JP2014527311A - 変換ダイ、そのような変換ダイを備えた放射放出部品、およびそのような変換ダイの製造方法 - Google Patents

変換ダイ、そのような変換ダイを備えた放射放出部品、およびそのような変換ダイの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014527311A
JP2014527311A JP2014530136A JP2014530136A JP2014527311A JP 2014527311 A JP2014527311 A JP 2014527311A JP 2014530136 A JP2014530136 A JP 2014530136A JP 2014530136 A JP2014530136 A JP 2014530136A JP 2014527311 A JP2014527311 A JP 2014527311A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
conversion
substrate
conversion material
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014530136A
Other languages
English (en)
Inventor
アンドレアス プルーセル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ams Osram International GmbH
Original Assignee
Osram Opto Semiconductors GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Osram Opto Semiconductors GmbH filed Critical Osram Opto Semiconductors GmbH
Publication of JP2014527311A publication Critical patent/JP2014527311A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/508Wavelength conversion elements having a non-uniform spatial arrangement or non-uniform concentration, e.g. patterned wavelength conversion layer, wavelength conversion layer with a concentration gradient of the wavelength conversion material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/505Wavelength conversion elements characterised by the shape, e.g. plate or foil
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0058Processes relating to semiconductor body packages relating to optical field-shaping elements
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/4998Combined manufacture including applying or shaping of fluent material
    • Y10T29/49993Filling of opening
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24273Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including aperture

Abstract

放射放出半導体部品(10)の変換ダイ(1)を開示する。変換ダイ(1)は、ガラスからなる基材(2)を含んでおり、少なくとも1つの開口部(3)が配置されている。少なくとも1つの開口部(3)には変換材料(4)が導入されている。さらに、1つのこのような変換ダイ(1)を備えている放射放出部品(10)と、1つのこのような変換ダイ(1)の製造方法とを開示する。
【選択図】図2B

Description

本発明は、放射放出デバイスの変換プレートに関する。さらに、本発明は、そのような変換プレートを有する放射放出デバイスと、そのような変換プレートを製造する方法とに関する。
白色光を放出する半導体デバイスを作製する目的で、青色放射を放出する半導体チップを、青色光をより長い波長の光に変換する変換層によって覆うことが可能である。白色光は、例えば、青色放射と黄色放射を重ね合わせることによって生成される。白色の混合放射における青色光と黄色光の割合は、変換体層の厚さによって決まる。特定の所望の白色の色調を得るためには、変換体層の厚さを正確に制御することが必要である。しかしながら、このように層の厚さを制御することは難しく、達成するためにはコストがかかる。具体的な欠点として、この目的には複雑な調量手順が必要である。
本発明の目的は、所望の白色の色調を生成することのできる変換プレートを提供することである。本発明のさらなる目的は、そのような変換プレートを有する放射放出半導体デバイスを提供することである。本発明のさらなる目的は、そのような変換プレートの単純化された製造方法を提供することである。
これらの目的は、独立請求項1の特徴を有する変換プレートによって解決される。さらに、これらの目的は、さらなる請求項の特徴を有する放射放出半導体デバイスと、独立請求項の特徴を有するこのような変換プレートの製造方法によって、解決される。変換プレート、放射放出半導体デバイス、および製造方法の有利な発展形態は、従属請求項の主題である。
少なくとも一実施形態によると、放射放出半導体デバイスの変換プレートは、ガラスからなる基材を含んでおり、この基材には少なくとも1つの開口部が配置されている。これら少なくとも1つの開口部に変換材料が導入されている。
したがって、本発明によると、変換プレートは、特定の領域のみに変換材料を含んでいるガラスプレートである。変換材料と基材の相対的な割合は、変換される放射と変換されない放射の相対的な割合、したがって混合放射の色位置を決める。
以下において、色位置とは、特に、CIE色空間における、放出された光の色を記述する数値を意味するものと理解されたい。CIE色空間は、特に、CIE標準表色系(CIE1931としても知られている)である。CIE標準表色系は、CIE標準色度図において表すことのできる、通常の観察者に関連する測定値に基づく。CIE標準色度図には、可能な色の領域が座標系にプロットされており、この座標系において、任意の色のX成分およびY成分を直接的に読み取ることができる。
ガラスからなる基材を有する変換プレートの利点として、このようなガラスプレートは、例えば平板ガラスの形において、極めて正確に調整可能な厚さで、さまざまな方法によって作製することができる。さらには、例えばレーザ援用の微細構造化工程によって、正確な開口部または孔をガラスに形成することが可能である。さらに、ガラスは極めて安定的な基材であり、ガラスには、全体としてプレートの安定性に悪影響を及ぼすことなく、複数の開口部または孔を設けることができ、これは有利である。さらに、さまざまな屈折率および軟化温度を有するガラスが利用可能である。これにより、特に、光の取り出しを改善するための範囲(scope)と、基材と変換材料の面積割合のバランスをとるための範囲が提供される。さらに、ガラスは極めて高温において、例えば変換材料を硬化させるのに必要な高温において、使用することができる。
本出願においては、開口部は、基材を完全に貫いて、特に、ガラスの厚さ全体を貫いて延びていることを意味するものと理解されたい。したがって、開口部は、基材における孔であり、この領域には基材が配置されていない。したがって、基材のガラスの厚さは、開口部の深さまたは孔の深さに一致する。
少なくとも一実施形態によると、基材は、少なくとも青色波長域における放射に対して放射透過性である。すなわち、基材は、青色放射に対して実質的に透明である。実質的に透明であるとは、特に、基材が、青色放射の少なくとも80%、好ましくは90%、特に好ましくは95%に対して放射透過性である、または透明であることを意味する。
したがって、変換プレートは、青色放射に対して透明である基材が配置されている領域と、好ましくはこの領域に隣接する領域であって、基材ではなく、1つの波長域の放射を別の波長域の放射に変換することのできる変換材料が配置されている領域と、によって区別される。したがって、変換プレートから放出される放射は、基材を通過する変換されていない放射と、変換材料において変換された放射とから構成されている。基材と変換材料の面積比は、変換される光と変換されない光の相対的な割合を決める。この比は、例えば、変換プレートの放射出口面において求められる。
少なくとも一実施形態によると、変換材料は、少なくとも1つの開口部を完全に満たしている。したがって、ガラスの厚さまたは基材の厚さ、したがって変換プレートの厚さによって決まる、変換材料の均一な厚さを達成することが可能である。変換材料と基材は、下面および上面が互いに揃っていることが好ましい。
少なくとも一実施形態によると、少なくとも1つの開口部もしくは変換材料またはその両方は、開口部の領域において青色波長域の放射の完全な変換を達成することができるような寸法を有する。したがって、変換材料(好ましくは少なくとも1つの開口部を完全に満たしている)が、変換材料において青色放射の完全な変換を達成するのに要求される厚さを正確に有するように、変換プレートの厚さまたはガラスの厚さを調整することができる。
少なくとも一実施形態によると、少なくとも1つの開口部は、円錐台状の形状を有する。すなわち、特に、少なくとも1つの開口部は、ガラスの厚さに沿った一方向に次第に細くなっている。開口部は、ほぼ円形または楕円形の断面を有することが好ましい。
少なくとも一実施形態によると、基材は、シリコーンよりも高い屈折率を有する。したがって、通常使用されるシリコーンよりも高い屈折率を有する媒体に変換材料を埋め込むことができ、これにより、例えば上流に配置される半導体チップの光の取り出し、または変換材料への光の取り込みが促進され、従って改善され、これは有利である。さらに、変換材料が中に導入されている少なくとも1つの開口部を有する、ガラスからなる基材は、シリコーンの場合よりも、例えば上流に配置されている半導体チップの熱膨張に対して良好に適応することができ、これにより、変換プレートと半導体チップとの間の結合の信頼性が向上する。
少なくとも一実施形態によると、変換材料は、青色放射を、より長い波長の放射、例えば黄色放射、赤色放射、緑色放射のうちの少なくとも1つに変換することができる。この目的のため、変換材料は、少なくとも1種類の波長変換材料を含んでいる。波長変換材料は、例えば粒子の形においてマトリックス材料の中に組み込むことができる。さらには、波長変換材料を、特にセラミック固体の形とすることが可能である。
一実施形態によると、少なくとも1種類の波長変換材料は、Euによってドープされた、もしくはLaによってドープされた、またはEuおよびLaによってドープされた波長変換材料を有する。Euによって活性化される波長変換材料およびLaによって活性化される波長変換材料は、特に、強度に依存する(intensity-dependent)変換効率を有することが判明している。
一実施形態によると、少なくとも1種類の波長変換材料は、窒化物系(nitridic)波長変換材料である。特に、少なくとも1種類の波長変換材料は、(Sr,Ca,Ba)Si系の波長変換材料、(Sr,Ca,Ba)SiN系の波長変換材料、およびCaAlSiN系の波長変換材料から選択することができる。このような窒化物系波長変換材料、特に、Euによってドープされた窒化物系波長変換材料は、青色光を赤色光に変換することができる。
例示的な一実施形態によると、少なくとも1種類の波長変換材料は、オルトケイ酸塩、ニトリド・オルトケイ酸塩、およびサイアロンから選択される。特に、波長変換材料は、Euによってドープされたオルトケイ酸塩、Euによってドープされたニトリド・オルトケイ酸塩、またはLaによってドープされたニトリド・オルトケイ酸塩から選択することができる。このような波長変換材料は、青色光を緑色〜黄色の光に変換することができる。
したがって、変換プレートは、好ましくは青色放射に対して透明なガラスからなる領域と、青色放射を変換する変換材料からなる領域とを有する。したがって、一方の面から変換プレートに取り込まれる青色放射は、通過する領域に応じて、変換されることなく基材を通過して青色放射として変換プレートから取り出されるか、変換材料においてより長い波長の放射に変換され、この放射が変換プレートから取り出される。変換材料の領域においては、青色放射の完全な変換が行われることが好ましい。したがって、変換材料は、青色放射を、より長い波長域の放射に完全に変換することができる。したがって、変換材料から放出される放射は、青色成分を有さない、または青色成分を実質的に有さない。この場合、製造に関連する極めて少量の青色放射の成分が変換されることなく変換材料を通過しうることを理解されたい。完全な変換とは、特に、青色放射の少なくとも90%、好ましくは95%以上が、変換材料によってより長い波長の放射に変換されることを意味するものと理解されたい。
少なくとも一実施形態によると、基材には複数の開口部が配置されており、開口部それぞれに変換材料が導入されている。したがって、基材は開口部によって多数の孔が形成されている。基材と変換材料の面積比は、青色放射の所望の割合がより長い波長の放射に変換されて、全体として白色色位置範囲における所望の混合放射が放出されるように、選択される。
少なくとも一実施形態によると、開口部は、基材において行列状に配置されている。「行列状に」とは、開口部が基材において規則的なパターンに配置されていることを意味する。例えば、開口部を、基材における行および列に配置することができる。開口部の配置は、例えば、長方形格子または三角格子を形成することができる。行列状に配置する結果として、特に、変換プレート全体に分布する、変換された、より長い波長の放射の間から、変換されていない青色放射を変換プレートから放出させることが可能であり、したがって、変換された放射と変換されていない放射の重ね合わせの改善が達成される。
少なくとも一実施形態によると、基材と変換材料は、1:1の比である。すなわち、例えば、基材のガラス材料の約50%が変換材料に置き換わっている。結果として、所望の白色変換を達成することができ、これは有利である。この比は、製造公差の範囲内で、1:1の等分布から逸脱することができる。例えば、最大で+/−5%の変動が可能である。さらに、この比は、変換プレートにおける変換材料の総体積と基材の総体積に基づくこともできる。しかしながら、特に、この比は基材と変換材料の面積比に基づいている。この比は、例えば変換プレートの放射出口面において求められる。
少なくとも一実施形態によると、放射放出デバイスは、青色放射を放出することのできる放射放出半導体チップを有する。さらに、放射放出デバイスは、基材としてガラスを含んでいる変換プレートを有し、基材には少なくとも1つの開口部が配置されており、この少なくとも1つの開口部に変換材料が導入されている。半導体チップによって放出される青色放射は、基材からは、変換されることなく取り出される。半導体チップによって放出される青色放射のうち変換材料を通過する成分は、より長い波長の放射に、好ましくは完全に変換され、したがって、デバイスから放出される放射は、青色成分と、より長い波長の成分の両方を含んでいる。これらの光成分は、例えば、デバイスが全体として白色放射を放出するように重ね合わされる。
本半導体デバイスは、電気的に生成されるデータまたはエネルギを光の放射に変換する、またはこの逆方向に変換することのできるオプトエレクトロニクスデバイスであることが好ましい。本半導体デバイスは、少なくとも1個のオプトエレクトロニクス半導体チップ、好ましくは放射放出半導体チップを有する。半導体チップは、好ましくはLED(発光ダイオード)、特に好ましくは薄膜LEDである。薄膜LEDの場合、特に、半導体チップの層を上にエピタキシャル成長させた成長基板が、部分的に、または完全に剥離されている。
半導体チップは、活性層が存在する半導体積層体を有する。活性層は、特に、青色放射を生成することができる。この目的のため、活性層は、放射を生成するためのpn接合部、ダブルヘテロ構造、単一量子井戸構造(SQW:単一量子井戸)、または多重量子井戸構造(MQW:多重量子井戸)を含んでいることが好ましい。量子井戸構造という表現は、量子化の次元について何らかの指定を行うものではない。量子井戸構造には、特に、量子井戸、量子細線、および量子ドットと、これらの構造の任意の組合せが含まれる。
半導体チップの半導体積層体は、III/IV族半導体材料を含んでいることが好ましい。III−IV族半導体材料は、紫外線から可視光、さらには赤外線スペクトル領域の範囲内の放射を生成するのに特に適している。
少なくとも一実施形態によると、基材と変換材料は、放射放出デバイスが、特定の色の光、もしくは、特定の色位置範囲の光、またはその両方を放出するように、互いに特定の比である。例えば、冷白色光を生成する場合、青色放射のうちの約17%が変換されることなく変換プレートを通過すれば十分である。この場合、残りの放射は変換される。これに応じて、基材と変換材料との比が選択される。
少なくとも一実施形態によると、放射放出半導体デバイスの変換プレートを製造する方法は、
a) プレートの形における、ガラスからなる基材を形成するステップと、
b) 基材に少なくとも1つの開口部を形成するステップと、
c) 少なくとも1つの開口部に変換材料を導入するステップと、
を含んでいる。
このような製造方法によって、特定の領域において、ガラスからなる好ましくは透明な基材を含んでおり、そこに隣接する特定の領域において、変換材料を含んでいる、変換プレート、を提供することが可能である。変換プレートを通過する放射は、特定の領域、特に基材の領域においては、変換されることなく変換プレートを通過し、そこに隣接する特定の領域においては、変換材料において、異なる波長の放射に変換され得る。透明なガラスと変換材料との面積比は、変換される光と変換されない光の相対的な割合、好ましくは青色光およびより長い波長の光の相対的な割合を決める。開口部の大きさは、変換材料において完全な変換が行われるような大きさである。
ステップa)においては、ガラスプレート、例えば、極めて正確に調整可能な厚さの平板ガラスプレートを作製することが好ましい。ガラスは安定性が高いことを特徴としており、したがってステップb)において、ガラスプレートの安定性を低下させることなく、少なくとも1つの開口部をガラスに形成することができる。
好ましくは、ステップb)において、少なくとも1つの開口部をレーザ援用の微細構造化工程によって形成する。このような工程では、ガラスからなる基材に正確な開口部および孔を効率的に形成することができる。開口部の大きさは、所望の変換の程度に一致する。
少なくとも一実施形態によると、ステップc)において、少なくとも1つの開口部に変換材料を印刷工程によって導入する。印刷工程を使用して孔を満たすことによって、完全な変換のための十分な寸法を有する均一な厚さを達成することが可能である。
変換材料は、基材に熱的に埋め込まれることが好ましい。特に、変換材料は、基材における開口部に導入された後、硬化する。基材としてガラスを使用することにより、例えば通常使用されるシリコーンよりも高い温度が可能である。特に、所望の屈折率と所望の軟化温度を有するガラス材料を使用することができる。
少なくとも一実施形態によると、ステップb)において、基材に複数の開口部を形成し、ステップc)において、開口部それぞれに変換材料を導入する。基材における開口部の数および大きさは、所望の変換の程度、および特に、結果として得られる所望の色位置に依存する。特に、基材と変換材料の面積比を使用して、変換される放射と変換されない放射の比を調整することができる。
本発明のさらなる利点および有利な発展形態は、以下に図1〜図4を参照しながら説明する例示的な実施形態において明らかになるであろう。
本発明による変換プレートの例示的な実施形態の概略的な平面図である。 本発明による変換プレートの例示的な実施形態の概略的な断面図を示している。 本発明による変換プレートの例示的な実施形態の概略的な断面図を示している。 本発明による半導体デバイスの例示的な実施形態の概略的な断面図を示している。 変換プレートを製造するための本発明による方法の例示的な実施形態の概略的な流れ図である。
図面において、同じ部分、または機能が同じ部分は、それぞれ同じ参照数字によって表してある。図示した部分と、部分の互いの相対的な大きさは、正しい縮尺ではないものとみなされたい。むしろ、便宜上、もしくは深く理解できるようにする目的で、個々の要素(例えば、層、構造、部品、領域)の厚さや大きさを誇張して示してある。
図1は、基材2を含んでいる変換プレート1の平面図を示している。基材2は、好ましくはガラス材料、例えば平板ガラスである。基材2には、開口部3が、特に行列状に配置されている。開口部3は、基材のガラスの厚さ全体にわたり延びている。開口部3は、楕円形、好ましくは円形の断面を有する。開口部3は、大きさが同じである、またはほぼ同じであることが好ましい。図1の例示的な実施形態において、基材2における開口部3の数は、一例として示してあるにすぎない。基材2における開口部3の数は、所望の用途に応じて、および所望の変換の程度に応じて、変えることができる。
開口部3のそれぞれには、変換材料4が導入されている。特に、変換材料4は、開口部3のそれぞれを完全に満たしている。したがって、基材2のガラスの厚さは、変換材料の厚さに一致する。変換材料4は、青色放射を、より長い波長の放射(例えば黄色放射)に変換できることが好ましい。この場合、開口部の大きさと、したがって変換材料4の大きさは、それぞれ所望の色位置に一致している。特に、開口部3と変換材料4は、各開口部3の領域において、青色波長域の放射から、より長い波長の放射への完全な変換を達成できるような寸法を有する。
この目的のため、基材2と変換材料4は、例えば、1:1の比である。すなわち、ガラスの表面積の約50%が変換材料に置き換わっている。
例えば、正方形に配置された直径50μmの開口部を有する厚さ100μmの平板ガラスからなる基材の場合、孔の間隔は約87μmである。
特に、各開口部の周囲に、長方形を描くことができる。変換材料と基材との50%の比を得るためには、開口部の表面積が長方形の表面積の半分に等しくなければならない。半径rの開口部の場合、これにより次の関係が得られる。
Figure 2014527311
したがって次式が成り立つ。
Figure 2014527311
このような構造の変換プレートによって、変換される光と変換されない光の相対的な割合を、基材と変換材料の面積比によって制御および調整することができる。変換材料は、変換材料が青色光をより長い波長の放射に完全に変換するような寸法を有することが好ましい。
基材と変換材料は、放射放出デバイスが、特定の色の光もしくは特定の色位置範囲の光またはその両方を放出するように、互いに特定の比である。例えば、冷白色光を生成する場合、青色放射のうちの約17%が変換されることなく変換プレートを通過すれば十分である。そして残りの放射が変換される。これに応じて、基材と変換材料の比が選択される。この目的のため、ガラスの屈折率とセラミック変換材料の屈折率とがほぼ同じであり、散乱効果が無視されるものと想定される場合、50%ではなく17%の青色成分を想定すると、上述した式から、aの値として3.26rが得られる。完全な変換を行うのに変換材料の180μmの厚さで十分であると想定すると、r=10μmの孔半径では、ガラスの厚さが180μmの場合に孔の間隔は33μmとなる。この例は、混合光の所望の色または色温度に応じて、適切な孔の間隔と、したがって変換材料と基材の適切な面積比を選択できることを示している。変換されない光と変換される光の比は、一般には、半導体チップの放出スペクトル、半導体チップの放出波長、所望の色温度、所望の色位置、基材の屈折率、変換材料の屈折率、および基材と変換材料の散乱特性に依存する。
ガラスからなる基材を有する変換プレートは、極めて幅広い方法を使用して、極めて正確に調整可能な厚さで、製造することができる。さらに、ガラスの場合、例えばレーザ援用の微細構造化工程によって、正確な孔または開口部を基材に効率的に形成することが可能である。ガラスは極めて安定的な材料であるため、基材に多数の開口部を形成することができる。次いで、これらの開口部を、例えば印刷工程によって変換材料によって完全に満たし、結果として、完全な変換に適する均一な厚さを達成することができる。
基材としてのガラスは、極めて広範囲の屈折率および軟化温度において利用することができる。これにより、光の取り出しを改善するための範囲と、ガラスと変換材料の面積割合のバランスをとるための範囲が提供される。さらに、基材としてのガラスでは、例えば変換材料を硬化させるのに必要な温度を使用することができる。結果として、高い屈折率を有する(特に、通常使用されるシリコーンよりも高い屈折率を有する)基材に変換体粒子を埋め込むことができ、これにより、半導体チップからの光の取り出し、または半導体チップの光の、変換材料への取り込みが促進される。さらに、変換材料が導入されているガラスからなる変換プレートは、動作時に起こる半導体チップの熱膨張に良好に(特にシリコーンの場合よりも良好に)適応することができ、これは有利であり、したがって、変換プレートと半導体チップとの間の結合の信頼性が向上し、これは有利である。
基材としてのガラスは、例えば、約720℃の成形温度を有する無アルカリガラスである。熱膨張係数(CTE)は、例えば約7ppm/Kであり、すなわち、下流に変換プレートが配置されている半導体チップの熱膨張係数の領域内である。半導体チップは、例えば、GeもしくはMo:Cuまたはその両方からなる、またはこのような材料を含んでいるキャリアを有する薄膜半導体チップとすることができる。基材は、少なくとも青色波長域における放射に対して透過性、特に透明であることが好ましい。例えば、青色放射が変換プレートに取り込まれる場合、基材の領域においては、青色放射の成分は影響を受けることなく変換プレートを通過する。したがって、その青色放射は、そのまま青色放射として変換プレートから放出される。しかしながら、変換材料の領域においては、青色放射の成分は、より長い波長の放射に変換され、特に、変換材料の領域において完全な変換が行われ、したがって、変換材料の領域においては、より長い波長の放射のみが変換プレートから取り出される。したがって、全体として変換プレートから放出される放射は、青色放射と、より長い波長の放射とから構成され、これらの放射が重ね合わせによって混合されて白色放射が形成される。白色放射の正確な色位置は、基材と変換材料の面積比によって調整される。
図2Aは、図1の例示的な実施形態の変換プレートの断面図を示している。開口部3は基材2を完全に貫いており、変換材料4によって完全に満たされており、したがって、断面図において変換材料と基材とが交互に並んでいる。変換プレート1に取り込まれた放射は、変換されることなく基材2を通過することができる。変換材料4の領域においては、変換プレート1に取り込まれた放射は、異なる波長の放射、特に、より長い波長の放射に完全に変換される。
図2Bは、図1の例示的な実施形態による代替の例示的な実施形態を、例えば変換プレートを切断した断面図として示している。基材2を貫く開口部3は、円錐台状の形状を有する。特に、開口部3は、基材2に沿った方向に次第に細くなるように配置されている。この場合、開口部3は、すべてが互いに同じように次第に細くなることが好ましい。すなわち、開口部3は、同じ形状またはほぼ同じ形状である。同様に、基材2も、断面において円錐台状の形状を有し、ただし変換材料4または開口部3とは逆方向に次第に細くなっている。
図3は、放射放出半導体チップ5を備えた放射放出半導体デバイス10を示しており、放射放出半導体チップ5は、青色放射Sを放出できることが好ましい。変換プレート1は、半導体チップ5の放射取り出し面に配置されている。変換プレート1は、図1または図2の例示的な実施形態の一方に一致することが好ましい。
半導体チップ5は、放射を生成するのに適する活性層5aを有し、この活性層は、動作時に青色波長域の放射を放出することができる。半導体チップ5は、III−IV族半導体材料系の半導体積層体を有する。この半導体積層体に活性層5aが組み込まれている。半導体チップ5は、LEDであることが好ましい。
半導体チップ5の下流に配置されている変換プレート1は、開口部が配置された基材2を有し、開口部には変換材料4が導入されている。基材2は、半導体チップ5によって放出される放射に対して透明である、または放射透過性である。すなわち、活性層5aから変換プレート1の方向に放出された放射は、基材2の領域において変換プレートに取り込まれ、変換されることなく変換プレート1を透過する。したがって、この放射は、半導体チップ5とは反対側の変換プレート1の面において、青色放射Sの形で取り出される。したがって、半導体チップ5によって放出される放射のうちのこの放射成分は、色位置に関して変換プレート1において影響を受けない。
活性層5aによって放出される放射のうち変換材料4の領域において変換プレート1に取り込まれた放射は、変換材料4において、より長い波長の放射に変換され、より長い波長の放射(例えば黄色放射)Sの形で変換プレート1から取り出される。したがって、半導体チップ5とは反対側の変換プレート1の面において、青色放射Sと黄色放射Sの両方が放出される。これらの放射成分は重ね合わされて、全体として、白色の混合放射Sが形成される。したがって、この半導体デバイスは、白色を放出する半導体デバイスである。白色放射の色位置は、変換材料の面積と基材の面積の比に依存する。したがって、所望の白色の色位置を面積比によって調整することが可能である。
図4は、例えば図1〜図3の変換プレートに類似する方法で構築される変換プレートを製造する方法の流れ図を示している。ステップVにおいて、プレートの形における、ガラスからなる基材を形成する。基材を形成した後、ステップVにおいて、基材に1つまたは複数の開口部を形成する。これらの開口部は、レーザ援用の微細構造化工程によって形成されることが好ましく、結果として、開口部は円錐台形状となる。次のステップVにおいて、1つまたは複数の開口部に変換材料を導入する。変換材料は、印刷工程によって導入されることが好ましい。印刷工程では、特に、開口部を均一な厚さの変換材料によって満たすことが可能である。厚さは、開口部において(すなわち変換材料において)、青色放射から、より長い波長の放射への完全な変換を達成できるように調整されることが好ましい。
開口部に変換材料を導入した後、変換材料を高温で硬化させる。変換プレートを作製した後、例えばピックアンドプレース法によって、変換プレートを半導体チップに貼り付けることができる。変換材料が導入された、ガラスからなる変換プレートは、シリコーンの場合よりも、半導体チップの熱膨張に良好に適応することができ、したがって、変換プレートと半導体チップとの間の結合の信頼性が向上し、これは有利である。
ここまで、本発明について例示的な実施形態を使用して説明してきたが、本発明はこれらの例示的な実施形態に限定されない。本発明は、任意の新規の特徴および特徴の任意の組合せを包含しており、特に、請求項における特徴の任意の組合せを含んでいる。これらの特徴または特徴の組合せは、それ自体が請求項あるいは例示的な実施形態に明示的に記載されていない場合であっても、本発明に含まれる。
関連出願
本特許出願は、独国特許出願第102011115083.1号の優先権を主張し、この文書の開示内容は参照によって本明細書に組み込まれている。

Claims (15)

  1. 放射放出半導体デバイス(10)の変換プレート(1)であって、
    ガラスからなる基材(2)を含んでおり、前記基材に少なくとも1つの開口部(3)が配置されており、前記少なくとも1つの開口部(3)に変換材料(4)が導入されている、
    変換プレート(1)。
  2. 前記基材(2)が、少なくとも青色波長域の放射(S)に対して放射透過性である、
    請求項1に記載の変換プレート。
  3. 前記変換材料(4)が前記少なくとも1つの開口部(3)を完全に満たしている、
    請求項1または請求項2のいずれかに記載の変換プレート。
  4. 前記少なくとも1つの開口部(3)もしくは前記変換材料(4)またはその両方が、前記開口部(3)の領域において青色波長域の放射(S)の完全な変換を達成できるような寸法を有する、
    請求項1から請求項3のいずれかに記載の変換プレート。
  5. 前記少なくとも1つの開口部が円錐台状の形状を有する、
    請求項1から請求項4のいずれかに記載の変換プレート。
  6. 前記基材(2)が、シリコーンよりも高い屈折率を有する、
    請求項1から請求項5のいずれかに記載の変換プレート。
  7. 前記変換材料(4)が、青色放射(S)を、より長い波長の放射(S)に変換するのに適している、
    請求項1から請求項6のいずれかに記載の変換プレート。
  8. 前記基材(2)に複数の開口部(3)が配置されており、前記開口部(3)それぞれに変換材料(4)が導入されている、
    請求項1から請求項7のいずれかに記載の変換プレート。
  9. 前記開口部(3)が前記基材(2)において行列状に配置されている、
    請求項8に記載の変換プレート。
  10. 青色放射(S)を放出することができる放射放出半導体チップ(5)を有し、請求項1から請求項9のいずれかに記載の変換プレート(1)を有する、
    放射放出デバイス(10)。
  11. 前記放射放出デバイス(10)が、特定の色の光もしくは特定の色位置範囲の光またはその両方を放出するように、前記基材(2)と前記変換材料(4)が互いに特定の比である、
    請求項10に記載の放射放出デバイス(10)。
  12. 放射放出半導体デバイス(10)の変換プレート(1)を製造する方法であって、
    a) プレートの形における、ガラスからなる基材(2)を形成するステップと、
    b) 前記基材(2)に少なくとも1つの開口部(3)を形成するステップと、
    c) 前記少なくとも1つの開口部(3)に変換材料(4)を導入するステップと、
    を有する、
    方法。
  13. 前記少なくとも1つの開口部(3)が、レーザ援用の微細構造化工程によって形成される、
    請求項12に記載の方法。
  14. 前記変換材料(4)が、前記少なくとも1つの開口部(3)に印刷工程によって導入される、
    請求項12または請求項13に記載の方法。
  15. ステップb)において、前記基材(2)に複数の開口部(3)が形成され、ステップc)において、各開口部(3)に変換材料(4)が導入される、
    請求項12から請求項14のいずれかに記載の方法。
JP2014530136A 2011-09-19 2012-08-16 変換ダイ、そのような変換ダイを備えた放射放出部品、およびそのような変換ダイの製造方法 Pending JP2014527311A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011115083A DE102011115083A1 (de) 2011-09-19 2011-09-19 Konverterplättchen, strahlungsemittierendes Bauelement mit einem derartigen Konverterplättchen und Verfahren zum Herstellen eines derartigen Konverterplättchens
DE102011115083.1 2011-09-19
PCT/EP2012/066036 WO2013041313A1 (de) 2011-09-19 2012-08-16 Konverterplättchen, strahlungsemittierendes bauelement mit einem derartigen konverterplättchen und verfahren zum herstellen eines derartigen konverterplättchens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014527311A true JP2014527311A (ja) 2014-10-09

Family

ID=46758734

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014530136A Pending JP2014527311A (ja) 2011-09-19 2012-08-16 変換ダイ、そのような変換ダイを備えた放射放出部品、およびそのような変換ダイの製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9368698B2 (ja)
JP (1) JP2014527311A (ja)
KR (1) KR20140063737A (ja)
DE (1) DE102011115083A1 (ja)
WO (1) WO2013041313A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018006529A (ja) * 2016-06-30 2018-01-11 三菱電機株式会社 発光装置
JP2019212931A (ja) * 2019-09-20 2019-12-12 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2021068917A (ja) * 2021-01-20 2021-04-30 三菱電機株式会社 発光装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013104776A1 (de) * 2013-05-08 2014-11-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Wellenlängenkonversionselements, Wellenlängenkonversionselement und Bauelement aufweisend das Wellenlängenkonversionselement
JP2015115480A (ja) * 2013-12-12 2015-06-22 株式会社エルム 発光装置及びその製造方法
FR3048127A1 (fr) * 2016-07-22 2017-08-25 Commissariat Energie Atomique Dispositif opto-electronique a couche de conversion comprenant une grille et procede de fabrication du dispositif
KR102168701B1 (ko) * 2019-03-08 2020-10-22 주식회사 유제이엘 복수 색상 형광체 플레이트, 이를 포함하는 칩 스케일 발광 다이오드 패키지 및 이의 제조방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006179684A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Matsushita Electric Works Ltd 発光装置
WO2008044759A1 (en) * 2006-10-12 2008-04-17 Panasonic Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same
JP2008227042A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光源装置
WO2010134331A1 (en) * 2009-05-22 2010-11-25 Panasonic Corporation Semiconductor light-emitting device and light source device using the same
JP2011520281A (ja) * 2008-05-07 2011-07-14 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 発光材料を含む自己支持型格子を有するledを備えた照明装置及び自己支持型格子を作製する方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6396082B1 (en) * 1999-07-29 2002-05-28 Citizen Electronics Co., Ltd. Light-emitting diode
JP3900848B2 (ja) 2001-03-23 2007-04-04 シチズン電子株式会社 発光ダイオード
DE102005040558A1 (de) * 2005-08-26 2007-03-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zum Herstellen eines Lumineszenzdiodenchips und Lumineszenzdiodenchip
DE102007003785A1 (de) * 2007-01-19 2008-07-24 Merck Patent Gmbh Emitter-converter-chip
CN101378103A (zh) * 2007-08-28 2009-03-04 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 白光发光装置及其制作方法
DE102008012407A1 (de) 2008-01-31 2009-08-06 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierende Vorrichtung
US20120038665A1 (en) 2010-08-14 2012-02-16 H8it Inc. Systems and methods for graphing user interactions through user generated content

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006179684A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Matsushita Electric Works Ltd 発光装置
WO2008044759A1 (en) * 2006-10-12 2008-04-17 Panasonic Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same
JP2008227042A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光源装置
JP2011520281A (ja) * 2008-05-07 2011-07-14 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 発光材料を含む自己支持型格子を有するledを備えた照明装置及び自己支持型格子を作製する方法
WO2010134331A1 (en) * 2009-05-22 2010-11-25 Panasonic Corporation Semiconductor light-emitting device and light source device using the same
JP2012527742A (ja) * 2009-05-22 2012-11-08 パナソニック株式会社 半導体発光装置及びそれを用いた光源装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018006529A (ja) * 2016-06-30 2018-01-11 三菱電機株式会社 発光装置
JP2019212931A (ja) * 2019-09-20 2019-12-12 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP7071652B2 (ja) 2019-09-20 2022-05-19 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2021068917A (ja) * 2021-01-20 2021-04-30 三菱電機株式会社 発光装置
JP7283489B2 (ja) 2021-01-20 2023-05-30 三菱電機株式会社 発光装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140063737A (ko) 2014-05-27
US9368698B2 (en) 2016-06-14
DE102011115083A1 (de) 2013-03-21
CN103814449A (zh) 2014-05-21
WO2013041313A1 (de) 2013-03-28
US20150011037A1 (en) 2015-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014527311A (ja) 変換ダイ、そのような変換ダイを備えた放射放出部品、およびそのような変換ダイの製造方法
JP6257764B2 (ja) 発光半導体コンポーネント及びその製造方法並びに当該発光半導体コンポーネントを備えた波長変換素子の製造方法
JP5389029B2 (ja) 反射型波長変換層を含む光源
JP5666715B2 (ja) オプトエレクトロニクス半導体チップおよびその製造方法
JP5824142B2 (ja) 光学要素、オプトエレクトロニクス部品、およびこれらの製造方法
JP6094062B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
KR101361435B1 (ko) 반도체 발광 장치 및 그 제조 방법
JP5738438B2 (ja) セラミック変換素子、セラミック変換素子を備えた半導体チップおよびセラミック変換素子の製造方法
JP2013501372A (ja) シリコーン層及び積層された遠隔蛍光体層を備えるled
CN109427757A (zh) 发光装置
JP6852066B2 (ja) テクスチャ基板を有する波長変換式発光デバイス
KR20150110611A (ko) 발광 사파이어를 하향-변환기로 사용하는 led
JP5330855B2 (ja) 半導体発光装置
US10533729B2 (en) Light source with LED chip and luminophore layer
JP2011258657A (ja) 半導体発光装置および半導体発光装置の製造方法
US9012928B2 (en) Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
US20110062468A1 (en) Phosphor-converted light emitting diode device
JP2009021599A (ja) 白色変換のためのledチップの設計
JP2008198702A (ja) 色変換発光素子とその製造方法
JP2018006490A (ja) シート成形体の製造方法、及びそれを用いた発光装置の製造方法
JP2019114765A (ja) 発光装置および発光装置の製造方法
JP2008270390A (ja) フロントカバー、発光装置およびフロントカバーの製造方法
TWI771640B (zh) 用於改善磷光體轉換led (pcled)穩定性之圖案化陶瓷波長轉換磷光體結構(lumiramic)
JP6294119B2 (ja) 発光装置
JP2012084622A (ja) 半導体発光素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140515

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140515

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150120

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20150402

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150716

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150901