JP2011502275A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011502275A5 JP2011502275A5 JP2010530304A JP2010530304A JP2011502275A5 JP 2011502275 A5 JP2011502275 A5 JP 2011502275A5 JP 2010530304 A JP2010530304 A JP 2010530304A JP 2010530304 A JP2010530304 A JP 2010530304A JP 2011502275 A5 JP2011502275 A5 JP 2011502275A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- imaging
- imaging optical
- mirrors
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 27
- 230000003287 optical Effects 0.000 claims 17
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 claims 1
Claims (12)
- 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7)であって、
ミラー(M1からM6)の全ての反射面上への結像光(3)の最大入射角と、
結像光学系(7)の像側開口数と、
の比率が33.8°よりも小さいこと、
を特徴とする結像光学系(7)。 - 結像光(15)が通過するための貫通開口部(20)を有する少なくとも1つの掩蔽ミラー(M3からM6)を含むことを特徴とする請求項1に記載の結像光学系。
- 少なくとも3つのミラー、好ましくはちょうど4つのミラー(M3からM6)が掩蔽された6つのミラー(M1からM6)を含むことを特徴とする請求項2に記載の結像光学系。
- 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7)であって、
ミラー(M1からM6)の各々が、10nmよりも短い波長を有する結像光(3)に対する反射コーティング(80)を担持し、
結像光(15)が通過するための貫通開口部(20)を有する少なくとも1つの掩蔽ミラー(M3からM6)、
を含むことを特徴とする結像光学系(7)。 - 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7)であって、
ミラー(M1からM6)の各々が、10nmよりも短い波長を有する結像光(3)に対する反射コーティング(80)を担持し、該ミラー(M1からM6)は、50%よりも大きい平均反射率を有する、
ことを特徴とする結像光学系(7)。 - 前記ミラー(M1からM6)の各々は、該ミラー(M1からM6)が6.9nmの波長を有する結像光(3)に対して58%よりも大きい平均反射率を有するように反射コーティング(80)を担持することを特徴とする請求項5に記載の結像光学系。
- 10nmよりも短い波長を有する結像光(3)と共に使用するための結像光学系であって、
20nmよりも良好な、好ましくは16nmよりも良好な、より好ましくは11nmよりも良好な、更に好ましくは8nmよりも良好な、更に好ましくは6nmよりも良好な解像力、
を特徴とする結像光学系。 - 高々0.5である像側開口数を有する結像光学系であって、
16nmよりも良好な、好ましくは11nmよりも良好な、更に好ましくは8nmよりも良好な、更に好ましくは6nmよりも良好な解像力、
を特徴とする結像光学系。 - マイクロリソグラフィのための投影露光装置であって、
請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の結像光学系(7)を含み、
光源(2)を含み、かつ
照明光(3)を前記結像光学系(7)の物体視野(4)へ誘導するための照明光学系(6)を含む、
ことを特徴とする装置。 - 照明光(3)を生成するための前記光源(2)は、10nmよりも短い波長を用いて構成されることを特徴とする請求項9に記載の投影露光装置。
- 微細構造構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を準備する段階と、
請求項9又は請求項10のいずれか1項に記載の投影露光装置を用いて、前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に微細構造(B、C)を生成する段階と、
を有することを特徴とする方法。 - 請求項11に記載の方法によって生成された微細構造構成要素。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US98279307P | 2007-10-26 | 2007-10-26 | |
US60/982,793 | 2007-10-26 | ||
DE102007051671A DE102007051671A1 (de) | 2007-10-26 | 2007-10-26 | Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik |
DE102007051671.3 | 2007-10-26 | ||
PCT/EP2008/008619 WO2009052962A1 (en) | 2007-10-26 | 2008-10-11 | Imaging optical system and projection exposure installation |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011502275A JP2011502275A (ja) | 2011-01-20 |
JP2011502275A5 true JP2011502275A5 (ja) | 2011-11-24 |
JP5653755B2 JP5653755B2 (ja) | 2015-01-14 |
Family
ID=40514165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010530304A Active JP5653755B2 (ja) | 2007-10-26 | 2008-10-11 | 結像光学系及び投影露光装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8605255B2 (ja) |
EP (1) | EP2203785A1 (ja) |
JP (1) | JP5653755B2 (ja) |
KR (2) | KR101593243B1 (ja) |
CN (2) | CN102749810A (ja) |
DE (1) | DE102007051671A1 (ja) |
TW (1) | TWI402629B (ja) |
WO (1) | WO2009052962A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2203787B1 (en) | 2007-10-26 | 2014-05-14 | Carl Zeiss SMT GmbH | Imaging optical system and projection exposure installation for micro-lithography with an imaging optical system of this type |
DE102007051671A1 (de) | 2007-10-26 | 2009-05-07 | Carl Zeiss Smt Ag | Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik |
KR101645142B1 (ko) | 2007-10-26 | 2016-08-02 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 결상 광학 시스템 및 이러한 유형의 결상 광학 시스템을 구비하는 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치 |
DE102009046685A1 (de) | 2009-11-13 | 2011-05-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102009047179B8 (de) * | 2009-11-26 | 2016-08-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsobjektiv |
EP2598931B1 (en) | 2010-07-30 | 2020-12-02 | Carl Zeiss SMT GmbH | Imaging optical system and projection exposure installation for microlithography with an imaging optical system of this type |
DE102011083888A1 (de) | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende katoptrische EUV-Projektionsoptik |
DE102012202675A1 (de) * | 2012-02-22 | 2013-01-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Projektionslithografie mit einer derartigen abbildenden Optik |
US9291751B2 (en) | 2013-06-17 | 2016-03-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Imaging optical unit and projection exposure apparatus for projection lithography comprising such an imaging optical unit |
DE102013107192A1 (de) | 2013-07-08 | 2015-01-08 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Reflektives optisches Element für streifenden Einfall im EUV-Wellenlängenbereich |
DE102013213544A1 (de) * | 2013-07-10 | 2015-01-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Tragsystem und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102013224435A1 (de) | 2013-11-28 | 2015-05-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messanordnung zur Messung optischer Eigenschaften eines reflektiven optischen Elements, insbesondere für die Mikrolithographie |
CN108594411B (zh) * | 2018-06-04 | 2023-06-02 | 凯迈(洛阳)测控有限公司 | 一种长焦距、大口径、多视场中波红外光学系统 |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4804258A (en) * | 1986-05-05 | 1989-02-14 | Hughes Aircraft Company | Four mirror afocal wide field of view optical system |
GB2197962A (en) * | 1986-11-10 | 1988-06-02 | Compact Spindle Bearing Corp | Catoptric reduction imaging apparatus |
IL113789A (en) | 1994-05-23 | 1999-01-26 | Hughes Aircraft Co | A non-focusing device with three hinged mirrors and a corrective mirror |
US5473263A (en) | 1994-12-19 | 1995-12-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Negative feedback to reduce voltage oscillation in CMOS output buffers |
JPH09213618A (ja) | 1996-01-31 | 1997-08-15 | Canon Inc | 投影露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 |
US6600552B2 (en) * | 1999-02-15 | 2003-07-29 | Carl-Zeiss Smt Ag | Microlithography reduction objective and projection exposure apparatus |
EP1093021A3 (en) | 1999-10-15 | 2004-06-30 | Nikon Corporation | Projection optical system as well as equipment and methods making use of said system |
JP4143236B2 (ja) | 1999-10-15 | 2008-09-03 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
US6867913B2 (en) * | 2000-02-14 | 2005-03-15 | Carl Zeiss Smt Ag | 6-mirror microlithography projection objective |
DE10052289A1 (de) * | 2000-10-20 | 2002-04-25 | Zeiss Carl | 8-Spiegel-Mikrolithographie-Projektionsobjektiv |
JP2004512552A (ja) * | 2000-10-20 | 2004-04-22 | カール ツァイス シュティフトゥング トレイディング アズ カール ツァイス | 8反射鏡型マイクロリソグラフィ用投影光学系 |
US6396900B1 (en) * | 2001-05-01 | 2002-05-28 | The Regents Of The University Of California | Multilayer films with sharp, stable interfaces for use in EUV and soft X-ray application |
US6785051B2 (en) * | 2001-07-18 | 2004-08-31 | Corning Incorporated | Intrinsic birefringence compensation for below 200 nanometer wavelength optical lithography components with cubic crystalline structures |
DE10139177A1 (de) | 2001-08-16 | 2003-02-27 | Zeiss Carl | Objektiv mit Pupillenobskuration |
CN1123950C (zh) | 2001-08-24 | 2003-10-08 | 清华大学 | 内腔变反射率光参量振荡器 |
US6920199B2 (en) * | 2002-02-20 | 2005-07-19 | Gkss-Forschungszentrum Geesthacht Gmbh | Mirror element for the reflection of x-rays |
JP2004022945A (ja) * | 2002-06-19 | 2004-01-22 | Canon Inc | 露光装置及び方法 |
JP3938040B2 (ja) | 2002-12-27 | 2007-06-27 | キヤノン株式会社 | 反射型投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2004252363A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Canon Inc | 反射型投影光学系 |
US7154586B2 (en) * | 2003-02-21 | 2006-12-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Catoptric projection optical system and exposure apparatus having the same |
JP2005057154A (ja) * | 2003-08-07 | 2005-03-03 | Canon Inc | 露光装置 |
TWI311691B (en) | 2003-10-30 | 2009-07-01 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP5106858B2 (ja) * | 2003-12-15 | 2012-12-26 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 高開口数と平面状端面とを有する投影対物レンズ |
WO2005098504A1 (en) | 2004-04-08 | 2005-10-20 | Carl Zeiss Smt Ag | Imaging system with mirror group |
EP1825315B1 (en) | 2004-12-15 | 2008-10-15 | European Space Agency | Wide field four mirror telescope using off-axis aspherical mirrors |
WO2006069725A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Hochaperturiges objektiv mit obskurierter pupille |
DE102005042005A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Hochaperturiges Objektiv mit obskurierter Pupille |
KR101176686B1 (ko) * | 2005-03-08 | 2012-08-23 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 접근 용이한 조리개 또는 구경 조리개를 구비한마이크로리소그래피 투영 시스템 |
US7336416B2 (en) * | 2005-04-27 | 2008-02-26 | Asml Netherlands B.V. | Spectral purity filter for multi-layer mirror, lithographic apparatus including such multi-layer mirror, method for enlarging the ratio of desired radiation and undesired radiation, and device manufacturing method |
US7973908B2 (en) | 2005-05-13 | 2011-07-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Six-mirror EUV projection system with low incidence angles |
CN103076723A (zh) * | 2005-09-13 | 2013-05-01 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 微光刻投影光学系统 |
DE102006017336B4 (de) | 2006-04-11 | 2011-07-28 | Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 | Beleuchtungssystem mit Zoomobjektiv |
EP1930771A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-11 | Carl Zeiss SMT AG | Projection objectives having mirror elements with reflective coatings |
KR101645142B1 (ko) | 2007-10-26 | 2016-08-02 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 결상 광학 시스템 및 이러한 유형의 결상 광학 시스템을 구비하는 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치 |
DE102007051671A1 (de) | 2007-10-26 | 2009-05-07 | Carl Zeiss Smt Ag | Abbildende Optik sowie Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik |
EP2203787B1 (en) | 2007-10-26 | 2014-05-14 | Carl Zeiss SMT GmbH | Imaging optical system and projection exposure installation for micro-lithography with an imaging optical system of this type |
-
2007
- 2007-10-26 DE DE102007051671A patent/DE102007051671A1/de not_active Ceased
-
2008
- 2008-10-11 KR KR1020107010271A patent/KR101593243B1/ko active IP Right Grant
- 2008-10-11 CN CN2012102202210A patent/CN102749810A/zh active Pending
- 2008-10-11 WO PCT/EP2008/008619 patent/WO2009052962A1/en active Application Filing
- 2008-10-11 JP JP2010530304A patent/JP5653755B2/ja active Active
- 2008-10-11 KR KR1020167002267A patent/KR20160018817A/ko not_active Application Discontinuation
- 2008-10-11 EP EP08841328A patent/EP2203785A1/en not_active Withdrawn
- 2008-10-11 CN CN200880113387.4A patent/CN101836165B/zh active Active
- 2008-10-24 TW TW097140935A patent/TWI402629B/zh active
-
2010
- 2010-04-26 US US12/767,627 patent/US8605255B2/en active Active
-
2013
- 2013-11-08 US US14/075,313 patent/US9285515B2/en active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011502275A5 (ja) | ||
JP2013541729A5 (ja) | ||
SG144837A1 (en) | Imaging optical system | |
TWI673515B (zh) | 用於將物場成像於像場的投影光學單元以及包含此投影光學單元的投影曝光裝置 | |
JP2016525720A5 (ja) | ||
JP2004214242A5 (ja) | ||
JP2012168543A5 (ja) | 投影光学系、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 | |
JP2008538452A5 (ja) | ||
JP2014534643A5 (ja) | ||
JP6221160B2 (ja) | ミラーの配置 | |
JP2011501448A5 (ja) | ||
JP2011517786A5 (ja) | ||
ATE528693T1 (de) | Optisches kollektorsystem | |
JP2016001308A5 (ja) | 露光装置、およびデバイス製造方法 | |
WO2011073039A3 (en) | Imaging optics | |
JP2011521445A5 (ja) | ||
JP2008533709A5 (ja) | ||
JP2014081658A5 (ja) | ||
JP2013530534A5 (ja) | ||
JP2005532680A5 (ja) | ||
JP2018063406A5 (ja) | ||
US9817317B2 (en) | Optical system of a microlithographic projection exposure apparatus | |
JP2010020017A5 (ja) | ||
JP2002198309A5 (ja) | ||
JP2005340459A5 (ja) |