JP2015207760A5 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015207760A5 JP2015207760A5 JP2015078144A JP2015078144A JP2015207760A5 JP 2015207760 A5 JP2015207760 A5 JP 2015207760A5 JP 2015078144 A JP2015078144 A JP 2015078144A JP 2015078144 A JP2015078144 A JP 2015078144A JP 2015207760 A5 JP2015207760 A5 JP 2015207760A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- drain
- source
- wiring
- electrically connected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 5
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 claims 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 3
Claims (4)
- SRAMと、
データ記憶部と、を有する半導体装置であって、
前記SRAMは、第1のトランジスタと、配線と、を有し、
前記第1のトランジスタは、シリコンをチャネル形成領域に有し、
前記配線は、前記第1のトランジスタに電気的に接続され、
前記データ記憶部は、第2のトランジスタと、容量素子と、を有し、
前記第2のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有し、
前記第2のトランジスタのソース又はドレインの一方は、前記第1のトランジスタのソース又はドレインに電気的に接続され、
前記容量素子は、前記第2のトランジスタのソース又はドレインの他方に電気的に接続され、
前記第1のトランジスタのソース又はドレインと、前記配線とは、互いに重なる領域を有し、
前記配線と、前記第2のトランジスタのソース又はドレインとは、互いに重なる領域を有し、
前記第2のトランジスタのソース又はドレインと、前記容量素子の電極とは、互いに重なる領域を有することを特徴とする半導体装置。 - SRAMと、
データ記憶部と、を有する半導体装置であって、
前記SRAMは、第1のトランジスタと、配線と、を有し、
前記第1のトランジスタは、シリコンをチャネル形成領域に有し、
前記配線は、前記第1のトランジスタに電気的に接続され、
前記データ記憶部は、第2のトランジスタと、第3のトランジスタと、容量素子と、を有し、
前記第2のトランジスタは、酸化物半導体をチャネル形成領域に有し、
前記第3のトランジスタは、シリコンをチャネル形成領域に有し、
前記第2のトランジスタのソース又はドレインの一方は、前記第1のトランジスタのソース又はドレインに電気的に接続され、
前記容量素子は、前記第2のトランジスタのソース又はドレインの他方に電気的に接続され、
前記第2のトランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第3のトランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第3のトランジスタのソース又はドレインは、前記第1のトランジスタのソース又はドレインに電気的に接続され、
前記第1のトランジスタのソース又はドレインと、前記配線とは、互いに重なる領域を有し、
前記配線と、前記第2のトランジスタのソース又はドレインとは、互いに重なる領域を有し、
前記第2のトランジスタのソース又はドレインと、前記容量素子の電極とは、互いに重なる領域を有することを特徴とする半導体装置。 - 請求項2において、
前記第3のトランジスタは、インバータを構成するnチャネル型トランジスタ又はpチャネル型トランジスタであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
前記SRAMは、マルチポートであることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015078144A JP6595789B2 (ja) | 2014-04-10 | 2015-04-07 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014080845 | 2014-04-10 | ||
JP2014080845 | 2014-04-10 | ||
JP2015078144A JP6595789B2 (ja) | 2014-04-10 | 2015-04-07 | 半導体装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015207760A JP2015207760A (ja) | 2015-11-19 |
JP2015207760A5 true JP2015207760A5 (ja) | 2018-05-24 |
JP6595789B2 JP6595789B2 (ja) | 2019-10-23 |
Family
ID=54265723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015078144A Expired - Fee Related JP6595789B2 (ja) | 2014-04-10 | 2015-04-07 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150294991A1 (ja) |
JP (1) | JP6595789B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10204898B2 (en) | 2014-08-08 | 2019-02-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
JPWO2016181256A1 (ja) * | 2015-05-12 | 2018-03-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、電子部品および電子機器 |
CN108140657A (zh) | 2015-09-30 | 2018-06-08 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体装置及电子设备 |
US10622059B2 (en) | 2016-03-18 | 2020-04-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Oxide semiconductor based memory device |
US10032492B2 (en) | 2016-03-18 | 2018-07-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, driver IC, computer and electronic device |
TWI724231B (zh) | 2016-09-09 | 2021-04-11 | 日商半導體能源硏究所股份有限公司 | 記憶體裝置及其工作方法、半導體裝置、電子構件以及電子裝置 |
DE112018000380T5 (de) | 2017-01-13 | 2019-09-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Speichervorrichtung, Halbleitervorrichtung, elektronisches Bauelement und elektronisches Gerät |
JP7566508B2 (ja) * | 2020-06-29 | 2024-10-15 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
WO2024038676A1 (ja) * | 2022-08-17 | 2024-02-22 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 記憶装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3526553B2 (ja) * | 2001-01-26 | 2004-05-17 | 松下電器産業株式会社 | Sram装置 |
JP2002353413A (ja) * | 2001-05-28 | 2002-12-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US20080001237A1 (en) * | 2006-06-29 | 2008-01-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Semiconductor device having nitrided high-k gate dielectric and metal gate electrode and methods of forming same |
WO2009063542A1 (ja) * | 2007-11-12 | 2009-05-22 | Fujitsu Microelectronics Limited | 半導体装置 |
KR20100052597A (ko) * | 2008-11-11 | 2010-05-20 | 삼성전자주식회사 | 수직형 반도체 장치 |
KR102712211B1 (ko) * | 2009-12-25 | 2024-10-04 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 메모리 장치, 반도체 장치, 및 전자 장치 |
TWI552345B (zh) * | 2011-01-26 | 2016-10-01 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置及其製造方法 |
US9142320B2 (en) * | 2011-04-08 | 2015-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory element and signal processing circuit |
US8932913B2 (en) * | 2011-04-22 | 2015-01-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
TWI570719B (zh) * | 2011-05-20 | 2017-02-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 儲存裝置及信號處理電路 |
-
2015
- 2015-04-06 US US14/679,139 patent/US20150294991A1/en not_active Abandoned
- 2015-04-07 JP JP2015078144A patent/JP6595789B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2015207760A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2015222807A5 (ja) | ||
JP2015018594A5 (ja) | 記憶装置 | |
JP2015187902A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2015188070A5 (ja) | ||
JP2014158250A5 (ja) | ||
JP2014030185A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2017174489A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2013149969A5 (ja) | ||
JP2013153169A5 (ja) | ||
JP2013009315A5 (ja) | プログラマブルロジックデバイス | |
JP2017059829A5 (ja) | 撮像装置 | |
JP2014241407A5 (ja) | ||
JP2011170340A5 (ja) | 電子機器 | |
JP2014209714A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2011249782A5 (ja) | ||
JP2013009300A5 (ja) | 記憶装置 | |
JP2014057053A5 (ja) | ||
JP2016110688A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2015035803A5 (ja) | ||
JP2011216870A5 (ja) | ||
JP2016192576A5 (ja) | ||
JP2014057298A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2014179975A5 (ja) | マルチプレクサ及び半導体装置 | |
JP2013211089A5 (ja) | 半導体装置 |