JP2015204420A - 板状物の搬送装置および切削装置 - Google Patents

板状物の搬送装置および切削装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2015204420A
JP2015204420A JP2014084002A JP2014084002A JP2015204420A JP 2015204420 A JP2015204420 A JP 2015204420A JP 2014084002 A JP2014084002 A JP 2014084002A JP 2014084002 A JP2014084002 A JP 2014084002A JP 2015204420 A JP2015204420 A JP 2015204420A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
contact
suction holder
holding
support base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014084002A
Other languages
English (en)
Inventor
倫太郎 茶野
Rintaro Chano
倫太郎 茶野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2014084002A priority Critical patent/JP2015204420A/ja
Priority to TW104107610A priority patent/TW201601239A/zh
Priority to CN201510172448.6A priority patent/CN105023867A/zh
Publication of JP2015204420A publication Critical patent/JP2015204420A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67706Mechanical details, e.g. roller, belt
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B27/00Other grinding machines or devices
    • B24B27/06Grinders for cutting-off
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B41/00Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
    • B24B41/005Feeding or manipulating devices specially adapted to grinding machines
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/12Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Abstract

【課題】板状物を効率的に搬送することができる板状物の搬送装置および切削装置を提供すること。【解決手段】板状物の搬送装置1−1は、板状物を保持する保持手段10と、保持手段10を所定の位置からチャックテーブルへと移動させる移動手段20と、を備え、保持手段10は、移動手段20に連結した支持基台部11と、支持基台部11の下面11bに配設され、エアーを噴出することで負圧を生成し板状物の上面に対し非接触で吸引保持する非接触式吸引保持器12と、支持基台部11の下面11bで板状物の外周領域に配設され、非接触式吸引保持器12に保持された板状物の水平移動を規制する規制手段13と、搬送する板状物の反り量を検出する反り量検出手段14と、を備え、板状物の反り量が所定量以下の場合、非接触式吸引保持器12で吸引し搬送する。【選択図】図1

Description

本発明は、板状物の搬送装置および切削装置に関する。
半導体ウェーハは、抗折強度の高いチップを得るために、先ダイシング(いわゆるDBG(Dicing Before Grinding))という加工方法により加工される。先ダイシングでは、板状のウェーハ(板状物)のデバイスが形成された上面(デバイス面)側からハーフカットを施した後、下面(デバイス面とは反対側の面)側を研削してチップに分離する。ハーフカットで用いられる切削装置(ダイサー)は、板状物のデバイス面を非接触式吸引保持器(いわゆるベルヌーイパッド)で保持し、デバイスを傷つけることなく上面(デバイス面)を吸引して板状物を搬送する(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−119784号公報
しかしながら、例えばWL−CSP(Wafer Level Chip Size Package)と呼ばれる、板状物の上面に樹脂が塗布されたデバイスでは、板状物が反っていたり、上面に樹脂が塗布されていない板状物に比べて重量があったりするため、非接触式吸引保持器での安定した吸引が難しい。そこで、反っていたり重量があったりする板状物を搬送する際には、板状物の上面に接触して吸引保持する接触式吸引保持器(いわゆるバキュームパッド)を用いる(板状物の上面に樹脂が塗布されているため、バキュームパッドが接触してもデバイスを傷つけない)。よって、上面に樹脂が塗布されていない板状物、上面に樹脂が塗布されている板状物の二種類の板状物を切削装置で加工する場合、それぞれに対応した非接触式吸引保持器と接触式吸引保持器とを設置する必要があり、加工対象の板状物に応じて各パッドを段取替え(すなわち交換)するには多くの時間がかかるため、効率的ではなかった。また、反り量が所定量以上の板状物(非接触式吸引保持器での安定した吸引が難しい板状物)に対して非接触式吸引保持器により搬送を試行することは、時間がかかり効率的ではなかった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、板状物を効率的に搬送することができる板状物の搬送装置および切削装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、板状物を保持する保持手段と、保持手段を所定の位置からチャックテーブルへと移動させる移動手段と、を備える板状物の搬送装置において、保持手段は、移動手段に連結した支持基台部と、支持基台部の下面に配設され、エアーを噴出することで負圧を生成し板状物の上面に対し非接触で吸引保持する非接触式吸引保持器と、支持基台部の下面で板状物の外周領域に配設され、非接触式吸引保持器に保持された板状物の水平移動を規制する規制手段と、搬送する板状物の反り量を検出する反り量検出手段と、を備え、板状物の反り量が所定量以下の場合、非接触式吸引保持器で吸引し搬送することを特徴とする。
また、上記搬送装置において、保持手段は、支持基台部の下面に配設された、板状物の上面に接触して吸引保持する接触式吸引保持器と、接触式吸引保持器と非接触式吸引保持器のうち、一方を板状物に近接した作用位置に、他方を板状物から離間した非作用位置に位置付ける選択手段と、をさらに備えることが好ましい。
また、本発明は、板状物を保持するチャックテーブルと、チャックテーブルに保持された板状物を切削ブレードで切削する切削手段と、を備える切削装置であって、複数の板状物を収容するカセットを載置するカセット載置台と、切削された板状物を洗浄テーブルで保持して洗浄する洗浄手段と、カセット載置台に載置されたカセットから板状物を搬出入する保持ハンドと、保持ハンドとチャックテーブルと洗浄テーブルとの間で板状物を搬送する搬送手段と、をさらに備え、搬送手段は、上記板状物の搬送装置であることを特徴とする。
本発明によれば、反り量検出手段により検出される板状物の反り量が所定量以下の場合、非接触式吸引保持器により板状物を吸引して搬送するので、反り量が所定量を超える板状物に対して非接触式吸引保持器により搬送を試行することなく稼働することができる。したがって、本発明によれば、板状物を効率的に搬送することができるという効果を奏する。
図1は、実施形態1に係る搬送装置の構成例を示す図である。 図2は、実施形態1に係る搬送装置の反り量検出手段により板状物の反り量を検出している状態を示す断面図である。 図3は、実施形態1に係る搬送装置の非接触式吸引保持器により板状物を吸引保持している状態を示す断面図である。 図4は、実施形態1に係る搬送装置の動作の一例を示すフロー図である。 図5は、実施形態2に係る搬送装置の構成例を示す図である。 図6は、実施形態2に係る搬送装置の反り量検出手段により板状物の反り量を検出している状態を示す断面図である。 図7は、実施形態2に係る搬送装置の接触式吸引保持器により板状物を吸引保持している状態を示す断面図である。 図8は、実施形態2に係る搬送装置の動作の一例を示すフロー図である。 図9は、実施形態3に係る切削装置の構成例を示す図である。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換または変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
図1は、実施形態1に係る搬送装置の構成例を示す図である。図2は、実施形態1に係る搬送装置の反り量検出手段により板状物の反り量を検出している状態を示す断面図である。図3は、実施形態1に係る搬送装置の非接触式吸引保持器により板状物を吸引保持している状態を示す断面図である。
図1に示す板状物の搬送装置1−1(以下、単に「搬送装置1−1」と称す)は、板状物Wに対して非接触で吸引保持し、板状物Wを搬送するものである。搬送装置1−1は、図1に示すように、保持手段10と、移動手段20と、制御手段30と、を含んで構成されている。
ここで、板状物Wは、図3に示すように、後述する非接触式吸引保持器12と非接触で、非接触式吸引保持器12により吸引保持される搬送対象物である。板状物Wは、特に限定されないが、例えば、半導体素子を構成する端子や配線などが上面Waに形成され、これら端子や配線などを封止する封止樹脂が上面Waに塗布された、いわゆるWL−CSP(Wafer Level Chip Size Package)、半導体デバイスや光デバイスが上面Waに形成された半導体ウェーハや光デバイスウェーハ、無機材料基板、延性樹脂材料基板、液晶ディスプレイドライバ等の各種電子部品等、各種加工材料である。また、板状物Wは、搬送装置1−1により搬送可能な板状に形成されており、本実施形態では円形状の平坦な平板状、すなわち円板状に形成されている。なお、一般にWL−CSPは、上面Waに塗布された封止樹脂により、中心から外周に向かうにつれて、徐々に鉛直方向の上方に向けて反り上がって湾曲している。つまり、WL−CSPは、中央が鉛直方向の下方に凸状に湾曲しており、中心から外周に向かうにつれて反り量が大きくなる。
保持手段10は、板状物Wを保持するものである。保持手段10は、図1および図2に示すように、支持基台部11と、非接触式吸引保持器12と、規制手段13と、反り量検出手段14と、を備えている。
支持基台部11は、移動手段20により移動させられるものである。支持基台部11は、移動手段20に連結されている。支持基台部11は、水平面に対して平行な円板状に形成されている。支持基台部11の鉛直方向の上面11aには、移動手段20の後述するアーム部21が配設されている。支持基台部11の鉛直方向の下面11bには、非接触式吸引保持器12と、規制手段13と、反り量検出手段14と、が配設されている。支持基台部11には、図2に示すように、反り量検出手段14に対応する位置に取付穴11cが形成され、非接触式吸引保持器12に対応する位置に取付穴11dおよび挿通穴11eが形成され、規制手段13に対応する位置に装着穴11fが形成されている。
取付穴11cは、反り量検出手段14が挿通され、取り付けられる貫通穴である。取付穴11cは、鉛直方向に対して平行に貫通して形成されており、反り量検出手段14が挿通可能な大きさに形成されている。取付穴11cは、支持基台部11に対して、挿通穴11eより内周側に形成されている。取付穴11cは、支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ形成されている。取付穴11dは、非接触式吸引保持器12を固定するためのねじ部材等の固定手段Sが挿通される貫通穴である。取付穴11dは、鉛直方向に対して平行に貫通して形成されており、固定手段Sの軸部Saが挿通可能で、かつ固定手段Sの頭部Sbが挿通できない大きさに形成されている。取付穴11dは、挿通穴11eを中心とする同心円上の周方向に等間隔をおいて三つ形成されている。つまり、取付穴11dは、挿通穴11eの周囲に形成されている。挿通穴11eは、後述するエアー供給配管43が挿通される貫通穴である。挿通穴11eは、鉛直方向に対して平行に貫通して形成されており、エアー供給配管43が挿通可能な大きさに形成されている。挿通穴11eは、支持基台部11に対して、取付穴11cより外周側に形成されている。挿通穴11eは、支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ形成されている。また、挿通穴11eは、取付穴11cの配置とは異なる位相で配置されている。装着穴11fは、規制手段13の後述する支持軸部13cが挿通される貫通穴である。装着穴11fは、鉛直方向に対して平行に貫通して形成されており、支持軸部13cが挿通可能で、かつ規制手段13の後述する鍔部13bが挿通できない大きさに形成されている。装着穴11fは、支持基台部11に対して、挿通穴11eより外周側に形成されている。装着穴11fは、支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ形成されている。また、装着穴11fは、挿通穴11eの配置とは異なる位相で配置されている。
非接触式吸引保持器12は、エアーを噴出することで負圧を生成し、板状物Wの上面Waに対し非接触で、板状物Wを吸引保持するものである。非接触式吸引保持器12は、ベルヌーイの原理によって板状物Wを吸引保持する、いわゆるベルヌーイチャックである。非接触式吸引保持器12は、図2に示すように、支持基台部11の下面11bに対して、固定手段Sにより固定されている。つまり、非接触式吸引保持器12は、支持基台部11の下面11bに配設されている。非接触式吸引保持器12は、支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ配置されている。非接触式吸引保持器12は、水平方向の幅より鉛直方向の高さが小さい扁平な円柱状に形成されている。非接触式吸引保持器12の鉛直方向の下端面(下面11bとは反対側の面)は、反り量検出手段14の鉛直方向の下端部14aより下方に位置する。また、非接触式吸引保持器12は、取付穴12aと、エアー流入部12bと、エアー流路12cと、エアー噴出口12dと、案内部12eと、弾性部12fと、を一体に有している。
取付穴12aは、固定手段Sの軸部Saと螺合するねじ穴である。取付穴12aは、支持基台部11の下面11bと対向する面(鉛直方向の上端面)に形成されている。エアー流入部12bは、エアー供給配管43のエアー通路部33aと連通し、図1に示すエアー供給源40から供給されるエアーが流入する。エアー流入部12bは、支持基台部11の下面11bと対向する面(鉛直方向の上端面)に形成されている。エアー流入部12bは、鉛直方向の上端面の中央部に設けられている。エアー流路12cは、エアー流入部12bとエアー噴出口12dとを連通させている。エアー噴出口12dは、エアー流入部12bから流入するエアーを板状物Wの上面Waに向けて噴射する噴射口である。エアー噴出口12dは、板状物Wの上面Waと対向する面(鉛直方向の下端面)に形成されている。エアー噴出口12dは、鉛直方向視で円形状に形成されており、エアー流路12cから鉛直方向の下端面に向かうにつれて、すなわち鉛直方向の上方から下方に向かうにつれて、徐々に拡径して形成されている。エアー噴出口12dは、鉛直方向の下端面の中央部に設けられている。エアー噴出口12dは、非接触式吸引保持器12により板状物Wが吸引保持されると、図3に示すように、鉛直方向の下端面と上面Waとの間で、鉛直方向の下端面に沿って放射状にエアーを外部に噴出する(同図に示す矢印d)。案内部12eは、図2に示すように、エアー流路12cに流入するエアーをエアー噴出口12dから放射状に外部に噴出するように案内するものである。案内部12eの鉛直方向の下端面は、支持基台部11の下面11bに対して平行で平坦に形成されており、鉛直方向視において、エアー噴出口12dより小さい円板状に形成されている。案内部12eの鉛直方向の下端面は、非接触式吸引保持器12の鉛直方向の下端面より上方に位置している。弾性部12fは、非接触式吸引保持器12の鉛直方向の下端面を構成している。弾性部12fは、例えば、非接触式吸引保持器12により板状物Wが吸引保持された瞬間に、板状物Wが非接触式吸引保持器12に接触しても、板状物Wの破損および上面Waに形成されたデバイスの破損等を抑制することができる弾性を有している。
規制手段13は、非接触式吸引保持器12に保持された板状物Wの水平移動を規制するものである。規制手段13は、図2に示すように、支持基台部11の下面11bに対して、鉛直方向視で板状物Wの外周領域と重なる位置に配設されている。つまり、規制手段13は、支持基台部11の下面11bで板状物Wの外周領域に配設されている。規制手段13は、支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ配置されている。ここで、外周領域とは、板状物Wの上面Waの少なくとも外周を含む領域であり、好ましくは外周より径方向の内側の一部(例えばデバイスが形成されていない部分)も含む領域である。また、規制手段13は、ブロック部13aと、鍔部13bと、支持軸部13cと、を備えている。
ブロック部13aは、図3に示すように、非接触式吸引保持器12により吸引保持される板状物Wの上面Waと対向し、板状物Wのエッジ(外周の縁)に接触する、いわゆるフリクションパッドである。ブロック部13aの鉛直方向の下端面は、板状物Wの上面Waと対向する対向面13dである。対向面13dは、支持基台部11の径方向の外側から内側に向かうにつれて、徐々に支持基台部11の下面11bとの間隔が狭くなる傾斜面である。対向面13dは、非接触式吸引保持器12により板状物Wが吸引保持された際に、例えば、板状物Wが径方向に移動することを規制し、かつ板状物Wが周方向に移動することを規制することができる程度の摩擦係数を有している。鍔部13bは、図2および図3に示すように、鉛直方向視において、支持基台部11の装着穴11fの穴径より大きい。鍔部13bは、支持軸部13cと一体に形成されている。鍔部13bは、支持基台部11に対して、装着穴11fから支持軸部13cが抜け落ちないように、支持軸部13cを支持する。支持軸部13cは、鍔部13bから鉛直方向の下方に延在され、装着穴11fの穴径より小さい円柱状に形成されている。支持軸部13cは、装着穴11fに対して、鉛直方向に上下移動自在に挿通されている。支持軸部13cの鉛直方向の下端部には、ブロック部13aが挿入固定されている。つまり、規制手段13は、支持基台部11に対して上下動可能に支持されている。
反り量検出手段14は、搬送する板状物Wの反り量を検出するものである。反り量検出手段14は、図2に示すように、取付穴11cに挿通され、支持基台部11の下面11bに対して固定されている。反り量検出手段14は、支持基台部11の径方向において非接触式吸引保持器12より内側に配置されており、支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ配置されている。反り量検出手段14は、支持基台部11の周方向において、非接触式吸引保持器12に対して等間隔をおいて配置されている。反り量検出手段14の鉛直方向の下端部14aは、非接触式吸引保持器12の鉛直方向の下端面(つまり弾性部12fの下端部)より上方に位置している。反り量検出手段14は、例えば、鉛直方向の下端部14aから板状物Wの上面Waに向けて、図示しないレーザ光源やSLD(Super Luminescent Diode)光源等の光源からの光線Lを照射することで、下端部14aと上面Waとの鉛直方向における間隔Dを測定する。反り量検出手段14は、制御手段30と電気的に接続されており、測定した間隔Dに対応する信号(測定信号)を制御手段30へ出力する。本実施形態では、反り量検出手段14は、搬送対象となる板状物Wが所定の位置で載置される図示しない載置台の鉛直方向の上面と下端部14aとの間隔(基準間隔)が所定の間隔となった状態で、載置台の鉛直方向の上面に載置された板状物Wの上面Waと下端部14aとの間隔D(測定間隔)を検出する。
ここで、反り量とは、例えば載置台等の鉛直方向の上面(水平面に対して平行な平面)に板状物Wを載置した際に、板状物Wの中心から外周に向けて、板状物Wが鉛直方向の上方に向かって反り上がる量である。所定量を超える反り量とは、非接触式吸引保持器12により非接触で板状物Wを吸引保持することを許容できない反り量である。なお、反り量の所定量とは、非接触式吸引保持器12により非接触で板状物Wを吸引保持することを許容できる反り量の最大値である。基準間隔とは、板状物Wの反り量を検出するための基準となる間隔であり、所定量以上の反り量を有する板状物Wが載置台の鉛直方向の上面に載置されても、反り量検出手段14により板状物Wの上面Waと下端部14aとの間隔Dを検出することができる間隔であり、予め定められた所定の間隔でもある。
移動手段20は、図1に示すように、保持手段10を鉛直方向に対して平行に昇降させ、保持手段10を水平面内で旋回させることにより、保持手段10を所定の位置からチャックテーブルへと移動させるものである。ここで、移動手段20は、板状物Wに対して施される加工処理において、前工程(例えば、板状物Wの取出工程、反り量検出工程、切削工程、研削工程、研磨工程、位置合わせ工程など)が終了した板状物Wを、前工程の領域から後工程(例えば、洗浄工程、乾燥工程、板状物の収容工程など)を行う領域まで移動させるものであってもよい。つまり、移動手段20は、保持手段10により板状物Wを吸引保持するための位置(搬入位置)から、板状物Wを目的とする位置(搬出位置)まで移動させるものである。本実施形態では、移動手段20は、板状物Wの反り量を検出する反り量検出工程が終了し、反り量が所定量以下の板状物Wを、載置台(搬入位置)から搬出位置まで移動させる。また、移動手段20は、アーム部21と、昇降部22と、旋回部23と、を含んで構成されている。
アーム部21は、昇降部22の鉛直方向の上端部側から水平方向に延在されている。アーム部21の一端には、支持基台部11の上面11aに取り付けられる連結部21aが一体的に設けられている。アーム部21は、支持基台部11を支持しており、昇降部22に支持されている。連結部21aは、支持基台部11の上面11aに取り付けられ、固定されている。連結部21aは、支持基台部11の中央に配置されている。昇降部22は、鉛直方向に沿って昇降(同図に示す矢印a)することができる、例えばエアーピストン等である。昇降部22の鉛直方向の上端部側には、アーム部21が設けられている。昇降部22は、鉛直方向に沿って昇降することで、保持手段10を昇降させる。昇降部22は、その昇降動作が制御手段30により制御される。昇降部22は、板状物Wの反り量を検出する際、載置台の鉛直方向の上面と反り量検出手段14の下端部14aとの間隔が所定の間隔(つまり基準間隔)となる位置に、保持手段10を位置付ける。旋回部23は、モータ等の回転駆動源などを含み、昇降部22を水平面内で回転(同図に示す矢印b)させることで、保持手段10を旋回部23周りに旋回させる。旋回部23は、その旋回動作が制御手段30により制御される。
制御手段30は、搬送装置1−1の全体の動作を制御するものである。制御手段30は、機能概念的に、反り量検出部31と、反り量判定部32と、を含んで構成されている。制御手段30は、反り量判定部32により板状物Wの反り量が所定量以下であると判定されると、エアー供給路41のエアー制御弁42を開放し、エアー供給源40からのエアーをエアー供給配管43へ供給し、エアーを非接触式吸引保持器12のエアー噴出口12dから噴射させる。また、制御手段30は、反り量判定部32により板状物Wの反り量が所定量以下でない、つまり板状物Wの反り量が所定量を超えると判定されると、板状物Wに対する搬送を中止する。
反り量検出部31は、板状物Wの反り量を検出するものである。反り量検出部31は、反り量検出手段14から出力された測定信号に基づいて、板状物Wの上面Waと反り量検出手段14の下端部14aとの間隔D(測定間隔)を算出する。反り量検出部31は、載置台の鉛直方向の上面と反り量検出手段14の下端部14aとの間隔(基準間隔)から、載置台の上面に載置された板状物Wの上面Waと下端部14aとの間隔D(測定間隔)、および予め計測または入力された板状物Wの厚さ(上面Waに対して直交する方向での厚さ)を減ずることで、板状物Wの反り量を検出する。
反り量判定部32は、板状物Wの反り量が所定量以下であるか否かを判定するものである。反り量判定部32は、予め入力された板状物Wの反り量の所定量(所定反り量)と、反り量検出部31により検出された板状物Wの反り量(検出反り量)とを比較することで、板状物Wの反り量が所定量以下であるか否かを判定する。反り量判定部32は、検出反り量が所定反り量以下になると、板状物Wの反り量が所定量以下であると判定する。なお、板状物Wの反り量の所定量は、例えば、搬送装置1−1や実機を用いた試験により求められた反り量であってもよいし、作業員により入力された反り量であってもよい。
ここで、エアー供給源40は、エアー(空気)を非接触式吸引保持器12へ供給するものである。エアー供給源40は、図1に示すように、エアーを供給するエアー供給路41と、エアーの供給量を制御するエアー制御弁42と、非接触式吸引保持器12に接続されるエアー供給配管43と、を含んで構成されている。エアー制御弁42は、その開閉動作が制御手段30により制御される。エアー供給配管43は、移動手段20により保持手段10の位置が変化する際に、その位置の変化に追従することができる、例えばフレキシブルチューブ等の柔軟な配管である。エアー供給配管43は、図2に示すように、先端の外周に形成された雄ねじと、エアー流入部12bに形成された雌ねじとが螺合することで、エアー通路部43aとエアー流入部12bとを連通する。
次に、以上のように構成された搬送装置1−1の動作について説明する。図4は、実施形態1に係る搬送装置の動作の一例を示すフロー図である。なお、本実施形態では、予め、反り量検出手段14により、前工程における載置台の鉛直方向の上面と反り量検出手段14の下端部14aとの基準間隔が検出されている。また、本実施形態では、予め、板状物Wの厚さが計測、または作業員により板状物Wの厚さが入力されている。
制御手段30は、旋回部23により保持手段10を旋回させ、前工程の所定の位置(搬入位置)、例えば、前工程における板状物Wが載置された載置台の上方まで、保持手段10を移動させる。ここで、搬送装置1−1では、鉛直方向において、載置台の上面と反り量検出手段14の下端部14aとの間隔が基準間隔(つまり所定の間隔)となる位置に、保持手段10が位置付けられる。また、搬送装置1−1では、板状物Wの上面Waと支持基台部11の下面11bとが対向され、鉛直方向において、保持手段10と板状物Wとが重なる。
次に、制御手段30は、反り量検出手段14により、板状物Wの反り量を検出する(ステップS1)。ここで、搬送装置1−1では、反り量検出手段14が支持基台部11の周方向に等間隔をおいて三つ配置されており、三つの反り量検出手段14のそれぞれから測定信号が制御手段30へ出力される。また、制御手段30では、反り量検出手段14から出力された三つの測定信号に基づいて、反り量検出部31により、板状物Wの上面Waと反り量検出手段14の下端部14aとの間隔Dが三つ算出される。また、制御手段30では、反り量検出部31により、予め検出された基準間隔から、算出された三つの間隔Dと、計測または入力された板状物の厚さと、を減ずることで、板状物Wの三つの反り量(検出反り量)が検出される。
次に、制御手段30は、反り量が所定量以下であるか否かを判定する(ステップS2)。ここで、制御手段30では、反り量判定部32により、三つの検出反り量のうちの最大の反り量と、所定反り量とを比較する。
次に、制御手段30は、板状物Wの反り量が所定量以下であると判定する(ステップS2:Yes)と、非接触式吸引保持器12で板状物Wを保持する(ステップS3)。ここで、搬送装置1−1では、昇降部22により保持手段10が下降され、保持手段10が板状物Wの上面Waに接近し、規制手段13が板状物Wに接触することで、板状物Wの水平方向の移動が規制される。
また、搬送装置1−1では、昇降部22により保持手段10がさらに下降され、規制手段13が板状物Wの外周に接触した状態で、非接触式吸引保持器12が板状物Wの上面Waへ接近される。また、搬送装置1−1では、エアー噴出口12dから放射状にエアーが外部に噴射(図3に示す矢印d)され、案内部12eの鉛直方向の下端面の下方に負圧が発生(図3に示す矢印e)する。また、搬送装置1−1では、発生した負圧により、板状物Wが非接触式吸引保持器12へ引き寄せられる。また、搬送装置1−1では、板状物Wが負圧により非接触式吸引保持器12へ引き寄せられすぎると、非接触式吸引保持器12の下端面と板状物Wの上面Waとの間に流れるエアーにより形成されるエアー層が反発力として作用し、非接触式吸引保持器12と上面Waとの接触が阻止される。このため、搬送装置1−1では、非接触式吸引保持器12により板状物Wが非接触で吸引保持される。
次に、制御手段30は、板状物Wをチャックテーブルまで移動させる。ここで、搬送装置1−1では、昇降部22により保持手段10が上昇されることで板状物Wが上昇され、旋回部23により保持手段10が旋回されることで後工程の搬出位置、例えば、後工程において板状物Wを保持するチャックテーブルの上方まで移動される。また、搬送装置1−1では、チャックテーブルに対して板状物Wが対向配置される。
次に、制御手段30は、板状物Wをチャックテーブルに載置する。ここで、搬送装置1−1では、板状物Wがチャックテーブルに接触するまで昇降部22により保持手段10が下降された後、制御手段30によりエアー制御弁42が閉止される。また、搬送装置1−1では、エアー供給源40から非接触式吸引保持器12へのエアーの供給が遮断され、案内部12eの下方の負圧が消滅し、非接触式吸引保持器12による板状物Wの吸引保持が解除され、板状物Wがチャックテーブルに載置される。
また、制御手段30は、板状物Wの反り量が所定量以下でないと判定する(ステップS2:No)と、搬送を中止する(ステップS4)。なお、搬送装置1−1による搬送が中止された板状物Wは、搬送予定の板状物Wと区別しやすいように、図示しない搬出入手段によりカセットの下段側に戻されたり、他のカセットに収容されたりする。
以上のように、実施形態1に係る板状物の搬送装置1−1によれば、反り量検出部31により板状物Wの上面Waと反り量検出手段14の下端部14aとの間隔D(つまり板状物の反り量)を検出し、反り量判定部32により間隔Dが所定量以下と判定された場合、つまり板状物の反り量が所定量以下である場合、非接触式吸引保持器12により板状物Wを非接触で吸引保持して搬送する。このため、実施形態1に係る板状物の搬送装置1−1によれば、反り量が所定量を超える板状物Wに対して、非接触式吸引保持器12による吸引保持を試行することなく、板状物の搬送装置1−1を稼働することができる。つまり、実施形態1に係る板状物の搬送装置1−1によれば、非接触式吸引保持器12での吸引保持が望ましくない板状物W(反り量が所定量を超える板状物W)に対して搬送を試行する時間が省略される。したがって、実施形態1に係る板状物の搬送装置1−1によれば、板状物Wを効率的に搬送することができるという効果を奏する。
〔実施形態2〕
次に、実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2について、図面を参照して説明する。図5は、実施形態2に係る搬送装置の構成例を示す図である。図6は、実施形態2に係る搬送装置の反り量検出手段により板状物の反り量を検出している状態を示す断面図である。図7は、実施形態2に係る搬送装置の接触式吸引保持器により板状物を吸引保持している状態を示す断面図である。
実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2は、板状物Wの反り量に応じて、選択手段16により非接触式吸引保持器12と接触式吸引保持器15とを切り替える点で、上記の実施形態1に係る板状物の搬送装置1−1とは異なっている。なお、上記の実施形態1と共通する構成、作用、効果については、重複した記載はできるだけ省略する(以下で説明する他の実施形態でも同様である)。
図5に示す板状物の搬送装置1−2(以下、単に「搬送装置1−2」と称す)は、板状物Wの反り量が所定量以下の場合には、板状物Wに対して非接触で吸引保持し、板状物Wの反り量が所定量を超える場合には、板状物Wに対して接触して吸引保持し、板状物Wを搬送するものである。搬送装置1−2は、図5に示すように、保持手段10と、移動手段20と、制御手段30と、を含んで構成されている。
保持手段10は、図5および図6に示すように、支持基台部11と、非接触式吸引保持器12と、規制手段13と、反り量検出手段14と、を備えており、接触式吸引保持器15と、選択手段16と、をさらに備えている。
接触式吸引保持器15は、板状物Wの上面Waに接触して、板状物Wを吸引保持するものである。接触式吸引保持器15は、図6および図7に示すように、支持基台部11の下面11bに対して、選択手段16により鉛直方向に対して平行に上下動可能に支持されている。つまり、接触式吸引保持器15は、支持基台部11の下面11bに配設されている。接触式吸引保持器15は、支持基台部11の周方向において、等間隔をおいて三つ配置されており、反り量検出手段14に対して等間隔をおいて配置されている。また、接触式吸引保持器15は、支持基台部11に対して、反り量検出手段14より中央側に配置されている。つまり、接触式吸引保持器15は、支持基台部11に対して、非接触式吸引保持器12より中央側に配置されている。接触式吸引保持器15は、吸着パッド15aと、連結部15bと、を一体に有している。
吸着パッド15aは、鉛直方向の上方から下方に向けて徐々に拡径される円錐台形状に形成されており、いわゆる吸盤状に形成されている。連結部15bは、選択手段16の後述する軸部16dの鉛直方向の下端部に対して、着脱可能に取り付けられている。連結部15bは、軸部16dの後述するエアー通路部16fと連通し、吸着パッド15aとも連通しており、エアー通路部16fと吸着パッド15aとを連通させる。連結部15bは、鉛直方向視において、軸部16dの外径、すなわち支持基台部11の挿通穴11gの穴径より大きい。つまり、連結部15bは、支持基台部11の挿通穴11gに対して挿通することができない大きさに形成されている。
選択手段16は、支持基台部11に対して、接触式吸引保持器15を鉛直方向に対して平行に上下動可能(つまり昇降可能)に支持している。選択手段16は、板状物Wの反り量が所定量以下の場合には、図6に示すように、接触式吸引保持器15を非接触式吸引保持器12より鉛直方向の上方に位置付けることで、非接触式吸引保持器12を板状物Wの上面Waに近接した作用位置に位置付け、接触式吸引保持器15を板状物Wの上面Waから離間した非作用位置に位置付ける。一方、選択手段16は、板状物Wの反り量が所定量を超える場合には、図7に示すように、接触式吸引保持器15を非接触式吸引保持器12より鉛直方向の下方に位置付けることで、接触式吸引保持器15を板状物Wの上面Waに近接した作用位置に位置付け、非接触式吸引保持器12を板状物Wの上面Waから離間した非作用位置に位置付ける。つまり、選択手段16は、非接触式吸引保持器12と接触式吸引保持器15のうち、一方を板状物Wに近接した作用位置に、他方を板状物Wから離間した非作用位置に位置付ける。選択手段16は、昇降部16aと、支持部16bと、を含んで構成されている。
昇降部16aは、支持基台部11に対して、鉛直方向に対して平行に上下動可能に支持されるものである。昇降部16aは、規制部16cと、規制部16cから鉛直方向の下方に延在され、外周に雄ねじが形成された軸部16dと、規制部16cから鉛直方向の上方に延在され、図5に示す後述するエアー吸引配管53に接続される接続部16eと、を一体に有している。また、昇降部16aは、図5に示すエアー吸引路51と連通するエアー通路部16fを有する円筒状に形成されている。規制部16cは、鉛直方向視において、支持基台部11の挿通穴11gの穴径より大きく、支持部16bより小さい六角形状に形成されている。軸部16dは、鉛直方向に対して平行に上下動可能に、支持部16bの後述する挿通穴16g、および支持基台部11の挿通穴11gに挿通されている。軸部16dの鉛直方向の下端部には、連結部15bを介して吸着パッド15aが連結されている。
支持部16bは、鉛直方向に平行に貫通する挿通穴16gを有する円環状に形成されている。支持部16bは、鉛直方向視において、支持基台部11の挿通穴11gの穴径より大きく、規制部16cより大きい。支持部16bは、挿通穴16gと支持基台部11の挿通穴11gとが連通する位置で、支持基台部11の上面11aに固定されている。
ここで、選択手段16は、例えば電磁石等を駆動力とし、鉛直方向に沿って伸縮可能な図示しないアクチュエータにより、規制部16cと支持部16bとが当接するまで、軸部16dを鉛直方向の下方に向けて移動させ、吸着パッド15aを下降させる。選択手段16は、その伸縮動作が制御手段30により制御される。選択手段16は、アクチュエータにより規制部16cと支持部16bとを当接させることで、図7に示すように、昇降部16aが下降することを規制し、吸着パッド15aを作用位置に位置付ける(つまり接触式吸引保持器15を作用位置に位置付ける)。また、選択手段16は、アクチュエータにより、接触式吸引保持器15の連結部15bと支持基台部11の下面11bとが当接するまで、軸部16dを鉛直方向の上方に向けて移動させ、吸着パッド15aを上昇させる。選択手段16は、アクチュエータにより接触式吸引保持器15の連結部15bと支持基台部11の下面11bとを当接させることで、図6に示すように、昇降部16aが上昇することを規制し、吸着パッド15aを非作用位置に位置付ける(つまり接触式吸引保持器15を非作用位置に位置付ける)。つまり、選択手段16は、接触式吸引保持器15を作用位置に位置付けることにより非接触式吸引保持器12を非作用位置に位置付け、接触式吸引保持器15を非作用位置に位置付けることにより非接触式吸引保持器12を作用位置に位置付ける。
制御手段30は、搬送装置1−2の全体の動作を制御するものである。制御手段30は、機能概念的に、反り量検出部31と、反り量判定部32と、を含んで構成されており、切替部33をさらに含んで構成されている。制御手段30は、反り量判定部32により板状物Wの反り量が所定量以下であると判定されると、エアー供給源40のエアー制御弁47を閉止し、エアー制御弁42を開放し、エアー供給源40のエアーを非接触式吸引保持器12のエアー噴出口12dから噴射させる。また、制御手段30は、反り量判定部32により板状物Wの反り量が所定量以下でない、つまり板状物Wの反り量が所定量を超えると判定されると、エアー供給源40のエアー制御弁42を閉止し、エアー制御弁47を開放し、真空吸引源50の負圧を吸着パッド15aに作用させる。
切替部33は、接触式吸引保持器15の位置を、作用位置と非作用位置とに切り替えるものである。切替部33は、反り量判定部32により判定された板状物Wの反り量が所定量以下の場合、選択手段16により接触式吸引保持器15の位置を非作用位置(図6に示す位置)に切り替え、反り量判定部32により判定された板状物Wの反り量が所定量を超える場合、選択手段16により接触式吸引保持器15の位置を作用位置(図7に示す位置)に切り替える。つまり、切替部33は、選択手段16の伸縮動作を制御する。なお、本実施形態では、板状物Wの反り量が所定量を超えるとは、非接触式吸引保持器12により非接触で板状物Wを吸引保持することを許容できない反り量となり、かつ接触式吸引保持器15により板状物Wを接触して吸引保持することを許容できる反り量となることである。
ここで、エアー供給源40は、図5に示すように、エアー供給路41と、エアー制御弁42と、エアー供給配管43と、を含んで構成されており、エアーを真空吸引源50へ供給するエアー供給路44と、エアーをエアー供給路41、44に分配するエアー分配器45と、エアー分配器45へのエアーの供給量を制御するエアー制御弁46と、真空吸引源50へのエアーの供給量を制御するエアー制御弁47と、をさらに含んで構成されている。各エアー制御弁42、46、47は、その開閉動作が制御手段30により制御される。
真空吸引源50は、エアー供給路44から供給されるエアーによって負圧を生成する、いわゆるエジェクタである。真空吸引源50は、エアー吸引路51と、エアーの逆流を防止する逆止弁52と、接触式吸引保持器15に接続されるエアー吸引配管53と、を備えている。エアー吸引配管53は、エアー供給配管43と同様に、柔軟な配管である。エアー吸引配管53は、接続部16eが挿入され、接続部16eが挿入された部分のエアー吸引配管53の外周に結束バンド等が緊縛されることで、エアー吸引路51とエアー通路部16fとが連通する。つまり、エアー吸引配管53は、接続部16eを介して、吸着パッド15aと連通する。
次に、以上のように構成された搬送装置1−2の動作について説明する。図8は、実施形態2に係る搬送装置の動作の一例を示すフロー図である。ここで、本実施形態では、反り量が所定量を超える板状物Wは、例えばWL−CSP等、接触式吸引保持器15による吸引保持が可能な板状物である。
制御手段30は、旋回部23により保持手段10を旋回させ、例えば、前工程における板状物Wが載置された載置台の上方まで、保持手段10を移動させる。ここで、搬送装置1−2では、鉛直方向において、載置台の上面と反り量検出手段14の下端部14aとの間隔が基準間隔(つまり所定の間隔)となる位置に、保持手段10が位置付けられる。
次に、制御手段30は、反り量検出手段14により板状物Wの反り量を検出する(ステップS11)。次に、制御手段30は、反り量が所定量以下であるか否かを判定する(ステップS12)。次に、制御手段30は、板状物Wの反り量が所定量以下であると判定する(ステップS12:Yes)と、図6に示すように、接触式吸引保持器15を非作用位置に位置付ける(ステップS13)。次に、制御手段30は、非接触式吸引保持器12で板状物Wを保持する(ステップS14)。次に、制御手段30は、板状物Wをチャックテーブルまで移動させた後、板状物Wをチャックテーブルに載置する。
また、制御手段30は、板状物Wの反り量が所定量以下でないと判定する(ステップS12:No)と、図7に示すように、接触式吸引保持器15を作用位置に位置付ける(ステップS15)。次に、制御手段30は、接触式吸引保持器15で板状物Wを保持する(ステップS16)。ここで、搬送装置1−2では、支持基台部11に対して接触式吸引保持器15が非接触式吸引保持器12より内側に設置されているため、板状物Wの反り量が外周側と比較して小さくなる内周側が吸着パッド15aで吸引保持される。
次に、制御手段30は、板状物Wをチャックテーブルまで移動させた後、板状物Wをチャックテーブルに載置する。ここで、搬送装置1−2では、板状物Wがチャックテーブルに接触するまで昇降部22により保持手段10が下降された後、制御手段30によりエアー制御弁47が閉止される。また、搬送装置1−2では、エアー供給源40から真空吸引源50へのエアーの供給が遮断され、接触式吸引保持器15に作用する負圧が消滅し、接触式吸引保持器15による板状物Wの吸引保持が解除され、板状物Wがチャックテーブルに載置される。
以上のように、実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2によれば、平坦な板状物(反り量が所定量以下の板状物(例えば一般的な半導体ウェーハ等))や湾曲した板状物(反り量が所定量を超える板状物(例えばWL−CSP等))をカセットごとに交互に搬送させたり、同一カセット内で混在させたりしても、板状物Wの反り量に応じて、選択手段16が接触式吸引保持器15の位置を作用位置と非作用位置とに切り替えるので、板状物Wを滞りなく搬送することができる。したがって、実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2によれば、板状物Wの効率的な搬送が可能であり、幅広い種類の板状物Wに対応することができる。
また、実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2によれば、選択手段16により、非接触式吸引保持器12による吸引保持と、接触式吸引保持器15による吸引保持とを切り替えることができる。つまり、実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2によれば、非接触式吸引保持器12と接触式吸引保持器15とを交換するための作業(交換作業)を行わずに、非接触式吸引保持器12と接触式吸引保持器15とを切り替えることができる。したがって、実施形態2に係る板状物の搬送装置1−2によれば、非接触式吸引保持器12と接触式吸引保持器15とを段取替え(すなわち切り替え)する際の効率を向上させることができる。
〔実施形態3〕
次に、実施形態3に係る切削装置100について、図面を参照して説明する。図9は、実施形態3に係る切削装置の構成例を示す図である。
切削装置100は、板状物Wに対して切削加工を施す装置である。切削装置100は、図9に示すように、カセット載置台110と、チャックテーブル120と、切削手段130と、洗浄手段140と、保持ハンド150と、第一搬送手段160と、第二搬送手段170と、を含んで構成されている。
カセット載置台110は、複数の板状物を収容するカセット111を載置するものである。カセット載置台110は、装置本体101に対して、カセット111を鉛直方向に昇降可能に支持する、いわゆるカセットエレベータである。
チャックテーブル120は、板状物Wを保持面120aで保持するものである。チャックテーブル120は、X軸移動基台121に支持されている。保持面120aは、チャックテーブル120の鉛直方向の上端面であり、水平面に対して平坦に形成されている。保持面120aは、図示しない真空吸引源と連通され、真空吸引源の負圧により、板状物を吸引保持する。X軸移動基台121は、パルスモータやボールねじ等を含んで構成されるX軸移動手段により、装置本体101に対してX軸方向(加工送り方向に相当)に相対移動可能である。
切削手段130は、チャックテーブル120に保持された板状物Wを切削ブレード131で切削するものである。切削手段130は、切削ブレード131と、スピンドル132と、ハウジング133と、を備えている。切削ブレード131は、極薄の円板状かつ環状に形成された切削砥石である。スピンドル132は、切削ブレード131を着脱可能に装着している。ハウジング133は、モータ等の駆動源を有しており、Y軸方向の回転軸周りに回転自在にスピンドル132を支持している。ハウジング133は、Y軸移動基台134およびZ軸移動基台135により支持されている。Y軸移動基台134は、パルスモータやボールねじ等を含んで構成されるY軸移動手段により、装置本体101に対してY軸方向(割り出し送り方向に相当)に相対移動可能である。Y軸移動基台134は、装置本体101から立設される門型の支持基台102に支持されており、Z軸移動基台135を支持している。Z軸移動基台135は、パルスモータやボールねじ等を含んで構成されるZ軸移動手段により、装置本体101に対してZ軸方向(切り込み送り方向に相当)に相対移動可能である。Z軸移動基台135は、Y軸移動基台134に支持されており、ハウジング133を支持している。
洗浄手段140は、切削手段130により切削された板状物Wを洗浄テーブル141で保持して洗浄するものである。洗浄手段140は、チャックテーブル120と同様に板状物Wを吸引保持する洗浄テーブル141と、洗浄時には純水等の洗浄水を板状物Wに向けて噴射し、乾燥時にはエアー等を板状物Wに向けて噴射する図示しない噴射ノズルと、を備えている。
保持ハンド150は、カセット載置台110に載置されたカセット111から板状物Wを搬出入するものである。保持ハンド150は、板状物Wの下面Wbを支持することで、板状物Wを保持する。保持ハンド150は、カセット111から引き出した(搬出した)板状物Wを第一搬送手段160へ受け渡し、第二搬送手段170から板状物W(洗浄・乾燥された板状物W)を受け取ってカセット111へ収容(搬入)する。
第一搬送手段160は、切削装置100において、第二搬送手段170とともに板状物Wを搬送する搬送手段を構成するものであり、第二搬送手段170とともに動く(協動する)ことにより、保持ハンド150とチャックテーブル120と洗浄テーブル141との間で板状物Wを搬送する、板状物の搬送装置である。本実施形態では、第一搬送手段160は、保持ハンド150から受け渡された板状物Wを吸引保持してチャックテーブル120の保持面120aへ搬送する。第一搬送手段160は、板状物Wを保持する保持手段161と、保持手段161を移動させる移動手段162と、を備える板状物の搬送装置である。つまり、第一搬送手段160は、実施形態1に係る搬送装置1−1、または実施形態2に係る搬送装置1−2と同様に構成される搬送装置である。
保持手段161は、実施形態1に係る搬送装置1−1の保持手段10、または実施形態2に係る搬送装置1−2の保持手段10と同様に構成される保持手段である。保持手段161は、実施形態1に係る搬送装置1−1の保持手段10と同様に構成される場合、支持基台部11と、非接触式吸引保持器12と、規制手段13と、反り量検出手段14と、を含み、実施形態2に係る搬送装置1−2と同様に構成される場合、接触式吸引保持器15と、選択手段16と、をさらに含む。保持手段161は、カセット111から引き出され、保持ハンド150に保持される板状物Wに対して、反り量検出手段14により、反り量検出手段14の下端部14aと板状物Wの上面Waとの間隔Dを検出させる。移動手段162は、図示しないモータ等の駆動源を有しており、装置本体101に対して保持手段161をY軸方向およびZ軸方向へ相対移動させる。移動手段162は、装置本体101から立設される支持基台103に支持されており、保持手段161を支持している。移動手段162は、保持手段161に接続されるアーム部162aを有している。アーム部162aは、移動手段162から鉛直方向の下方に延在されている。アーム部162aの鉛直方向の下端には、支持基台部11の上面11aに取り付けられる連結部21a(図1または図5参照)が一体的に設けられている。
第二搬送手段170は、切削装置100において、第一搬送手段160とともに板状物Wを搬送する搬送手段を構成するものであり、第一搬送手段160とともに動く(協動する)ことにより、保持ハンド150とチャックテーブル120と洗浄テーブル141との間で板状物Wを搬送する、板状物の搬送装置である。本実施形態では、第二搬送手段170は、切削された板状物Wをチャックテーブル120から吸引保持して洗浄テーブル141へ搬送し、洗浄・乾燥された板状物Wを洗浄テーブル141から吸引保持して保持ハンド150へ搬送する。第二搬送手段170は、板状物Wを保持する保持手段171と、保持手段171を移動させる移動手段172と、を備える板状物の搬送装置である。つまり、第二搬送手段170は、実施形態1に係る搬送装置1−1、または実施形態2に係る搬送装置1−2と同様に構成される搬送装置である。
保持手段171は、実施形態1に係る搬送装置1−1の保持手段10、または実施形態2に係る搬送装置1−2の保持手段10と同様に構成される保持手段である。保持手段171は、実施形態1に係る搬送装置1−1の保持手段10と同様に構成される場合、支持基台部11と、非接触式吸引保持器12と、規制手段13と、反り量検出手段14と、を含み、実施形態2に係る搬送装置1−2と同様に構成される場合、接触式吸引保持器15と、選択手段16と、をさらに含む。移動手段172は、図示しないモータ等の駆動源を有しており、装置本体101に対して保持手段171をY軸方向およびZ軸方向へ相対移動させる。移動手段172は、支持基台103に支持されており、保持手段171を支持している。移動手段172は、保持手段171に接続されるアーム部172aを有している。アーム部172aは、移動手段172から鉛直方向の下方に延在されている。アーム部172aの鉛直方向の下端には、支持基台部11の上面11aに取り付けられる連結部21a(図1または図5参照)が一体的に設けられている。なお、本実施形態では、保持手段171は、切削手段130により切削されることで平坦化された板状物W(例えば反り量が所定量以下となる板状物W)を搬送するため、必要に応じて反り量検出手段14を設けるようにしてもよい。
次に、以上のように構成された切削装置100の動作について説明する。なお、本実施形態では、予め、反り量検出手段14により、保持ハンド150と反り量検出手段14との基準間隔が検出されており、カセット111に収容される板状物Wの厚さが計測、または作業員により板状物Wの厚さが入力されている。また、本実施形態では、反り量が所定量を超える板状物Wは、例えばWL−CSP等、接触式吸引保持器15による吸引保持が可能な板状物である。
切削装置100は、例えば作業員による切削加工の指示入力に基づいて、保持ハンド150がカセット111から板状物Wを引き出し、第一搬送手段160へ受け渡す。ここで、切削装置100では、反り量検出手段14により、反り量検出手段14の下端部14aと板状物Wの上面Waとの間隔Dが検出され、板状物Wの反り量が所定量以下であれば非接触式吸引保持器12により板状物Wが吸引保持され、板状物Wの反り量が所定量を超えれば接触式吸引保持器15により板状物Wが吸引保持される。
切削装置100は、第一搬送手段160により、板状物Wをチャックテーブル120へ搬送した後、板状物Wをチャックテーブル120へ載置する。ここで、切削装置100では、保持面120aにより、板状物Wがチャックテーブル120に吸引保持される。
切削装置100は、切削ブレード131に向けて切削水を噴射しつつ、チャックテーブル120に吸引保持された板状物Wに対して、予め設定された切削箇所について切削ブレード131を切り込むことで、切削加工を施す。
切削装置100は、第二搬送手段170により、切削加工が施された板状物Wをチャックテーブル120から吸引保持し、板状物Wを洗浄テーブル141へ搬送した後、板状物Wを洗浄テーブル141へ載置する。ここで、切削装置100では、切削加工が施されて平坦化された板状物Wが、例えば、重量があり、上面Waに接触可能である場合には、接触式吸引保持器15により板状物Wが吸引保持される。
洗浄手段140は、洗浄テーブル141により板状物Wを吸引保持しつつ高速で回転させ、洗浄水を板状物Wに向けて噴射して洗浄した後、エアーを板状物Wに向けて噴射して乾燥させ、洗浄テーブル141の回転を停止する。
切削装置100は、第二搬送手段170により、洗浄・乾燥された板状物Wを洗浄テーブル141から吸引保持し、板状物Wを保持ハンド150へ搬送した後、板状物Wを保持ハンド150へ受け渡す。
切削装置100は、受け渡された板状物Wを保持ハンド150がカセット111に収容することで、板状物Wに対する加工動作を終了する。
以上のように、実施形態3に係る切削装置100によれば、上記の実施形態1に係る搬送装置1−1の効果、および実施形態2に係る搬送装置1−2の効果に加え、第一搬送手段160と第二搬送手段170とにより、反り量の異なる板状物Wを搬送することができるので、反り量の異なる板状物Wが混在していても、板状物Wに対して切削加工を施すことができるという効果を奏する。
なお、上記の実施形態1、2では、板状物Wの反り量を検出するための基準として、載置台の鉛直方向の上面と反り量検出手段14の下端部14aとの間隔を基準間隔としているが、これに限定されるものではなく、例えば、他の搬送手段、カセット等、基準となるものであればよい。
また、上記の実施形態2では、選択手段16のアクチュエータにより接触式吸引保持器15の位置を作用位置と非作用位置とに位置付けていたが、軸部16dの外周に雄ねじを形成し、挿通穴16gに雄ねじと螺合する雌ねじを形成し、軸部16dの鉛直方向の軸線周りに回転させることで、接触式吸引保持器15を作用位置と非作用位置とに位置付けるようにしてもよい。このような場合、エアー吸引路51は、軸部16dの回転に伴ってねじれないように、軸部16dの回転に追従して回転する回転機構を有することが好ましい。
また、上記の実施形態2、3では、板状物Wの反り量が所定量を超える場合、接触式吸引保持器15で板状物Wを吸引保持して搬送していたが、例えば、接触式吸引保持器15により板状物Wを吸引保持することを許容できる反り量を超える場合には、板状物Wの搬送を中止してもよい。このような場合、反り量が所定量を超える板状物Wをカセットの下段に戻したり、他のカセットに収容したりすることで、他の板状物Wと区別しやすくすることが好ましい。
また、上記の実施形態3では、板状物Wの反り量が所定量を超える場合、接触式吸引保持器15で板状物Wを吸引保持して搬送していたが、例えば、切削手段130による切削加工が望ましくない反り量の板状物Wに対して、切削加工を中止してもよい。このような場合、望ましくない切削加工を中止することで、切削装置100を効率的に運用することができる。
また、上記の実施形態3では、板状物の搬送装置(搬送装置1−1または1−2)を備える加工装置は、板状物Wの上面Waに対して切削加工を施す切削装置100であったが、これに限定されるものではなく、例えば、板状物Wのエッジ(周縁)を切削する、いわゆるエッジトリミング加工を施すエッジトリミングダイサーであってもよいし、切削装置100によりエッジトリミングを施すものであってもよい。
また、上記の実施形態1〜3では、板状物Wの反りは、中心側から外周側に向かって、鉛直方向の上方に凸となる反りを想定していたが、例えば、外周側から中心側に向かって、鉛直方向の上方に凸となる反りであってもよい。
また、上記の実施形態1〜3では、反り量検出手段14は、支持基台部11の周方向に三つ配置されていたが、板状物Wの上面Waの周方向における複数の反り量を検出することができればよいので、これに限定されるものではなく、例えば、一つの反り量検出手段14を支持基台部11に設け、支持基台部11を鉛直方向の軸線周りに回転させつつ、板状物Wの反り量を検出するようにしてもよい。このような場合、板状物Wの上面Waの周方向の反り量を連続的に検出することができる。また、反り量検出手段14は、非接触式吸引保持器12の外周側に設けられてもよい。この場合、反り量の大きい板状物Wの外周付近を対象に反り量が測定できる。
1−1、1−2 搬送装置(板状物の搬送装置)
10 保持手段
11 支持基台部
11b 下面
12 非接触式吸引保持器
13 規制手段
14 反り量検出手段
15 接触式吸引保持器
16 選択手段
20 移動手段
100 切削装置
110 カセット載置台
111 カセット
120 チャックテーブル
130 切削手段
131 切削ブレード
140 洗浄手段
141 洗浄テーブル
150 保持ハンド
160、170 搬送手段
W 板状物
Wa 上面

Claims (3)

  1. 板状物を保持する保持手段と、前記保持手段を所定の位置からチャックテーブルへと移動させる移動手段と、を備える板状物の搬送装置において、
    前記保持手段は、
    前記移動手段に連結した支持基台部と、
    前記支持基台部の下面に配設され、エアーを噴出することで負圧を生成し板状物の上面に対し非接触で吸引保持する非接触式吸引保持器と、
    前記支持基台部の下面で前記板状物の外周領域に配設され、前記非接触式吸引保持器に保持された前記板状物の水平移動を規制する規制手段と、
    搬送する板状物の反り量を検出する反り量検出手段と、を備え、
    板状物の反り量が所定量以下の場合、前記非接触式吸引保持器で吸引し搬送する板状物の搬送装置。
  2. 前記保持手段は、前記支持基台部の下面に配設された、板状物の上面に接触して吸引保持する接触式吸引保持器と、
    前記接触式吸引保持器と前記非接触式吸引保持器のうち、一方を板状物に近接した作用位置に、他方を板状物から離間した非作用位置に位置付ける選択手段と、をさらに備える請求項1記載の板状物の搬送装置。
  3. 板状物を保持するチャックテーブルと、前記チャックテーブルに保持された板状物を切削ブレードで切削する切削手段と、を備える切削装置であって、
    複数の板状物を収容するカセットを載置するカセット載置台と、切削された板状物を洗浄テーブルで保持して洗浄する洗浄手段と、前記カセット載置台に載置された前記カセットから板状物を搬出入する保持ハンドと、前記保持ハンドと前記チャックテーブルと前記洗浄テーブルとの間で板状物を搬送する搬送手段と、をさらに備え、
    前記搬送手段は、請求項1または2記載の板状物の搬送装置である切削装置。
JP2014084002A 2014-04-15 2014-04-15 板状物の搬送装置および切削装置 Pending JP2015204420A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014084002A JP2015204420A (ja) 2014-04-15 2014-04-15 板状物の搬送装置および切削装置
TW104107610A TW201601239A (zh) 2014-04-15 2015-03-10 板狀物之搬送裝置及切削裝置
CN201510172448.6A CN105023867A (zh) 2014-04-15 2015-04-13 板状物的搬运装置和切削装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014084002A JP2015204420A (ja) 2014-04-15 2014-04-15 板状物の搬送装置および切削装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2015204420A true JP2015204420A (ja) 2015-11-16

Family

ID=54413732

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014084002A Pending JP2015204420A (ja) 2014-04-15 2014-04-15 板状物の搬送装置および切削装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2015204420A (ja)
CN (1) CN105023867A (ja)
TW (1) TW201601239A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018157039A (ja) * 2017-03-16 2018-10-04 キヤノン株式会社 基板保持装置、リソグラフィ装置、物品の製造方法
JP2018157038A (ja) * 2017-03-16 2018-10-04 キヤノン株式会社 基板搬送システム、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
CN109216233A (zh) * 2017-07-04 2019-01-15 株式会社迪思科 刀具装卸治具、刀具装卸方法、刀具取出方法和切削装置
CN114121768A (zh) * 2020-08-28 2022-03-01 株式会社斯库林集团 基板处理装置及基板处理方法
WO2024171911A1 (ja) * 2023-02-13 2024-08-22 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び基板処理方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107887295B (zh) * 2016-09-30 2019-07-23 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种芯片键合装置及键合方法
EP3375576A1 (de) * 2017-03-17 2018-09-19 TRUMPF Werkzeugmaschinen GmbH + Co. KG Verfahren und vorrichtung zur zustandskontrolle von vakuumsaugern einer greifvorrichtung
CN108357922B (zh) * 2018-02-05 2019-12-03 浙江金康铜业有限公司 一种铜板材的上料移材设备及其上料移材方法
CN108766927B (zh) * 2018-05-29 2020-06-02 深圳市可易亚半导体科技有限公司 一种半导体芯片生产工艺
JP7396815B2 (ja) * 2019-06-12 2023-12-12 株式会社ディスコ ロボットハンド
CN111891691A (zh) * 2020-07-23 2020-11-06 云南省烟草质量监督检测站 一种基于外包装的真假卷烟识别检测装置及其方法
CN115889057B (zh) * 2022-11-17 2024-05-17 中国民用航空飞行学院 一种超疏水涂层喷涂装置及方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004119784A (ja) * 2002-09-27 2004-04-15 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物の搬送装置
US20080145957A1 (en) * 2006-12-14 2008-06-19 Lee Young-Sun Wafer transferring robot in semiconductor device fabrication equipmentand method of detecting wafer warpage using the same
JP2008177239A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Tokyo Electron Ltd 基板搬送装置及び縦型熱処理装置
JP2008270626A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Tokyo Electron Ltd 基板吸着装置及び基板搬送装置
JP2010253636A (ja) * 2009-04-27 2010-11-11 Murata Machinery Ltd 物品保持装置
JP2010264551A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Lintec Corp 板状部材の搬送装置及び搬送方法
JP2011258682A (ja) * 2010-06-08 2011-12-22 Tomoo Matsushita 基板入替装置
JP2013219069A (ja) * 2012-04-04 2013-10-24 Tokyo Electron Ltd 基板保持装置および基板保持方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5009179B2 (ja) * 2008-01-25 2012-08-22 株式会社ディスコ ウェーハ搬送装置およびウェーハ加工装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004119784A (ja) * 2002-09-27 2004-04-15 Disco Abrasive Syst Ltd 板状物の搬送装置
US20080145957A1 (en) * 2006-12-14 2008-06-19 Lee Young-Sun Wafer transferring robot in semiconductor device fabrication equipmentand method of detecting wafer warpage using the same
JP2008177239A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Tokyo Electron Ltd 基板搬送装置及び縦型熱処理装置
JP2008270626A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Tokyo Electron Ltd 基板吸着装置及び基板搬送装置
JP2010253636A (ja) * 2009-04-27 2010-11-11 Murata Machinery Ltd 物品保持装置
JP2010264551A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Lintec Corp 板状部材の搬送装置及び搬送方法
JP2011258682A (ja) * 2010-06-08 2011-12-22 Tomoo Matsushita 基板入替装置
JP2013219069A (ja) * 2012-04-04 2013-10-24 Tokyo Electron Ltd 基板保持装置および基板保持方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018157039A (ja) * 2017-03-16 2018-10-04 キヤノン株式会社 基板保持装置、リソグラフィ装置、物品の製造方法
JP2018157038A (ja) * 2017-03-16 2018-10-04 キヤノン株式会社 基板搬送システム、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
JP7030416B2 (ja) 2017-03-16 2022-03-07 キヤノン株式会社 基板保持装置、リソグラフィ装置、物品の製造方法
CN109216233A (zh) * 2017-07-04 2019-01-15 株式会社迪思科 刀具装卸治具、刀具装卸方法、刀具取出方法和切削装置
CN109216233B (zh) * 2017-07-04 2023-08-15 株式会社迪思科 刀具装卸治具、刀具装卸方法、刀具取出方法和切削装置
CN114121768A (zh) * 2020-08-28 2022-03-01 株式会社斯库林集团 基板处理装置及基板处理方法
CN114121768B (zh) * 2020-08-28 2023-10-03 株式会社斯库林集团 基板处理装置及基板处理方法
WO2024171911A1 (ja) * 2023-02-13 2024-08-22 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び基板処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201601239A (zh) 2016-01-01
CN105023867A (zh) 2015-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015204420A (ja) 板状物の搬送装置および切削装置
KR102279560B1 (ko) 반송 장치
CN107887313B (zh) 加工装置
KR102374913B1 (ko) 반송 장치
JP6622140B2 (ja) チャックテーブル機構及び搬送方法
KR102252839B1 (ko) 판상물 반송 장치 및 가공 장치
KR101995597B1 (ko) 절삭 장치의 척테이블
JP6397270B2 (ja) 切削装置
TW202034445A (zh) 搬送裝置
JP2009028863A (ja) 非接触搬送装置
JP2015061012A (ja) 切削装置
JP5965815B2 (ja) 切削装置
KR20190083620A (ko) 가공 장치
JP6172997B2 (ja) 板状物の搬送装置
JP2013145776A (ja) 搬送方法
KR20180037576A (ko) 반송 패드 및 웨이퍼의 반송 방법
JP5930196B2 (ja) 研削装置
JP2018117014A (ja) 搬出機構
JP2015170719A (ja) 板状物の搬送装置および切削装置
JP6037685B2 (ja) 研削装置
JP2011124419A (ja) 加工装置
JP7339860B2 (ja) 加工装置
JP6301728B2 (ja) 搬送装置
JP2021019137A (ja) 保持装置及び加工装置
JP2015109381A (ja) 洗浄装置および切削装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170216

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20171213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171219

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180619