JP2013238578A - プローブカード用空間変換器及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明によると、互いに対向する第1及び第2面を有する基板と、上記第1面に互いに離隔されて形成され、プローブが連結される複数の第1パッドと、上記第2面のうち上記第1パッドと対応する位置に形成され、外部から電気的信号が印加される複数の第2パッドと、上記基板を貫通し、互いに対応する第1及び第2パッドを夫々連結する複数のビア電極と、上記第2面を覆うように形成され、複数の第2パッド露出孔を有する接地層と、上記接地層と上記複数の第2パッドを覆うように形成された絶縁層と、を含むプローブカード用空間変換器が提供される。
【選択図】図2
Description
2 印刷回路基板
3 ウェーハ
4 プローブピン
5 インターポーザ
10 基板
11 第1面
12 第2面
20 ビア電極
30 第1パッド
40 第2パッド
50 接地層
60 第2パッド露出孔
70 絶縁層
71 第3面
100 空間変換器
Claims (17)
- 互いに対向する第1及び第2面を有する基板と、
前記第1面に互いに離隔されて形成され、プローブが連結される複数の第1パッドと、
前記第2面のうち前記第1パッドと対応する位置に形成され、外部から電気的信号が印加される複数の第2パッドと、
前記基板を貫通し、互いに対応する第1及び第2パッドを夫々連結する複数のビア電極と、
前記第2面を覆うように形成され、複数の第2パッド露出孔を有する接地層と、
前記接地層と前記複数の第2パッドを覆うように形成された絶縁層と、を含むプローブカード用空間変換器。 - 前記基板は単層構造であることを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。
- 前記第2パッドは、サイズが700μm以上で、ピッチが800μm以上であることを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。
- 前記接地層は、前記第2パッド露出孔のサイズが前記第2パッドのサイズより大きく形成されることを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。
- 前記絶縁層はポリイミド(polyimide)材質であることを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。
- 前記絶縁層は、
前記第2面と対向する第3面に形成されたパワー配線パターンと、
前記絶縁層を貫通し、前記パワー配線パターンと前記第2パッドとを連結する少なくとも一つの配線ビアと、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。 - 前記絶縁層は、
前記第2面と対向する第3面に形成された信号配線パターンと、
前記絶縁層を貫通し、前記信号配線パターンと前記第2パッドとを連結する少なくとも一つの配線ビアと、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。 - 前記絶縁層は、
前記第2面と対向する第3面に形成された接地配線パターンと、
前記絶縁層を貫通し、前記接地配線パターンと前記接地層とを連結する少なくとも一つの接地ビアと、をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のプローブカード用空間変換器。 - 互いに対向する第1及び第2面を有する基板を製造する段階と、
前記基板に複数のビアホールを穿孔する段階と、
前記夫々のビアホールに導電性材料を満たして複数のビア電極を形成する段階と、
前記第1及び第2面に、前記ビア電極を介して連結されるように、複数の第1及び第2パッドを夫々形成する段階と、
前記第2面に接地層を形成する段階と、
前記接地層に、前記複数の第2パッドが露出されるように、複数の第2パッド露出孔を穿孔する段階と、
前記第2面に、前記接地層及び前記複数の第2パッドを覆うように絶縁層を形成する段階と、を含むプローブカード用空間変換器の製造方法。 - 前記基板を製造する段階は、前記基板を単層構造に形成することを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。
- 前記ビアホールを穿孔する段階は、前記基板に前記複数のビアホールがマトリックス状に配置されるように穿孔することを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。
- 前記第2パッド露出孔を穿孔する段階は、前記接地層及び前記第2パッドが互いに離隔されるように、前記第2パッド露出孔のサイズを前記第2パッドのサイズより大きく形成することを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。
- 前記絶縁層を形成する段階は、前記第2面に液相のポリイミド材料を塗布した後、焼成することにより絶縁層を形成することを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。
- 前記絶縁層を形成する段階は、前記第2面に固相のポリイミド材料を圧着することにより絶縁層を形成することを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。
- 前記絶縁層に、前記第2パッドのうち少なくとも一部と連結されるように、少なくとも一つの配線ビアホールを穿孔する段階と、
前記夫々の配線ビアホールに導電性材料を満たして複数の配線ビアを形成する段階と、
前記第2面と対向する前記絶縁層の第3面に、前記配線ビアを介して連結されるように、パワー配線パターンを形成する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。 - 前記絶縁層に、前記第2パッドのうち少なくとも一部と連結されるように、少なくとも一つの配線ビアホールを穿孔する段階と、
前記夫々の配線ビアホールに導電性材料を満たして複数の配線ビアを形成する段階と、
前記第2面と対向する前記絶縁層の第3面に、前記配線ビアを介して連結されるように、信号配線パターンを形成する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。 - 前記絶縁層に、前記接地層と連結されるように少なくとも一つの接地ビアホールを穿孔する段階と、
前記夫々の接地ビアホールに導電性材料を満たして複数の接地ビアを形成する段階と、
前記第2面と対向する前記絶縁層の第3面に、前記接地ビアを介して連結されるように、接地配線パターンを形成する段階と、をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載のプローブカード用空間変換器の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120050768A KR101339493B1 (ko) | 2012-05-14 | 2012-05-14 | 프로브 카드용 공간 변환기 및 그 제조방법 |
KR10-2012-0050768 | 2012-05-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013238578A true JP2013238578A (ja) | 2013-11-28 |
Family
ID=49547767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012175787A Pending JP2013238578A (ja) | 2012-05-14 | 2012-08-08 | プローブカード用空間変換器及びその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130299221A1 (ja) |
JP (1) | JP2013238578A (ja) |
KR (1) | KR101339493B1 (ja) |
TW (1) | TW201346269A (ja) |
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---|---|
TW201346269A (zh) | 2013-11-16 |
US20130299221A1 (en) | 2013-11-14 |
KR101339493B1 (ko) | 2013-12-10 |
KR20130127108A (ko) | 2013-11-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20131125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131210 |
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A601 | Written request for extension of time |
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