JP2015096841A5 - - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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Description
制御回路１６０は、外部機器２００から同期信号を受けたときに、複数のカウンタの中でパルスを計数するカウンタを切り換える。これにより、連続的に放射線が入射する露光状態を維持しデッドタイムを生じさせずに放射線を検出できる。その結果、測定時間が短縮され、測定を高速化できる。また、計数がリードアウト時間分落ちることにより、統計誤差が本来の測定時間での計測より大きくなる状況を解消し、統計誤差を低減し高精度に測定することができる。
比較例２では、外部機器２００からのトリガ信号のエッジで第１カウンタは計数を開始している。最初の計数時間は、その後の繰り返し計数時間より長くなる。比較例２では、この最初の計数を捨てる必要がある。その後、トリガ信号のエッジで第１カウンタの計数を終了するとともに、その読み出しを開始している。読み出しが終了したタイミングで、カウンタ計数を始めている。このようにして第１カウンタによる計数とその読み出しを繰り返している。
実施例１では、第１カウンタと第２カウンタの計数時間がデッドタイム無く連続している。比較例１、２では、いずれも読み出し時間分のデッドタイムが生じており、連続露光ができない。
［第３の実施形態］
（単結晶構造解析装置）
上記のような放射線検出器をＸ線分析装置に組み込むことができる。図５は、Ｘ線分析装置３００の一例を示す平面図である。Ｘ線分析装置３００は、回折Ｘ線像を撮影するための単結晶構造解析装置であり、Ｘ線源３１０、試料台３２０、アーム３３０、制御部３４０および放射線検出器１００を備えている。Ｘ線源３１０は、シャッタレスであり、連続してＸ線を試料Ｓ０に照射している。
（単結晶構造解析装置）
上記のような放射線検出器をＸ線分析装置に組み込むことができる。図５は、Ｘ線分析装置３００の一例を示す平面図である。Ｘ線分析装置３００は、回折Ｘ線像を撮影するための単結晶構造解析装置であり、Ｘ線源３１０、試料台３２０、アーム３３０、制御部３４０および放射線検出器１００を備えている。Ｘ線源３１０は、シャッタレスであり、連続してＸ線を試料Ｓ０に照射している。
ローラ４２０の回転によりベルト４２５が動き、図中矢印の方向に製品Ｓ１を移動させている。制御部４４０の制御によりベルト４２５は一定の速度で移動している。放射線検出器１００は、ベルト４２５および製品Ｓ１を挟んでＸ線源４１０の反対側に設けられており、ベルト４２５とともに製品Ｓ１の移動が制御されている。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013237225A JP6182758B2 (ja) | 2013-11-15 | 2013-11-15 | 放射線検出器、これを用いたｘ線分析装置および放射線検出方法 |
| US14/522,717 US20150212213A1 (en) | 2013-11-15 | 2014-10-24 | Radiation detector, and x-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same |
| GB1419199.3A GB2521519B (en) | 2013-11-15 | 2014-10-29 | Radiation detector, and x-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same |
| CN201410641399.1A CN104656114B (zh) | 2013-11-15 | 2014-11-13 | X射线分析装置及x射线检测方法 |
| DE102014223175.2A DE102014223175A1 (de) | 2013-11-15 | 2014-11-13 | Strahlungsdetektor und Röntgenanalysevorrichtung und Strahlungsdetektionsverfahren, das dieselbeverwendet |
| US15/680,833 US9945961B2 (en) | 2013-11-15 | 2017-08-18 | Radiation detector, and X-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013237225A JP6182758B2 (ja) | 2013-11-15 | 2013-11-15 | 放射線検出器、これを用いたｘ線分析装置および放射線検出方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015096841A JP2015096841A (ja) | 2015-05-21 |
| JP2015096841A5 true JP2015096841A5 (ja) | 2016-03-24 |
| JP6182758B2 JP6182758B2 (ja) | 2017-08-23 |
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ID=53184540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013237225A Active JP6182758B2 (ja) | 2013-11-15 | 2013-11-15 | 放射線検出器、これを用いたｘ線分析装置および放射線検出方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US20150212213A1 (ja) |
| JP (1) | JP6182758B2 (ja) |
| CN (1) | CN104656114B (ja) |
| DE (1) | DE102014223175A1 (ja) |
| GB (1) | GB2521519B (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9547489B2 (en) * | 2014-03-31 | 2017-01-17 | Qualcomm Incorporated | System and method for modifying a sequence of instructions in a read-only memory of a computing device |
| ES2911717T3 (es) * | 2015-12-28 | 2022-05-20 | Univ Washington | Métodos para alinear un espectrómetro |
| CN106019355B (zh) * | 2016-07-07 | 2018-08-28 | 清华大学 | 辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 |
| JP7088555B2 (ja) * | 2019-03-04 | 2022-06-21 | 株式会社リガク | 放射線検出器および放射線検出方法 |
| CN113219520B (zh) * | 2021-05-10 | 2023-05-16 | 中国辐射防护研究院 | 一种可产生单脉冲x射线的辐射装置和方法 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5617431A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-19 | Toshiba Corp | Data processor |
| JPS63127180A (ja) * | 1986-11-17 | 1988-05-31 | Nippon X-Ray Kk | Ｘ線分析装置 |
| JPS6457189A (en) * | 1987-08-28 | 1989-03-03 | Sumitomo Heavy Industries | Method for counting discrete pulse |
| GB8914910D0 (en) * | 1989-06-29 | 1989-08-23 | Vg Instr Group | Charge transducer |
| JP2830482B2 (ja) | 1991-01-11 | 1998-12-02 | 株式会社ニコン | 高ダイナミックレンジ撮像装置 |
| JPH06300851A (ja) * | 1993-04-15 | 1994-10-28 | Toshiba Corp | シンチレーション検出器 |
| JPH10126692A (ja) | 1996-10-16 | 1998-05-15 | Sony Corp | ビデオカメラとその映像読み出し方法 |
| DE10012337A1 (de) * | 2000-03-14 | 2001-10-11 | Peter Fischer | Schaltungsanordnung zum kontinuierlichen Zählen von Impulsen ohne Totzeit |
| JP2003075373A (ja) | 2001-08-31 | 2003-03-12 | Rigaku Corp | Ｘ線露光装置及びｘ線測定装置 |
| FI119173B (fi) * | 2001-11-23 | 2008-08-29 | Planmed Oy | Anturijärjestely ja menetelmä digitaalisessa pyyhkäisykuvantamisessa |
| JP3731207B2 (ja) * | 2003-09-17 | 2006-01-05 | 株式会社リガク | Ｘ線分析装置 |
| EP2076791B1 (en) * | 2006-10-25 | 2015-04-22 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus, imaging device and method for detecting x-ray radiation |
| FI122647B (fi) * | 2009-06-09 | 2012-05-15 | Planmeca Oy | Digitaaliröntgenanturijärjestely ja digitaalinen röntgenkuvantamismenetelmä |
-
2013
- 2013-11-15 JP JP2013237225A patent/JP6182758B2/ja active Active
-
2014
- 2014-10-24 US US14/522,717 patent/US20150212213A1/en not_active Abandoned
- 2014-10-29 GB GB1419199.3A patent/GB2521519B/en active Active
- 2014-11-13 CN CN201410641399.1A patent/CN104656114B/zh active Active
- 2014-11-13 DE DE102014223175.2A patent/DE102014223175A1/de active Pending
-
2017
- 2017-08-18 US US15/680,833 patent/US9945961B2/en active Active
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