JP2015137390A - 成膜装置および成膜方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】通過成膜方式において成膜室内への蒸着材料の拡散を防ぐことができる成膜装置および成膜方法を提供する。【解決手段】成膜装置100は、搬送機構30と、シャッタ機構40とを具備する。搬送機構30は、基板Wを各々保持可能な複数のキャリア31を有し、成膜源(20)と対向する成膜位置P0へ複数のキャリア31を一定速度で搬送する。シャッタ機構40は、成膜材料の粒子(Dv)が通過する通路(開口部410)と、第1および第2のシャッタ板421,422とを有する。シャッタ板421,422は、成膜源と成膜位置P0との間に配置され、上記通路の少なくとも一部の領域を閉塞可能に構成される。シャッタ機構40は、成膜位置P0を第1の方向に通過する複数のキャリア各々の移動に同期して、シャッタ板421,422を上記第1の方向に移動させることが可能に構成される。【選択図】図2
Description
本発明は、基板の搬送途上で連続的に成膜を行う成膜装置および成膜方法に関する。
成膜室内で基板を搬送しながら基板表面に薄膜を形成する通過成膜方式の成膜装置が知られている。例えば特許文献1には、成膜面に板状のマスクが配置された処理基板を成膜室内で搬送しながら、蒸着源で発生した蒸着材料の蒸気を成膜面に蒸着させるインライン方式の成膜装置が記載されている。
複数の基板を通過成膜方式で連続的に成膜する場合、一の基板への成膜が終了してから他の基板への成膜が開始されるまでの期間において、蒸発源から放出された蒸着材料の蒸気が上記2枚の基板の間を通って成膜室内に拡散してしまい、これにより成膜室の汚染を招くという問題がある。
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、通過成膜方式において成膜室内への蒸着材料の拡散を防ぐことができる成膜装置および成膜方法を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の一形態に係る成膜装置は、成膜室と、成膜源と、搬送機構と、シャッタ機構とを具備する。
上記成膜源は、上記成膜室に配置され、成膜材料の粒子を発生させる。
上記搬送機構は、基板を各々保持可能な複数のキャリアを有する。上記搬送機構は、上記成膜源と対向する成膜位置を含む所定の搬送ラインに沿って上記複数のキャリアを一定速度で搬送する。
上記シャッタ機構は、通路と、シャッタユニットとを有する。上記通路は、上記成膜源から上記成膜位置へ向けて上記成膜材料の粒子を導く。上記シャッタユニットは、上記成膜源と上記成膜位置との間に配置され、上記通路の少なくとも一部の領域を閉塞可能に構成される。上記シャッタ機構は、上記成膜位置を第1の方向に通過する上記複数のキャリア各々の移動に同期して、上記シャッタユニットを上記第1の方向に移動させることが可能に構成される。
上記成膜源は、上記成膜室に配置され、成膜材料の粒子を発生させる。
上記搬送機構は、基板を各々保持可能な複数のキャリアを有する。上記搬送機構は、上記成膜源と対向する成膜位置を含む所定の搬送ラインに沿って上記複数のキャリアを一定速度で搬送する。
上記シャッタ機構は、通路と、シャッタユニットとを有する。上記通路は、上記成膜源から上記成膜位置へ向けて上記成膜材料の粒子を導く。上記シャッタユニットは、上記成膜源と上記成膜位置との間に配置され、上記通路の少なくとも一部の領域を閉塞可能に構成される。上記シャッタ機構は、上記成膜位置を第1の方向に通過する上記複数のキャリア各々の移動に同期して、上記シャッタユニットを上記第1の方向に移動させることが可能に構成される。
本発明の一形態に係る成膜方法は、成膜室内で、基板を各々保持する第1のキャリアおよび第2のキャリアを成膜源と対向する成膜位置へ順次搬送することを含む。
上記第1のキャリアが上記成膜位置を通過後、上記第2のキャリアが上記成膜位置へ到達するまでの間、上記成膜位置は、第1のシャッタ板で上記成膜源から遮蔽される。
上記成膜位置を第1の方向に第1の速度で通過する上記第2のキャリアの移動に同期して、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜源から放出された成膜材料の粒子が上記第2のキャリア上の基板に堆積させられる。
上記第2のキャリアの移動に同期して、第2のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜位置は、前記成膜源から遮蔽される。
上記第1のキャリアが上記成膜位置を通過後、上記第2のキャリアが上記成膜位置へ到達するまでの間、上記成膜位置は、第1のシャッタ板で上記成膜源から遮蔽される。
上記成膜位置を第1の方向に第1の速度で通過する上記第2のキャリアの移動に同期して、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜源から放出された成膜材料の粒子が上記第2のキャリア上の基板に堆積させられる。
上記第2のキャリアの移動に同期して、第2のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜位置は、前記成膜源から遮蔽される。
本発明の一実施形態に係る成膜装置は、成膜室と、成膜源と、搬送機構と、シャッタ機構とを具備する。
上記成膜源は、上記成膜室に配置され、成膜材料の粒子を発生させる。
上記搬送機構は、基板を各々保持可能な複数のキャリアを有する。上記搬送機構は、上記成膜源と対向する成膜位置を含む所定の搬送ラインに沿って上記複数のキャリアを一定速度で搬送する。
上記シャッタ機構は、通路と、シャッタユニットとを有する。上記通路は、上記成膜源から上記成膜位置へ向けて上記成膜材料の粒子を導く。上記シャッタユニットは、上記成膜源と上記成膜位置との間に配置され、上記通路の少なくとも一部の領域を閉塞可能に構成される。上記シャッタ機構は、上記成膜位置を第1の方向に通過する上記複数のキャリア各々の移動に同期して、上記シャッタユニットを上記第1の方向に移動させることが可能に構成される。
上記成膜源は、上記成膜室に配置され、成膜材料の粒子を発生させる。
上記搬送機構は、基板を各々保持可能な複数のキャリアを有する。上記搬送機構は、上記成膜源と対向する成膜位置を含む所定の搬送ラインに沿って上記複数のキャリアを一定速度で搬送する。
上記シャッタ機構は、通路と、シャッタユニットとを有する。上記通路は、上記成膜源から上記成膜位置へ向けて上記成膜材料の粒子を導く。上記シャッタユニットは、上記成膜源と上記成膜位置との間に配置され、上記通路の少なくとも一部の領域を閉塞可能に構成される。上記シャッタ機構は、上記成膜位置を第1の方向に通過する上記複数のキャリア各々の移動に同期して、上記シャッタユニットを上記第1の方向に移動させることが可能に構成される。
上記成膜装置においては、成膜位置を第1の方向に通過する複数のキャリア各々の移動に同期して、シャッタユニットを第1の方向に移動させることが可能なシャッタ機構を備えている。シャッタ機構は、例えば、成膜位置を通過する基板よりも上流側または下流側への成膜材料の粒子の放出を阻止するようにシャッタユニットを移動させる。これにより、間隔をおいて搬送される複数のキャリアの隙間を通って成膜源からの成膜材料の粒子が成膜室内に拡散することを防止することができる。
上記成膜源には、例えば、蒸発源、スパッタカソード等が含まれる。成膜源が蒸発源の場合、成膜材料の粒子としては、蒸発源で蒸発した成膜材料(蒸着材料)の蒸気が該当する。また、成膜源がスパッタカソードの場合、成膜材料の粒子としては、成膜材料(ターゲット)のスパッタ粒子が該当する。
上記シャッタユニットは、第1のシャッタ板と、第2のシャッタ板とを有してもよい。
上記第1のシャッタ板は、上記通路を閉塞する第1の位置と、上記通路を開放する第2の位置との間を移動可能に構成される。
上記第2のシャッタ板は、上記第1のシャッタ板よりも上記搬送ラインの上流側に配置され、上記通路を開放する第3の位置と、上記通路を閉塞する第4の位置との間を移動可能に構成される。
これにより、例えば、成膜位置を通過する基板の上流側を第1のシャッタ板によって、また当該基板の下流側を第2のシャッタ板によって、成膜源からそれぞれ遮蔽することができる。
上記第1のシャッタ板は、上記通路を閉塞する第1の位置と、上記通路を開放する第2の位置との間を移動可能に構成される。
上記第2のシャッタ板は、上記第1のシャッタ板よりも上記搬送ラインの上流側に配置され、上記通路を開放する第3の位置と、上記通路を閉塞する第4の位置との間を移動可能に構成される。
これにより、例えば、成膜位置を通過する基板の上流側を第1のシャッタ板によって、また当該基板の下流側を第2のシャッタ板によって、成膜源からそれぞれ遮蔽することができる。
上記シャッタ機構は、例えば、第1の動作と、第2の動作とを実行するように構成される。
上記第1の動作は、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向に沿って、上記第1の位置から上記第2の位置へ移動させた後、上記第2のシャッタ板を上記第1の方向に沿って、上記第3の位置から前記第4の位置へ移動させる。
上記第2の動作は、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向とは反対の第2の方向に沿って上記第2の位置から上記第1の位置へ移動させ、上記第2のシャッタ板を上記第2の方向に沿って上記第4の位置から上記第3の位置へ移動させる。
これにより、成膜位置を通過する基板の上流側および下流側を成膜源から遮蔽し、成膜室内への成膜材料の拡散を防止することができる。
上記第1の動作は、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向に沿って、上記第1の位置から上記第2の位置へ移動させた後、上記第2のシャッタ板を上記第1の方向に沿って、上記第3の位置から前記第4の位置へ移動させる。
上記第2の動作は、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向とは反対の第2の方向に沿って上記第2の位置から上記第1の位置へ移動させ、上記第2のシャッタ板を上記第2の方向に沿って上記第4の位置から上記第3の位置へ移動させる。
これにより、成膜位置を通過する基板の上流側および下流側を成膜源から遮蔽し、成膜室内への成膜材料の拡散を防止することができる。
上記シャッタユニットは、第3のシャッタ板をさらに有してもよい。上記第3のシャッタ板は、上記成膜位置と上記第1のシャッタ板および上記第2のシャッタ板との間に配置され、上記通路の一部の領域を閉塞可能に構成される。
この場合、上記シャッタ機構は、上記第1のシャッタ板または上記第2のシャッタ板の上記第1の方向への移動に同期して、上記第3のシャッタ板を上記第1の方向に移動させる。
これにより、例えば面内において成膜エリアが分割された基板への成膜が可能となる。
この場合、上記シャッタ機構は、上記第1のシャッタ板または上記第2のシャッタ板の上記第1の方向への移動に同期して、上記第3のシャッタ板を上記第1の方向に移動させる。
これにより、例えば面内において成膜エリアが分割された基板への成膜が可能となる。
本発明の一実施形態に係る成膜方法は、成膜室内で、基板を各々保持する第1のキャリアおよび第2のキャリアを成膜源と対向する成膜位置へ順次搬送することを含む。
上記第1のキャリアが上記成膜位置を通過後、上記第2のキャリアが上記成膜位置へ到達するまでの間、上記成膜位置は、第1のシャッタ板で上記成膜源から遮蔽される。
上記成膜位置を第1の方向に第1の速度で通過する上記第2のキャリアの移動に同期して、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜源から放出された成膜材料の粒子が上記第2のキャリア上の基板に堆積させられる。
上記第2のキャリアの移動に同期して、第2のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜位置は、前記成膜源から遮蔽される。
上記第1のキャリアが上記成膜位置を通過後、上記第2のキャリアが上記成膜位置へ到達するまでの間、上記成膜位置は、第1のシャッタ板で上記成膜源から遮蔽される。
上記成膜位置を第1の方向に第1の速度で通過する上記第2のキャリアの移動に同期して、上記第1のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜源から放出された成膜材料の粒子が上記第2のキャリア上の基板に堆積させられる。
上記第2のキャリアの移動に同期して、第2のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させることで、上記成膜位置は、前記成膜源から遮蔽される。
上記成膜方法によれば、間隔をおいて搬送される複数のキャリアの隙間を通って成膜源からの成膜材料の粒子が成膜室内に拡散することを防止することができる。
上記成膜方法は、さらに、上記成膜位置を通過するキャリアの移動に同期して、第3のシャッタ板を上記第1の方向へ上記第1の速度で移動させてもよい。上記第3のシャッタ板は、上記成膜位置と上記第1のシャッタ板および上記第2のシャッタ板との間に配置され、上記基板に非成膜領域を形成する。
これにより、成膜領域が複数に分割された多面取りの基板を製造することができる。
これにより、成膜領域が複数に分割された多面取りの基板を製造することができる。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。
<第1の実施形態>
図1は、本発明の第1の実施形態に係る成膜装置を示す概略側断面図である。図においてX軸方向およびY軸方向は相互に直交する水平方向を示し、Z軸方向は鉛直方向を示している。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る成膜装置を示す概略側断面図である。図においてX軸方向およびY軸方向は相互に直交する水平方向を示し、Z軸方向は鉛直方向を示している。
[成膜装置の構成]
成膜装置100は、成膜室10と、蒸発源20と、搬送機構30と、シャッタ機構40と、コントローラ50とを有する。成膜装置100は、通過成膜方式の真空蒸着装置を構成する。
成膜装置100は、成膜室10と、蒸発源20と、搬送機構30と、シャッタ機構40と、コントローラ50とを有する。成膜装置100は、通過成膜方式の真空蒸着装置を構成する。
(成膜室)
成膜室10は、排気バルブ101を介して真空ポンプ102に接続されており、内部が所定の真空圧に減圧あるいは維持されることが可能な密閉構造を有する。
成膜室10は、排気バルブ101を介して真空ポンプ102に接続されており、内部が所定の真空圧に減圧あるいは維持されることが可能な密閉構造を有する。
成膜装置100は、複数の処理室を備えたインライン式真空成膜装置として構成される。成膜室10は、その一部の処理室を構成する。成膜室10は、ゲートバルブG1を介して上流側の処理室11と接続され、ゲートバルブG2を介して下流側の処理室12に接続される。処理室11,12としては、加熱室、冷却室、成膜室等で構成されてもよいし、ロードロック室、ロード/アンローディング室等の真空処理を伴わない処理室で構成されてもよい。
(蒸発源)
蒸発源20(成膜源)は、成膜室10に配置される。蒸発源20は、成膜室10の底部の略中央部に配置されており、成膜位置P0を通過する基板Wに蒸着させる蒸着材料の蒸気(成膜材料の粒子)を発生させる。蒸着材料の蒸気は、基板Wの搬送ライン30Tに直交する軸線20Tを中心とする所定の立体角で、成膜位置P0を通過する基板Wへ向けて放出される。
蒸発源20(成膜源)は、成膜室10に配置される。蒸発源20は、成膜室10の底部の略中央部に配置されており、成膜位置P0を通過する基板Wに蒸着させる蒸着材料の蒸気(成膜材料の粒子)を発生させる。蒸着材料の蒸気は、基板Wの搬送ライン30Tに直交する軸線20Tを中心とする所定の立体角で、成膜位置P0を通過する基板Wへ向けて放出される。
蒸発源20は、蒸着材料を収容する容器(るつぼ)と、当該蒸着材料を加熱する加熱源とを有する。蒸着材料は特に限定されず、金属等の無機材料や樹脂等の有機材料が用いられる。加熱源は抵抗加熱源、誘導加熱源あるいは電子ビーム加熱源等が用いられる。蒸発源20は、コントローラ50によって制御される。
(搬送機構)
搬送機構30は、基板Wを各々保持可能な複数のキャリア31を有する。搬送機構30は、蒸発源20と対向する成膜位置P0を含む所定の搬送ライン30Tに沿って、複数のキャリア31を一定速度で搬送する。
搬送機構30は、基板Wを各々保持可能な複数のキャリア31を有する。搬送機構30は、蒸発源20と対向する成膜位置P0を含む所定の搬送ライン30Tに沿って、複数のキャリア31を一定速度で搬送する。
搬送機構30は、複数のキャリア31を成膜室10内においてY軸方向に平行な直線的な搬送ライン30Tに沿って搬送する搬送レール32を有する。搬送レール32に代えて、搬送コンベア等の他の搬送手段が採用されてもよい。本実施形態において搬送レール32は、成膜室10において複数のキャリア31を成膜位置P0へ向けて搬送ライン30Tに沿って一定速度で順次、図中矢印A方向へ連続的に搬送する。
複数のキャリア31は、それぞれ、基板Wを下向きに保持した状態で、各々所定の間隔をおいて搬送される。各々のキャリア31は同一の構成を有し、典型的にはトレイ等のような金属製あるいは合成樹脂製の板状の部材で構成される。
基板Wは、本実施形態では矩形のガラス基板で構成されるが、これに限られず、半導体基板、樹脂フィルム等の各種基材で構成されてもよい。基板Wは成膜面を有し、成膜面が成膜室10の底部に対向するようにキャリア31の下面に保持される。キャリア31はさらに、基板Wの成膜面に配置されたマスクMを保持する機構を有する。マスクMは、基板Wの成膜領域を画定し、基板Wと一体的に搬送される。
成膜位置P0は、上述のように、蒸発源20と対向する搬送ライン30T上の所定位置をいうが、より詳しくは、後述するシャッタ機構40の全開時において、蒸発源20から放出される蒸着材料の蒸気が基板Wの成膜面の少なくとも一部に到達し得る領域をいう。したがって成膜位置P0は搬送ライン30T上の一点に限られず、蒸発源20から基板W(基板Wの成膜領域)を見ることができる搬送ライン30T上の一定領域をいう。
(シャッタ機構)
図2は、シャッタ機構40の構成を示す概略断面図である。シャッタ機構40は、蒸発源20と成膜位置P0との間に配置される。シャッタ機構40は、本体41と、シャッタユニット42とを有する。
図2は、シャッタ機構40の構成を示す概略断面図である。シャッタ機構40は、蒸発源20と成膜位置P0との間に配置される。シャッタ機構40は、本体41と、シャッタユニット42とを有する。
本体41は、蒸発源20と成膜位置P0との間に配置され、蒸発源20からの蒸着材料の蒸気が通過可能な開口部410を有する。開口部410は、蒸発源20から成膜位置P0へ向けて蒸気を導く「通路」を構成する。
開口部410の形状は特に限定されず、典型的には矩形状である。本実施形態において開口部410は、X軸方向に平行な幅方向の寸法が基板Wの幅寸法よりも大きく、Y軸方向に平行な長さ方向の寸法が基板Wの長さ寸法よりも小さく形成されている。
シャッタユニット42は、本体41の内部に配置されており、開口部410の少なくとも一部の領域を閉塞可能に構成される。本実施形態においてシャッタユニット42は、第1のシャッタ板421と、第2のシャッタ板422と、これら第1および第2のシャッタ板421,422をY軸方向に平行な方向へ移動させる図示しない駆動部とを有する。
第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422は、それぞれ、開口部410と蒸発源20との間に配置され、開口部410よりも大きな面積を有する略矩形の平板で構成される。
第1のシャッタ板421は、図2において実線で示す第1の位置と、二点鎖線で示す第2の位置との間を直線的に移動可能に構成される。第1のシャッタ板421は、上記第1の位置で開口部410を閉塞(全閉)し、上記第2の位置で開口部410を開放(全開)する。
第2のシャッタ板422は、図2において実線で示す第3の位置と、二点鎖線で示す第4の位置との間を直線的に移動可能に構成される。第2のシャッタ板422は、上記第3の位置で開口部410を開放(全開)し、上記第4の位置で開口部410を閉塞(全閉)する。
第2のシャッタ板422は、第1のシャッタ板よりも搬送ライン30Tの上流側に配置される。第2のシャッタ板422は、第1のシャッタ板421よりも蒸発源20側に配置される。これに限られず、第2のシャッタ板422は、第1のシャッタ板421よりも開口部410側に配置されてもよいし、第1のシャッタ板421と同一平面上に配置されてもよい。
シャッタユニット42は、コントローラ50からの制御信号を受けて、第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422の移動を制御する。
コントローラ50は、典型的にはコンピュータで構成され、成膜室10の外部に配置される。コントローラ50は、蒸発源20、搬送機構30、シャッタユニット42(第1および第2のシャッタ板421,422)等を含む成膜装置100全体の動作を制御する。本実施形態において、コントローラ50によるシャッタユニット42の制御機能は、シャッタ機構40の一部として構成される。
シャッタ機構40は、第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422を各々個別に移動制御する第1の動作モードと、各々同時に移動制御する第2の動作モードとを有する。
図3〜図7は、シャッタユニット42の動作モードを説明するシャッタ機構40の概略側断面図である。
(第1の動作モード)
シャッタ機構40は、成膜位置P0を矢印A方向に通過する複数のキャリア31各々の移動に同期して、シャッタユニット42を矢印Aと平行な方向に移動させることが可能に構成される。
シャッタ機構40は、成膜位置P0を矢印A方向に通過する複数のキャリア31各々の移動に同期して、シャッタユニット42を矢印Aと平行な方向に移動させることが可能に構成される。
上記第1の動作モードは、まず、図3および図4に示すように、第1のシャッタ板421を矢印A方向と平行な矢印a1方向に沿って、上記第1の位置から上記第2の位置へ移動させる。その後、図5および図6に示すように、第2のシャッタ板422を矢印a1方向と平行な矢印a2方向に沿って、上記第3の位置から前記第4の位置へ移動させる。
第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422の矢印a1およびa2への移動は、キャリア31の移動速度と同一の速度に設定される。一方、第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422の上記各移動は、成膜位置P0を矢印A方向に通過するキャリア31の位置に応じて制御される。
コントローラ50は、第1および第2のシャッタ板421,422をキャリア31の移動に同期して移動させるため、例えば、搬送レール32上における各々のキャリア31の位置を検出する。搬送ライン30T上におけるキャリア31の搬送位置は、電磁気的、光学的あるいは機械的にキャリア31の位置を検出することが可能なセンサを用いて検出されてもよいし、キャリア31の搬送速度、搬送間隔(ピッチ)等に基づく演算によって取得されてもよい。
(第2の動作モード)
第2の動作モードは、第1のシャッタ板421を矢印a1とは反対の矢印b1方向に沿って上記第2の位置から上記第1の位置へ移動させ、第2のシャッタ板422を矢印a2とは反対の矢印b2方向に沿って上記第4の位置から上記第3の位置へ移動させる。
第2の動作モードは、第1のシャッタ板421を矢印a1とは反対の矢印b1方向に沿って上記第2の位置から上記第1の位置へ移動させ、第2のシャッタ板422を矢印a2とは反対の矢印b2方向に沿って上記第4の位置から上記第3の位置へ移動させる。
第2の動作モードは、第1の動作モードの初期状態へ第1および第2のシャッタ板421,422を各々復帰させるための動作モードである。矢印b1およびb2方向への第1および第2のシャッタ板421,422の移動速度は、典型的には、各々同一の速度に設定され、その値は、矢印a1およびa2方向への移動時よりも大きい速度に設定される。
[成膜方法]
次に、本実施形態に係る成膜方法について、成膜装置100の動作と併せて説明する。
次に、本実施形態に係る成膜方法について、成膜装置100の動作と併せて説明する。
成膜室10における成膜処理の開始時、第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422は、図2に示すように、第1の位置および第3の位置にそれぞれ停止している。蒸発源20は、蒸着材料を加熱し蒸気を発生させるが、開口部410が第1のシャッタ板421により閉塞されることで、当該蒸気の成膜位置P0への到達が阻止される。
搬送レール32上の複数のキャリア31は、基板WおよびマスクMを保持した状態で、搬送ライン30T上を矢印A方向に沿って一定速度V1で成膜位置P0へ順次搬送される。第1のシャッタ板421は、図2に示すように基板W1を保持する先頭のキャリア31が成膜位置P0の直前に到達するまで上記第1の位置に停止し、開口部410を閉塞する。このとき第2のシャッタ板422は、上記第3の位置に停止している。
図3に示すように、基板W1を保持するキャリア31が成膜位置P0への進入を開始すると、シャッタ機構40は、そのキャリア31の移動に同期して、第1のシャッタ板421を矢印a1方向に速度V1で移動させる(第1の動作モード)。これにより開口部410の上流側の一部が開放されるため、蒸発源20から放出される蒸着材料の蒸気Dvの一部が成膜位置P0へ到達し、基板W1の成膜面の前方領域に堆積する。
第1のシャッタ板421が移動を開始するタイミングは、キャリア31の前端よりも下流側へ蒸気Dvが放出されることを阻止できるものであれば、特に限定されない。本実施形態では、開口部410の開放初期時に蒸気Dvが基板W1の前端(進行方向前方側の端部)へ到達するタイミングで、第1のシャッタ板421の移動が開始される。この場合、第1のシャッタ板421が上記第2の位置へ到達するまでの間、蒸気Dvが基板W1の前端よりも下流側へ放出されることが阻止される。
キャリア31および第1のシャッタ板421の相互に同期した移動により、開口部410の開放領域も徐々に拡大し、これにより基板W1の成膜領域も拡大される。そして図4に示すように、第1のシャッタ板421が上記第2の位置に達すると、第1のシャッタ板421は停止し、全開に開放された開口部410を介して蒸気Dvが基板W1の成膜面のほぼ全域に堆積する。
続いて図5に示すように、基板W1を保持するキャリア31が成膜位置P0よりも下流側へ移動を開始すると、シャッタ機構40は、そのキャリア31の移動に同期して、第2のシャッタ板422を矢印a2方向に速度V1で移動させる(第1の動作モード)。これにより開口部410の上流側の一部が閉塞されるため、開口部410から成膜位置P0への蒸気Dvの放出範囲が制限される。
第2のシャッタ板422が移動を開始するタイミングは、キャリア31の後端よりも上流側へ蒸気Dvが放出されることを阻止できるものであれば、特に限定されない。本実施形態では、基板W1の後端(進行方向後方側の端部)よりも上流側へ蒸気Dvが放出されることを阻止するタイミングで、第2のシャッタ板422の移動が開始される。この場合、第2のシャッタ板422が上記第4の位置へ到達するまでの間、上記Dvが基板W1の後端よりも下流側へ放出されることが阻止される。
キャリア31および第2のシャッタ板422の相互に同期した移動により、開口部410の開放領域も徐々に縮小し、これにより基板W1の成膜領域も狭くなる。そして図6に示すように、第2のシャッタ板422が上記第4の位置に達すると、第2のシャッタ板422は停止し、開口部410は閉塞される。これにより蒸発源20から成膜位置P0への蒸気Dvの放出が阻止される。
続いて図7に示すように、基板W1への成膜が完了したキャリア31が成膜位置P0よりも下流側へ移動すると、シャッタ機構40は、第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422をそれぞれ上記第1および第3の位置から上記第2および第4の位置へ速度V2で移動させる(第2の動作モード)。これにより、第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422は、図2に示した初期位置へ復帰する。
上記第2の動作モードの実行中、第1および第2のシャッタ板421,422により開口部410が閉塞されるように、シャッタ機構40は、両シャッタ板421,422を各々同時に移動させる。これにより、基板W1を保持したキャリア31が成膜位置P0を通過した後、次なる基板W2を保持したキャリア31が成膜位置P0へ到達するまでの間にわたって、蒸気Dvが成膜位置P0へ放出されることを阻止することができる。
ここで、蒸発源20からの開口部410の遮蔽率を高めるため、第1のシャッタ板421と第2のシャッタ板422との間のY軸方向に沿った間隙は極力小さいほど好ましい。さらに好ましくは、例えば図6あるいは図7において、第1のシャッタ板421の左端部と第2のシャッタ板422の右端部とは、開口部410から見たときに相互に重なり合うように両シャッタ板421,422が設計される。
また速度V2の値は、基板W1を保持したキャリア31が成膜位置P0を通過後、基板W2を保持したキャリア31が成膜位置へ到達する前に、第1および第2のシャッタ板421,422がそれぞれ第1の位置および第3の位置へ復帰することができれば、特に限定されない。典型的には、速度V2は、速度V1よりも大きい値に設定される。
以上のようにして、基板W1を保持したキャリア31が成膜位置P0を通過後、基板W2を保持したキャリアが成膜位置Pへ到達するまでの間、成膜位置P0は、第1のシャッタ板421で蒸発源20から遮蔽される。以降、上述と同様に、成膜位置P0を速度V1で通過するキャリア31の移動に同期して、第1のシャッタ板421を上記第1の位置から第2の位置へ速度V1で移動させることで、蒸発源20から放出された蒸気Dvが基板W2上に堆積する。さらにキャリア31の移動に同期して、第2のシャッタ板422を上記第3の位置から第4の位置へ速度V1で移動させることで、成膜位置P0が蒸発源20から遮蔽される。
本実施形態の成膜装置100において、シャッタ機構40は、成膜位置P0を通過する基板Wよりも上流側または下流側への蒸気の放出を阻止するようにシャッタユニット42(第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422)を移動させる。これにより、間隔をおいて搬送される複数のキャリア31の隙間を通って、蒸発源20からの蒸気Dvが成膜室10内に拡散することを防止することができる。また、成膜室10内の汚染を低減することができるため、パーティクルの発生による膜質の低下を抑制できるとともに、メンテナンス頻度を減少させて装置稼働率の向上を図ることができる。
<第2の実施形態>
図8は、本発明の第2の実施形態に係る成膜装置の要部を示す概略側断面図である。以下、第1の実施形態と異なる構成について主に説明し、上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付しその説明を省略または簡略化する。
図8は、本発明の第2の実施形態に係る成膜装置の要部を示す概略側断面図である。以下、第1の実施形態と異なる構成について主に説明し、上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付しその説明を省略または簡略化する。
本実施形態の成膜装置200は、シャッタ機構400の構成が、第1の実施形態と異なる。すなわち本実施形態においてシャッタ機構400は、本体41と、シャッタユニット42とを有し、本体41は、蒸発源20から成膜位置P0へ向けて蒸着材料の蒸気Dvを導く通路を構成する開口部410を有する点で第1の実施形態と共通する。一方、本実施形態のシャッタ機構400においては、シャッタユニット42が、第1のシャッタ板421と、第2のシャッタ板422と、第3のシャッタ板423とを有する点で第1の実施形態と異なる。
第3のシャッタ板423は、板状あるいは軸状の部材で構成される。第3のシャッタ板423は、成膜位置P0と第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422との間に配置され、開口部410の一部の領域を閉塞可能に構成される。シャッタ機構400は、第1のシャッタ板421または第2のシャッタ板422の矢印a1,a2方向への移動に同期して、第3のシャッタ板423を上記方向に移動させる。
本実施形態において第3のシャッタ板423は、X軸方向に長手方向を有する軸状部材で構成され、開口部410のX軸方向に平行な幅寸法よりも大きい長さ寸法を有する。第3のシャッタ板423は、シャッタユニット42によって、図8に示す第1の退避位置と、図12に示す第2の退避位置との間をY軸方向に平行に往復移動可能に構成されている。上記第1の退避位置および第2の退避位置はそれぞれ開口部410の外側であって、開口部410を通過する蒸気Dvの流れを阻害しない位置に設定される。
本実施形態の成膜装置200は、搬送方向(矢印A方向)に2分割された成膜領域を有する基板への成膜に適用可能である。この場合、2つの成膜領域間に非成膜領域を形成するように第3のシャッタ板423の移動が制御される。第3のシャッタ板423の移動は、コントローラ50によって制御される。
図9〜図13は、成膜装置200の動作例を説明するシャッタ機構400の概略側断面図である。第1のシャッタ板421および第2のシャッタ板422の動作は上述の第1の実施形態と共通であるのではその詳細な説明は省略し、ここでは主として第3のシャッタ板423の動作について説明する。
図9に示すように、基板W1を保持したキャリア31が成膜位置P0への進入を開始すると、第3のシャッタ板423は、基板W1の矢印A方向への移動に同期して、矢印A方向と平行な矢印a3方向へ第1のシャッタ板421と同一の速度V1で移動する。第3のシャッタ板423は、第1のシャッタ板421により部分的に開放された開口部410の一部を遮蔽し、基板W1の成膜面に非成膜領域を形成する。本実施形態において第3のシャッタ板423は、基板W1をその移動方向に2分割するように成膜面の略中央部を蒸発源20から遮蔽する。
第3のシャッタ板423は、図10および図11に示すように、基板W1と同じ速度で一定に第2の退避位置へ移動する。これにより基板W1上の非成膜領域は、蒸発源20から見て常に一定の位置に形成されるため、当該非成膜領域を挟む上流側及び下流側各々の成膜領域に選択的に蒸着膜が形成されることになる。
図12に示すように第3のシャッタ板423が第2の退避位置へ到達したときは、基板W1への成膜が完了し、第2のシャッタ板422によって開口部410が閉塞される。その後、第3のシャッタ板423は、次なる基板W2を保持したキャリア31が成膜位置P0へ到達する前に、図13に示すように矢印a3方向とは反対の矢印b3方向に移動し、第1の退避位置へ復帰する。このとき第3のシャッタ板423は、第1および第2のシャッタ板421,422と同時に移動を開始し、第1および第2のシャッタ板421,422と同一の移動速度V2で移動する。
以上の動作を繰り返すことにより、後続する基板に対して同様の成膜処理を実行することが可能となる。本実施形態によれば、第1の実施形態と同様の作用効果を得つつ、成膜領域が2つに分割された2面取りの基板をも製造することが可能となる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
例えば以上の各実施形態では、蒸発源20から成膜位置P0へ向けて蒸着材料の蒸気Dvを導く通路が、本体41に設けられた開口部410で構成されたが、本体41の設置を省略して、第1および第2のシャッタ板421,422の間のY軸方向に沿った隙間で上記通路が構成されてもよい。
また以上の各実施形態では、第1および第2のシャッタ板421,422がそれぞれ単一の平板で構成されたが、これに代えて、各シャッタ板を折り畳み式、テレスコピック式のように複数の板材を組み合わせて構成されたシャッタ部材が採用されてもよい。
さらに以上の第2の実施形態では、第3のシャッタ板423が軸状部材で構成されたが、これに代えて、十字形状あるいは格子形状の部材で第3のシャッタ板が構成されてもよい。この場合、3面以上の複数面取りの基板を製造することが可能となる。
さらにシャッタ機構40,400には、成膜位置P0に搬送されたキャリアあるいは基板に対して、シャッタ板421,422あるいはこれらと第3のシャッタ板423とを位置合わせするためのアライメント機構が設けられてもよい。基板に対して高精度な成膜処理を実施することが可能となる。
そして以上の実施形態では、成膜装置として、真空蒸着装置を例に挙げて説明したが、これに限られず、スパッタ装置などの他の成膜装置にも本発明は適用可能である。
10…成膜室
20…蒸発源
30…搬送機構
31…キャリア
40,400…シャッタ機構
42…シャッタユニット
50…コントローラ
100,200…成膜装置
421…第1のシャッタ板
422…第2のシャッタ板
423…第3のシャッタ板
P0…成膜位置
W,W1,W2…基板
20…蒸発源
30…搬送機構
31…キャリア
40,400…シャッタ機構
42…シャッタユニット
50…コントローラ
100,200…成膜装置
421…第1のシャッタ板
422…第2のシャッタ板
423…第3のシャッタ板
P0…成膜位置
W,W1,W2…基板
Claims (6)
- 成膜室と、
前記成膜室に配置され、成膜材料の粒子を発生させる成膜源と、
基板を各々保持可能な複数のキャリアを有し、前記成膜源と対向する成膜位置を含む所定の搬送ラインに沿って前記複数のキャリアを一定速度で搬送する搬送機構と、
前記成膜源から前記成膜位置へ向けて前記成膜材料の粒子を導く通路と、前記成膜源と前記成膜位置との間に配置され前記通路の少なくとも一部の領域を閉塞可能なシャッタユニットとを有し、前記成膜位置を第1の方向に通過する前記複数のキャリア各々の移動に同期して、前記シャッタユニットを前記第1の方向に移動させることが可能なシャッタ機構と
を具備する成膜装置。 - 請求項1に記載の成膜装置であって、
前記シャッタユニットは、
前記通路を閉塞する第1の位置と前記通路を開放する第2の位置との間を移動可能な第1のシャッタ板と、
前記第1のシャッタ板よりも前記搬送ラインの上流側に配置され、前記通路を開放する第3の位置と前記通路を閉塞する第4の位置との間を移動可能な第2のシャッタ板とを有する
成膜装置。 - 請求項2に記載の成膜装置であって、
前記シャッタ機構は、
前記第1のシャッタ板を前記第1の方向に沿って、前記第1の位置から前記第2の位置へ移動させた後、前記第2のシャッタ板を前記第1の方向に沿って、前記第3の位置から前記第4の位置へ移動させる第1の動作と、
前記第1のシャッタ板を前記第1の方向とは反対の第2の方向に沿って前記第2の位置から前記第1の位置へ移動させ、前記第2のシャッタ板を前記第2の方向に沿って前記第4の位置から前記第3の位置へ移動させる第2の動作と、を実行するように構成される
成膜装置。 - 請求項2または3に記載の成膜装置であって、
前記シャッタユニットは、前記成膜位置と前記第1のシャッタ板および前記第2のシャッタ板との間に配置され前記通路の一部の領域を閉塞可能な第3のシャッタ板をさらに有し、
前記シャッタ機構は、前記第1のシャッタ板または前記第2のシャッタ板の前記第1の方向への移動に同期して、前記第3のシャッタ板を前記第1の方向に移動させる
成膜装置。 - 成膜室内で、基板を各々保持する第1のキャリアおよび第2のキャリアを成膜源と対向する成膜位置へ順次搬送し、
前記第1のキャリアが前記成膜位置を通過後、前記第2のキャリアが前記成膜位置へ到達するまでの間、前記成膜位置を第1のシャッタ板で前記成膜源から遮蔽し、
前記成膜位置を第1の方向に第1の速度で通過する前記第2のキャリアの移動に同期して、前記第1のシャッタ板を前記第1の方向へ前記第1の速度で移動させることで、前記成膜源から放出された成膜材料の粒子を前記第2のキャリア上の基板に堆積させ、
前記第2のキャリアの移動に同期して、第2のシャッタ板を前記第1の方向へ前記第1の速度で移動させることで、前記成膜位置を前記成膜源から遮蔽する
成膜方法。 - 請求項5に記載の成膜方法であって、さらに、
前記成膜位置と前記第1のシャッタ板および前記第2のシャッタ板との間に配置され、前記基板に非成膜領域を形成する第3のシャッタ板を、前記成膜位置を通過するキャリアの移動に同期して前記第1の方向へ前記第1の速度で移動させる
成膜方法。
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-
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