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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6188521B2 (ja) * 2013-10-02 2017-08-30 株式会社日立エルジーデータストレージ 光計測装置
JP6227449B2 (ja) * 2014-03-14 2017-11-08 株式会社日立エルジーデータストレージ 光断層観察装置
JP6231958B2 (ja) * 2014-08-20 2017-11-15 株式会社日立エルジーデータストレージ 光画像計測装置
JP6387281B2 (ja) * 2014-10-09 2018-09-05 浜松ホトニクス株式会社 Ｏｃｔ装置用光検出モジュール及びｏｃｔ装置
JP6462432B2 (ja) * 2015-03-11 2019-01-30 株式会社日立エルジーデータストレージ 光計測装置及び光計測方法
JP6523871B2 (ja) 2015-08-26 2019-06-05 株式会社日立エルジーデータストレージ 光計測装置
JP6559555B2 (ja) 2015-12-02 2019-08-14 株式会社日立エルジーデータストレージ 光計測方法および装置
WO2017097886A1 (en) * 2015-12-09 2017-06-15 Carl Zeiss Meditec Ag Balanced detection systems
JP6666792B2 (ja) * 2016-05-20 2020-03-18 株式会社日立エルジーデータストレージ 光画像計測装置、光画像計測方法
JP2018048899A (ja) 2016-09-21 2018-03-29 株式会社日立製作所 レーザ計測装置及びレーザ超音波装置
JP6720051B2 (ja) * 2016-10-27 2020-07-08 株式会社日立エルジーデータストレージ 光画像計測装置、光画像計測方法
JP6843585B2 (ja) 2016-10-28 2021-03-17 株式会社日立エルジーデータストレージ 走査型画像計測装置及び走査型画像計測方法
WO2018119077A1 (en) * 2016-12-21 2018-06-28 Acucela Inc. Miniaturized mobile, low cost optical coherence tomography system for home based ophthalmic applications
JP6805930B2 (ja) * 2017-03-29 2020-12-23 株式会社島津製作所 振動測定装置
JP6826496B2 (ja) * 2017-06-07 2021-02-03 タツタ電線株式会社 光干渉ユニットおよび光干渉測定装置
JP6887350B2 (ja) * 2017-09-06 2021-06-16 株式会社日立製作所 光画像計測装置
JP6404425B2 (ja) * 2017-09-27 2018-10-10 株式会社日立エルジーデータストレージ 光画像計測装置
JP7050282B2 (ja) * 2017-12-22 2022-04-08 株式会社トーメーコーポレーション 光断層画像撮影装置及びそれに用いる光源装置
JP7144822B2 (ja) * 2017-12-22 2022-09-30 株式会社トーメーコーポレーション 光断層画像撮影装置
FR3084489B1 (fr) * 2018-07-26 2020-09-11 Etat Francais Represente Par Le Delegue General Pour Larmement Procede de detection d’au moins un equipement informatique compromis au sein d’un systeme d’information
WO2020049620A1 (ja) * 2018-09-03 2020-03-12 株式会社島津製作所 干渉計移動鏡位置測定装置及びフーリエ変換赤外分光光度計
CN111609997B (zh) * 2020-05-07 2022-04-19 中国科学院光电技术研究所 一种适用于透射式光学元件光程均匀性测量的检测装置
CN113465884B (zh) * 2021-06-03 2023-06-06 中国科学院空天信息创新研究院 连续激光损伤阈值测试装置
CN115575354B (zh) * 2022-09-23 2025-10-24 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种超光滑表面元件的散射特性测量装置及方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3479069B2 (ja) * 1991-04-29 2003-12-15 マサチューセッツ・インステチュート・オブ・テクノロジー 光学的イメージ形成および測定の方法および装置
JP3602925B2 (ja) * 1995-12-08 2004-12-15 独立行政法人科学技術振興機構 光干渉法による測定対象物の屈折率と厚さの同時測定装置
US7450618B2 (en) * 2001-01-30 2008-11-11 Board Of Trustees Operating Michigan State University Laser system using ultrashort laser pulses
WO2004111929A2 (en) * 2003-05-28 2004-12-23 Duke University Improved system for fourier domain optical coherence tomography
JP5416883B2 (ja) * 2003-06-19 2014-02-12 マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ 位相測定用システムと方法
JP4996917B2 (ja) * 2006-12-26 2012-08-08 株式会社トプコン 光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム
JP5448353B2 (ja) * 2007-05-02 2014-03-19 キヤノン株式会社 光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置
HU0800688D0 (en) * 2008-11-17 2009-01-28 Femtonics Kft Multiple free line-scan mode of scanning
US7889356B2 (en) * 2008-12-09 2011-02-15 Zygo Corporation Two grating lateral shearing wavefront sensor
JP5649286B2 (ja) * 2008-12-26 2015-01-07 キヤノン株式会社 光断層撮像装置、被検査物の画像を撮る撮像装置、光断層撮像装置の制御方法及びそのコンピュータプログラム
JP5725697B2 (ja) * 2009-05-11 2015-05-27 キヤノン株式会社 情報処理装置および情報処理方法
JP5610706B2 (ja) * 2009-05-22 2014-10-22 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像方法
JP5627260B2 (ja) * 2009-05-22 2014-11-19 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像方法
JP5306269B2 (ja) * 2009-06-25 2013-10-02 キヤノン株式会社 光干渉断層法を用いる撮像装置及び撮像方法
JP5256161B2 (ja) * 2009-10-02 2013-08-07 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 光情報記録再生装置及び情報再生装置
JP5801577B2 (ja) 2010-03-25 2015-10-28 キヤノン株式会社 光断層撮像装置及び光断層撮像装置の制御方法
JP5917004B2 (ja) * 2011-03-10 2016-05-11 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像装置の制御方法
JP5220155B2 (ja) 2011-03-31 2013-06-26 キヤノン株式会社 眼科装置および眼科装置の制御方法
JP5701660B2 (ja) * 2011-03-31 2015-04-15 株式会社ニデック 眼底撮影装置
JP2013146447A (ja) * 2012-01-20 2013-08-01 Canon Inc 撮影装置、画像処理方法、及びプログラム

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