JP2011502275A5 - - Google Patents

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  1. 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7)であって、
    ミラー(M1からM6)の全ての反射面上への結像光(3)の最大入射角と、
    結像光学系(7)の像側開口数と、
    の比率が33.8°よりも小さいこと、
    を特徴とする結像光学系(7)。
  2. 結像光(15)が通過するための貫通開口部(20)を有する少なくとも1つの掩蔽ミラー(M3からM6)を含むことを特徴とする請求項1に記載の結像光学系。
  3. 少なくとも3つのミラー、好ましくはちょうど4つのミラー(M3からM6)が掩蔽された6つのミラー(M1からM6)を含むことを特徴とする請求項2に記載の結像光学系。
  4. 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7)であって、
    ミラー(M1からM6)の各々が、10nmよりも短い波長を有する結像光(3)に対する反射コーティング(80)を担持し、
    結像光(15)が通過するための貫通開口部(20)を有する少なくとも1つの掩蔽ミラー(M3からM6)、
    を含むことを特徴とする結像光学系(7)。
  5. 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7)であって、
    ミラー(M1からM6)の各々が、10nmよりも短い波長を有する結像光(3)に対する反射コーティング(80)を担持し、該ミラー(M1からM6)は、50%よりも大きい平均反射率を有する、
    ことを特徴とする結像光学系(7)。
  6. 前記ミラー(M1からM6)の各々は、該ミラー(M1からM6)が6.9nmの波長を有する結像光(3)に対して58%よりも大きい平均反射率を有するように反射コーティング(80)を担持することを特徴とする請求項5に記載の結像光学系。
  7. 10nmよりも短い波長を有する結像光(3)と共に使用するための結像光学系であって、
    20nmよりも良好な、好ましくは16nmよりも良好な、より好ましくは11nmよりも良好な、更に好ましくは8nmよりも良好な、更に好ましくは6nmよりも良好な解像力、
    を特徴とする結像光学系。
  8. 高々0.5である像側開口数を有する結像光学系であって、
    16nmよりも良好な、好ましくは11nmよりも良好な、更に好ましくは8nmよりも良好な、更に好ましくは6nmよりも良好な解像力、
    を特徴とする結像光学系。
  9. マイクロリソグラフィのための投影露光装置であって、
    請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の結像光学系(7)を含み、
    光源(2)を含み、かつ
    照明光(3)を前記結像光学系(7)の物体視野(4)へ誘導するための照明光学系(6)を含む、
    ことを特徴とする装置。
  10. 照明光(3)を生成するための前記光源(2)は、10nmよりも短い波長を用いて構成されることを特徴とする請求項9に記載の投影露光装置。
  11. 微細構造構成要素を生成する方法であって、
    レチクル(10)及びウェーハ(11)を準備する段階と、
    請求項9又は請求項10のいずれか1項に記載の投影露光装置を用いて、前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層上に投影する段階と、
    前記ウェーハ(11)上に微細構造(B、C)を生成する段階と、
    を有することを特徴とする方法。
  12. 請求項11に記載の方法によって生成された微細構造構成要素。
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