JP2015195293A - 積層セラミック電子部品 - Google Patents
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Abstract
Description
これにより、例えば、図2に示すように、セラミック積層体110の内部に、セラミック層101を介して内部電極102a,102bが互いに対向するように配設され、かつ、セラミック積層体110の互いに異なる端面103a,103bに引き出された内部電極102a,102bと導通するように、セラミック積層体110の端面103a,103bに外部電極104a,104bが配設された構造を有する積層セラミック電子部品が得られる。
セラミック層を積層してなるセラミック積層体と、その内部に配設された内部電極とを備えるセラミック積層体の表面に、前記内部電極と導通するように外部電極が配設された構造を有する積層セラミック電子部品であって、
(a)前記外部電極は、前記内部電極が引き出された前記セラミック積層体の端面に形成された端面外部電極と、前記セラミック積層体の前記端面と接する側面にスパッタリング法により形成され、前記端面外部電極と導通する側面外部電極とを備え、
(b)前記側面外部電極を構成する前記セラミック積層体に接するスパッタ電極層は、標準酸化還元電位が−2.36Vから−0.74Vの範囲の金属を3質量%以上含む材料から形成され、前記側面外部電極を構成する最外層であるスパッタ最外電極層は、水素の溶解熱が23.8kJ/molH以上の金属または合金から形成されていること
を特徴としている。
そして、本発明において最外層(スパッタ最外電極層)として用いている、水素の溶解熱が23.8kJ/molH以上の金属は水素を溶解しにくい金属であることから、外部電極にめっきを施す際の耐めっき液性、めっき工程で発生する水素への耐性を確保することが可能になる。
その結果、例えば、積層セラミック電子部品をセラミック基板に埋め込み実装するにあたって、レーザー加工によりビアホールを形成して、埋め込まれた積層セラミック電子部品との導通をとる場合の、ビア接続信頼性を向上させることができる。
図1は本発明の実施形態にかかる積層セラミック電子部品(この実施形態では、薄型の積層セラミックコンデンサ)の構成を示す正面断面図である。
なお、この実施形態の積層セラミックコンデンサが備える外部電極4は、内部電極2が引き出されたセラミック積層体10の端面3に形成された端面外部電極14と、セラミック積層体10の端面3と接する側面13に形成され、端面外部電極と導通する側面外部電極24とを備えている。
また、最外層であるスパッタ最外電極層24bは、水素の溶解熱が23.8kJ/molH以上の金属または合金(例えば、Cu、Al、Agからなる群より選ばれる少なくとも1種、または、前記群より選ばれる少なくとも1種を含む合金)から形成される。
この積層セラミックコンデンサを作製するにあたっては、まず、内部電極となる電極パターンが形成された複数のセラミックグリーンシートと、内部電極となる電極パターンを備えていない、上下両面側の外層部となる外層用セラミックグリーンシートとを用意した。そして、上述のセラミックグリーンシートを所定の順序で積層することによりマザー積層体を形成した。
また、これら主成分に、Mn化合物、Mg化合物、Si化合物、Co化合物、Ni化合物、希土類元素化合物などの副成分を添加したものを用いることも可能である。
導電成分として他の金属材料を用いた導電性ペーストを使用することも可能であり、また、セラミックグリーンシートへの塗布方法も、スクリーン印刷以外の他の方法を用いることができる。
(1)端面外部電極の形成
焼成前のセラミック積層体(未焼成セラミック積層体)の端面に、Niコファイアペースト(セラミック積層体と同時に焼成を行うことが可能な、Ni粉末を導電成分とする導電性ペースト)を塗布した。
この実施形態では、Niコファイアペーストとして、Ni金属粉末と共材の比率(Ni/共材)が60/40vol%のものを用いた。また、Ni金属粉末としては粒径が0.5μmのものを用いた。
なお、この端面外部電極は、端面中央における厚みが10μmの単層構造の電極(Ni焼き付け電極)である。
上述のようにして端面外部電極(Ni焼き付け電極)が形成された、焼成済みのセラミック積層体を、専用のマスク冶具に振り込んだ。このマスク冶具は、側面外部電極(端面外部電極とともに外部電極を構成する電極)を形成したい領域のみを露出させることができるように構成された治具である。
なお、この実施形態では、側面外部電極24のセラミック積層体10に接する層(スパッタ電極層)として、膜厚100nmのTiスパッタ膜を形成し、さらにその上に、側面外部電極24の最外層(スパッタ最外電極層)として、膜厚600nmのCuスパッタ膜を形成した。
ここで、Tiは標準酸化還元電位が−1.63Vの金属であり、Cuは水素の溶解熱が42kJ/molH(23.8kJ/molH以上)の金属である。
なお、上記TiおよびCuのスパッタ条件は、表1に示す通りである。
次に、上述のようにして作製した端面外部電極と側面外部電極からなる外部電極を備えた積層セラミックコンデンサについて、以下に説明する方法で、外部電極の固着力を確認するためのテープ剥離試験と、積層セラミックコンデンサの信頼性を調べるための高温高湿負荷試験を行った。
この実施形態では、側面外部電極のセラミック積層体に接する層として、上述のTi層を含めて、下記の表2の7種の金属種(Na、Mg、Al、Ti、W、Cr、NiおよびCu)と、下記の表3の2種の合金(NiCr合金およびNiTi合金)からなる厚み100nmの層(スパッタ電極層)を有する試料を作製し、テープ剥離試験に供した。なお、側面外部電極の最外層(スパッタ最外電極層)は、いずれも、膜厚600nmのCuスパッタ膜である。
各試料(積層セラミックコンデンサ)の主面(図1におけるLW面)を導電性接着剤を用いてガラスエポキシ基板に接着した。
その後、試料(積層セラミックコンデンサ)のガラスエポキシ基板に接着した主面と対向する側(反対側)の主面に粘着テープ(積水化学社製セロテープ(登録商標)No.252)を貼り付け、試料の長さ方向(例えば、図1における矢印Aの方向)に沿って、一定の張力で引っ張ることにより、試料をガラスエポキシ基板から剥離させた(180°剥離試験)。
それから、20倍の光学顕微鏡を用いて、スパッタ膜(Tiスパッタ膜などのセラミック積層体に接する層、および、最外層であるCuスパッタ膜のいずれか)に剥がれが生じているか否かを観察した。
(1−2)評価
各試料(積層セラミックコンデンサ)について、それぞれ20サンプルずつ、上述の試験を実施し、1つのサンプルにでもスパッタ膜の剥がれが発生した試料は不良(×)と判定し、いずれのサンプルにもスパッタ膜の剥がれが発生しなかった試料を良(○)と判定した。
上記のテープ剥離試験の結果を表2および3に示す。
なお、上記の合金組成の表示において、例えば、「Ni90Cr10」は、Niが90質量%、Crが10質量%含まれる合金を示す。他の合金についても同様である。
一方、合金中のCrまたはTiの割合が3質量%未満の合金(Ni99Cr1およびNi99Ti1)を用いた場合には、スパッタ膜の剥離が発生し、好ましくないことが確認された。
側面外部電極の最外層(スパッタ最外電極層)として、上述のCuを含めて、下記の表4に示す5種の金属種(Pd、Ni、Cu、AlおよびAg)、下記の表5に示す組成の異なる3種のNiCu合金(Ni90Cu10、Ni70Cu30、Ni50Cu50)からなる金属層または合金層(スパッタ電極層)を有する試料を作製し、高温高湿負荷試験(信頼性試験)に供した。
また、この高温高湿負荷試験でも、試験に供した試料は、いずれも、端面外部電極と側面外部電極を備えた外部電極の表面全体を覆うように、電解めっき(湿式めっき)によりCuめっき膜を形成した試料である。
各試料について、温度125℃、95%RH、電圧1/2WV(3.2V)、時間72hr、各試料のサンプル数(n)=10の条件で、高温高湿負荷試験を実施した。
そして、試験終了時のIR値が開始直後のIR値から2ケタ以上低下したものを、信頼性が不良(×)であると判定した。
その結果を表4および5に示す。
表4に示すように、Pd、Ni、Cu、AlおよびAgの、合計5種の金属のうち、水素の溶解熱が−10kJ/molHであるPdのスパッタ膜、水素の溶解熱が16kJ/molHであるNiのスパッタ膜を、それぞれ側面外部電極の最外層(スパッタ最外電極層)として形成した試料は、高温高湿負荷試験において不良の発生が認められ、好ましくないことがわかった。
なお、ULV−SEM/EDX分析は、以下に説明する方法で行った。
加速電圧 :4kV
傾斜角 :0°
測定点数 :60点
1点あたり測定時間 :20sec
2(2a,2b) 内部電極
3(3a,3b) セラミック積層体の端面
4(4a,4b) 外部電極
10 セラミック積層体(積層セラミックコンデンサ素子)
13 セラミック積層体の4つの側面
14 端面外部電極
24 側面外部電極
24a セラミック積層体に接するスパッタ電極層
24b スパッタ最外電極層
Claims (4)
- セラミック層を積層してなるセラミック積層体と、その内部に配設された内部電極とを備えるセラミック積層体の表面に、前記内部電極と導通するように外部電極が配設された構造を有する積層セラミック電子部品であって、
(a)前記外部電極は、前記内部電極が引き出された前記セラミック積層体の端面に形成された端面外部電極と、前記セラミック積層体の前記端面と接する側面にスパッタリング法により形成され、前記端面外部電極と導通する側面外部電極とを備え、
(b)前記側面外部電極を構成する前記セラミック積層体に接するスパッタ電極層は、標準酸化還元電位が−2.36Vから−0.74Vの範囲の金属を3質量%以上含む材料から形成され、前記側面外部電極を構成する最外層であるスパッタ最外電極層は、水素の溶解熱が23.8kJ/molH以上の金属または合金から形成されていること
を特徴とする積層セラミック電子部品。 - 前記側面外部電極の前記セラミック積層体に接するスパッタ電極層に含まれる金属が、Mg、Al、Ti、W、Crからなる群より選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項1記載の積層セラミック電子部品。
- 前記側面外部電極の前記スパッタ最外電極層を形成する金属が、Cu、Al、Agからなる群より選ばれる少なくとも1種、または、前記群より選ばれる少なくとも1種を含む合金であることを特徴とする請求項1または2記載の積層セラミック電子部品。
- 前記外部電極の表面にめっきにより形成された金属膜を備えていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の積層セラミック電子部品。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020004924A (ja) * | 2018-07-02 | 2020-01-09 | 株式会社村田製作所 | コイル部品 |
JP2021100020A (ja) * | 2019-12-20 | 2021-07-01 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミック電子部品及びその製造方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6841611B2 (ja) * | 2016-07-25 | 2021-03-10 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
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KR101973442B1 (ko) * | 2017-07-11 | 2019-04-29 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그의 제조 방법 |
JP6965865B2 (ja) * | 2018-11-08 | 2021-11-10 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品およびセラミック電子部品の製造方法 |
JP7192961B2 (ja) * | 2019-02-28 | 2022-12-20 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の製造方法 |
JP7163882B2 (ja) * | 2019-08-07 | 2022-11-01 | 株式会社村田製作所 | インダクタ部品および電子部品 |
KR20220092249A (ko) * | 2020-12-24 | 2022-07-01 | 삼성전기주식회사 | 적층형 전자 부품 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0684687A (ja) * | 1992-08-31 | 1994-03-25 | Toshiba Corp | セラミックチップ部品およびチップ部品実装構造 |
JPH0766070A (ja) * | 1993-08-26 | 1995-03-10 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
JPH10116704A (ja) * | 1996-10-09 | 1998-05-06 | Murata Mfg Co Ltd | サーミスタチップ及びその製造方法 |
JPH11233371A (ja) * | 1998-02-17 | 1999-08-27 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品 |
JP2005340589A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型正特性サーミスタ |
JP2012256947A (ja) * | 2012-09-28 | 2012-12-27 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4354475B2 (ja) * | 2006-09-28 | 2009-10-28 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
JP5289794B2 (ja) * | 2007-03-28 | 2013-09-11 | 株式会社村田製作所 | 積層型電子部品およびその製造方法 |
JP5287658B2 (ja) | 2008-11-14 | 2013-09-11 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品 |
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JP2012231047A (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-22 | Taiyo Yuden Co Ltd | チップ状電子部品 |
JP2013165180A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Tdk Corp | 電子部品及び電子部品の製造方法 |
KR20140030611A (ko) * | 2012-09-03 | 2014-03-12 | 삼성전기주식회사 | 외부 전극용 도전성 페이스트 조성물, 이를 포함하는 적층 세라믹 전자 부품 및 그 제조 방법 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0684687A (ja) * | 1992-08-31 | 1994-03-25 | Toshiba Corp | セラミックチップ部品およびチップ部品実装構造 |
JPH0766070A (ja) * | 1993-08-26 | 1995-03-10 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
JPH10116704A (ja) * | 1996-10-09 | 1998-05-06 | Murata Mfg Co Ltd | サーミスタチップ及びその製造方法 |
JPH11233371A (ja) * | 1998-02-17 | 1999-08-27 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品 |
JP2005340589A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型正特性サーミスタ |
JP2012256947A (ja) * | 2012-09-28 | 2012-12-27 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020004924A (ja) * | 2018-07-02 | 2020-01-09 | 株式会社村田製作所 | コイル部品 |
JP7010159B2 (ja) | 2018-07-02 | 2022-01-26 | 株式会社村田製作所 | コイル部品 |
US11626243B2 (en) | 2018-07-02 | 2023-04-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Coil component |
JP2021100020A (ja) * | 2019-12-20 | 2021-07-01 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミック電子部品及びその製造方法 |
Also Published As
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