JP2013251022A - 光ディスク装置、光ディスクの再生方法 - Google Patents

Abstract

【課題】テスト領域の再生品質を向上させる。
【解決手段】光ディスクを再生する光ディスク装置において、レーザー光をレーザー照射部を用いて前記光ディスクに照射して戻り光を得る光ピックアップ部と、高周波信号に基づいて前記レーザー照射部を駆動する駆動信号を生成する駆動部と、を有し、前記駆動部は、前記光ピックアップ部の設定を行なうために使用される設定用信号を再生する領域であるテスト領域を再生する際は、前記高周波信号の振幅を通常再生時に使用される前記高周波信号の振幅と異なる振幅に設定する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスクを記録再生する光ディスク装置、及び光ディスクの再生方法に関する。

従来、Ｂｌｕｅーｒａｙディスクや、ＤＶＤ等の光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置が知られている。この光ディスク装置では、光ピックアップ部によりレーザー光を光ディスクに照射し、戻り光をもとに生成された信号を用いて再生等を行う（例えば、特許文献１参照）。

また、光ディスク装置の書き込み時では、光ピックアップ部から照射されるレーザー光の出力を再生時よりも高くし、光ディスクに書き込みを行う。例えば、上記した書き込み及び再生時のレーザー光の出力変化は、半導体レーザーを駆動させるための駆動信号を、高周波信号を重畳して生成することで行われる（例えば、特許文献２−３参照。）。

特開２００７−１７２６８９号公報 特開２００１−２３６６４７号公報 特開平６−２０８７２８号公報 特開２００３−３０８６２４号公報

光ディスクでは、データが記録される領域以外にも、光ピックアップ部の各種設定を行なうためのテスト領域が存在する。テスト領域を用いた設定の一例としてＯＰＣ（Optimum Power Control）がある。このＯＰＣでは、レーザー出力を最適なパワーに制御する。そのため、テスト領域の再生品質が悪いと、光ピックアップ部の設定が正しく行なわれず好ましくない。

本発明は、上記課題にかんがみてなされたもので、テスト領域の再生品質を向上することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明では、光ディスクを再生する光ディスク装置において、レーザー光をレーザー照射部を用いて前記光ディスクに照射して戻り光を得る光ピックアップ部と、高周波信号に基づいて前記レーザー照射部を駆動する駆動信号を生成する駆動部と、を有し、前記駆動部は、前記光ピックアップ部の設定を行なうために使用される設定用信号を再生する領域であるテスト領域を再生する際は、前記高周波信号の振幅を通常再生時に使用される前記高周波信号の振幅と異なる振幅に設定する。

上記のように構成された発明では、駆動部は、高周波信号に基づいてレーザー照射部を駆動する駆動信号を生成する。
そして、駆動部は、テスト領域を再生する際、高周波信号の振幅を前記通常再生時の高周波信号の振幅とは異なるものとする。このテスト領域は、通常再生時に用いられる信号を再生する領域ではなく、例えば、高周波信号の振幅を高くし記録マークを劣化させた場合でも、通常再生時の再生品質を悪化させない。
そのため、テスト領域の再生時において高周波信号の振幅を変化させることで、テスト領域の再生品質を向上させることができる。

また、テスト領域の構成の一例として、前記テスト領域は、多段階に変更された前記レーザー光の出力により書き込みが行われている構成としてもよい。
上記のように構成された発明では、均一な出力レベルでの書き込みが行われていない領域に対しても、再生品質を高めることができる。

また、前記設定用信号には、前記レーザー光の出力レベルを設定するための再生信号を含み、前記再生信号に基づいて前記レーザー光の出力レベルを設定する制御部を有する、構成としてもよい。
上記のように構成された発明では、レーザー光の出力レベルを安定的に設定することができる。

そして、前記設定用信号には、前記光ピックアップ部に含まれる光学系の位置制御を行うための制御信号を含み、前記制御信号に基づいて前記光学系の位置制御を行う位置制御部を有する構成としてもよい。
上記のように構成された発明では、光学系の位置制御を安定的に行うことができる。

また、本発明は、光ディスクの再生品質を安定させるためにテスト領域を再生する方法の発明においても適用することができる。

光ディスク装置１のブロック構成図である。 光ディスク装置１の各モードを説明する図である。 レーザー光の出力レベルの設定を示すフローチャートである。

以下、下記の順序に従って本発明の実施形態を説明する。
１．第１の実施形態：
２．その他の実施形態：

１．第１の実施形態：
この発明に係る光ディスク装置１を具体化した第１の実施の形態について説明する。図１は、光ディスク装置１のブロック構成図である。

光ディスク装置１は、テレビジョン放送にかかるデータをブルーレイディスク等の光ディスク１００に記録することができる。また、光ディスク装置１は、光ディスク１００に記録されたデータを再生し、この光ディスク装置１に接続された図示しない外部装置に出力することができる。

図１に示すように、光ディスク装置１は、光ピックアップ部１１、ピックアップ・ドライバー１２、位置制御部１３、再生信号処理部１４、入力Ｉ／Ｆ１５、制御部１６、を備える。

光ピックアップ部１１は、レーザー光を照射する半導体レーザー（レーザー照射部）２１、レーザー光の光路を形成する光学系としての対物レンズ２２及び偏向ビームスプリッタ２３、受光部２４、を備える。半導体レーザー２１は、駆動信号に応じて所定周期で発振し、レーザー光を照射させる。対物レンズ２２及び偏光ビームスプリッタ２３は、半導体レーザー２１から照射されるレーザー光を光ディスクに導くとともに、レーザー光が光ディスクを反射して形成される戻り光を受光部２４に導く。なお、レーザー照射部として半導体レーザーを用いたことは一例にすぎない。

再生信号処理部１４は、光ピックアップ部１１により受光された戻り光に基づいて得られる再生信号ＲＦ、制御信号を復調する。そして、再生信号処理部１４は、復調後の再生信号ＲＦに対して誤り訂正処理を行う。

制御部１６は、光ディスク装置１の駆動を統合的に制御する。具体的な制御の一例として、制御部１６は、再生信号処理部１４から出力された制御信号をもとにトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥを生成し、位置制御部１３に出力する。また、再生対象となる光ディスクの種類に応じて、識別信号を生成する。さらに、制御部１６は、光ディスク装置１が実行するモードに応じて切り替え信号を生成する。

位置制御部１３は、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥに基づいて、対物レンズ２２の位置制御を行う。位置制御部１３は、対物レンズ２２の位置を変化させる２軸のアクチュエーターを備える。そして、位置制御部１３は、トラッキングエラー信号ＴＥに基づいて、対物レンズ２２を光ディスクのトラックに追従させるトラッキング制御を行う。また、位置制御部１３は、フォーカスエラー信号ＦＥに基づいて、対物レンズ２２の焦点距離を調整するフォーカス制御を行う。

入力Ｉ／Ｆ１５は、例えば、テレビジョン放送信号を取得するチューナーである。入力Ｉ／Ｆ１５により取得されたデータは、光ピックアップ部１１により光ディスク１００に書き込まれるデータとなる。

ピックアップ・ドライバー（駆動部）１２は、半導体レーザー２１を駆動する駆動信号を生成する。この駆動信号は、高周波重畳法により生成される。高周波重畳法では、戻り光のノイズを低減することを目的として、元となる駆動信号（以下、基準信号とも記載する。）に対して高周波信号を重畳して駆動信号が生成される。そのため、ピックアップ・ドライバー１２は、高周波信号を生成する高周波発生回路１２ａを備える。高周波発生回路１２ａは、制御部１６から送信される識別信号、及び切り替え信号に応じた高周波信号を生成する。

次に、光ディスク装置１の動作モードについて説明する。光ディスク装置１では、テスト記録モード、テスト再生モード、書き込みモード、再生モードの４種類の動作モードを備える。図２は、光ディスク装置１の各モードを説明する図である。

テスト記録モードは、図２（ａ）に示す光ディスク１００のテスト領域１０１に記録マーク（データ）の書き込みが行われる。図２（ｂ）に示すように、このテスト記録モードでは、所定アドレスに応じて、レーザー光の出力レベルを多段階に変化させて記録マークが形成される。なお、この記録マークを再生することにより、本発明の設定用信号が取得される。

テスト再生モードでは、テスト領域１０１の再生が行われる。即ち、テスト領域１０１を再生することで、再生信号ＲＦ、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥが取得される。ここで、テスト領域１０１を再生して得た再生信号ＲＦは、後述するように、書き込みモードで使用されるレーザー光の出力レベルを設定するために用いられる。また、トラッキングエラー信号ＴＥと、フォーカスエラー信号ＦＥは、対物レンズ２２の位置制御に用いられる。

そして、書き込みモードでは、テスト記録モードを経て設定されたレーザー光の出力レベルを用いて光ディスク１００のデータ領域１０２に記録マークが形成される。そのため、入力Ｉ／Ｆ１５を通じて取得されたデータはこのデータ領域１０２に記録されることとなる。
さらに、再生モードでは、光ピックアップ部１１を光ディスクのトラックに追従させて、データ領域１０２に記録された記録マークの再生が行われる。

上記のように、テスト領域１０１に形成される記録マークは、レーザー出力を多段階に変化させて形成されるため、戻り光に基づいて得られる信号の再生品質が悪くなる場合がある。また、光ディスクの記録面の形成不良や傷等が存在する場合も、同様に、再生品質が悪くなる。再生品質が悪くなる場合、戻り光に基づいて生成されるトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥの信号品質が悪くなるため、光ピックアップ部１１のトラッキング異常やフォーカス異常を生じさせる場合がある。

図２（ｃ）に示すように、再生品質に影響を与えるレーザー光の出力レベルは、ある期間Ｔ１における駆動信号の振幅レベルの平均値により求められる。また、高周波重畳法では、重畳する高周波信号の振幅レベルを変化することで、駆動信号の出力レベルを変化させることができる。ただし、レーザー光の出力レベルが高いと、レーザー光の照射により記録マークを劣化させてしまう場合も想定される。一方、テスト再生モードは、あくまでもレーザー光の出力レベルを決定するために用いられるため、テスト領域１０１に記録された記録マークの劣化は、再生モードに影響を与えない。そこで、本発明では、テスト再生モードにおいて、ピックアップ・ドライバー１２で重畳される高周波信号の振幅レベルを再生モードで使用される高周波信号の振幅レベルと異ならせることで、テスト領域１０１の再生品質を高めている。

図３は、レーザー光の出力レベルの設定を示すフローチャートである。以下、図３をもとに、光ディスク装置１で実施されるレーザー光の出力レベルの設定を説明する。なお、図３において、ステップＳ１０〜Ｓ４０までがテスト記録モードにおける処理を示す。

ステップＳ１０では、制御部１６は、今から実行するモードがテスト記録モードであるか否かを判断する。

ステップＳ２０では、制御部１６は、テスト記録モードで用いられる高周波信号の振幅レベルを設定する。高周波信号の振幅レベルの設定は、制御部１６がピックアップ・ドライバー１２に対して識別信号、及び切り替え信号を出力することで行われる。ピックアップ・ドライバー１２は識別信号及び切り替え信号を受信すると、テスト記録モードに対応する高周波信号の生成を開始する。なお、この実施形態では、テスト記録モードで使用される高周波信号は、再生モードで使用される高周波信号の振幅レベルと比べて高いものが使用される。その一例として、テスト記録モードでは、再生モードで使用される高周波信号の振幅レベルに対して２．４〜３．８倍の振幅レベルを備える高周波信号が使用される。

ステップＳ３０では、制御部１６は、光ピックアップ部１１を駆動させて、テスト領域１０１の探索を行わせる。そのため、光ピックアップ部１１がテスト領域１０１を探索すると（ステップＳ３０：ＹＥＳ）、ステップＳ４０では、テスト領域１０１の読み出しが実行される。即ち、ピックアップ・ドライバー１２は、テスト領域１０１の再生用に生成された高周波信号を基準信号に重畳して駆動信号を生成する。そして、ピックアップ・ドライバー１２は、生成された駆動信号をもとに、半導体レーザー２１を駆動し、レーザー光を照射させる。そのため、テスト領域１０１からは、ノイズ（戻り光ノイズ）が低減された戻り光が光ピックアップ部１１の受光部２４に入射する。

上記したテスト領域の再生は、光ピックアップ部１１によるテスト領域１０１の探索が終了するまで実行される（ステップＳ３０）。

一方、光ピックアップ部１１によるテスト領域１０１の探索が終了した場合（ステップＳ３０：ＮＯ）、ステップＳ５０では、制御部１６は、切り替え信号を変化させて、高周波信号を再生モードで使用される振幅レベルに変更させる。これは、データ領域１０２に記録された記録マークをレーザー光により劣化させてしまわないようにするためである。以上、ステップＳ１０〜Ｓ３０までが、本発明の駆動工程に対応する。また、ステップＳ４０が本発明のピックアップ工程に対応する。

そして、ステップＳ６０では、制御部１６は、受光部２４が受光した戻り光をもとに、書き込みモードでのレーザー光の出力レベルを設定する。一例として、制御部１６は、戻り光を再生して得られた再生信号ＲＦにおけるピーク値とボトム値との比（β値）を、アドレス毎に取得する。そして、β値が最適となるアドレスを再生する際に用いられたレーザー光の出力レベルを、書き込みモードで使用する出力レベルとして設定する。

以上説明したように、本実施形態では、テス再生モードにおいて、重畳される高周波信号の振幅を変化させることで、テスト再生モードでの再生品質を向上させることができる。即ち、レーザー光の出力レベルの設定や、テスト再生モードにおける対物レンズの制御をより最適に行うことができる。

２．その他の実施形態：
テスト領域に記録されるデータをもとに、レーザー光の出力設定や、光学系の調整を行うことは一例に過ぎない。即ち、本発明は、光ピックアップ部の設定であればどのようなものにでも適用することができる。
また、テスト記録モードにおいて、重畳する高周波信号の振幅を高くすることは一例に過ぎず、高周波信号の振幅を低くするものであってもよい。
また、光ディスク装置としては、本発明の構成以外にも、表示部を備えた表示装置、携帯型端末、等であってもよい。

なお、本発明は上記実施例に限られるものでないことは言うまでもない。即ち、上記実施例の中で開示した相互に置換可能な部材および構成等を適宜その組み合わせを変更して適用してもよい。
また、公知技術であって上記実施例の中で開示した部材および構成等と相互に置換可能な部材および構成等を適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用してもよい。
そして、公知技術等に基づいて当業者が上記実施例の中で開示した部材および構成等の代用として想定し得る部材および構成等と適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用してもよい。
さらに、上記適用による構成は本発明の一実施例として開示されるものである。

１…光ディスク装置、１１…光ピックアップ部、１２…ピックアップ・ドライバー、１２ａ…高周波発生回路、１３…位置制御部、１４…再生信号処理部、１５…入力Ｉ／Ｆ、１６…制御部、２１…半導体レーザー、２２…対物レンズ、２３…偏向ビームスプリッタ、２４…受光部、１００…光ディスク、１０１…テスト領域、１０２…データ領域

Claims (5)

1. 光ディスクを再生する光ディスク装置において、
   レーザー光をレーザー照射部を用いて前記光ディスクに照射して戻り光を得る光ピックアップ部と、
   高周波信号に基づいて前記レーザー照射部を駆動する駆動信号を生成する駆動部と、を有し、
   前記駆動部は、前記光ピックアップ部の設定を行なうために使用される設定用信号を再生する領域であるテスト領域を再生する際は、前記高周波信号の振幅を通常再生時に使用される前記高周波信号の振幅と異なる振幅に設定する、ことを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記テスト領域は、多段階に変更された前記レーザー光の出力により書き込みが行われている、ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記設定用信号には、前記レーザー光の出力レベルを設定するための再生信号を含み、
   前記再生信号に基づいて前記レーザー光の出力レベルを設定する制御部を有する、ことを特徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載の光ディスク装置。
4. 前記設定用信号には、前記光ピックアップ部に含まれる光学系の位置制御を行うための制御信号を含み、
   前記制御信号に基づいて前記光学系の位置制御を行う位置制御部を有する、ことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
5. 光ディスクを再生する光ディスクの再生方法において、
   高周波信号に基づいて光ピックアップ部のレーザー照射部を駆動する駆動信号を生成する駆動工程と、
   前記駆動信号をもとに前記レーザー照射部を駆動させて、レーザー光を前記光ディスクに照射して戻り光を得るピックアップ工程と、を有し、
   前記駆動工程では、前記光ピックアップ部の設定を行なうために使用される設定用信号を再生する領域であるテスト領域を再生する際は、前記高周波信号の振幅を通常再生時に使用される前記高周波信号の振幅と異なる振幅に設定する、ことを特徴とする光ディスクの再生方法。
   

Images