JP2014189020A - 溶液製膜方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1ドープ41と第2ドープ42とから3層構造のフィルムをつくる。第2ドープ42には微粒子14が含まれる。微粒子14は、疎水基としてのトリメチルシリル基により表面被覆処理をされている。微粒子14の表面被覆率は少なくとも0.012である。第1ドープ41と第2ドープ42とを流延ダイ65から共流延してベルト62から剥がし、テンタ35とローラ乾燥装置36により乾燥してフィルム10とする。
【選択図】図4
Description
表面被覆率が互いに異なる微粒子14を3種類つくった。各微粒子14の表面被覆率は表2の「表面被覆率」欄に示す。微粒子14としては、TMSにより表面被覆したシリカだけからなるものと、DMSにより表面被覆したシリカとTMSにより表面被覆したシリカとを混合したものとの2通りがある。そこで、DMSにより表面被覆したシリカとTMSにより表面被覆したシリカとの混合比率を、表2の「DMS:TMS」欄に示す。
得られた各フィルム10からA4版(210mm×297mm)のサンプルを10枚ずつ切り出した。具体的には、フィルム10の幅方向に沿って5枚切り出し、この5枚を切り出した位置からフィルム10の長手方向で5m離れた位置で、同様に幅方向に沿って5枚切り出した。各サンプルは、フィルム10の長手方向にサンプルの長辺を一致させて切り出した。各サンプルにつき、長手方向に延びる傷の有無及びその程度の評価を行った。評価は、フィルム面についている幅100μm以上、長さ5cm以上のすじの本数を目視で数え、その本数の平均値を求めた。平均値につき、以下の基準ですじを評価した。なお、A,Bは合格レベルであり、C,Dは不合格レベルである。
A:0
B:0より大きく0.5以下である
C:0.5より大きく1以下である
D:1より大きい
また、ドープ調製装置31から微粒子分散液58をサンプリングして、このサンプルを溶媒で1〜5%に希釈した後、粒径分布測定機(製品名LA920、HORIBA社製)を用いて粒径分布を測定した。得られた粒径分布から、10μm以上の粒子が含まれているか否か、および粒径分布のグラフにおいて10μm以上の粒子のピーク面積を調べ、このピーク面積の全ピーク面積に対する割合(単位;%)を粗大粒子率として求めた。この粗大粒子率を以下の基準で評価した。評価した。なお、A,Bは合格レベルであり、C,Dは不合格レベルである。
A:0%
B:0%より大きく20%以下である
C:20%より大きく40%以下である
D:40%より大きい
表面被覆率が互いに異なる微粒子を2種類つくった。各微粒子の表面被覆率は表2の「表面被覆率」欄に示す。微粒子としては、表2に示すように、DMSにより表面被覆したシリカだけからなるものと、DMSにより表面被覆したシリカとTMSにより表面被覆したシリカとを混合したものとの2通りがある。
14 微粒子
30 溶液製膜設備
32 流延装置
41 第1ドープ
42 第2ドープ
Claims (3)
- 疎水基により表面が少なくとも0.012の表面被覆率で被覆されたシリカの微粒子を含み、ポリマーが溶媒に溶解したポリマー溶液を、連続走行する支持体上へ流延ダイから連続的に流出することにより前記支持体上へ流延膜を形成するステップと、
前記流延膜を前記支持体から剥がして乾燥するステップとを有することを特徴とする溶液製膜方法。 - 前記ポリマーはセルロースアシレートであることを特徴とする請求項1記載の溶液製膜方法。
- 前記疎水基の少なくとも一部はトリメチルシリル基であることを特徴とする請求項1または2記載の溶液製膜方法。
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