JP2001131733A - 基板通過型真空蒸着装置 - Google Patents
基板通過型真空蒸着装置Info
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- JP2001131733A JP2001131733A JP31667399A JP31667399A JP2001131733A JP 2001131733 A JP2001131733 A JP 2001131733A JP 31667399 A JP31667399 A JP 31667399A JP 31667399 A JP31667399 A JP 31667399A JP 2001131733 A JP2001131733 A JP 2001131733A
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Abstract
整可能とした基板通過型真空蒸着装置を提供する。 【解決手段】 基板1が通過する主チャンバー2と蒸着
原料3が配置された副チャンバー4とを開口部Hを介し
て連通させる基板通過型真空蒸着装置において、前記主
チャンバー2内に基板1と平行に進退でき、開口部Hの
後縁部位置を定める前段遮蔽板11および前記開口部の
前縁部位置を定める後段遮蔽板12が設けられている。
Description
チャンバーと蒸着原料が配置された副チャンバーとを備
えた基板通過型真空蒸着装置に関するものである。
する主チャンバー2と蒸着原料3が配置された副チャン
バー4とを備えた基板通過型真空蒸着装置は公知であ
る。この基板通過型真空蒸着装置は、基板1が通過する
主チャンバー2とプラズマガン5からのプラズマビーム
6の照射を受けて蒸発させられる蒸着原料3が配置さ
れ、主チャンバー2に隣接した副チャンバー4とを備
え、両チャンバーは、この両チャンバーを連通させる開
口部Hを有する仕切板7により区画されている。そし
て、基板1がテーブル8から主チャンバー2とは仕切り
弁9により遮断或は連通させられる装入室10に搬送さ
れてくると、装入室10の真空引きが開始される。さら
に、必要に応じて装入室10にて加熱処理等が施された
後、仕切り弁9が開かれ、基板1が主チャンバー2内に
搬送され、開口部Hを通過する間に、副チャンバー4か
らの蒸発粒子により基板1上への蒸着がなされる。この
装置では、開口部Hが基板1により完全に遮蔽されてい
ないと、蒸発粒子が主チャンバー2内に飛散し、主チャ
ンバー2内を汚染し、基板1上に形成された薄膜自体に
悪影響が生じる。
ものとして、主チャンバーと副チャンバーとを連通させ
る開口部にシャッター機構を備えた基板通過型真空蒸着
装置が提案されている(特開平9-184070号公報)。この
装置は、前記開口部の全幅を開閉する前段および後段シ
ャッター板を備えている。即ち、前段シャッター板の先
端および後段シャッター板の後端は開口部の後縁部と前
縁部との間を進退可能に設けられている。そして、基板
の先端が前記開口部を遮蔽した状態の前記後段シャッタ
ー板の後端位置に到達すると同時に、前記後段シャッタ
ー板がこの基板と平行に同期して移動を開始し、前記後
段シャッター板の後端が前記開口部の前縁部に到達する
と停止するとともに、前記基板の後端が前記前段シャッ
ター板の先端位置に到達すると同時に、前記後段シャッ
ター板がこの基板と平行に同期して移動を開始し、前記
開口部を遮蔽した状態になると移動を停止するようなっ
ている。その後、前段および後段シャッター板は元の位
置に戻り、前述した動作を繰返し、前記基板上への蒸着
が行われる。
板が通過する前後で前段シャッター板或は後段シャッタ
ー板により遮蔽するようにして、副チャンバーから主チ
ャンバー内への蒸発粒子の飛散を防止するようになって
いる。
よび前記特開平9-184070号公報に開示の装置の場合、前
記開口部の幅および位置が固定されているため、副チャ
ンバーから飛来する蒸発粒子の基板への入射角度および
入射範囲が前記開口部の位置や大きさにより規制される
ことになり、膜質改善等のために入射角度および入射範
囲変更の対策を講じることが難しいという問題がある。
即ち、何等かの対策を講じるには、装置を真空状態から
開放し、構造を改造するか条件に合った専用の装置を設
けておく必要があり、多大な手間および費用を強いられ
ていた。本発明は、斯る従来の問題点をなくすことを課
題としてなされたもので、基板への蒸発粒子の入射角度
および入射範囲を調整可能とした基板通過型真空蒸着装
置を提供しようとするものである。
に、第1発明は、基板が通過する主チャンバーと蒸着原
料が配置された副チャンバーとを開口部を介して連通さ
せる基板通過型真空蒸着装置において、前記主チャンバ
ー内に前記基板と平行に進退でき、前記開口部の後縁部
位置を定める前段遮蔽板および前記開口部の前縁部位置
を定める後段遮蔽板を設けた構成とした。
て、前記前段遮蔽板の先端および前記後段遮蔽板の後端
を前記開口部の任意に選定し得る後縁部位置にて当接さ
せた初期状態で前記基板の到達迄待機させ、前記後段遮
蔽板を前記基板の先端が前記後縁部位置に到達すると同
時に、この基板と平行に同期して移動を開始させ、前記
後段遮蔽板の後端が前記開口部の任意に選定し得る前縁
部位置に到達すると停止させ、前記前段遮蔽板を前記基
板の後端が前記後縁部位置に到達すると同時に、この基
板と平行に同期して移動を開始させ、前記前段遮蔽板の
先端が前記前縁部位置に到達すると前記前段および後段
遮蔽板を前記初期状態に戻す構成とした。
したがって説明する。図1は第1発明に係る基板通過型
真空蒸着装置を示し、図15に示す基板通過型真空蒸着
装置と共通する部分については、互いに同一番号を付し
て説明を省略する。この基板通過型真空蒸着装置では、
開口部HOの上方に基板1と平行に進退可能に前段遮蔽
板11および後段遮蔽板12が設けられている。この前
段遮蔽板11および後段遮蔽板12は、図示しない駆動
装置、例えばステッピングモータを含む駆動部により所
望距離だけ前進或は後退可能で、前段遮蔽板11の停止
位置および後段遮蔽板12の停止位置を調整することに
より開口部Hの幅および位置を調節することが可能とな
っている。したがって、装置を分解することなく基板1
への蒸発粒子の入射角度および入射範囲を容易に変える
ことが可能となる。
真空蒸着装置を示し、前述した基板通過型真空蒸着装置
と共通する部分については、互いに同一番号を付して説
明を省略する。この基板通過型真空蒸着装置では、開口
部HOの両側部に設けられたレール21上を移動して、
この開口部HOを開閉する前段遮蔽板22および後段遮
蔽板23が設けられている。また、前段遮蔽板22およ
び後段遮蔽板23の側部にはラック24が設けられてい
る。
び25B、例えばステッピングモータ或はACサーボモ
ータが主チャンバー2の壁部を貫いて設けられており、
その出力軸にはラック24に噛合うピニオン26が取付
けられている。そして、前段遮蔽板22および後段遮蔽
板23が所望距離だけ前後進できるようになっている。
また、前段遮蔽板22の後退限界位置および後段遮蔽板
23の前進限界位置を定めるための図示しない検出器が
設けられている。
あるときの前段遮蔽板22の先端位置を前段原点位置P
AOとし、後段遮蔽板23が前進限界位置にあるときの後
段遮蔽板23の後端位置を後段原点位置PBOとし、ま
た、基板1の進行方向に垂直な任意に定めた平面、例え
ばプラズマガン5の取付け面を含む平面を基準面PRと
する。基準面PRから前段遮蔽板22の先端の予め定め
られた始点位置PS、即ち、開口部Hの後縁部位置迄の
距離をL、基準面PRから後段遮蔽板23の後端の予め
定められた終点位置PE、即ち開口部Hの先縁部位置迄
の距離をM、基準面PRから前段原点位置PAO迄の距離
をα、基準面PRから後段原点位置PBO迄の距離をβと
する。
段遮蔽板23の動作について説明する。なお、モータ2
5Aおよび25Bはステッピングモータとし、これに入
力される1パルス当りの前段遮蔽板22および後段遮蔽
板23の移動量をmとする。
すように前段遮蔽板22をその先端が始点位置(開口部
Hの後縁部位置)PSに一致する迄移動させ、かつ後段
遮蔽板23をその後端が始点位置PSに一致する迄移動
させる。なお、この移動前の前段遮蔽板22および後段
遮蔽板23は、それぞれ前段原点位置PAOおよび後段原
点位置PBOにあるとすると、前段遮蔽板22のモータ2
5Aに対して(L−α)/mの+側パルスを入力して前
段遮蔽板22を始点位置PS迄前進させ、後段遮蔽板2
3のモータ25Bに対して(β−L)/mの−側パルス
を入力して始点位置PS迄後進させる。
れて来た基板1の先端が始点位置P Sに達すると同時
に、後段遮蔽板23の前進を開始し、図10に示すよう
に基板1と同期させて後段遮蔽板23の前進を続ける。
第3ステップで、図11に示すように後段遮蔽板23の
後端が終点位置PE(開口部Hの先縁部位置)に達する
と同時に、後段遮蔽板23を停止させて、前段遮蔽板2
2の先端と後段遮蔽板23の後端とで開口部Hを形成す
る。第4ステップで、図12に示すように搬送中の基板
1の後端が始点位置PSに達すると同時に、前段遮蔽板
22の前進を開始し、図13に示すように基板1と同期
させて前段遮蔽板22の前進を続ける。
遮蔽板22の前端が終点位置PEに達すると同時に、前
段遮蔽板22を停止させる。第6ステップで、前段遮蔽
板22をその先端が始点位置PS(開口部Hの後縁部位
置)に一致する迄後進させると同時に、後段遮蔽板23
をその後端が始点位置PSに一致する迄後進させて、前
記初期状態に戻す。以後、前述したステップを繰返しな
がら、成膜処理を行う一方、開口部Hの幅および位置を
変更する場合には、前記始点位置PSおよび終点位置PE
を予め決定しておき、前記同様に前段遮蔽板22および
後段遮蔽板23の停止位置を調節する。
では、前段遮蔽板22および後段遮蔽板23の停止位置
を調節することにより開口部Hの幅および位置を変える
ことが可能で、基板1への蒸発粒子の入射角度および入
射範囲を、基板1および蒸着原料3の特性、成膜仕様に
合った条件に容易に調整および準備することができる。
明によれば、主チャンバーと副チャンバーとを連通する
開口部の上方に、基板と平行に進退可能な前段遮蔽板お
よび後段遮蔽板を設け、前記開口部の幅および位置を調
節可能となっている。このため、装置を分解することな
く、前記開口部の幅および位置を容易に適宜変え得るの
で、基板への蒸発粒子の適正な入射角度および入射範囲
にするための調整、準備に要する手間を大幅に削減する
ことができるという効果を奏する。
副チャンバーとを連通する開口部の幅および位置を規定
する進退可能な前段遮蔽板および後段遮蔽板を設け、こ
の前段遮蔽板の先端および後段遮蔽板の後端を開口部の
任意に選定し得る後縁部位置にて当接させた初期状態で
基板の到達迄待機させ、前記前段遮蔽板の先端が前記開
口部の任意に選定し得る前縁部位置に到達すると、前記
前段遮蔽板および後段遮蔽板を前記初期状態に戻すよう
にしてある。
前記開口部を前記前段遮蔽板と後段遮蔽板とにより、或
は基板も加えて常時開口部を閉じた状態に保たれ、主チ
ャンバ内が蒸発粒子により汚染されるのを抑制すること
ができるという効果を奏する。
す図である。
図である。
テップ開始時の状態を示す図である。
テップ開始時の状態を示す図である。
ステップ継続中の状態を示す図である。
ステップ開始時の状態を示す図である。
ステップ開始時の状態を示す図である。
ステップ継続中の状態を示す図である。
ステップ開始時の状態を示す図である。
ある。
Claims (2)
- 【請求項1】 基板が通過する主チャンバーと蒸着原料
が配置された副チャンバーとを開口部を介して連通させ
る基板通過型真空蒸着装置において、前記主チャンバー
内に前記基板と平行に進退でき、前記開口部の後縁部位
置を定める前段遮蔽板および前記開口部の前縁部位置を
定める後段遮蔽板を設けたことを特徴とする基板通過型
真空蒸着装置。 - 【請求項2】 前記前段遮蔽板の先端および前記後段遮
蔽板の後端を前記開口部の任意に選定し得る後縁部位置
にて当接させた初期状態で前記基板の到達迄待機させ、
前記後段遮蔽板を前記基板の先端が前記後縁部位置に到
達すると同時に、この基板と平行に同期して移動を開始
させ、前記後段遮蔽板の後端が前記開口部の任意に選定
し得る前縁部位置に到達すると停止させ、前記前段遮蔽
板を前記基板の後端が前記後縁部位置に到達すると同時
に、この基板と平行に同期して移動を開始させ、前記前
段遮蔽板の先端が前記前縁部位置に到達すると前記前段
および後段遮蔽板を前記初期状態に戻すことを特徴とす
る請求項1に記載の基板通過型真空蒸着装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31667399A JP2001131733A (ja) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | 基板通過型真空蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31667399A JP2001131733A (ja) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | 基板通過型真空蒸着装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001131733A true JP2001131733A (ja) | 2001-05-15 |
Family
ID=18079646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31667399A Pending JP2001131733A (ja) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | 基板通過型真空蒸着装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001131733A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014173170A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成膜装置 |
JP2015137390A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 株式会社アルバック | 成膜装置および成膜方法 |
CN115537763A (zh) * | 2021-06-29 | 2022-12-30 | 鑫天虹(厦门)科技有限公司 | 开合式遮蔽构件及具有开合式遮蔽构件的薄膜沉积机台 |
-
1999
- 1999-11-08 JP JP31667399A patent/JP2001131733A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014173170A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成膜装置 |
JP2015137390A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 株式会社アルバック | 成膜装置および成膜方法 |
CN115537763A (zh) * | 2021-06-29 | 2022-12-30 | 鑫天虹(厦门)科技有限公司 | 开合式遮蔽构件及具有开合式遮蔽构件的薄膜沉积机台 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060920 |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20090212 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090303 |
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A02 | Decision of refusal |
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