JP2014074139A - 回路接続材料及びその製造方法、並びにそれを用いた実装体の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1の電子部品の電極上に、アナターゼ型の活性酸化チタン粒子と、重合性樹脂と、重合開始剤と、導電性粒子とを含有する異方性導電フィルムを仮貼りし、異方性導電フィルム上に第2の電子部品を配置し、該第2の電子部品の上面から圧着ヘッドにて押圧する。仮貼り時において、アナターゼ型の活性酸化チタン粒子により、超親水性が発現されるため、濡れ性が向上し、基板への密着性を向上させることができる。
【選択図】図1
Description
1.回路接続材料及びその製造方法
2.実装体の製造方法
3.実施例
本実施の形態における回路接続材料は、アナターゼ型の活性酸化チタン粒子と、重合性樹脂と、重合開始剤とを含有する。これにより、基板への密着性を向上させることができる。さらに、より低温での仮貼りが可能となる。したがって、基板への熱影響を低減し、生産性を向上させることができる。
次に、上述した回路接続材料を用いた電子部品の実装方法について説明する。本実施の形態における電子部品の実装方法は、第1の電子部品の電極上に、アナターゼ型の活性酸化チタン粒子と、重合性樹脂と、重合開始剤と、導電性粒子とを含有する異方性導電フィルムを仮貼りする仮貼工程と、異方性導電フィルム上に第2の電子部品を配置し、第2の電子部品の上面から圧着ヘッドにて押圧する押圧工程とを有する。これにより、第1の電子部品の電極と第2の電子部品の電極とを導電性粒子を介して接続するとともに、異方性導電フィルムを硬化させることができる。
以下、本発明の実施例について説明する。本実施例では、酸化チタンを合成し、これをラジカル硬化型の異方性導電フィルムに配合した。そして、異方性導電フィルムの仮貼り試験を行った。また、異方性導電接フィルムを用いて実装体を作製し、実装体の接続抵抗を測定した。なお、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
特開2001−287997号公報を参考にして、四塩化チタンを気相中で酸素と接触させ、酸化させる気相法により、酸化チタン単結晶を調製した。すなわち、多重管バーナーを上部に具備した気相反応管において、約830℃にて酸化反応させ、酸化チタンを合成し、これを350〜400℃で120分間保持する加熱処理を行い、平均粒子径1.2μmのアナターゼ型の酸化チタンを得た。また、反応温度を1000℃へ変更し、平均粒子径1.0μmのルチル型酸化チタンを得た。これらの酸化チタンついて、目開きの異なるいくつかの篩(ふるい)を用いて乾式分級を行った。そして、篩の目開きを通過する割合を測定し,積算(累積)重量百分率で表した。
フェノキシ樹脂(品名:YP−50、東都化成社製)を固形分換算で60質量部、ラジカル重合成樹脂(品名:EB−600、ダイセルサイテック社製)を35質量部、及び反応開始剤(品名:パーヘキサC、日本油脂社製)を2質量部で構成された組成物中に、平均粒子径5μmの導電性粒子(品名:AUL705、積水化学工業社製)を粒子密度10000個/mm2になるよう分散させて調整した。この接着剤組成物をPETフィルム上にバーコーターを用いて塗布し、オーブンで乾燥させ、厚さ15μmの異方性導電フィルムを作製した。
評価用ガラス基板(ITO(Indium Tin Oxide)コーティングガラス)に1.5mm幅にスリットされた異方性導電フィルムを、150μm厚の緩衝材(ポリテトラフルオロエチレン)を用い、1.5mm幅のツールの仮圧着機にて70℃−1MPa−1secの条件で仮圧着した。次いで、評価用COF(50μmP、Cu8μmt−Snメッキ、38μmt)を同圧着機にて80℃−0.5MPa−0.5secの条件で仮固定し、最後に190℃−2MPa−10secの条件にて1.5mm幅のツールを用いた本圧着機で圧着し、実装体を作製した。
1.5mm幅にスリットされたベースフィルム/ACF/カバーフィルムの構成からなる回路接続材料を用いた。カバーフィルムを剥がして評価用ノンアルカリガラスに貼り付け、150μm厚の緩衝材(ポリテトラフルオロエチレン)を用い、1.5mm幅のツールの仮圧着機にて50℃−1MPa−1secの条件で仮圧着した。そして、ベースフィルムを剥がし、ベースフィルムと共にACFがガラス基板から剥がれてしまうものを「NG」とした。この仮貼り試験を10回行い、NGの回数をカウントした。
実装体について初期の接続抵抗を測定した。測定は、デジタルマルチメータ(品番:デジタルマルチメータ7555、横河電機社製)を用いて4端子法にて電流1mAを流したときの接続抵抗を測定した。
[実施例1]
酸化チタンAに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンAを前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は1.09Ωであった。
酸化チタンを配合させずに異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は9であった。また、実装体の接続抵抗値は1.09Ωであった。
紫外線を照射させていない酸化チタンA’を前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は9であった。また、実装体の接続抵抗値は1.09Ωであった。
酸化チタンFに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンFを前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は6であった。また、実装体の接続抵抗値は1.08Ωであった。
[実施例2]
平均粒径20nmの酸化チタンBに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンBを前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は1.28Ωであった。
平均粒径400nmの酸化チタンCに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンCを前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は1.12Ωであった。
平均粒径10nmの酸化チタンDに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンDを前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は5.08Ωであった。
平均粒径500nmの酸化チタンDに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンEを前述の接着剤組成物に5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は4であった。また、実装体の接続抵抗値は1.09Ωであった。
[実施例4]
酸化チタンAに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンAを前述の接着剤組成物に1wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は1.12Ωであった。
酸化チタンAに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンAを前述の接着剤組成物に30wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は1.18Ωであった。
酸化チタンAに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンAを前述の接着剤組成物に0.5wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は5であった。また、実装体の接続抵抗値は1.18Ωであった。
酸化チタンAに対し、波長365nmの紫外線を24時間照射した。この酸化チタンAを前述の接着剤組成物に35wt%含有させて異方性導電フィルムを作製した。異方性導電フィルムの仮貼り試験のNG数は0であった。また、実装体の接続抵抗値は3.08Ωであった。
Claims (6)
- アナターゼ型の活性酸化チタン粒子と、重合性樹脂と、重合開始剤とを含有する回路接続材料。
- 前記活性酸化チタン粒子の平均粒子径が、20〜400nmである請求項1に記載の回路接続材料。
- 前記活性酸化チタン粒子の配合量が、1〜30wt%である請求項1又は2に記載の回路接続材料。
- 前記重合性樹脂が、ラジカル重合性樹脂であり、前記重合開始剤が、ラジカル重合開始剤である1乃至3のいずれか1項に記載の回路接続材料。
- アナターゼ型の酸化チタン粒子に紫外線を照射し、活性酸化チタン粒子とする活性化工程と、
前記活性酸化チタン粒子と、重合性樹脂と、重合開始剤とを配合する配合工程と
を有する回路接続材料の製造方法。 - 第1の電子部品の電極上に、アナターゼ型の活性酸化チタン粒子と、重合性樹脂と、重合開始剤と、導電性粒子とを含有する異方性導電フィルムを仮貼りする仮貼工程と、
前記異方性導電フィルム上に第2の電子部品を配置し、該第2の電子部品の上面から圧着ヘッドにて押圧する押圧工程と
を有する実装体の製造方法。
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