JP2013541729A5 - - Google Patents
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- 投影露光系(1)のための結像光学系(9)であって、
アナモフィック結像投影レンズ系(26,27)を有し、
前記少なくとも1つの投影レンズ系(26,27)は、2つの主要平面の方向に同符号結像スケールを有し、
前記少なくとも1つの投影レンズ系(26,27)は、少なくとも4つのミラーを含む、
ことを特徴とする結像光学系(9)。 - 前記少なくとも1つのアナモフィック結像投影レンズ系は、少なくとも1つがアナモフィック結像を行う少なくとも2つの部分レンズ系(26,27)を有することを特徴とする請求項1に記載の結像光学系(9)。
- 円形射出瞳を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の結像光学系(9)。
- 前記少なくとも1つのアナモフィック結像投影レンズ系(26,27)は、少なくとも1つのミラー(M1からM8)を含み、特に、該ミラー(M1からM8)のうちの少なくとも1つが、自由曲面を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の結像光学系(9)。
- 第1の方向の第1の結像スケールと、該第1の結像スケールの少なくとも1.5倍大きい第2の方向の第2の結像スケールとを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の結像光学系(9)。
- 方向依存の物体側開口数(NAO)を特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の結像光学系(9)。
- 少なくとも0.4の像側開口数と、
視野中心点に対する7°よりも小さい物体側主ビーム角度と、
走査方向に対して垂直な方向に13mmよりも大きい幅を有する像視野(10)と、
を特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の結像光学系(9)。 - 請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の結像光学系(9)を有し、
放射線(14)を放射線源(3)から物体視野(5)に伝達するための照明光学系(4)を有する、
ことを特徴とする光学系。 - 請求項8に記載の光学系を有し、
放射線源(3)を有する、
ことを特徴とする投影露光系(1)。 - 走査方向に変位させることができる、レチクル(7)を保持するレチクルホルダ(8)を有し、
結像光学系(9)の走査方向の結像スケールが、それに垂直な方向のものよりも小さい、
ことを特徴とする請求項9に記載の投影露光系(1)。 - 請求項9又は請求項10に記載の投影露光系のためのレチクル(7)であって、
少なくとも104mmの幅と、
132mmよりも大きい長さと、
を有することを特徴とするレチクル(7)。 - 微細構造化構成要素を生成する方法であって、
レチクル(7)と感放射線層を有するウェーハ(12)とを準備する段階と、
請求項9又は請求項10に記載の投影露光系(1)を用いて前記レチクル(7)上の構造を前記ウェーハ(12)上の前記感放射線層上に投影する段階と、
前記ウェーハ(12)上の前記露光された層を現像する段階と、
を有することを特徴とする方法。 - 請求項12に記載の方法によって生成された構成要素。
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DE102014218474A1 (de) | 2014-09-15 | 2016-03-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsobjektiv, Projektionsbelichtungsanlage und Projektionsbelichtungsverfahren für die EUV-Mikrolithographie |
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DE102015203469A1 (de) | 2015-02-26 | 2015-04-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Erzeugung einer gekrümmten optischen Spiegelfläche |
DE102015226531A1 (de) * | 2015-04-14 | 2016-10-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik |
WO2016188934A1 (de) * | 2015-05-28 | 2016-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende optik zur abbildung eines objektfeldes in ein bildfeld sowie projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden optik |
DE102015216443A1 (de) | 2015-08-27 | 2017-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anordnung einer Vorrichtung zum Schutz eines in einer Objektebene anzuordnenden Retikels gegen Verschmutzung |
DE102016225220A1 (de) | 2016-02-09 | 2017-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie sowie optisches System mit einer derartigen Beleuchtungsoptik |
US9865447B2 (en) * | 2016-03-28 | 2018-01-09 | Kla-Tencor Corporation | High brightness laser-sustained plasma broadband source |
DE102016205617A1 (de) | 2016-04-05 | 2017-10-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsverfahren und Projektionsbelichtungsanlage |
US10732621B2 (en) | 2016-05-09 | 2020-08-04 | Strong Force Iot Portfolio 2016, Llc | Methods and systems for process adaptation in an internet of things downstream oil and gas environment |
DE102016212477A1 (de) * | 2016-07-08 | 2018-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messverfahren und Messsystem zur interferometrischen Vermessung der Abbildungsqualität eines optischen Abbildungssystems |
CN110073269B (zh) * | 2016-12-20 | 2022-03-01 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于曝光光敏层的设备和方法 |
KR101950726B1 (ko) | 2016-12-21 | 2019-02-21 | 한남대학교 산학협력단 | 멀티스케일 이미징 시스템 |
DE102017200935A1 (de) | 2017-01-20 | 2018-07-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Führung von EUV-Abbildungslicht sowie Justageanordnung für eine derartige abbildende Optik |
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DE102018200167A1 (de) * | 2018-01-08 | 2019-07-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Pupillenfacettenspiegel, Beleuchtungsoptik und optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102018207277A1 (de) | 2018-05-09 | 2019-11-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lithografiemaske, optisches System zur Übertragung von Original Strukturabschnitten der Lithografiemaske sowie Projektionsoptik zur Abbildung eines Objektfeldes, in dem mindestens ein Original-Strukturabschnitt einer Lithografiemaske anordenbar ist |
DE102018208373A1 (de) | 2018-05-28 | 2019-06-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element zur Strahlführung von Abbildungslicht bei der Projektionslithographie |
DE102018210315B4 (de) | 2018-06-25 | 2021-03-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Erfassung einer Struktur einer Lithografiemaske sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE102018214437A1 (de) | 2018-08-27 | 2018-10-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik |
DE102019208961A1 (de) | 2019-06-19 | 2020-12-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsoptik und Projektionsbelichtungsanlage mit einer solchen Projektionsoptik |
TWI764353B (zh) * | 2020-11-03 | 2022-05-11 | 大陸商廣州立景創新科技有限公司 | 成像校正單元以及成像模組 |
DE102021205775A1 (de) | 2021-06-08 | 2022-12-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102021205774A1 (de) | 2021-06-08 | 2022-12-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102021213827A1 (de) | 2021-12-06 | 2023-06-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Optimierung einer Pupillen-Blendenform zur Nachbildung von Beleuchtungs- und Abbildungseigenschaften eines optischen Produktionssystems bei der Beleuchtung und Abbildung eines Objekts mittels eines optischen Messsystems |
DE102022209214A1 (de) | 2022-09-05 | 2024-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Einzelspiegel eines Pupillenfacettenspiegels und Pupillenfacettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage |
Family Cites Families (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1392086A (en) * | 1972-03-29 | 1975-04-23 | Rank Organisation Ltd | Lenses |
JPH0616485B2 (ja) * | 1989-12-26 | 1994-03-02 | 広島大学長 | 単収束ミラーによる反射型2次元パターン縮小転写法および装置 |
JP3278303B2 (ja) * | 1993-11-12 | 2002-04-30 | キヤノン株式会社 | 走査型露光装置及び該走査型露光装置を用いるデバイス製造方法 |
JP3513842B2 (ja) | 1994-12-15 | 2004-03-31 | 株式会社ニコン | 投影露光装置 |
US5710619A (en) * | 1995-10-31 | 1998-01-20 | Anvik Corporation | Large-area, scan-and-repeat, projection patterning system with unitary stage and magnification control capability |
US5891806A (en) * | 1996-04-22 | 1999-04-06 | Nikon Corporation | Proximity-type microlithography apparatus and method |
JP3975492B2 (ja) * | 1996-06-19 | 2007-09-12 | 株式会社ニコン | 反射光学系およびそれを用いたプロキシミティ露光装置 |
JPH11317344A (ja) * | 1998-04-30 | 1999-11-16 | Nikon Corp | 露光装置 |
US6859515B2 (en) | 1998-05-05 | 2005-02-22 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading | Illumination system, particularly for EUV lithography |
DE10053587A1 (de) * | 2000-10-27 | 2002-05-02 | Zeiss Carl | Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung |
US6924937B2 (en) * | 1998-11-16 | 2005-08-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Aberration correcting optical system |
US6573978B1 (en) * | 1999-01-26 | 2003-06-03 | Mcguire, Jr. James P. | EUV condenser with non-imaging optics |
DE19931848A1 (de) * | 1999-07-09 | 2001-01-11 | Zeiss Carl Fa | Astigmatische Komponenten zur Reduzierung des Wabenaspektverhältnisses bei EUV-Beleuchtungssystemen |
WO2001009684A1 (de) * | 1999-07-30 | 2001-02-08 | Carl Zeiss | Steuerung der beleuchtungsverteilung in der austrittspupille eines euv-beleuchtungssystems |
JP2001189254A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Nikon Corp | 露光用レチクル、露光方法並びに半導体素子 |
JP2001318470A (ja) * | 2000-02-29 | 2001-11-16 | Nikon Corp | 露光装置、マイクロデバイス、フォトマスク、及び露光方法 |
JP2002048977A (ja) * | 2000-08-01 | 2002-02-15 | Nikon Corp | 反射光学系及びこの光学系を用いたプロキシミティ露光装置 |
EP1202100A3 (de) | 2000-10-27 | 2005-04-06 | Carl Zeiss SMT AG | Beleuchtungssystem mit reduzierter Wärmebelastung |
CN1273871C (zh) * | 2002-03-18 | 2006-09-06 | Asml荷兰有限公司 | 光刻装置和器件的制作方法 |
JP2004031808A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Nikon Corp | 露光装置の投影光学系、該投影光学系を備えた露光装置及び該露光装置を用いた露光方法 |
CN1474253A (zh) | 2002-08-07 | 2004-02-11 | 联想(北京)有限公司 | 掌上智能设备快捷键的定义方法 |
JP4428947B2 (ja) * | 2003-06-30 | 2010-03-10 | キヤノン株式会社 | 結像光学系 |
DE102005042005A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Hochaperturiges Objektiv mit obskurierter Pupille |
DE102006043251A1 (de) * | 2005-09-13 | 2007-03-15 | Carl Zeiss Smt Ag | Mikrolithographie-Projektionsobjektiv, Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Objektiv, Herstellungsverfahren mikrostrukturierter Bauteile mit einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauteil |
EP1924888B1 (en) | 2005-09-13 | 2013-07-24 | Carl Zeiss SMT GmbH | Microlithography projection optical system, method for manufacturing a device and method to design an optical surface |
DE102006031654A1 (de) * | 2006-04-24 | 2007-10-25 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel mit einer Vielzahl von Spiegelsegmenten |
JP2008046210A (ja) | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Elpida Memory Inc | レチクル及びこれを用いた露光方法及び装置、並びにレチクルのパターン作成方法、パターン形成方法及び半導体装置 |
EP1930771A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-11 | Carl Zeiss SMT AG | Projection objectives having mirror elements with reflective coatings |
US7929114B2 (en) * | 2007-01-17 | 2011-04-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection optics for microlithography |
EP1950594A1 (de) * | 2007-01-17 | 2008-07-30 | Carl Zeiss SMT AG | Abbildende Optik, Projektionsbelichtunsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils mit einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage, durch das Herstellungsverfahren gefertigtes mikrostrukturiertes Bauelement sowie Verwendung einer derartigen abbildenden Optik |
JP5269079B2 (ja) * | 2007-08-20 | 2013-08-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 反射コーティングを備えたミラー要素を有する投影対物系 |
EP2048540A1 (en) * | 2007-10-09 | 2009-04-15 | Carl Zeiss SMT AG | Microlithographic projection exposure apparatus |
NL1036108A1 (nl) * | 2007-11-09 | 2009-05-12 | Asml Netherlands Bv | Device Manufacturing Method and Lithographic Apparatus, and Computer Program Product. |
DE102007062198A1 (de) * | 2007-12-21 | 2009-06-25 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Katoptrisches Objektiv zur Abbildung eines im Wesentlichen linienförmigen Objektes |
US20090168034A1 (en) * | 2007-12-28 | 2009-07-02 | Jens Staecker | Methods and Apparatus of Manufacturing a Semiconductor Device |
DE102008009600A1 (de) | 2008-02-15 | 2009-08-20 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikro-Lithographie |
DE102009008644A1 (de) | 2009-02-12 | 2010-11-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithografie mit einer derartigen abbildenden Optik |
US8743342B2 (en) * | 2009-11-17 | 2014-06-03 | Nikon Corporation | Reflective imaging optical system, exposure apparatus, and method for producing device |
KR102223843B1 (ko) * | 2009-11-24 | 2021-03-08 | 가부시키가이샤 니콘 | 결상 광학계, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
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