JP2015036625A5 - - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 65
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 238000004080 punching Methods 0.000 claims description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 4
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 2
- 230000003028 elevating Effects 0.000 claims 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013167429A JP5797240B2 (ja) | 2013-08-12 | 2013-08-12 | プリント基板検査装置 |
CN201480032844.2A CN105358994B (zh) | 2013-08-12 | 2014-08-05 | 印刷基板检查装置 |
PCT/JP2014/070549 WO2015022875A1 (ja) | 2013-08-12 | 2014-08-05 | プリント基板検査装置 |
KR1020157036531A KR101735992B1 (ko) | 2013-08-12 | 2014-08-05 | 프린트 기판 검사 장치 |
TW103127590A TWI528040B (zh) | 2013-08-12 | 2014-08-12 | Printed board inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013167429A JP5797240B2 (ja) | 2013-08-12 | 2013-08-12 | プリント基板検査装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015036625A JP2015036625A (ja) | 2015-02-23 |
JP2015036625A5 true JP2015036625A5 (zh) | 2015-05-07 |
JP5797240B2 JP5797240B2 (ja) | 2015-10-21 |
Family
ID=52468262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013167429A Active JP5797240B2 (ja) | 2013-08-12 | 2013-08-12 | プリント基板検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5797240B2 (zh) |
KR (1) | KR101735992B1 (zh) |
CN (1) | CN105358994B (zh) |
TW (1) | TWI528040B (zh) |
WO (1) | WO2015022875A1 (zh) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR200485752Y1 (ko) * | 2015-12-21 | 2018-02-19 | (주)영우디에스피 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 유닛 클램핑 장치 |
JP6611251B2 (ja) * | 2016-03-22 | 2019-11-27 | ヤマハファインテック株式会社 | 検査治具、検査装置及び検査方法 |
JP6564345B2 (ja) * | 2016-05-25 | 2019-08-21 | ヤマハファインテック株式会社 | 電気検査方法及び電気検査装置 |
JP6726077B2 (ja) * | 2016-10-13 | 2020-07-22 | ヤマハファインテック株式会社 | 処理装置 |
JP6834548B2 (ja) * | 2017-02-06 | 2021-02-24 | 富士ゼロックス株式会社 | 支持構造、検査装置 |
CN107015058A (zh) * | 2017-03-17 | 2017-08-04 | 广东长盈精密技术有限公司 | 自动化测试装置 |
JP2019052914A (ja) * | 2017-09-14 | 2019-04-04 | 日本電産サンキョー株式会社 | 検査装置 |
EP3470857A1 (en) * | 2017-10-10 | 2019-04-17 | Fitech sp. z o.o. | Press assembly for an in-circuit tester |
JP7124834B2 (ja) * | 2017-12-26 | 2022-08-24 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置 |
KR102200527B1 (ko) * | 2019-04-19 | 2021-01-11 | 주식회사 아이에스시 | 소켓 보드 조립체 |
TWI692644B (zh) * | 2019-06-18 | 2020-05-01 | 旺矽科技股份有限公司 | 電子元件針測裝置 |
WO2021115169A1 (zh) * | 2019-12-13 | 2021-06-17 | 山东才聚电子科技有限公司 | 一种芯片检测装置、芯片检测系统及控制方法 |
KR20220119371A (ko) | 2019-12-20 | 2022-08-29 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 검사 장치 |
CN112285533B (zh) * | 2020-10-20 | 2024-06-28 | 苏州中科安源信息技术有限公司 | 一种集成电路板自动化检测线 |
KR102696950B1 (ko) * | 2022-03-02 | 2024-08-21 | 해성디에스 주식회사 | 다층 회로 기판 검사 장치 |
CN114428207B (zh) * | 2022-04-06 | 2022-06-28 | 深圳市恒讯通电子有限公司 | 印刷电路板测试设备 |
CN115848769B (zh) * | 2022-12-02 | 2023-11-14 | 苏州冠韵威电子技术有限公司 | 一种具有自动贴标功能的工件智能测试平台 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0454468A (ja) * | 1990-06-25 | 1992-02-21 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | セラミック配線基板の導通/絶縁検査装置 |
JPH0735808A (ja) * | 1993-07-21 | 1995-02-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | コンタクトプローブ移動式回路基板両面検査装置 |
JP3313939B2 (ja) * | 1995-06-13 | 2002-08-12 | セイコープレシジョン株式会社 | ワーク供給装置 |
JP4047456B2 (ja) * | 1998-05-29 | 2008-02-13 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置 |
CN2518113Y (zh) * | 2001-12-14 | 2002-10-23 | 耀华电子股份有限公司 | 电路板测试用复合式模具 |
CN2658755Y (zh) * | 2003-09-19 | 2004-11-24 | 王云阶 | 复合式治具 |
JP4481111B2 (ja) * | 2004-08-26 | 2010-06-16 | 三井金属鉱業株式会社 | 導体パターンの電気検査用前処理方法、導体パターンの電気検査方法、導体パターンの電気検査用前処理装置、導体パターンの電気検査装置、検査済みプリント配線板、及び検査済み半導体装置 |
JP4835317B2 (ja) * | 2006-08-10 | 2011-12-14 | パナソニック株式会社 | プリント配線板の電気検査方法 |
JP2011185702A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Yamaha Fine Technologies Co Ltd | 回路基板の電気検査方法及び電気検査装置 |
JP2011242260A (ja) * | 2010-05-18 | 2011-12-01 | Gardian Japan Co Ltd | 配線検査治具 |
-
2013
- 2013-08-12 JP JP2013167429A patent/JP5797240B2/ja active Active
-
2014
- 2014-08-05 CN CN201480032844.2A patent/CN105358994B/zh active Active
- 2014-08-05 KR KR1020157036531A patent/KR101735992B1/ko active IP Right Grant
- 2014-08-05 WO PCT/JP2014/070549 patent/WO2015022875A1/ja active Application Filing
- 2014-08-12 TW TW103127590A patent/TWI528040B/zh active
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