JP2015018848A - 基板処理システム、基板処理システムの制御方法、及び記憶媒体 - Google Patents

基板処理システム、基板処理システムの制御方法、及び記憶媒体 Download PDF

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Abstract

【課題】装置の大型化を招くことなく簡単かつ確実にノズルからの処理液の吐出確認を行えるようにする。【解決手段】基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムであって、前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたことを検出する(ステップS103)治具センサ部と、前記ノズルからの処理液の吐出を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記治具センサ部の検出に基づき前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断した場合、前記ノズルの処理液の吐出を許可する(ステップS106)。【選択図】図11

Description

本発明は、半導体ウエハやフラットパネルディスプレイ用ガラス基板などの基板を処理液により処理する基板処理システムに関する。
枚葉式の基板処理装置を備えた基板処理システムが知られている。枚葉式の基板処理装置は基板を鉛直軸周りに回転自在に保持して基板を回転させ、ノズルから基板の被処理面に種々の処理液を供給する。基板処理システムを正常に稼動させるため、使用者は、各基板処理装置が有するノズルが処理液を適切に吐出していることを確認する必要がある。特許文献1では、基板処理装置の処理室内にノズルから吐出される処理液を撮影するCCDカメラと吐出された処理液を受ける容器を設け、CCDカメラの撮影画像から処理液の吐出状態が確認できるようにしている。
特開2003−136015号
しかしながら、特許文献1では、吐出された処理液を受ける容器等を予め処理室内に設けなければならないので装置が大型化してしまう。これを避けるために、容器等を有する確認用治具を基板処理装置とは別に作成しておき、使用者が必要なときのみこの確認用治具を装置の処理室内に設置するという手法もある。基板処理システムはノズルからの処理液の吐出を禁止する状態にできるので、使用者はシステムをこの禁止状態に設定してから確認用治具を処理室内に設置し、治具の設置後に使用者自ら禁止状態の設定を解除する。しかし、この手法では、例えば使用者が不慣れなために確認用治具が正しく設置されていなかった場合、禁止状態の設定が解除された後、意図しない処理室内の場所に処理液が吐出されてしまうおそれがある。
本発明は、上述した問題点を解決するためのものであり、装置の大型化を招くことなく簡単かつ確実にノズルからの処理液の吐出確認を行えるようにする。
本発明では、基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムであって、前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたことを検出する治具センサ部と、前記ノズルからの処理液の吐出を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記治具センサ部の検出に基づき前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断した場合、前記ノズルからの処理液の吐出を許可することにした。
また、前記制御部は、前記ノズルからの処理液の吐出を禁止し前記基板処理装置内をメンテナンス可能とするメンテナンスモードと、前記ノズルからの処理液の吐出を許可し前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認可能とする吐出確認モードとに、動作モードを変更可能であり、動作モードが前記メンテナンスモードに設定されている状態において前記治具センサ部により前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたことを検出した場合、動作モードを前記メンテナンスモードから前記吐出確認モードに変更して前記ノズルからの処理液の吐出を許可することにした。
また、前記基板処理装置は、開閉式パネルと前記開閉式パネルの開閉を検出する開閉センサとをさらに備え、前記制御部は、動作モードが前記メンテナンスモードに設定されている状態において前記治具センサ部の検出に基づき前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断し、かつ、前記開閉センサの検出に基づき前記開閉式パネルが閉められたと判断した場合、動作モードを前記メンテナンスモードから前記吐出確認モードに変更することにした。
また、前記制御部は、動作モードが前記吐出確認モードに設定されている状態において前記開閉センサにより前記開閉式パネルが開けられたことを検出した場合、動作モードを前記吐出確認モードから前記メンテナンスモードに変更することにした。
また、前記基板処理装置は、使用者が前記処理液の吐出に関する操作を行うための操作装置をさらに備え、前記制御部は、前記吐出確認モードにおいて、前記操作装置からの操作入力に応じて前記ノズルからの処理液の吐出を制御することにした。
また、前記確認用冶具は、前記ノズルからの処理液の吐出状態を撮影するためのカメラを有し、前記制御部は、前記吐出確認モードにおいて前記カメラにより得られた画像を前記操作装置に表示させることにした。
また、前記基板処理装置は、前記基板の下面に対して処理液を吐出するバックノズルを有し、前記カメラは、前記確認用治具の設置時において前記バックノズルを撮影することにした。
また、前記確認用治具は、前記治具センサ部に対応する治具側対応センサ部をさらに備え、前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置された場合、前記ノズルからの処理液の吐出方向に前記液受け部が位置し、前記治具側対応センサ部が前記治具センサ部に対面することにした。
また、本発明では、基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムの制御方法であって、前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたか否かを判断し、前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記判断ステップにより前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断された場合、前記ノズルの処理液の吐出を許可することにした。
また、本発明では、基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムの制御プログラムを記憶した記憶媒体であって、前記制御プログラムは、前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたか否かを判断する判断ステップと、前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記判断ステップにより前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断された場合、前記ノズルの処理液の吐出を許可する許可ステップと、を備えることにした。
本発明によれば、装置の大型化を招くことなく簡単かつ確実にノズルからの処理液の吐出確認を行うことができる。
本実施形態の基板処理システムの概略構成を示す平面図。 基板処理装置の平面図。 基板処理装置をA−A’方向から見た縦断面図。 確認用治具の全体構成を示す斜視図。 フロントノズル液受け部の詳細な構成を示す斜視図。 バックノズル液受け部の詳細な構成を示す斜視図。 基板処理システムの電気的な接続関係を示すブロック図。 基板処理装置に対して確認用冶具を設置した場合における、各ユニットの位置関係を示す縦断面図。 基板処理装置に対して確認用冶具を設置した場合における、各ユニットの位置関係を示す斜視図。 確認用治具が基板処理装置の所定位置に設置定された状態を示す斜視図。 基板処理システムの吐出確認に係る動作ステップを示すフローチャート。 操作パネルの表示画面の一例を示す正面図。 フロントノズル液受け部の洗浄手順を示す説明図。 バックノズル液受け部の洗浄動作を示す斜視図。
以下、図1乃至図14を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
本実施の形態による基板処理装置1によって処理されるウエハW(基板)には、例えばSiNからなる膜が形成されており、この膜は、ウエハWの上面からウエハWの側端部を介してウエハWの下面側の周縁部に跨るように形成されている。ここで基板処理装置1は、薬液をウエハWに対して供給することにより、ウエハWに形成されている膜のうちウエハWの周縁部に位置する膜を除去するよう構成さている。はじめに図1を参照し、このような基板処理装置1を含む基板処理システム100について説明する。
なおウエハWの上面または下面とは、ウエハWが後述の基板保持部21によって水平に保持されているときに上または下を向いている面である。またウエハWの周縁部とは、ウエハWの側端部近傍の領域であって、半導体装置の回路パターンが形成されない領域のことである。
図1は、基板処理システム100の概略構成を示す平面図である。図1に示すように、基板処理システム100は、複数のウエハWを収容するウエハキャリアCが設けられ、ウエハWの搬入・搬出を行う搬入出ステーション10Aと、ウエハWの液処理を行うための処理ステーション10Bと、を備えている。搬入出ステーション10A及び処理ステーション10Bは、隣接して設けられている。
搬入出ステーション10Aは、キャリア載置部101、搬送部102、受け渡し部103及び筐体104を有している。キャリア載置部101には、複数のウエハWを水平状態で収容するウエハキャリアCが載置されている。搬送部102において、ウエハWの搬送が行われ、受け渡し部103において、ウエハWの受け渡しが行われる。搬送部102および受け渡し部103は筐体104に収容されている。
搬送部102は、搬送機構105を有している。搬送機構105は、ウエハWを保持するウエハ保持アーム106と、ウエハ保持アーム106を前後に移動させる機構と、を有している。また搬送機構105は、図示はしないが、ウエハキャリアCが配列されたX方向に延びる水平ガイド107に沿ってウエハ保持アーム106を移動させる機構と、垂直方向に設けられた垂直ガイドに沿ってウエハ保持アーム106を移動させる機構と、水平面内でウエハ保持アーム106を回転させる機構と、をさらに有している。搬送機構105により、ウエハキャリアCと受け渡し部103との間でウエハWが搬送される。
受け渡し部103は、ウエハWが載置される載置部を複数備えた受け渡し棚200を有している。受け渡し部103は、この受け渡し棚200を介して処理ステーション2との間でウエハWの受け渡しを行うよう構成されている。
処理ステーション10Bは、筐体201と、筐体201内に収容された複数の基板処理装置1と、搬送室202と、搬送室202内に設けられた搬送機構203と、を備えている。複数の基板処理装置1の下方には、各基板処理装置1に液やガスを供給するための機構が収容されていてもよい。本実施形態では、図1における各基板処理装置1が存在する矩形の閉空間を“処理室”と呼ぶことにする。
搬送機構203は、ウエハWを保持するウエハ保持アーム204と、ウエハ保持アーム204を前後に移動させる機構と、を有している。また搬送機構203は、図示はしないが、搬送室202に設けられた水平ガイド205に沿ってウエハ保持アーム204をY方向に移動させる機構と、垂直方向に設けられた垂直ガイドに沿ってウエハ保持アーム204を移動させる機構と、水平面内でウエハ保持アーム204を回転させる機構と、をさらに有している。搬送機構203により、各基板処理装置1に対するウエハWの搬入出が実施される。
基板処理システム100には、制御部7と操作パネル8(操作装置)が設けられている。制御部7は、基板処理システム100全体の制御を行う機能を有している。また、操作パネル8は、基板処理システム100の使用者が各種操作命令を入力するためのタッチパネル方式の操作装置である。制御部7及び操作パネル8の詳細は後述する。基板処理装置1には、メンテナンスパネル206(開閉式パネル)が設けられており、処理室内での作業や確認等の際に用いられる開閉式のパネルである。また、メンテナンスパネル206には、不図示の透明窓が設けられており、閉状態においてもシステムの使用者が基板処理装置1内を目視することを可能としている。開閉センサ207はメンテナンスパネル206の開閉を検出するためのものである。図1においては、1つの基板処理装置1がメンテナンスパネル206及び開閉センサ207を備えるものとして図示しているが、本実施形態においては、図示している12個全ての基板処理装置1がメンテナンスパネル206及び開閉センサ207を備えているものとする。
基板処理装置1を上面から見た場合における各構成要素について、図2を用いて説明する。ウエハWの上面に対する処理を行うために、基板処理装置1は、ウエハWの上面に向けて第1薬液を吐出する第1薬液ノズル73と、ウエハWの上面に向けて第2薬液を吐出する第2薬液ノズル83と、第1薬液ノズル73および第2薬液ノズル83の近傍にそれぞれ設けられ、ウエハWの上面に向けてリンス処理液を吐出する第1リンスノズル76および第2リンスノズル86と、を備えている。本実施形態では、ウエハWの上方位置からウエハWの上面に向けて処理液を吐出するノズルのことを、総称してフロントノズルと呼ぶ。
また図2に示すように、基板処理装置1は、ウエハWを側方から覆うよう設けられたカップ体3をさらに備えている。カップ体3は、ウエハWから飛散した薬液を受け止めるよう構成されたカバー部45と、ウエハWから飛散した薬液をカップ体3内の後述する液受け空間に導くフランジ部44と、を有している。また図2においては、カップ体3内の液受け空間に形成され、薬液を外部に排出するための排液口38と、液の流れを促進するためのキャリア液を液受け空間に供給するキャリア液供給口35bと、がそれぞれ点線で示されている。
第1薬液および第2薬液としては、互いに異なる薬液が用いられる。例えば第1薬液としては、アンモニア、過酸化水素および純水の混合溶液(SC−1液)などのアルカリ性の薬液が用いられ、また第2薬液としては、フッ化水素酸および純水の混合溶液(HF液)などの酸性の溶液が用いられる。またリンス処理液としては、ウエハW上に残っている薬液を洗い流すことができる液が用いられ、例えば純水(DIW)が用いられる。
まず、各薬液ノズル73,83および各リンスノズル76,86から吐出される液の到達点および方向について説明する。図2において、第1薬液ノズル73から吐出された第1薬液が到達するウエハWの上面上の領域が、符号74aが付された実線で示されており、第1リンスノズル76から吐出されたリンス処理液が到達するウエハWの上面上の領域が、符号77aが付された実線で示されている。同様に、第2薬液ノズル83から吐出された第2薬液が到達するウエハWの上面上の領域が、符号84aが付された実線で示されており、第2リンスノズル86から吐出されたリンス処理液が到達するウエハWの上面上の領域が、符号87aが付された実線で示されている。
第1薬液ノズル73および第1リンスノズル76からの液は、ウエハWが第1回転方向R1に回転している間に吐出される。また、第2薬液ノズル83および第2リンスノズル86からの液は、ウエハWが第2回転方向R2に回転している間に吐出される。ここで好ましくは、第1薬液ノズル73および第1リンスノズル76は、吐出される第1薬液およびリンス処理液の吐出方向が第1回転方向R1に傾斜するように形成されている。ここで「吐出方向が第1回転方向R1に傾斜する」とは、第1薬液およびリンス処理液の吐出方向を示すベクトル(図2において第1薬液ノズル73および第1リンスノズル76から出ている矢印)がウエハWの第1回転方向R1の成分を有していることを意味している。同様に、第2薬液ノズル83および第2リンスノズル86は、吐出される第2薬液およびリンス処理液の吐出方向が第2回転方向R2に傾斜するように形成されている。
ウエハWの下面に対する液処理を行うために、基板処理装置1は、ウエハWの下面に向けて第1薬液を吐出する第3薬液ノズル90と、ウエハWの下面に向けて第2薬液を吐出する第4薬液ノズル95と、をさらに備えている。第3薬液ノズル90および第4薬液ノズル95から吐出される第1薬液および第2薬液としては、上述の第1薬液ノズル73および第2薬液ノズル83から吐出される第1薬液および第2薬液と同一のものが用いられる。なお後述する、ウエハWの下面に向けてリンス処理液を吐出するリンス処理液ノズルは省略している。本実施形態では、ウエハWの下方位置からの下面に向けて処理液を吐出するノズルのことを、総称してバックノズルと呼ぶ。
次に、各薬液ノズル90,95から吐出される液の到達点および方向について説明する。図2において、第3薬液ノズル90から吐出された第1薬液が到達するウエハWの下面上の領域が、符号91aが付された点線で示されており、第4薬液ノズル95から吐出された第2薬液が到達するウエハWの下面上の領域が、符号96aが付された点線で示されている。
第3薬液ノズル90からの第1薬液は、第1薬液ノズル73からの第1薬液と同時に、ウエハWが第1回転方向R1に回転している間に吐出される。また、第4薬液ノズル95からの第2薬液は、第2薬液ノズル83からの第2薬液と同時に、ウエハWが第2回転方向R2に回転している間に吐出される。ここで好ましくは、第3薬液ノズル90は、吐出される第1薬液の吐出方向が第1回転方向R1に傾斜するように形成されている。同様に、第4薬液ノズル95は、吐出される第2薬液の吐出方向が第2回転方向R2に傾斜するように形成されている。
図3は、図2に示す基板処理装置1を左側を基準にA−A’方向から見た縦断面図である。なお図3においては、説明の便宜上、基板処理装置1をA−A’方向から見た縦断面図に第2薬液ノズル83、第2リンスノズル86および第4薬液ノズル95のいずれもが描かれている。
図3に示すように、基板処理装置1は、ウエハWを水平に保持する基板保持部21と、基板保持部21の下側に接続され、基板保持部21を回転させる回転駆動部24と、ウエハWを側方から覆うよう設けられた上述のカップ体3と、ウエハWの上面と空間を介して対向するよう設けられたカバー部材5と、を備えている。以下、各構成要素について順に説明する。
基板保持部21は、ウエハWの周縁部に接触することなくウエハWを水平に保持するよう構成されており、例えば、ウエハWの下面の中央部を吸着保持するバキュームチャックとして構成されている。回転駆動部24は、基板保持部21を支持する回転駆動軸22と、回転駆動軸22を回転させるモーター23と、を含んでいる。回転駆動軸22を回転させることによって、基板保持部21に保持されたウエハWを鉛直方向軸周りに回転させることができる。なお回転駆動部24の回転駆動軸22は、第1回転方向R1および第1回転方向R1とは逆の第2回転方向R2のいずれにも回転可能であるよう構成されている。
カップ体3はリング状の部材であり、基板保持部21およびウエハWの側端部を側方から取り囲むとともに、ウエハWが挿入され得る開口部46を有するよう構成されている。はじめにカップ体3の内部構造について説明する。図3に示すように、カップ体3の内部には、上方に向かって開口され、円周方向に沿って延びる溝部33が形成されている。溝部33は、液処理の間に発生する気体やウエハW周辺に送り込まれる気体を外部に排出するための流路となるリング状の排気空間34と、排気空間34と連通する排気口37と、液処理の間にウエハWから飛散する薬液やリンス処理液などの液を受けて外部に排出するための流路となるリング状の液受け空間35と、液受け空間35と連通する排液口38と、を含んでいる。排気空間34と液受け空間35とは、溝部33に形成された壁36によって区画されている。壁36は、気体流中に分散されている液体成分が、液受け空間35で当該気体流から分離されるように構成されている。さらに、図2に示すように、カップ体3には、排液口38への液の流れを促進するためのキャリア液を液受け空間35に供給するキャリア液供給口35bが形成されている。排気空間34に流入した気体は、排気口37を介して外部に排出される。また液受け空間35によって受けられた液は、排液口38から外部に排出される。
次にカップ体3の外形について説明する。ここで、カップ体3のうち溝部33よりも内側に位置する部分を内周部31と定義し、カップ体3のうち溝部33よりも外側に位置する部分を外周部32と定義する。図3に示すように、カップ体3は、内周部31の上端部から外方へ延びるフランジ部44と、外周部32の上端部から内方へフランジ部44の上方において延びるカバー部45と、を有している。このうちフランジ部44は、ウエハWから飛散した液やウエハW周辺からの気体流をカップ体3の内部に導くよう構成されている。またカバー部45は、回転するウエハWから飛散した液をその内面で受け止め、カップ体3の内部に導くよう構成されている。
ウエハWに対して上方から処理を施すための各構成要素の構造について説明する。図3に示すように、第2薬液ノズル83および第2リンスノズル86は共に、ノズル駆動部80によって支持されている。ノズル駆動部80は、第2薬液ノズル83および第2リンスノズル86を一体として移動させることができる。第2薬液ノズル83には、第2薬液ノズル83にHF液などの第2薬液を供給する第2薬液供給部85が供給管85aを介して接続されており、第2リンスノズル86には、第2リンスノズル86にDIWなどのリンス処理液を供給するリンス処理液供給部88が供給管88aを介して接続されている。ノズル駆動部80は、後述するようにカバー部材5に取り付けられている。
ウエハWに対して下方から処理を施すための各構成要素の構造について説明する。図3に示すように、第4薬液ノズル95および第4リンスノズル93は共に、カップ体3に形成している。第4薬液ノズル95には、第4薬液ノズル95にHF液などの第2薬液を供給する第4薬液供給部92が供給管92aを介して接続されており、第4リンスノズル93には、第4リンスノズル93にDIWなどのリンス処理液を供給するリンス処理液供給部94が供給管94aを介して接続されている。
カバー部材5は、液処理時にカップ体3の開口部46の上方に配置されており、リング形状を有している。カバー部材5には、カバー部材5を昇降させる昇降機構48が取り付けられている。これによって、カバー部材5をカップ体3に対して近接させ、若しくはカバー部材5をカップ体3から遠ざけることができる。図3においては、ウエハWの液処理時におけるカバー部材5の位置が示されている。カバー部材5をリング状にすることで上方からの気体をウエハW上に取り込みやすくなっている。カバー部材5の外方には、治具センサー49が設けられている。治具センサ49は、基板処理装置1にカップ体3などと同様に固定された支持体49aで固定的に支持されており、後述する確認用冶具の設置を検出するためのものである。
本実施形態では、図2に示すA−A’方向から見た縦断面図について説明したが、図2に示すB−B’方向から見た縦断面図についても同様の構成を持つものとして説明することができ、ここではその説明は省略する。
図4は、本実施形態において薬液の吐出状態を確認するために用いられる確認用治具400の全体構成を示す図である。図2及び3に示す基板処理装置1の各ノズルはその先端が細くなっており吐出された薬液は直線形状のまま基板に到達すべきである。しかし、ノズルの異常や液質の状態変化等によっては薬液が出ない又は出にくくなることや、或いは吐出しても直線形状が保てず、飛び散り等が発生することがある。確認用治具400は、使用者がこのような不適切な吐出状態の存否を確認するために用いられる。この確認用治具400は、ウエハWを処理液で処理する際には使用されず、ウエハWが基板保持部21で保持されていない状態で処理液の吐出を確認する際に基板処理装置1に装着されて使用されるものである。そのため、確認用治具400には、ウエハWが存在しない状態で処理液を吐出しても処理液が周囲に飛び散らないようにノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有している。
図4において、フロントノズル液受け部401は第1薬液ノズル73から吐出された第1薬液を受けるためのものである。フロントノズル液受け部402は第2薬液ノズル83から吐出された第2薬液を受けるためのものである。バックノズル液受け部403は第3薬液ノズル90から吐出された第1薬液を受けるためのものである。バックノズル液受け部404は第4薬液ノズル95から吐出された第2薬液を受けるためのものである。確認用カメラ405は、動画像を撮影可能なCCDカメラでありバックノズル液受け部403よりも下位置に設けられバックノズル液受け部403の方向を向いている。確認用カメラ406は、動画像を撮影可能なCCDカメラでありバックノズル液受け部404よりも下位置に設けられバックノズル液受け部404の方向を向いている。本実施形態では、確認用カメラとしてCCDカメラを用いているが撮像素子はCCDに限定されるものではなくCMOSセンサ等他の撮像素子を用いても良い。洗浄液供給管407は、フロントノズル液受け部401及びフロントノズル液受け部402に対して分岐し、それぞれの液受け部を洗浄するための洗浄液を供給する。洗浄液供給管408は、バックノズル液受け部403及びバックノズル液受け部404を洗浄するための洗浄液を供給する。図4においては省略されているが、確認用治具400は、洗浄液供給管408とバックノズル液受け部403及びバックノズル液受け部404とを接続する配管も備えている。治具センサ410は装置側の治具センサ49に対応した治具側のセンサであって、磁気センサにより構成されており、治具400が基板処理装置1に正しく設置されたこと検出するために用いられる。以上説明した各液受け部やカメラ等のユニットはベース411に対して固定されており、治具の設置及び使用に際して互いのユニットの位置関係は変化しない。また、ベース411は、後述の固定作業で必要となるネジ受け部412を有している。以降、洗浄液供給管408が設けられている側を確認用治具400の前方、確認用カメラ405及び406が設けられている側を後方と呼ぶことにする。
図5は、フロントノズル液受け部402の詳細な構成を示す図である。図5(a)はフロントノズル液受け部402を前方から見た斜視図であり、図5(b)は後方ら見た斜視図である。フロントノズル液受け部402は、第2薬液ノズル83から吐出される第2薬液を受けるために上方に対して開口を設けている。液受け槽501は、第2薬液ノズル83から吐出された第2薬液を受けるための容器である。少なくとも液受け槽501を構成する前方の壁は半透明壁502であり、使用者はメンテナンスパネル206の透明窓及び半透明壁502を介して槽内での吐出状態が確認できるようになっている。オーバーフロー槽503及びオーバーフロー壁504は、後述する洗浄処理時におけるオーバーフロー洗浄処理を行うために用いられる。洗浄液供給口505は、洗浄液供給管407に接続されており、液受け槽501内に洗浄液を供給する。排出口506は、吐出確認時には液受け槽501が受けた吐出液を排出し、洗浄時には液受け槽501やオーバーフロー槽503に溜まった洗浄液を排出する。なお、液受け槽501とオーバーフロー槽503は排出口506に通じるそれぞれ個別の開口を底面に有しており、その大きさはオーバーフロー槽503が有する開口のほうが相対的に大きくなっている。排出口506の先端はフランジ部44に向けられているので、排出された薬液及び洗浄液は、通常の洗浄処理時と同様に、カップ体3の内部に導かれ、最終的に基板処理装置1の外部に排出される。なお、フロントノズル液受け部401は、上記フロントノズル液受け部402と左右対称の構成となっている。
図6は、バックノズル液受け部404の詳細な構成を示す図である。図6(a)は前方から見た斜視図であり、図6(b)は裏面から見た平面図である。液受け室601は、第4薬液ノズル95から吐出された第2薬液を受けるための空間である。洗浄液ノズル602は、前述の不図示の配管と接続され洗浄液供給管408につながっており、液受け室601に洗浄液を噴出する。スリット部603は、第4薬液ノズル95から吐出された第2薬液が液受け室601内に浸入できるように、液受け室601の底に設けられた隙間である。図6(b)に示されるように、スリット部603は、ウエハWの外周に沿うように、すなわち第4薬液ノズル95からの薬液が向かう可能性のある方向に沿って、曲線状に設けられている。なお、図6に示したうち、洗浄液ノズル602を除いた他の部材は半透明な材料により構成されおり、図において点線で記載されている箇所は、半透明材料を介して見える部分に相当する。なお、バックノズル液受け部403は、上記バックノズル液受け部404と左右対称の構成となっている。
図7は、基板処理システム100の電気的な接続関係を示す図である。制御部7は、本実施形態に係る吐出確認動作を実行するために、操作パネル8、治具センサ49(治具センサ部)、開閉センサ207、確認用カメラ405及び406と接続されている。本実施形態では、いずれのユニットも制御部7との間で有線接続されているものとするが、無線接続であっても構わない。制御部7は、治具センサ49からの検出信号及び開閉センサ207からの検出信号に基づき、システムの動作モードを後述する吐出確認モードに移行するか否かを判断する。また、制御部7は、確認用カメラ405及び406の撮影パラメータの制御を行うとともに、撮影により得られた動画像信号を取得し、操作パネル8で表示可能な動画像データに変換する。また、制御部7は操作パネル8の画面表示を制御し、確認用カメラ405及び406で得られた動画像データをリアルタイムに表示させる。さらに、制御部7は、操作パネル8における操作入力に応じて基板処理システム100を動作させることができる。例えば、操作パネル8において薬液の吐出指示が入力された場合、その指示に応じて基板処理装置1が液吐出を行うよう制御する。
図8は、基板処理装置1に対して確認用冶具400が正しく設置された場合における、各ユニットの位置関係を示す図である。ただし、上述したように、図2に示すA−A’方向から見た縦断面図であるため、バックノズル液受け部404に関連する箇所は実際には後方に位置することになる。図8において、基板処理装置1のカバー部材5は、確認用冶具400を設置するために上方に移動している。第2薬液ノズル83は、カバー部材5の上昇にともなって上方に移動している。フロントノズル液受け部402は第2薬液ノズル83の下方に配置され、吐出された薬液は矢印のように下方向に進み、液受け槽501に入る。図示されるように、基板保持部21上にはウエハWは載置されていない。このため、第4薬液ノズル95から薬液を吐出させた場合、薬液は矢印のように、ウエハWが載置されるべき面よりも下の位置から上方向に進むことになる。バックノズル液受け部404は第4薬液ノズル95の上方に配置され、第4薬液ノズル95から吐出された薬液は、スリット603を介して液受け室601に入る。バックノズル受け部404は半透明な部材により構成されているため、確認用カメラ406は、第4薬液ノズル95から吐出された薬液が、液受け室602に入り壁面に当たるまでの状態を撮影することができる。前述のように、確認用治具側の治具センサ410は、昇降機構48の上昇にともない上方に移動する。確認用治具400が正しく設置されていれば、治具センサ410は、治具センサ49と向かい合う高さで面している。
図9は、確認用治具400が基板処理装置1に正しく設置された場合における、各ユニットの位置関係を異なる方向から見た図である。なお、図において、カバー部材5及びこれと連動する機構については省略している。基板処理室1の処理室には、洗浄液供給管407及び408と外部の処理液供給源とを接続する図示しない供給路接続部が備えられている。同様に、図示しないが、確認用カメラ405及び406と制御部7とを有線接続するカメラ接続部も備えられている。確認用治具400の設置に際して、使用者は、これらユニットと接続部とを接続した後に、メンテナンスパネル206を閉める。なお、これら供給路接続部及びカメラ接続部は、図1に示す基板処理装置1の処理室ごとにそれぞれ設けてあり、個別に用いることができる。
図10は、確認用治具400が基板処理装置1に固定された状態を示す図である。図10において、カバー部材5は図8と同様に上方に移動しており、確認用治具400は、カバー部材5とカップ3との間に設置されている。ここで、ノズル駆動部70を含みアーム等から構成されるノズルユニット1001及び同様にノズル駆動部80等を含むノズルユニット1002は、ノズルユニット固定部材1003を用いてカバー部材5に固定されている。確認用治具400は、設置時において治具固定部材1004を用いてこのノズルユニット固定部材1003の凸形状部の先端に固定される。本実施形態において、確認用治具400は、ノズルユニット固定部材1003のみを用いて固定されており、確認用治具400の後方部位は固定されない。しかし、バックノズル液受け部403及び404はカバー部45の外部上面に接触し、カバー部45が確認用治具400の後方にかかる荷重を下から支えている。これにより、確認用治具400の荷重は前方と後方に分散されるので、治具固定部材1004は負荷がかかりすぎることはない。したがって、治具固定部材1004は、確認用治具400の重さを全て支えるほどの強い強度を持った材質である必要はなく、比較的安価な材質で形成することができる。また、本実施形態では、治具固定部材1004の結合用部材としてネジ1005及び1006を用いている。ここで、設置作業前においても確認用治具400はネジ1005及びネジ受け部412を介してベース411に結合された状態であるものとする。したがって、設置作業では、使用者がネジ1006を使ってノズルユニット固定部材1003に治具固定部材1004を結合させることにより固定が完了する。なお、1006はネジ式の結合部材ではなく、例えば爪形状を有したアタッチメント式の結合部材により構成されていてもよい。
図11は、基板処理システム100の吐出確認に係る動作ステップを示すフローチャートである。本フローチャートの各ステップは制御部7が有する不図示の記憶部に記憶された制御プログラムを制御部7が実行することにより達成される。不図示の記憶部は、ハードディスクやフラッシュメモリ等の記憶媒体により構成される。なお、制御プログラムはCD−ROMやDVD−ROM等の記憶媒体により提供し、これら記憶媒体に記憶された制御プログラムをシステムが読み込み記憶部に記憶させることにより、本動作ステップを実行可能に構成しても良い。
まず、基板処理が可能な通常モードにおける操作パネル8からの指示入力に応じて、制御部7は基板処理システムの動作モードをメンテナンスモードに移行する(ステップS101)。メンテナンスモードでは、使用者は、各基板処理装置1の処理室内の各ユニットの動作確認を行うことができる。例えば、基板保持部21の回転動作の確認及び調整、バキュームチャックの保持動作の確認及び調整、ノズル駆動部80の移動動作の確認及び調整、カバー部材5の昇降動作の確認及び調整、等である。これらの確認及び調整は、例えば、操作パネル8を用いて、各ユニットが備えるモーター(不図示)を各座標軸方向についてマニュアル操作(UP,DOWN,回転等)することにより実行される。
メンテナンスモードに移行すると、制御部7は、薬液の吐出を禁止する(ステップS102)。例えば、操作パネル8で薬液の吐出を指示したとしても、制御部7がその指示を受け付けず、エラー表示を行う等の仕様がある。この様な状態で、使用者はメンテナンスパネル206を開けて、処理室内の各種機構の点検や動作確認することができる。したがって、処理室内の各種機構の点検や動作確認を行っている際に、薬液が誤って処理室内に吐出されることはない。また、この状態において、使用者は確認用冶具400を処理室内に設置することができる。すなわち、本実施形態では、上記調整及び確認作業時と同様に、使用者が設置作業を行っている間においても、薬液が誤って処理室内に吐出されることがないようにしている。このメンテナンスモードでは、薬液の吐出だけでなくリンス液(純水)の吐出も禁止して全ての処理液の吐出を禁止している。なお、全ての処理液の吐出を禁止するのではなく、化学反応や腐食が発生するおそれのある酸性やアルカリ性の薬液だけの吐出を禁止し、化学反応や腐食が発生するおそれのないほぼ中性の純水(リンス液)の吐出を許可するように制御することもできる。
制御部7は、確認用冶具400が使用者により設置されたか否かを判断する(ステップS103)。本実施形態では、治具センサ49と治具センサ410が図8及び9のように互いに面した状態になると、所定の検出信号が治具センサ49から制御部7に送出されるようになっている。制御部7は、治具センサ49から検出信号を受信した場合、確認用冶具400が設置されたと判断する。
次に、制御部8は、メンテナンスパネル206が閉められたか否かを判断する(ステップS104)。メンテナンスパネル206が閉められると開閉センサ207から所定の検出信号が制御部7に送出されるようになっている。制御部7は、開閉センサ207から検出信号を受信した場合、メンテナンスパネル206が閉められたと判断する。
ステップS103及びステップS104の条件が満たされた場合、制御部7は基板処理システム100をメンテナンスモードから吐出確認モードに移行させる(ステップS105)。
吐出確認モードに変更されると、制御部7はメンテナンスモードで禁止されていた薬液の吐出を可能な状態に変更する(ステップS106)。なお、吐出確認モードでは、薬液の吐出だけでなくリンス液(純水)の吐出も可能にして全ての処理液の吐出を許可している。
吐出確認モードに移行した後、確認用カメラ405及び406との接続が検出されていれば、制御部7は、確認用カメラ405及び406の撮影により得られた動画像の信号を受付け、表示可能な画像データに変換して操作パネル8に表示させる(ステップS107)。
図12に操作パネル8の表示画面の一例を示す。この画面1200は、確認用カメラ406により撮影された動画像をリアルタイムに表示するものである。ここでは、第4薬液ノズル95から吐出される第2薬液の状態を撮影した画像が示されている。画面左側の枠1201の領域では、現在の動作モードが吐出確認モードであることを示している。使用者は、メニュー枠1202をタッチすることにより現れる吐出量設定画面(不図示)を操作することにより、各ノズルからの吐出量を決めることができる。また、使用者が薬液吐出ボタン1203をタッチした場合、制御部7は吐出指示を操作パネル8から受け取り、吐出機構に対して吐出命令を送出する。これにより、使用者は、画面1200を見ながら指示に対する応答吐出を常に確認することができる。カメラ切替ボタン1204は、表示画面1200に表示する動画像を確認用カメラ間で切り替えるためのものである。吐出確認モードにおいて、制御部7は確認用カメラ405と406の両方からの動画像を送出する準備をしている。カメラ切替ボタン1204からの切替指示を受けると、制御部7は、操作パネル8に切り替え対象のカメラからの動画像データを表示させる。
以上、第4薬液ノズル95の吐出状態をカメラにより確認する吐出確認作業について説明したが、第3薬液ノズル90についても同様に説明できる。一方、第1薬液ノズル73及び第2薬液ノズル83の吐出状態確認作業は、カメラを用いず目視により行われる。上述したように、メンテナンスパネル206は不図示の透明窓を備えており、フロントノズル液受け部401の前方は半透明壁502である。使用者は、操作パネル8のメニューボタン1202を押してフロントノズル確認用の画面を表示させ、その画面に表示される薬液吐出ボタン(不図示だが薬液吐出ボタン1203と同様なもの)を操作することにより、透明窓を介して吐出状態を確認することができる。なお、後述するように、所望の吐出確認作業が終わった後、使用者は、基板処理装置1の処理室内から取り出すことなく、吐出確認用冶具400を洗浄する作業を行うことができる。
以上の吐出確認作業及び治具洗浄作業はステップS107の実行後に行われるものであるが、制御部7は、使用者が吐出確認作業及び治具洗浄作業を行っている間においても、メンテナンスパネルが閉められたか否かを判断し続けている(ステップS108)。例えば、使用者が吐出確認作業及び治具洗浄作業を終えて確認用冶具400を取り出すためにメンテナンスパネル206を開けた場合、開閉センサ207から所定の信号が制御部7に送出され、制御部7は、この信号に応じてメンテナンスパネル206が開けられたと判断する。
その後、制御部7は、システムの動作モードを吐出確認モードからメンテナンスモードに移行させる(ステップS109)。そして、制御部7は、ステップS102と同様に、薬液の吐出を禁止する(ステップS110)。なお、ステップS102及びステップS110の設定後において使用者が操作パネルにおいて吐出指示を行った場合、制御部7は、図11(b)に示すようにエラー表示を出して薬液吐出が不可能である旨を通知してもよい。また、薬液吐出ボタン1203をグレイアウト表示にして操作入力を不可能な状態にしても良い。
ステップS110後においては、誤って薬液吐出されることもないので、使用者は確認用冶具400を処理室から安全に取り出すことができる。また、ステップS101と同様に、メンテナンスモードとして各種作業を行うことができる。
次に、吐出確認モードにおいて可能な治具洗浄作業の詳細について説明する。本実施形態では、洗浄液供給口505及び洗浄液ノズル602からの洗浄液の供給量の調整のみをもってこの洗浄作業が達成される。ここで供給量の調整は、処理室外に設けられ、供給路接続部と処理液供給源との間に位置した不図示の流量調整バルブを用いた使用者のマニュアル操作により行われる。
図13は、フロントノズル液受け部401及び402の洗浄手順を示す図である。ここでの液受け部の初期状態は、吐出確認による薬液が液受け槽501の底面及び壁面に付着している状態である。
まず、図13(a)のように、洗浄液供給口505から洗浄液を供給する。ここでは、洗浄液の供給量を排出口506からの排出量よりも多くして、槽内に少量だけ洗浄液を貯留させ、主に液受け槽501の底面を洗浄する。所定時間後、洗浄液供給口505からの洗浄液の供給を停止することで、槽内は図13(b)のように、洗浄液が貯留されない状態になる。
次に、図13(c)に示されるように、再び洗浄液供給口505から洗浄液を供給する。ここでは、図13(a)のときの供給時間よりも長い時間、洗浄液を供給する。槽内に溜まった洗浄液は排出口506から排出されるが、供給時間が長いため洗浄液が序々に槽内に貯留されていく。
そして、図13(d)に示す状態まで洗浄液が貯留されると、オーバーフロー壁504を介してオーバーフロー槽503へと洗浄液が流出する。このように、オーバーフロー洗浄処理を行うことによって、槽内に薬液が残留せず十分な洗浄効果を得ることができる。
所定時間オーバーフロー洗浄を行った後、洗浄液供給口505からの洗浄液の供給を停止し、図13(e)に示すように、全ての洗浄液を槽内から排出させる。
図14は、バックノズル液受け部403及び404の洗浄動作を説明するための図である。洗浄液ノズル602は表面に多数の噴出口が設けられており、洗浄作業中はこの噴出口から洗浄液を全方位に噴出する。洗浄液の流量は一定であっても序々に減らす等変化させても良い。液受け室601の壁面に付着した薬液は洗浄液により洗い流され、用いられた洗浄液はスリット603から外部に排出される。
このように、吐出確認モードでは、確認用治具400を洗浄するための洗浄液の吐出も許可している。なお、メンテナンスモードでは、確認用治具400を洗浄するための洗浄液の吐出も禁止している。確認用治具400の洗浄は、上述したように吐出確認モードで行うようにしてもよく、吐出確認モードとは別に治具洗浄モードを設けて、処理液の吐出を禁止する一方で洗浄液の吐出だけを許可し、確認用治具400の洗浄中に処理液が誤って吐出されないように制御してもよい。
以上が使用者のマニュアル操作により行われる各液受け部の洗浄作業である。ただし、この例に限らず、制御部7が流量調整の手順情報を予め記憶しておき、この情報に基づいて洗浄液のバルブ開閉を自動制御することによって、図13及び図14の洗浄作業を達成しても良い。
以上説明したように、本実施形態では、メンテナンスモードで各ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態で、確認用冶具400が基板処理装置1の所定位置に設置されたことが検出された場合は、吐出確認モードに移行し、各ノズルからの処理液の吐出を許可するようにした。これにより、処理室内に専用の吐出確認用ユニットを設ける必要が無くなり装置の大型化を回避することができる。また、メンテナンスモードでは処理液の吐出が禁止されているため、確認用治具400を基板処理装置1に設置する作業を行う際に、処理液が誤って処理室内へ吐出されてしまうこともない。そして、確認用冶具400が適切な場所に設置されたときのみメンテナンスモードから吐出確認モードに自動的に移行するようにしたので、不慣れな使用者であっても、処理液を処理室内の意図しない場所に吐出してしまうことなく、簡単かつ確実にノズルからの処理液の吐出確認を行うことができる。
また、メンテナンスパネル206が閉められたことも、吐出確認モードへ移行することの条件とし、また、メンテナンスパネル206が開けられたことを吐出確認モードからメンテナンスモードへの移行条件としたので、確認用冶具400が誤って取り出されてしまうことの無い、より確実な状態でノズルからの処理液の吐出確認を行うことができる。
そして、吐出確認モードでは、操作パネル8に表示されたカメラからのリアルタイムな動画像を見ながら処理液の吐出を行うことができるので、より正確な吐出確認が行える。特に、バックノズルはカップ体3内のウエハ位置よりも下の位置に設けられ、その位置から上方向へと処理液を吐出するため、処理室内に処理液が飛び散らないように液受け部が必須となる。しかもその液受け部はバックノズルを上から覆うように設けることが好ましく、かつバックノズルはメンテナンスパネル側に対して奥の位置にあるので、使用者が処理室外からバックノズルを確認することは非常に困難である。しかし、本実施形態によれば、確認用冶具400のベース411の下部であってバックノズルに隣接する位置に確認用カメラ405及び406を備えているため、処理室外からの使用者の目視が困難なバックノズルからの吐出をより確実に確認することができる。
また、上記実施形態で説明したように、確認用治具400の構造は、基板処理装置1に適切に設置された場合において、液受け部がノズルからの処理液の吐出方向に位置し、治具センサ部(治具センサ410)が、基板処理装置1が備える治具センサ部(治具センサ49)と対面する場所に位置するようにした。したがって、ノズルからの処理液を確実に液受け部で受けることができる。また、バックノズル液受け部は、下方から吐出される処理液が容易に液受け室内に侵入できるよう曲線状のスリットを有しているので、外部に漏れることなくより確実に液受けすることができる。
また、フロントノズル受け部401,402及びバックノズル液受け部403,404をそれぞれ左右対称に2つ設けているため、例えば酸性及びアルカリ性それぞれの薬液を個別に液受することができるので、薬液同士が混ざり合うことによる化学反応を防ぐことができる。
そして、上記実施形態で説明したように、確認用治具400はカバー部材5に対して1つの固定部材により簡易的に固定されるので、コストアップを招くことなく確認用治具400を提供できる。また、使用者は固定作業及び取り外し作業を簡単かつ素早く行うことができる。
さらに、上記実施形態で説明したように、基板処理システム100は洗浄液の供給路接続部を各処理室内に個別に備え、確認用治具400を洗浄することができる。この洗浄作業は、吐出確認作業の後に確認用治具400を取り出すことなくメンテナンスパネル206を閉めた状態において実行できるので、使用者は吐出確認から治具洗浄作業までの一連の手順を非常に簡単な操作で効率的に行うことができる。また、確認用治具400の取り出しの際には既に洗浄済みであるので、基板処理装置1やその周辺を汚してしまうこともない。そして、確認用治具400において各液受け部は洗浄液供給口を備え、フロントノズル受け部401,402はオーバーフロー洗浄ができ、バックノズル受け部403,404はノズルによる全方位の噴射洗浄が可能になっているので、使用者は洗浄液の供給流量及び供給時間を調整するという簡単な操作のみで、十分な洗浄を行うことができる。
上記実施形態においては、各薬液ノズルからの薬液の吐出状態を確認する例について説明したが、本発明はこれに限らず、各リンスノズルからのリンス処理液の吐出状態を確認する場合についても適用可能である。すなわち、ノズルから吐出される処理液であれば、その種類は限定されるものではない。
また、本発明が適用される基板処理装置1についても、上記実施形態のようなウエハWの周縁処理用のものに限らず、レジスト塗布用やスクラブ洗浄用等、処理液のノズル吐出を行う基板処理装置であれば、本発明を同様に適用可能である。
上記実施形態では、基板処理システム100におけるメンテナンスモードと吐出確認モードとの間の動作モードの遷移に伴った吐出確認動作の制御手順を説明した。しかし、本発明はこれに限らず、確認用冶具400の適切な設置により処理液の吐出が禁止及び許可が切り替えられるのであれば、上記実施形態とは異なるモード定義を有するシステムや、明確なモード定義がないシステムにおいても適用可能である。
上記実施形態では、確認用カメラ405及び406は、動画撮影機能を有するカメラとしたが、例えば、静止画像を撮影する機能を有するカメラ等でも良い。この場合、制御部7は、カメラが所定間隔おきに連続撮影するよう制御して得られた撮影画像を表示させるようにしても良いし、操作パネルからの利用者の指示があったときにカメラが撮影するよう制御して表示させるようにしても良い。
1 基板処理装置
7 制御部
8 操作パネル
100 基板処理システム
400 確認用治具

Claims (10)

  1. 基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムであって、
    前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたことを検出する治具センサ部と、
    前記ノズルからの処理液の吐出を制御する制御部と、を備え、
    前記制御部は、前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記治具センサ部の検出に基づき前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断した場合、前記ノズルからの処理液の吐出を許可することを特徴とする基板処理システム。
  2. 前記制御部は、前記ノズルからの処理液の吐出を禁止し前記基板処理装置内をメンテナンス可能とするメンテナンスモードと、前記ノズルからの処理液の吐出を許可し前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認可能とする吐出確認モードとに、動作モードを変更可能であり、動作モードが前記メンテナンスモードに設定されている状態において前記治具センサ部により前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたことを検出した場合、動作モードを前記メンテナンスモードから前記吐出確認モードに変更して前記ノズルからの処理液の吐出を許可することを特徴とする請求項1に記載の基板処理システム。
  3. 前記基板処理装置は、開閉式パネルと前記開閉式パネルの開閉を検出する開閉センサとをさらに備え、前記制御部は、動作モードが前記メンテナンスモードに設定されている状態において前記治具センサ部の検出に基づき前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断し、かつ、前記開閉センサの検出に基づき前記開閉式パネルが閉められたと判断した場合、動作モードを前記メンテナンスモードから前記吐出確認モードに変更することを特徴とする請求項2に記載の基板処理システム。
  4. 前記制御部は、動作モードが前記吐出確認モードに設定されている状態において前記開閉センサにより前記開閉式パネルが開けられたことを検出した場合、動作モードを前記吐出確認モードから前記メンテナンスモードに変更することを特徴とする請求項3に記載の基板処理システム。
  5. 前記基板処理装置は、使用者が前記処理液の吐出に関する操作を行うための操作装置をさらに備え、前記制御部は、前記吐出確認モードにおいて、前記操作装置からの操作入力に応じて前記ノズルからの処理液の吐出を制御することを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の基板処理システム。
  6. 前記確認用冶具は、前記ノズルからの処理液の吐出状態を撮影するためのカメラを有し、前記制御部は、前記吐出確認モードにおいて前記カメラにより得られた画像を前記操作装置に表示させることを特徴とする請求項5に記載の基板処理システム。
  7. 前記基板処理装置は、前記基板の下面に対して処理液を吐出するバックノズルを有し、前記カメラは、前記確認用治具の設置時において前記バックノズルを撮影することを特徴とする請求項6に記載の基板処理システム。
  8. 前記確認用治具は、前記治具センサ部に対応する治具側対応センサ部をさらに備え、前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置された場合、前記ノズルからの処理液の吐出方向に前記液受け部が位置し、前記治具側対応センサ部が前記治具センサ部に対面することを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の基板処理システム。
  9. 基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムの制御方法であって、
    前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたか否かを判断し、前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記判断ステップにより前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断された場合、前記ノズルの処理液の吐出を許可することを特徴とする基板処理システムの制御方法。
  10. 基板に対して処理液を吐出するノズルを有し、前記ノズルからの処理液の吐出状態を確認用治具を用いて確認可能とした基板処理装置を備える基板処理システムの制御プログラムを記憶した記憶媒体であって、
    前記制御プログラムは、
    前記ノズルから吐出された処理液を受ける液受け部を有する確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたか否かを判断する判断ステップと、
    前記ノズルからの処理液の吐出が禁止されている状態において前記判断ステップにより前記確認用冶具が前記基板処理装置の所定位置に設置されたと判断された場合、前記ノズルの処理液の吐出を許可する許可ステップと、を備えることを特徴とする記憶媒体。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200039574A (ko) 2018-10-05 2020-04-16 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
KR20210054558A (ko) 2018-10-05 2021-05-13 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR20210054557A (ko) 2018-10-05 2021-05-13 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
CN114671226A (zh) * 2022-05-26 2022-06-28 四川晁禾微电子有限公司 一种贴片三极管送料装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10906058B2 (en) * 2017-01-27 2021-02-02 Nordson Corporation Systems and methods for inspecting and cleaning a nozzle of a dispenser
US11227778B2 (en) * 2019-08-12 2022-01-18 Nanya Technology Corporation Wafer cleaning apparatus and operation method of the same
TW202115413A (zh) * 2019-09-30 2021-04-16 日商愛德萬測試股份有限公司 維護裝置、維護方法及記錄有維護程式之記錄媒體
KR20220000523A (ko) 2020-06-26 2022-01-04 세메스 주식회사 기판 지지 부재 및 이를 구비하는 기판 처리 장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1057878A (ja) * 1996-08-23 1998-03-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2003234341A (ja) * 2001-09-21 2003-08-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4024036B2 (ja) 2001-11-06 2007-12-19 東京エレクトロン株式会社 液処理装置の自動設定方法及びその装置
CN100334691C (zh) 2002-05-17 2007-08-29 株式会社荏原制作所 衬底加工设备和衬底加工方法
KR20030092258A (ko) * 2002-05-29 2003-12-06 삼성전자주식회사 반도체 제조설비의 노즐 암 이동상태 검출장치 및 그 방법
TWI311500B (en) 2005-10-20 2009-07-01 Shibaura Mechatronics Corporatio Apparatus for applying solution and method of measuring quantity of solution
JP4737685B2 (ja) 2006-12-25 2011-08-03 大日本スクリーン製造株式会社 塗布装置
KR20100054623A (ko) * 2008-11-14 2010-05-25 삼성엘이디 주식회사 봉지제 토출장치
JP2013206962A (ja) * 2012-03-27 2013-10-07 Tokyo Electron Ltd 保守システム及び基板処理装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1057878A (ja) * 1996-08-23 1998-03-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2003234341A (ja) * 2001-09-21 2003-08-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200039574A (ko) 2018-10-05 2020-04-16 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
KR20210054558A (ko) 2018-10-05 2021-05-13 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR20210054557A (ko) 2018-10-05 2021-05-13 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
KR20210106943A (ko) 2018-10-05 2021-08-31 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
US11322415B2 (en) 2018-10-05 2022-05-03 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment method and substrate treatment device
US11908752B2 (en) 2018-10-05 2024-02-20 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method
CN114671226A (zh) * 2022-05-26 2022-06-28 四川晁禾微电子有限公司 一种贴片三极管送料装置

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