JP2015103467A - 有機el表示装置及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】歩留りを向上させ、且つ画質を向上させた有機EL表示装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】有機EL表示装置の製造方法は、有機EL発光層を含む複数の画素を備える表示部と、有機EL発光層に接続されて有機EL発光層の表面を封止する封止膜から一部が露出された複数の端子を備える端子部と、を備える有機EL表示装置の製造方法であって、第1基板上に各画素に対応させてTFT駆動回路層及びTFT駆動回路層に接続された複数の端子を形成し、TFT駆動回路層上にTFT駆動回路層に接続された有機EL発光層を形成し、有機EL発光層上に封止膜を形成し、第1基板に対向して配置される第2基板を第1基板に接合し、第2基板上にタッチパネルのセンサ基板及び電極層を形成し、電極層の形成された側のセンサ基板上からエッチング処理を施すことにより、封止膜を除去して複数の端子を露出することを含む。
【選択図】図3

Description

本発明は、有機EL(electro-luminescence)発光層の封止手段を備えた有機EL表示装置及びその製造方法に関する。
近年、ディスプレイパネルの薄型化や高輝度化や高速化を目的として、有機EL表示装置の開発が進められている。有機EL表示装置は、有機発光ダイオード(organic light-emitting diode)から構成された画素を備えた表示装置であり、機械的な動作がない為に反応速度が速く、各画素自体が発光するため高輝度表示が可能になるとともに、バックライトが不要となるため薄型化が可能になるので、次世代の表示装置として期待されている。
図1は、有機EL表示装置10の積層構造の一例を示す縦断面図である。図1に示すように、有機EL発光層1は、ガラス等の硬質な基板2上に形成される。有機EL発光層1は、図1においては詳細な図示を省略しているが、例えば、基板2側から順に、TFT駆動回路層、反射電極、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層、透明電極が積層されることにより構成されてもよい。
有機EL発光層1は、雰囲気中の水分に曝されると急速に劣化するため、外気から密閉される必要がある。そこで、図1に示すように、有機EL発光層1の表面は、例えば、CVD成膜された窒化シリコン(SiN)膜等からなる透明な封止膜3によって覆われるとともに、封止膜3の表面は透明な樹脂4、5によって覆われることがある。以下では、図1に示す有機EL発光層1及び封止膜3の形成された基板7を「第1基板7」という。このような第1基板7上に、樹脂4、5を介してガラス等の硬質透明部材からなる対向基板6が接合されることにより有機EL表示装置10が構成される。
このような構成を備える有機EL表示装置10は、図2に示すように、画像を表示するための領域であって有機EL発光層1を含む複数の画素が配置される表示部12と、外部回路と電気的な接続を行う複数の端子13aが配置される領域である端子部13とを備える。図2は、有機EL表示装置10の概略構成を示す斜視図であり、表示部12及び端子部13を備える第1基板7の構成と、第1基板7に対向して配置される第2基板8及び第3基板9の構成を図示したものである。ここで、図2に示す第2基板8及び第3基板9は、図1に示す対向基板6に対応する。対向基板6は、図示した構成に限定されず、有機EL表示装置10の仕様に応じて他の複数の基板を含んで構成されるものであってもよい。第2基板8は、個々の画素に対応して形成されたカラーフィルタを備えるカラーフィルタ基板であってもよい。第3基板9は、タッチパネル機能を有するセンサデバイス等を備えたタッチパネルであってもよい。
図2に示すように、端子部13において、複数の端子13aは、図1に示す封止膜3、樹脂4、5並びに第2基板8及び第3基板9を含む対向基板6に覆われずに露出されて形成される。複数の端子13aの露出された端部は、例えば、フレキシブルプリント回路基板(FPC:Flexible printed circuits)等の駆動信号を供給する外部回路に接続される。また、複数の端子13aは、基板2上に形成された配線等を介して有機EL発光層1に接続される。
このように、有機EL表示装置10の製造工程上、有機EL発光層1を覆う封止膜3が基板2の全面を覆って形成される場合、端子部13において複数の端子13aを封止膜3から露出させる処理(以下、「端子出し」ともいう。)を行う必要がある。
複数の端子13aを露出させる方法としては、従来、端子部13上に封止膜3を形成した後、テープ剥離やエッチング(ドライまたはウェット)により端子部13上の封止膜3を除去する方法が知られている。端子部13上の封止膜3をエッチングにより除去する場合、第1基板7に第2基板8を貼り合せた後、エッチングを行う。これにより、端子部13以外は第2基板8自体がハードマスクとなるため、表示部12の封止膜3をエッチングすることなく、端子部13上の封止膜3を除去することができる。
ここで、封止膜3には、例えば、5μm以下のSiN膜、または1μm程度のアクリル積層膜(例えば、SiN/有機樹脂膜(アクリル)/SiN、SiN/SiO(またはa/Si)/有機樹脂膜(アクリル)/SiN)を用いることがある。このようなSiN膜またはアクリル積層膜からなる封止膜3に対してプラズマを用いたエッチング処理を施すと、第1基板7に形成された有機EL発光層1に、熱によるダメージを与える虞があった。例えば、第1基板7の温度が100℃以上となると、有機EL発光層1に含まれる有機EL材料には劣化や結晶化が生じ、有機EL表示装置10の信頼性を損なわせる虞があった。
このような熱による表示装置への影響を低減させるために、従来の表示装置には、例えば、発光パネルと拡散板との間に、線状又はメッシュ状の金属材からなる放熱板を配置する構成とするものがある(例えば、特許文献1参照)。
特開2007−328339号公報
しかしながら、上述した従来の表示装置のように、発光パネル側に放熱板を備える構成の場合には、発光パネルに対応する第1基板7に形成された封止膜3をエッチングにより除去して端子出しの処理を行う場合に、第1基板7に接合された第2基板8の側からエッチング処理を施すことから、第2基板8を介して有機EL発光層1に熱が伝わり、第1基板7側に備えられた放熱板によっては有機EL発光層1に対する熱の影響を低減させることができない虞があった。
また、このようなエッチング法を用いずに、例えば、剥離法により端子部13を覆う封止膜3を除去する場合は、剥離境界が不均一となり、剥離残りが生じる虞があった。また、端子部13を覆わない封止膜3をマスクを用いてパターニングにより形成する場合、マスクのクリーニングに別途の工程が必要となり、位置合わせには高い精度が要求されることから、製造工程が複雑化し、歩留りが低下する虞があった。
そこで、本発明は、簡易な製造工程により、従来の製造工程を大幅に変更することなく、歩留りを向上させて製造することのできる有機EL表示装置及びその製造方法を提供することを課題とする。
本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の製造方法は、有機EL発光層を含む複数の画素を備える表示部と、前記有機EL発光層にそれぞれ接続されて前記有機EL発光層の表面を封止する封止膜から一部が露出された複数の端子を備える端子部と、を備える有機EL表示装置の製造方法であって、第1基板上に前記複数の画素にそれぞれ対応させてTFT駆動回路層及び前記TFT駆動回路層に接続された前記複数の端子をそれぞれ形成し、前記TFT駆動回路層上に前記TFT駆動回路層にそれぞれ接続された前記有機EL発光層を形成し、前記有機EL発光層上に前記封止膜を形成し、前記第1基板に対向して配置されて前記表示部を覆う第2基板を前記第1基板に接合し、前記第2基板上にタッチパネルのセンサ基板及び電極層を形成し、前記電極層の形成された側の前記センサ基板上からエッチング処理を施すことにより、前記封止膜を除去して前記複数の端子を露出することを含むことを特徴とする。
前記電極層に含まれる電極は、ITOを用いて形成してもよい。
前記電極層を形成することは、前記電極層に含まれる電極に接続されて外部回路と接続される引き回し配線を形成することを含み、前記引き回し配線は、前記電極に用いられる材料よりも高導電性の材料を用いてもよい。
前記引き回し配線と前記第1基板の裏面とを電気的に接続する高熱伝導性の粘着フィルムを形成してもよい。
前記センサ基板の表面には前記エッチング処理により複数の凹部が形成されてもよい。
また、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置は、有機EL発光層を含む複数の画素を備える表示部と、前記有機EL発光層にそれぞれ接続されて前記有機EL発光層の表面を封止する封止膜から一部が露出された複数の端子を備える端子部と、を備える第1基板と、前記第1基板に対向して配置されて前記表示部を覆って前記第1基板と接合された第2基板と、前記第2基板上に配置されてセンサ基板及び電極層を含むタッチパネルと、を備え、前記センサ基板の表面には複数の凹部を備えることを特徴とする。
本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の積層構造の概略構成を示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の概略構成を示す斜視図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の製造工程を示すフロー図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の概略構成を示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の概略構成を示す断面図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の製造工程を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の製造工程を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の製造工程を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置の概略構成を示す断面図である。 従来の有機EL表示装置の製造工程を示すフロー図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々なる態様で実施することができる。
(有機EL表示装置10の構成)
まず、図1及び図2を参照し、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の概略構成について説明する。図1は、有機EL表示装置10の積層構造の概略構成を示す断面図であり、図2は、有機EL表示装置10の概略構成を示す斜視図である。なお、図1及び図2を参照して上述した構成については、以下、その詳細な説明を省略する。
図1に示すように、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10は、有機EL発光層1を含む複数の画素が配置された第1基板7と、第1基板7に対向して配置される対向基板6とを、ダム材4及び充填材5を介して貼り合わせた構成を有する。このとき、有機EL発光層1は、封止膜3によって覆われて形成される。
また、図2に示すように、有機EL表示装置10は、有機EL発光層1を含む複数の画素が配置された表示部12と、外部素子との電気的な接続を行うための複数の端子13aが配置される領域である端子部13とを含む。端子部13において、封止膜3は、複数の端子13aが露出されるようにその一部が除去されて形成される。
このような構成を備える本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造工程について、以下、図3乃至図9を参照して説明する。また、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の比較として、図10に示す従来の有機EL表示装置の製造工程を参照して説明する。
(有機EL表示装置10の製造工程)
図3は、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造工程を示すフロー図である。図4及び図5は、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の概略構成を示す断面図であり、図2に示すA−A´線の断面図に対応する。図6乃至図8は、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造工程を説明するための図である。図9は、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の概略構成を示す断面図であり、図2に示すB−B´線の断面図に対応する。図10は、従来の有機EL表示装置の製造工程を示すフロー図である。以下、図3に示すフロー図に基づき、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造工程を工程順に説明する。
(1)アレイ工程(S210)
まず、図3に示すアレイ工程S210において、製造用基板(図示せず)上に各有機EL表示装置10の形成領域に対応させて、それぞれ複数の配線及び複数の配線にそれぞれ接続される発光制御素子(TFT)を備えるTFT駆動回路層を形成する。ここで、製造用基板は、後述する工程において複数の有機EL表示装置10が個片化されて取り出される基板であり、各有機EL表示装置10においては図1に示す基板2に対応する。
TFT駆動回路層は、各画素に含まれる有機EL発光層1の発光を制御する発光制御素子を含む。発光制御素子は、各画素を選択的且つ発光量を調整して駆動するための駆動回路(Xドライバ、Yドライバ、シフトレジスタ等)及び各駆動回路に導通して各駆動回路に電源電圧や駆動信号を供給するとともにグランドへの接地を行う多数の配線に接続されるように形成する。
TFT駆動回路層上には、例えば、平坦化膜として、CVD法によって酸化シリコンや窒化シリコン等からなる絶縁層(図示せず)を形成する。絶縁層上には、図2に示す端子部13に対応する領域に、複数の端子13aを形成する。複数の端子13aは、絶縁層内部に形成されたコンタクトホール及びコンタクトホール内に形成された配線等を介して各発光制御素子に接続されている配線パターンの端部にそれぞれ接続される。
(2)EL工程(S220)
次に、EL工程S220において、上述した有機EL発光層1のうち、TFT駆動回路層を除く、例えば、反射電極、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層、透明電極が積層された構造を形成する。有機EL発光層1は、図2に示す表示部12に対応する領域に、各画素に対応させて、公知の方法を用いて形成する。
(3)封止形成(S230)
次に、封止形成の工程S230において、有機EL発光層1及び複数の端子13aを覆う封止膜3を形成する。封止膜3には、5μm以下の窒化シリコン(SiN)厚膜、または、1μm程度のアクリル積層膜(SiN/有機樹脂膜(アクリル)/SiNやSiN/SiO(or a-Si)/有機樹脂膜(アクリル)/SiN)を形成する。封止膜3は、CVD法等の公知の方法を用いて製造用基板の全面を覆って形成する。なお、ここまでの構成が、図1に示す第1基板7の構成に対応する。
酸素や水分から有機EL発光層1を保護する封止膜3は、単層構造や積層構造が適用される。単層構造では窒化シリコン(SiN)が用いられ、5μm以下の膜厚で形成される。一方、積層構造では、2層積層構造、3層積層構造およびそれらの繰り返し構造が利用される。一例として、3層積層構造では、第1無機膜/樹脂/第2無機膜が利用され、第1無機膜と有機樹脂膜との間に、さらに薄膜の無機膜を形成してもよい。第1および第2無機膜にはSi含有無機膜が適しており、具体的にはSiN、SiON(SiOxNy)、SiO(SiOx)がある。また、樹脂は、有機樹脂ではアクリル樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂など、また無機樹脂では、シロキサンなどのシリコーン樹脂などが適している。例えば、膜厚は、Si含有無機膜で200〜600nm、有機樹脂で200〜800nmが適している。
次に、封止膜3の形成された製造用基板上に、硬化前の粘度が比較的高い樹脂をディスペンサーによって塗布してダム材4を形成する。ダム材4は、例えば、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂等の、UV硬化型又は熱硬化型の透明樹脂を用いて形成してもよい。ダム材4の形状は、表示部12と端子部13との間の仕切り部材及び隣接する複数の有機EL表示装置10の間の仕切り部材として機能するバンク層であることから、表示部12を囲む額縁状の形状に形成してもよい。ダム材4を表示部12と端子部13との間に形成することにより、後述する製造工程においてダム材4の内側に充填される充填材5が端子部13に流出しないように構成することができる。このように、ダム材4は充填材5の領域を画定するものでもあることから、ダム材4に用いる樹脂は充填材5に用いる樹脂よりも硬化前の粘度が高い樹脂を用いるようにする。
このように形成された複数のダム材4の内側の表示部12上に、それぞれ充填材5として硬化前の粘度が比較的低い樹脂を所定のピッチで点状に滴下する。充填材5としては、例えば、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂等のUV硬化型又は熱硬化型の透明樹脂を用いて形成してもよい。
(4)第1基板7と第2基板8との貼り合せ(S240)
次に、貼り合せの工程S240において、減圧下のチャンバー内で、第1基板7に対応する製造用基板上に第2基板8に対応する製造用基板を貼り合わせ、両基板とダム材4によって囲まれる空間の全域に充填材5を押し広げ、大気圧下でダム材4及び充填材5を硬化させて接合させる。ここで、第2基板8に対応する製造用基板は、有機EL表示装置10の各画素に対応させてカラーフィルタが形成されたものとする。カラーフィルタは、第2基板8の第1基板7と対向する側面に形成され、第2基板8に形成された各カラーフィルタを、第1基板7上の各画素領域に対応させて位置合わせを行いながら第1基板7と第2基板8とを位置合わせして貼り合わせを行う。
なお、図示していないが、第2基板8に対応する製造用基板は、個々の有機EL表示装置10の表示部12を覆う大きさを備え、第2基板8の端子部13側の端部が端子部13上を覆わない形状を有するものであってもよい。例えば、第2基板8に対応する製造用基板は、図4に示す第2基板8のように、端子部13側の端部が端子部13上に突出しない形状とし、第2基板8の端子部13側の端と、センサ基板11の端子部13側の端とが略同一面上に揃った形状としてもよい。また、第2基板8に対応する製造用基板は、貼り合わせの工程S240において、第1基板7に対応する製造用基板の全面を覆って貼り合わされた後、後述する個片化の工程S250において個々の有機EL表示装置10毎に端子部13上を覆わない形状にそれぞれ切断されてもよい。このように、第2基板8は、端子部13上においては封止膜3から露出される複数の端子13aを覆わない形状に形成する。
第1基板7に対応する製造用基板と第2基板8に対応する製造用基板とを位置合わせを行って貼り合わせた後、ダム材4及び充填材5を硬化させることにより、第1基板7に対応する製造用基板と第2基板8に対応する製造用基板とを互いに接合させる。例えば、ダム材4に紫外線硬化型の樹脂を用いて、充填材5に熱硬化型の樹脂を用いた場合には、第2基板8を通してダム材4に紫外線を照射した後、加熱炉内で充填材5を熱硬化してもよい。このような貼り合わせの工程S240により、第1基板7に対応する製造用基板と第2基板8に対応する製造用基板とが接合された構成を得ることができる。
(5)個片化(S250)
次に、個片化の工程S250において、スクライブ・ブレーク等の公知の方法を用いて、第1基板7に対応する製造用基板と第2基板8に対応する製造用基板とが接合された構成を個々の有機EL表示装置10に対応する領域毎にそれぞれ切断する。なお、個片化の工程S250の後、図3に示すフロー図には図示していないが、有機EL表示装置10の仕様に応じて第2基板8上に偏光板を形成してもよい。
(6)タッチパネル(TP)の形成(S260)
個片化の工程S250の後、第2基板8上にそれぞれタッチパネル9の構造のうち、センサ基板11及びITO層12を形成する(S260)。本発明の一実施形態に用いられるタッチパネル9は、例えば、抵抗膜方式または静電容量方式のタッチパネルである。タッチパネル9は、図4に示すように、センサ基板11と、センサ基板11上に形成されるITO層12とを含む。
タッチパネル9は、一般に、ITO層12を設けたセンサ基板11上に、ハードコート基板(図示せず)が形成され、さらに筐体(図示せず)が形成されてその構造が完成する。しかし、本工程S260においては、タッチパネル9の構造のうち、センサ基板11上にITO層12が形成された構造までを形成する。従って、後述する端子出しの工程S270においては、ITO層12が最上層にある状態で封止膜3のエッチング処理が行われる。
ITO層12には、ITOからなる透明電極が所定のパターンで形成される。例えば、ITO層12に含まれる透明電極は格子状に形成され、外部IC等によって制御される。なお、タッチパネル9に使用される透明電極がITOであるとして、以下、ITO層12を備える構成を述べるが、ITOに限らず、センサ基板11上に形成される電極として、例えば、IZO、Agワイヤ、Agナノ粒子、グラフェン、CNT等の材料を用いてもよい。
センサ基板11及びITO層12は、第2基板8の端子部13側の端から突出して複数の端子13aの露出部分までを覆わない形状とする。このように、センサ基板11及びITO層12を端子部13上の露出される端子13aを覆わない形状とすることにより、後述する端子出しの工程S270において、端子部13上の封止膜3を除去することを物理的に阻害しない形状とすることができる。
例えば、センサ基板11及びITO層12は、図4に示すように、第2基板8の端子部13側の端と、センサ基板11の端子部13側の端とが略同一面上に揃った形状に形成してもよい。また、複数の端子13aと外部回路(FPC:フレキシブルプリント基板)16とが接続される領域以外の端子部13の領域については封止膜3を除去する必要はないことから、図5に示すように、外部回路16に直接接続されない領域上をセンサ基板11によって覆う構成としてもよい。このとき、図5には図示していないが、センサ基板11上のITO層12についてもセンサ基板11の形状に合わせて第2基板8の端から延長された形状に形成してもよい。
(7)端子出しの工程(S270)
次に、端子部13において複数の端子13aを覆う封止膜3を除去して複数の端子13aをそれぞれ露出させる端子出しの処理を行う(S270)。端子出しの処理は、個片化された構造(以下、「セル」ともいう。)をトレイ20に載せ、ドライエッチングプロセスによる一括処理にて行う。図6は、個片化された複数のセル10´がトレイ20上に配置された構成を図示したものである。なお、図6は、既に端子部13上の封止膜3が除去された構成を図示している。
トレイ20の材質は、熱伝導性の高いアルミニウム合金(A5052など)を利用し、さらにアルマイト処理にてコートしたものを用いる。また、トレイ20は一般的なエッチング装置に備えられているチラー(図示せず)により20℃程度に冷却される。トレイ20にパネル温度を熱移動させることで、エッチング処理による熱を短時間で放熱することができる。このような装置を用いてトレイ20を冷却しながらエッチング処理を行うことにより、有機EL発光層1を構成する有機材料に対して熱による劣化が生じることを防ぎ、有機EL発光層1の信頼性を損なわないようにすることができる。
ここで、図10に示す従来の製造工程のフロー図を参照すると、従来の端子出し処理S270は、第1基板7と第2基板8とを貼り合わせて個片化した後であって、タッチパネル9の形成工程S260よりも前に行われる。従って、従来の端子出し処理S270によると、直接的にエッチング処理による熱の影響を受けるのは、絶縁性のガラス基板にカラーフィルタ等が形成された第2基板8となる。このように、第2基板8が最上層にある場合にエッチング処理を行うと、エッチング処理によるプラズマ熱を絶縁性のガラス基板が直接的に受けることから、熱伝導されずにパネル温度が上昇する虞がある。また、従来の端子出し処理S270によると、第2基板8から有機EL発光層1を備える第1基板7までの距離が近いことから、プラズマ処理による熱が有機EL発光層1に直接的に影響する虞がある。
一方、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造工程においては、タッチパネル9の形成工程S260の後工程において、端子出しの処理S270が行われる。すなわち、タッチパネル9の構造のうち、ITO層12の形成後に端子出しの処理S270が行われるため、エッチング処理によるプラズマ熱を直接的に受けるのは最上層に配置されたITO層12となる。このとき、ITO層12には格子状のITOからなる透明電極が形成されていることから熱伝導されやすい。従って、エッチング処理によるプラズマ熱は、最上層に配置されたITO層12の格子状の電極によって放熱させることができる。
また、本発明の一実施形態に係る製造工程によれば、センサ基板11及びITO層12を形成した後に端子出しの処理S270を行うことから、エッチング処理による熱を直接的に受けやすい最上層部との間に距離を生じさせることもできる。また、エッチング処理による熱を直接的に受けるセンサ基板11の下には、熱伝導率の低いガラス基板(酸化シリコン)からなる第2基板8や樹脂4、5等が配置されているため、熱を有機EL発光層1に伝わり難くすることができる。従って、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置1の製造工程によれば、従来の端子出しの処理S270と比較して、有機EL発光層1が受ける熱によるダメージを低減させて封止膜3を除去することができる。
このような端子出し処理に使用するエッチングガスは、フッ素系ガス(例えば、SF、CF、NFなど)および酸素(O)の単体ガスもしくは混合ガスである。さらにアルゴン(Ar)や窒素(N)を添加する場合もある。このようなエッチングガスを用いることにより、封止膜3に窒化シリコン(SiN)膜を用いる場合においては、ITOに対するSiNの選択比が高いことからITO層12へのエッチングによるダメージを小さいものとすることができる。
ここで、ITO層12は塩素系のエッチングガスによりエッチングされる一方、フッ素系ガスによってはほぼエッチングされないという特徴を備える。従って、本発明においては、塩素系のエッチングガスは用いずに、フッ素系ガスを用いる。例えば、エッチングガスとしてSF/Oの混合ガスを利用した場合、ITO層12はほぼエッチングされない一方、センサ基板11に対してはSF/Oはエッチングが進むため、センサ基板11においては若干の膜減り(目減り)が起こる。このとき、図7(a)に示すエッチング処理前の構成においては平坦であったセンサ基板11の表面K1に、図7(b)に示すように、縦方向もしくは横方向の格子状に配列されたITO層12の形状に沿って膜減りが生じ、複数の凹部K2が形成される。なお、センサ基板11の主成分が酸化シリコン(SiO)のガラスであっても、ポリイミド樹脂(PI)のようなフレキシブル基板であっても同様に、ITO層12の配置位置を除いた位置に若干の膜減りが生じる。
また、エッチング処理前の端子部13においては、図8(a)に一例として図示するように、端子電極22上には2層のITO膜31、32が形成され、ITO膜32上に封止膜3が形成された構成を備える。ここで、配線21に接続された端子電極22は、発光制御素子(TFT)のソース/ドレイン電極の形成と同時に形成されてもよく、端子電極22上のITO膜31、32は、有機EL発光層1の透明電極の形成と同時に形成されてもよい。封止膜3をエッチングして除去することにより、端子部13においても、図8(b)に示すように、基板2の表面上には膜減りにより凹部K2が形成されることがある。
さらに、封止膜3に対するエッチング処理により、センサ基板11等に対してはエッチングガスによるドーピングが生じることがある。例えば、エッチングガスにSFを用いた場合にはSやFがドーピングされる可能性がある。しかし、ITO層12に対してFドーピングすることは、Fがドナーとなるため、低抵抗化するために好適である。
このように、本発明の一実施形態に係る製造工程によると、エッチング処理が施されていないセンサ基板と比較して、センサ基板11は例えばFドーピングによるとF濃度が高くなることがある。また、センサ基板11上のITO層12は、プラズマ熱による温度上昇により表面が結晶化することがある。さらに、ITO層12の引き回し配線にメタルを使用している場合にはエッチングガスに酸素を使用することによって配線の表面に酸化膜が形成されることがある。従って、このような特徴がセンサ基板11及びITO層12上に見られる場合には、本発明のように、センサ基板11及びITO層12の形成後に封止膜3を除去したことが分かる。また、図7(b)及び図8(b)に示す凹部K2がセンサ基板11上に見られる場合にも、センサ基板11及びITO層12の形成後に封止膜3を除去したことがわかる。なお、同様の特徴は、プロセスガスに、SF/Oに限らず、CFやNF等を使用する場合にも確認することができる。
ITO層12の電極が外部ICに接続される引き回し配線には、ITOからなる透明電極よりも高導電性の材料を用いることとする。これにより、表示部12に受ける熱を表示部12から外部ICへと繋がる引き回し配線によって逃がすことが可能となる。例えば、ITOの熱伝導率は、約8W/mKである一方、アルミニウムは約200W/mKであることから、引き回し配線にはアルミニウムを用いることもできる。このように、表示部12における透明導電膜をITO等で形成し、外部へと繋がる引き回し配線を高導電性および高熱導電性のメタルで構成することにより、表示部12上から周辺へ熱が伝わりやすくなる。なお、引き回し配線は、額縁状のブラックマトリクス下に形成されることから、透明である必要はない。
さらに、センサ基板11の引き回し配線の一部もしくは全てを、金属製(アルミニウム、マグネシウムなど)のトレイ20、またはエッチングチャンバー内の部材に接続させる構成としてもよい。このような構成を備えることにより、エッチング処理時のパネル温度を低減させることが可能となる。なお、トレイ20に接続させる構成の場合はチラーにより20℃程度に冷却されているのでより効果的である。
また、ITO層12の透明電極と、第1基板7の裏面とを電気的に接続することにより、エッチング処理による熱の放熱効果を得てもよい。図9に示すように、基板の積層構造の端部を覆うように高熱伝導性の粘着フィルム17を配置してITO層12の引き回し配線と第1基板7の裏面とを接続してもよい。このとき、ITO層12の引き回し配線が高熱伝導性の粘着フィルム17に接続されるように形成し、センサ基板11のITO層12の透明電極と、第1基板7の裏面とを接続させる。このような構成を備えることにより、エッチング処理の際にパネル温度が上昇したとしても、冷却されたトレイ20と第1基板7の裏面とが接触していることから、端部に配置された高熱伝導性の粘着フィルム17を放熱経路としてさらなる放熱効果を期待できる。
なお、タッチパネル9に使用される電極がITOであるとしてITO層12を備える構成について上述したが、センサ基板11上に形成される電極には、ITOの他にも、例えば、IZO、Agワイヤ、Agナノ粒子、グラフェン、CNT等の材料を用いてもよい。これらの材料を用いてセンサ基板11上に電極を形成した場合にも、上述したITO層12と同様に、パネル温度を低減させる効果を得ることができる。また、エッチング処理に用いるエッチングガス及び引き回し配線に用いる材料等についても、それぞれ電極の材料に応じて決定することにより、上述したITO層12と同様の放熱効果を得ることができる。
端子出し処理S270の後、タッチパネル9のセンサ基板11及びITO層12上には、ハードコート基板(図示せず)が形成され、さらに筐体(図示せず)が形成される。上述したように、端子出しの処理S270によってセンサ基板11の表面には膜減りによる凹部K2が形成されることから、センサ基板11の表面に形成された複数の凹部K2によって、凹部K2上にハードコート基板を形成することとなるため、センサ基板11に対するハードコート基板の密着性を高めることも可能となる。
(8)COG、FPCの形成工程(S280)
上述した端子出しの工程S270により、端子部13上の封止膜3は一部除去され、複数の端子13aが露出される。露出された複数の端子13aは、図4及び図5に示すように、COG実装方式により、異方性導電膜(ACF)15を介してFPC16を接続する(S280)。また、図示していないが、タッチパネル9においても外部IC等との接続が形成される。このような工程により、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10は形成される。
以上のとおり、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造方法によれば、タッチパネル9のセンサ基板11及びITO層12を形成した後に端子部13を覆う封止膜3を除去するエッチング処理を施すことにより、従来の製造工程を大幅に変更することなく、エッチング処理の熱をITO層12によって放熱させることができる。従って、パネル温度の上昇によって有機EL発光層1が受けるダメージを低減させることができる。これにより、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造方法によれば、有機EL発光層1の信頼性を向上させることができるため、画質を向上させた有機EL表示装置10を提供することが可能となる。
従って、本発明の一実施形態に係る有機EL表示装置10の製造方法によれば、簡易な製造工程により製造原価を低減しつつ、歩留りを向上させ、且つ画質を向上させた有機EL表示装置10を提供することができる。
1 有機EL発光層
2 基板
3 封止膜
4 ダム材(樹脂)
5 充填材(樹脂)
6 対向基板
7 第1基板
8 第2基板
9 タッチパネル(第3基板)
10 有機EL表示装置
11 センサ基板
12 ITO層
13 端子部
13a 端子
20 トレイ

Claims (9)

  1. 有機EL発光層を含む複数の画素を備える表示部と、前記有機EL発光層にそれぞれ接続されて前記有機EL発光層の表面を封止する封止膜から一部が露出された複数の端子を備える端子部と、を備える有機EL表示装置の製造方法であって、
    第1基板上に前記複数の画素にそれぞれ対応させてTFT駆動回路層及び前記TFT駆動回路層に接続された前記複数の端子をそれぞれ形成し、
    前記TFT駆動回路層上に前記TFT駆動回路層にそれぞれ接続された前記有機EL発光層を形成し、
    前記有機EL発光層上に前記封止膜を形成し、
    前記第1基板に対向して配置されて前記表示部を覆う第2基板を前記第1基板に接合し、
    前記第2基板上にタッチパネルのセンサ基板及び電極層を形成し、
    前記電極層の形成された側の前記センサ基板上からエッチング処理を施すことにより、前記封止膜を除去して前記複数の端子を露出することを含むことを特徴とする有機EL表示装置の製造方法。
  2. 前記電極層に含まれる電極を、ITOを用いて形成することを特徴とする請求項1に記載の有機EL表示装置の製造方法。
  3. 前記電極層を形成することは、前記電極層に含まれる電極に接続されて外部回路と接続される引き回し配線を形成することを含み、
    前記引き回し配線は、前記電極に用いられる材料よりも高導電性の材料を用いることを特徴とする請求項1または2に記載の有機EL表示装置の製造方法。
  4. 前記引き回し配線と前記第1基板の裏面とを電気的に接続する高熱伝導性の粘着フィルムを形成することをさらに含むことを特徴とする請求項3に記載の有機EL表示装置の製造方法。
  5. 前記センサ基板の表面には前記エッチング処理により複数の凹部が形成されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の有機EL表示装置の製造方法。
  6. 有機EL発光層を含む複数の画素を備える表示部と、前記有機EL発光層にそれぞれ接続されて前記有機EL発光層の表面を封止する封止膜から一部が露出された複数の端子を備える端子部と、を備える第1基板と、
    前記第1基板に対向して配置されて前記表示部を覆って前記第1基板と接合された第2基板と、
    前記第2基板上に配置されてセンサ基板及び電極層を含むタッチパネルと、を備え、
    前記センサ基板の表面には複数の凹部を備えることを特徴とする有機EL表示装置。
  7. 前記電極層に含まれる電極は、ITOからなることを特徴とする請求項6に記載の有機EL表示装置。
  8. 前記電極層に含まれる電極は、外部回路と接続される引き回し配線に接続され、
    前記引き回し配線は、前記電極に用いられる材料よりも高導電性の材料からなることを特徴とする請求項6または7に記載の有機EL表示装置。
  9. 前記引き回し配線と前記第1基板の裏面とを電気的に接続する高熱伝導性の粘着フィルム備えることを特徴とする請求項8に記載の有機EL表示装置。
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