Sにおける深さ方向の異なる断面を精度よく多光子励起観察することができる。
次に、本実施形態に係る観察装置200により標本Sを多光子パターン刺激する場合は、制御装置27が、スキャナ7の揺動ミラー35A,35Bを揺動させたまま、標本Sにおける所望の照明パターンの形成を行うようにレーザ光の波面を変調する表面形状をLCOS33に設定する。そして、制御装置27は、AOM2を制御し、分岐ダイクロイックミラー41によって反射される波長域のレーザ光を出射させる。
光源1から発せられて、波面変調部5のLCOS33により波面が変調されたレーザ光は、分岐ダイクロイックミラー41により反射される。そして、レーザ光は、第5リレー光学系43によりリレーされるとともにマスク23により0次光がカットされ、反射ミラー45,46を介して瞳投影レンズ37により集光される。
瞳投影レンズ47により集光されたレーザ光は、合成ダイクロイックミラー42により反射されて、結像レンズ39およびダイクロイックミラー11を介して対物レンズ9により標本Sに照射される。
これにより、LCOS33における変調領域の表面形状に応じて標本Sにおける所望の位置に所望の照明パターンを形成し、その照明パターンに従って標本Sを多光子パターン刺激することができる。
一方、本実施形態に係る観察装置200により標本Sを1光子パターン刺激する場合は、制御装置27が、AOM2に代えて、AOTF63を制御し、分岐ダイクロイックミラー41によって反射される波長域のレーザ光を出射させる。可視レーザ光源61から発せられたレーザ光は、ダイクロイックミラー69により光源1からのレーザ光の光路に合流した後は、多光子パターン刺激の場合と同様にして標本Sに照射される。これにより、LCOS33における変調領域の表面形状に応じて形成される所望の照明パターンに従って標本Sを1光子パターン刺激することができる。
以上説明したように、本実施形態に係る観察装置200によれば、収差補正を行いながらLSMとして標本Sを多光子励起観察する場合は、分岐ダイクロイックミラー41により分岐された光路の内のスキャナ7が配置されている光路において、スキャナ7によりレーザ光を走査して標本Sに照射すればよい。また、標本Sを多光子パターン刺激または1光子パターン刺激する場合は、分岐ダイクロイックミラー41により分岐した光路の内のスキャナ7が配置されていない光路において、スキャナ7を介さずに標本Sにパターン照明すればよい。
この場合において、LCOS33の制御とスキャナ7の駆動およびマスク23の挿脱とを連動させる必要がないので、収差補正を行いながらのLSMとしての多光子励起観察と標本Sの多光子パターン刺激または1光子パターン刺激との切り替えの迅速化を図り、多光子励起観察と光刺激のタイムラグを短縮することができる。
本実施形態においては、光路分岐部,光路合成部として分岐ダイクロイックミラー41,43Bを例示して説明したが、これに代えて、光路分岐部および光路合成部としてそれぞれハーフミラーを採用することとしてもよい。
本実施形態は以下のように変形することとしてもよい。
すなわち、第2実施形態においては、光路分岐部として分岐ダイクロイックミラー41を採用したが、一変形例では、例えば、図3に示されるように、光路分岐部として、波面変調部5により波面の変調が施されたレーザ光の内、0次光を含む一部のレーザ光のみが通過可能な貫通孔を有する環状ミラー51を採用することとしてもよい。
環状ミラー51は、例えば、中央に前記貫通孔を有する円環形状に形成されたものであればよい。また、環状ミラー51は、標本Sと共役な位置に配置され、波面変調部5からのレーザ光の内、軸中心に含まれる0次光とその周りの一部のレーザ光を貫通孔によりスキャナ7に向けて通過させ、0次光とその周りの一部のレーザ光を含まないさらにその外側のレーザ光を反射するようになっていればよい。
また、第1リレー光学系15を2つのレンズにより構成し、これら2つのレンズの間における対物レンズ9の結像位置と共役な位置に環状ミラー51を配置することとすればよい。また、第5リレー光学系43に代えて、第1リレー光学系15の一方のレンズを共有して第7リレー光学系53を構成するレンズ55を採用することとすればよい。また、光路合成部として、合成ダイクロイックミラー42に代えて、ハーフミラー57を採用することとすればよい。さらに、反射ミラー45,46間の光路上に、レーザ光の通過と遮断を切り替え可能なシャッタ59を配置することとすればよい。
このようにすることで、波面変調部5により波面を変調したレーザ光の光路は、環状ミラー51により、0次光を含む一部のレーザ光の光路と、0次光を含まない一分のレーザ光の光路とに分岐される。そして、環状ミラー51を通過した0次光を含む一部のレーザ光がスキャナ7により標本S上で2次元的に走査され、環状ミラー51により反射された0次光を含まない一部のレーザ光がスキャナ7を介さずに標本Sに照射される。
したがって、対物レンズ9の焦点位置における収差の補正と標本Sにおける所望の照明パターンの形成とを行う場合において、制御装置27によるLCOS33の制御およびAOM2の制御を切り替える必要がなく、同一のレーザ光により、収差補正を行いながらのLSMとしての多光子励起観察と所望のパターン照明とを実現することができる。この場合、シャッタ59により、標本Sを多光子パターン刺激または1光子パターン刺激する間はレーザ光を通過させ、標本Sの画像を取得する間はレーザ光を遮断して多光子パターン刺激または1光子パターン刺激を停止することとすればよい。なお、本変形例においては、多光子パターン刺激または1光子パターン刺激用のレーザ光から0次光を除去する機能を環状ミラー51が兼ねるので、0次光除去部材としてのマスクを採用する必要がない。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本発明を上記の各実施形態に適用したものに限定されることなく、これらの実施形態を適宜組み合わせた実施形態に適用してもよく、特に限定されるものではない。また、上記各実施形態においては、スキャナ7の揺動ミラー35A,35B間に第2リレー光学系17を配置することとしたが、揺動ミラー35A,35Bを近接して配置し、第2リレー光学系17を用いないこととしてもよい。
1 光源
7 スキャナ(走査部)
9 対物レンズ
23 マスク(0次光除去部材)
25 焦準機構(焦準部)
27 制御装置(制御部)
33 LCOS(空間光変調素子)
41 分岐ダイクロイックミラー(光路分岐部)
42 合成ダイクロイックミラー(光路合成部)
51 環状ミラー(光路分岐部)
57 ハーフミラー(光路合成部)
100,200 観察装置
S 標本

Claims (6)

  1. 光源から発せられた照明光を集光して標本に照射する対物レンズと、
    該対物レンズの瞳位置と光学的に共役な位置に配置され、前記対物レンズにより前記標本に照射される照明光の波面を変調可能な空間光変調素子と、
    該空間光変調素子と光学的に共役な位置に配置され、前記対物レンズにより前記標本に照射される照明光を2次元的に走査可能な走査部と、
    前記標本における前記対物レンズの光軸方向の焦点位置を調整する焦準部と、
    前記焦点位置における収差の補正および前記標本における所望の照明パターンの形成を行うように、前記空間光変調素子を制御する制御部とを備える観察装置。
  2. 前記対物レンズと前記走査部と前記空間光変調素子とが同一の光路上に配され、
    前記制御部が、前記所望の照明パターンを形成するための前記空間光変調素子の制御を前記走査部による前記照明光の走査が停止している期間に行う請求項1に記載の観察装置。
  3. 前記空間光変調素子と前記走査部との間の光路における前記標本と共役な位置に挿脱可能に配され、前記制御部により前記所望の照明パターンを形成するように制御された前記空間光変調素子によって波面が変調された前記照明光に含まれる0次光を除去する0次光除去部材を備える請求項1または請求項2に記載の観察装置。
  4. 前記空間光変調素子と前記走査部との間の光路を2つに分岐する光路分岐部と、
    該光路分岐部により分岐された2つの光路を前記走査部と前記対物レンズとの間で合成する光路合成部とを備え、
    前記対物レンズの瞳位置と前記空間光変調素子とが前記2つの光路においてそれぞれ光学的に共役な位置関係を有する請求項1から請求項3のいずれかに記載の観察装置。
  5. 前記光路分岐部より分岐された光路の内の前記走査部が配置されていない光路における前記標本と共役な位置に配され、前記制御部により前記所望の照明パターンを形成するように制御された前記空間光変調素子によって波面が変調された前記照明光に含まれる0次光を除去する0次光除去部材を備える請求項4に記載の観察装置。
  6. 前記光路分岐部が、前記標本と共役な位置に配置され、前記空間光変調素子からの前記照明光の光路を0次光を含む一部の前記照明光の光路と0次光を含まない一部の前記照明光の光路とに分岐し、
    前記走査部が、前記0次光を含む一部の前記照明光の光路に配置されている請求項4に記載の観察装置。
JP2014246951A 2014-12-05 2014-12-05 観察装置 Active JP6419558B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014246951A JP6419558B2 (ja) 2014-12-05 2014-12-05 観察装置
US14/957,403 US9625693B2 (en) 2014-12-05 2015-12-02 Observation apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014246951A JP6419558B2 (ja) 2014-12-05 2014-12-05 観察装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016109858A true JP2016109858A (ja) 2016-06-20
JP6419558B2 JP6419558B2 (ja) 2018-11-07

Family

ID=56094192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014246951A Active JP6419558B2 (ja) 2014-12-05 2014-12-05 観察装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9625693B2 (ja)
JP (1) JP6419558B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019532350A (ja) * 2016-08-08 2019-11-07 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 光学系及び光学系を用いてマスク欠陥を補正する方法
JP2023081899A (ja) * 2016-10-28 2023-06-13 カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング シングルプレーンイルミネーション顕微鏡

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
LU92740B1 (de) 2015-06-11 2016-12-12 Leica Microsystems Abtastmikroskop
JP6803196B2 (ja) * 2016-10-27 2020-12-23 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
US11269122B2 (en) * 2016-12-09 2022-03-08 Leica Microsystems Cms Gmbh Optical device having at least one spectrally selective component

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008139794A (ja) * 2006-12-05 2008-06-19 Keyence Corp 蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡の操作方法、蛍光顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP2013160893A (ja) * 2012-02-03 2013-08-19 Olympus Corp 顕微鏡とその収差補正方法
JP2014112122A (ja) * 2012-12-05 2014-06-19 Olympus Corp 光学装置
JP2014115448A (ja) * 2012-12-10 2014-06-26 Olympus Corp 顕微鏡
JP2014202867A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 オリンパス株式会社 パターン照射装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004317741A (ja) * 2003-04-15 2004-11-11 Olympus Corp 顕微鏡およびその光学調整方法
JP5554965B2 (ja) 2009-11-06 2014-07-23 オリンパス株式会社 位相変調型空間光変調器を用いたレーザ顕微鏡
JP2012150238A (ja) 2011-01-18 2012-08-09 Olympus Corp 顕微鏡装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008139794A (ja) * 2006-12-05 2008-06-19 Keyence Corp 蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡の操作方法、蛍光顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP2013160893A (ja) * 2012-02-03 2013-08-19 Olympus Corp 顕微鏡とその収差補正方法
JP2014112122A (ja) * 2012-12-05 2014-06-19 Olympus Corp 光学装置
JP2014115448A (ja) * 2012-12-10 2014-06-26 Olympus Corp 顕微鏡
JP2014202867A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 オリンパス株式会社 パターン照射装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019532350A (ja) * 2016-08-08 2019-11-07 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー 光学系及び光学系を用いてマスク欠陥を補正する方法
JP2023081899A (ja) * 2016-10-28 2023-06-13 カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング シングルプレーンイルミネーション顕微鏡
JP7415063B2 (ja) 2016-10-28 2024-01-16 カール・ツァイス・マイクロスコピー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング シングルプレーンイルミネーション顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP6419558B2 (ja) 2018-11-07
US9625693B2 (en) 2017-04-18
US20160161729A1 (en) 2016-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5554965B2 (ja) 位相変調型空間光変調器を用いたレーザ顕微鏡
JP6419558B2 (ja) 観察装置
JP6249616B2 (ja) レーザ顕微鏡
JP7236381B2 (ja) シングルプレーンイルミネーション顕微鏡
JP4922628B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
US7838818B2 (en) Light-stimulus illumination apparatus which scans light-stimulus laser light in a direction intersecting an optical axis
EP2498116B1 (en) Microscope apparatus
JP6233784B2 (ja) 共焦点顕微鏡
JP5603786B2 (ja) 顕微鏡装置
JP5179099B2 (ja) 光刺激用照明装置および顕微鏡装置
JP5058625B2 (ja) レーザ顕微鏡
JP4959590B2 (ja) 観察装置
JP5701573B2 (ja) スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置
EP2453285A1 (en) Illumination optical system
JP6385711B2 (ja) 顕微鏡装置
JP2018072511A (ja) 顕微鏡装置
JP6353703B2 (ja) 顕微鏡装置
JP4869749B2 (ja) 走査型顕微鏡
US10422747B2 (en) Imaging optical system, illumination apparatus, observation apparatus, and wavefront recovery device
WO2013080928A1 (ja) 光走査装置および走査型顕微鏡装置
JP4939855B2 (ja) 照明装置およびレーザ走査型顕微鏡
JP4961359B2 (ja) 観察装置
JP6177007B2 (ja) 顕微鏡システム
JP2012150238A (ja) 顕微鏡装置
JP2014163997A (ja) ビーム走査領域の位置調整方法並びにビーム走査領域の位置調整装置及びそれを備えたマルチビームレーザ走査型顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170719

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180220

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180418

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180619

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180918

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181010

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6419558

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250