JP5701573B2 - スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置 - Google Patents
スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5701573B2 JP5701573B2 JP2010244228A JP2010244228A JP5701573B2 JP 5701573 B2 JP5701573 B2 JP 5701573B2 JP 2010244228 A JP2010244228 A JP 2010244228A JP 2010244228 A JP2010244228 A JP 2010244228A JP 5701573 B2 JP5701573 B2 JP 5701573B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- scanning
- wavefront
- scanner
- illumination
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
本発明は、光源からの照明光を、その光軸に交差する方向に走査するスキャナであって、走査機構と、該走査機構に固定され、光源から入射された照明光の波面を変調して射出する波面変調部とを備え、該波面変調部が、光源から入射された照明光を反射する反射面を備え、該反射面における反射の際に照明光の波面を変調する反射型の波面変調素子であり、前記走査機構が、前記反射面を前記光軸に交差する軸線回りに揺動させる揺動機構を備えるスキャナを提供する。
本発明によれば、光源からの照明光が走査機構によって光軸に交差する方向に走査されるとともに、波面変調部において波面が変調されて射出される。波面変調部は走査機構に固定されているので、波面変調部と走査機構との間にリレー光学系を配置する必要がなく、このスキャナを組み込む装置を小型化することができる。
このようにすることで、単一の反射面によって照明光を2次元的に走査させつつ、照明光の波面を変調し、波面変調部と走査機構との間のリレー光学系を省略し、このスキャナを組み込む装置を小型化することができる。
このようにすることで、波面変調部に備えられた反射面によって照明光の波面が変調され、かつ、揺動機構によって、反射面によって反射される照明光が一方向に走査させられる。さらに、ミラーによって照明光が他の一方向に走査させられることにより、照明光は2次元的に走査させられる。
このようにすることで、揺動機構によって反射面を高速に揺動させることにより、反射面に撓みが発生しても、その撓みによる光路長の位相変化がキャンセルされ、揺動時にも静止時と同様の波面を照明光に付与することができる。
波面変調素子上の波面の変調領域を固定した場合には、波面変調素子の反射面に間隔をあけて対向するミラーが揺動させられることにより、その後にリレーされる像が光軸に交差する方向に移動させられる。本発明によれば、波面変調部が、ミラーの揺動に応じて空間光変調素子上の像を形成する波面の変調領域を移動させることにより、リレーされる像の移動を打ち消して、停止させることができる。
このようにすることで、変調領域の移動を低速側のミラーの揺動速度に合わせて行うことができ、より容易に、リレーされる像を静止させることができる。
また、上記参考例においては、前記揺動機構が、相互に交差する2つの軸線回りに前記反射面を揺動可能であってもよい。
また、上記参考例においては、前記波面変調部が、前記ミラーの揺動に応じて、前記波面変調素子上の像を形成する前記波面の変調領域を移動させてもよい。
また、上記参考例においては、前記揺動機構による前記反射面の揺動速度が、前記ミラーの揺動速度より速いことが好ましい。
本実施形態に係る走査型照明装置1は、図1に示されるように、レーザ光(照明光)を発生する光源2と、光源2から発せられたレーザ光を径の異なる平行光に変換するコリメータレンズ3と、変換されたレーザ光を2次元的に走査する本実施形態に係るスキャナ4と、該スキャナ4により走査されたレーザ光をリレーするリレー光学系5と、該リレー光学系5によりリレーされたレーザ光を標本A上に集光する対物レンズ6と、スキャナ4を制御する制御部7とを備えている。
また、制御部7は、スキャナ4に設けられた揺動機構9を制御して、波面変調素子8の反射面8aを揺動させるようになっている。
この場合において、本実施形態に係る走査型照明装置1によれば、波面変調素子8と揺動機構9とを一体的に設けたので、波面変調素子8とスキャナ4との間のリレー光学系を省略することができ、装置1全体を小型に構成することができるという利点がある。
これにより、各種光学系の収差や、標本A内の屈折率分布等によって発生する収差が補償され、対物レンズ6によって標本A内の所望の集光点にレーザ光を精度良く集光させることができるという利点がある。
このように構成することで、波面変調素子8に入射されたレーザ光は、反射面8aで反射される際に揺動機構9によって一方向に走査された後、波面変調素子8に間隔をあけて対向しているミラー10によって反射されるとともに他の一方向に走査される。すなわち、レーザ光は波面変調素子8およびミラー10によって2次元的に走査されることになる。そして、このようにすることによっても、波面変調素子8と揺動機構9との間におけるリレー光学系を省略することができ、装置1を簡略化することができる。
具体的には、波面変調素子8の変調領域Bを固定してミラー10を揺動させたと仮定したときに対物レンズ6の入射瞳位置におけるレーザ光の像が移動する方向とは逆方向に、ミラー10を固定したと仮定した状態でレーザ光の像を移動させるように、ミラー10の揺動に応じて波面変調素子8における波面の変調領域Bを移動させるようになっている。
このような構成によれば、光源2から発せられたレーザ光を、波面変調素子8の変調領域Bを含みそれより大きな照射領域Cに照射するとともに、変調領域Bに入射された部分のレーザ光のみの波面を変調して反射することにより、波面変調素子8の変調領域Bの像が、リレー光学系5によって対物レンズ6の入射瞳位置にリレーされる。また、これと同時に、揺動機構9による波面変調素子8およびミラー10を揺動させることによって、レーザ光を標本A上において2次元的に走査させることができる。
また、揺動機構9の揺動速度をミラー10の揺動速度より速く設定したので、低速側のミラー10の揺動に応じて変調領域Bを移動させれば足り、波面変調素子8の応答性は低くてよい。すなわち、ミラー10の揺動による対物レンズ6の入射瞳位置に入射されるレーザ光の像の変位をより確実に防止することができる。
本実施形態に係る走査型観察装置13は、OCT(Optical Coherent Tomography)顕微鏡であり、図9に示されるように、図1の走査型照明装置1のスキャナ4とコリメータレンズ3との間に干渉光学系14および検出光学系15を備えている。
検出光学系15は、偏光ビームスプリッタ18により生成された干渉光Sを集光するレンズ19と、該レンズ19により集光された干渉光Sを検出する光検出器20とを備えている。
図中、符号21はλ/4板、および符号22はλ/2板である。
他方の偏光成分、例えば、S偏光のレーザ光Lは、最初の偏光ビームスプリッタ16によって、参照光Rとして分岐光路に分岐され、プリズム17によって折り返された後、λ/2板22によってP偏光となり、偏光ビームスプリッタ18を透過させられる。
この走査型観察装置23は、図1に示される走査型照明装置1のリレー光学系5と対物レンズ6との間の光路に、蛍光を分岐するダイクロイックミラー24を配置し、該ダイクロイックミラー24により分岐された蛍光を集光するレンズ25と集光された蛍光を検出する光検出器26とを配置している。
なお、本実施形態においては、スキャナ4として、レーザ光を2次元的に走査するものを例示したが、これに代えて、1次元的に走査するものを採用してもよい。
本実施形態に係る走査型照明装置1は、スキャナ4の構成において第1の実施形態と異なる。
具体的には、揺動機構9として、その反射面9aを1軸回りに揺動させるものを採用し、好ましくは、揺動機構9の揺動軸線と捩れの位置に配置される軸線回りに揺動させられるミラーと組み合わせることによりスキャナ4を構成してもよい。すなわち、スキャナ4は、図14に示されるように、揺動機構9とミラー10が対向して配置された構成となる。
このように構成された走査型観察装置13によれば、レーザ光を走査するスキャナ4と波面変調素子8との間のリレー光学系を省略できるのでの、装置13を小型化することができるという利点がある。
2 光源
4 スキャナ
5 リレー光学系
6 対物レンズ
8 波面変調素子(波面変調部)
8a 反射面
9 揺動機構(走査機構)
9a 反射面
10 ミラー
13,23 走査型観察装置
14 干渉光学系(干渉部)
15 検出光学系(干渉光検出部)
16 偏光ビームスプリッタ(分岐部)
24 ダイクロイックミラー(分岐部)
26 光検出器(戻り光検出部)
A 標本
B 変調領域
L レーザ光(照明光)
R 参照光
S 干渉光
Claims (17)
- 光源からの照明光を、その光軸に交差する方向に走査するスキャナであって、
走査機構と、
該走査機構に固定され、光源から入射された照明光の波面を変調して射出する波面変調部とを備え、
該波面変調部が、光源から入射された照明光を反射する反射面を備え、該反射面における反射の際に照明光の波面を変調する反射型の波面変調素子であり、
前記走査機構が、前記反射面を前記光軸に交差する軸線回りに揺動させる揺動機構を備えるスキャナ。 - 前記揺動機構が、相互に交差する2つの軸線回りに前記反射面を揺動可能である請求項1に記載のスキャナ。
- 前記揺動機構が、1つの軸線回りに前記反射面を揺動させ、
前記走査機構が、前記反射面に対向して配置され、前記揺動機構の軸線とは非平行な軸線回りに揺動させられるミラーを備える請求項1に記載のスキャナ。 - 前記波面変調部が、前記揺動機構による前記反射面の揺動により該反射面に発生する撓みによる光路長の位相変化をキャンセルする位相変化を、前記反射面の静止時に前記照明光に付与する波面に加算して付与する請求項1から請求項3のいずれかに記載のスキャナ。
- 前記波面変調部が、前記ミラーの揺動に応じて、前記波面変調素子上の像を形成する前記波面の変調領域を移動させる請求項3に記載のスキャナ。
- 前記揺動機構による前記反射面の揺動速度が、前記ミラーの揺動速度より速い請求項3に記載のスキャナ。
- 照明光を射出する光源と、
請求項1から請求項6のいずれかに記載のスキャナと、
該スキャナにより走査された照明光を標本に集光する対物レンズと、
前記スキャナにおける像を前記対物レンズの入射瞳位置にリレーするリレー光学系とを備える走査型照明装置。 - 請求項7に記載の走査型照明装置と、
前記光源からの照明光から参照光を分岐する分岐部と、
前記対物レンズによって集光された標本からの照明光の戻り光と前記参照光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、
該干渉部により生成された干渉光を検出する干渉光検出部とを備える走査型観察装置。 - 請求項7に記載の走査型照明装置と、
該走査型照明装置により照明光が照射されることにより前記標本から発せられ前記対物レンズによって集光された戻り光を照明光の光路から分岐する分岐部と、
該分岐部により分岐された戻り光を検出する戻り光検出部とを備える走査型観察装置。 - 照明光を射出する光源と、
該光源からの照明光を、その光軸に交差する方向に走査する走査機構と、前記光源と前記走査機構との間の光路上に前記走査機構との間に間隔を空けて配置され、前記光源から入射された照明光の波面を変調して前記走査機構に射出する波面変調部とを備えるスキャナと、
該スキャナにより走査された照明光を標本に集光する対物レンズと、
前記スキャナの前記走査機構における像を前記対物レンズの入射瞳位置にリレーするリレー光学系とを備え、
前記波面変調部が、前記対物レンズの瞳位置と共役な位置からずれた位置に配置され、前記波面変調部の前記共役な位置からのずれに起因して前記波面に発生する変化を相殺する波面を、前記照明光に付与する波面に加算して付与する走査型照明装置。 - 前記走査機構が、光源から入射された照明光を反射する反射面を有し該反射面を前記光軸に交差する軸線回りに揺動させる揺動機構を備える請求項10に記載の走査型照明装置。
- 前記揺動機構が、相互に交差する2つの軸線回りに前記反射面を揺動可能である請求項11に記載の走査型照明装置。
- 前記揺動機構が、1つの軸線回りに前記反射面を揺動させ、
前記走査機構が、前記反射面に対向して配置され、前記揺動機構の軸線とは非平行な軸線回りに揺動させられるミラーを備える請求項11に記載の走査型照明装置。 - 前記波面変調部が、前記ミラーの揺動に応じて、前記波面変調素子上の像を形成する前記波面の変調領域を移動させる請求項13に記載の走査型照明装置。
- 前記揺動機構による前記反射面の揺動速度が、前記ミラーの揺動速度より速い請求項13に記載の走査型照明装置。
- 請求項10から請求項15のいずれかに記載の走査型照明装置と、
前記光源からの照明光から参照光を分岐する分岐部と、
前記対物レンズによって集光された標本からの照明光の戻り光と前記参照光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、
該干渉部により生成された干渉光を検出する干渉光検出部とを備える走査型観察装置。 - 請求項10から請求項15のいずれかに記載の走査型照明装置と、
該走査型照明装置により照明光が照射されることにより前記標本から発せられ前記対物レンズによって集光された戻り光を照明光の光路から分岐する分岐部と、
該分岐部により分岐された戻り光を検出する戻り光検出部とを備える走査型観察装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010244228A JP5701573B2 (ja) | 2010-06-15 | 2010-10-29 | スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010136166 | 2010-06-15 | ||
JP2010136166 | 2010-06-15 | ||
JP2010244228A JP5701573B2 (ja) | 2010-06-15 | 2010-10-29 | スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012022282A JP2012022282A (ja) | 2012-02-02 |
JP5701573B2 true JP5701573B2 (ja) | 2015-04-15 |
Family
ID=45776588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010244228A Expired - Fee Related JP5701573B2 (ja) | 2010-06-15 | 2010-10-29 | スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5701573B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013157605A1 (ja) * | 2012-04-20 | 2013-10-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | ビーム整形装置 |
DE102013015933A1 (de) * | 2013-09-19 | 2015-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
FR3020141B1 (fr) * | 2014-04-17 | 2018-01-05 | Horiba Jobin Yvon Sas | Appareil et procede de microscopie a balayage de faisceau optique |
EP2998776A1 (en) | 2014-09-22 | 2016-03-23 | Nanolive SA | Tomographic phase microscope |
KR102487927B1 (ko) * | 2021-01-11 | 2023-01-12 | 장득수 | 고해상도 토모그래피 현미경 시스템 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4222895B2 (ja) * | 2003-07-23 | 2009-02-12 | オリンパス株式会社 | 光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡 |
US7333260B2 (en) * | 2004-08-09 | 2008-02-19 | Stereo Display, Inc. | Two-dimensional image projection system |
US7161729B2 (en) * | 2004-05-28 | 2007-01-09 | Angstrom Inc. | Array of micromirror array lenses |
JP2008020481A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-31 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
JP2008058003A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
JP4928351B2 (ja) * | 2007-05-25 | 2012-05-09 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
JP5216761B2 (ja) * | 2007-09-26 | 2013-06-19 | パナソニック株式会社 | ビーム走査型表示装置 |
JP2009193008A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Sharp Corp | 画像表示装置 |
JP5478840B2 (ja) * | 2008-05-19 | 2014-04-23 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置および光断層撮像装置の制御方法 |
-
2010
- 2010-10-29 JP JP2010244228A patent/JP5701573B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012022282A (ja) | 2012-02-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4729269B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
US20160246062A1 (en) | Beam splitter apparatus, light source apparatus, and scanning observation apparatus | |
JP2002174769A (ja) | 光学系及び光学装置 | |
US9052508B2 (en) | Microscope system | |
JP5701573B2 (ja) | スキャナ、走査型照明装置および走査型観察装置 | |
US10437050B2 (en) | Phase-modulation-element adjustment system and method for decreasing wavefront aberration | |
JP2001290081A (ja) | 試料照射装置 | |
JP5603786B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP6116142B2 (ja) | 走査型共焦点レーザ顕微鏡 | |
JP2014164097A (ja) | ビームスプリッタ装置、走査型観察装置、レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型内視鏡 | |
JP6419558B2 (ja) | 観察装置 | |
JP5603749B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2003084206A (ja) | 格子照明顕微鏡 | |
JP5166770B2 (ja) | 3次元形状観察装置 | |
JP5959180B2 (ja) | 照明光学装置 | |
JP5106369B2 (ja) | 光学装置 | |
JP4880519B2 (ja) | 干渉測定装置 | |
JP2010197986A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2008026643A (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP6385711B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2008082781A (ja) | 干渉型表面形状測定装置 | |
JP2013041142A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP6205140B2 (ja) | 走査型レーザ顕微鏡装置 | |
JP4869749B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JP5591073B2 (ja) | 顕微鏡装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130823 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140115 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140617 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140815 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150127 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150218 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5701573 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |