JP2013190554A - 顕微鏡 - Google Patents
顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013190554A JP2013190554A JP2012055972A JP2012055972A JP2013190554A JP 2013190554 A JP2013190554 A JP 2013190554A JP 2012055972 A JP2012055972 A JP 2012055972A JP 2012055972 A JP2012055972 A JP 2012055972A JP 2013190554 A JP2013190554 A JP 2013190554A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- sample
- optical
- image acquisition
- acquisition unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 182
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 79
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 74
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 70
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 16
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007431 microscopic evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/088—Condensers for both incident illumination and transillumination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/244—Devices for focusing using image analysis techniques
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/361—Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【解決手段】 測定光を検出する検出部40と、可視光が検出面に入射して光学像を取得する第一画像取得部50と、試料S上の分析位置からの測定光が検出部40に導かれる光路上に配置され、光路を切り替えるか若しくは分割することによって可視光を第一画像取得部50の検出面に導く切替鏡又はビームスプリッタ70とを備え、試料Sを検出部40及び第一画像取得部50に対して移動させることが可能な顕微鏡1であって、検出部40に導かれなる光路上でない位置に配置され、可視光が検出面に導かれることにより、第一画像取得部50で取得される試料S表面上の分析位置を含む領域の光学像より大きい試料S表面上の分析位置を含む大領域の光学像を取得する第二画像取得部80を備える。
【選択図】図1
Description
赤外顕微鏡101は、試料Sが載置される試料ステージ(試料設置機構)10と、赤外光を出射する赤外光源部20と、可視光を出射する可視光源部30と、赤外光を検出する検出部40と、可視光を検出する検出面を有する画像取得装置50と、カセグレン鏡(光学素子)260、261と、平板形状の切替鏡70と、赤外顕微鏡101全体の制御を行うコンピュータ190とを備える。
微動ステージの上面には、試料Sを載せたり取り除いたりすることが可能となっている。このような微動ステージは、コンピュータ190の試料ステージ制御部191aによって駆動機構へ必要な駆動信号が出力されることにより、所望のX方向とY方向とZ方向とに移動できるようになっている。
検出部240は、検出器241と、検出器241の前方に配置された集光鏡242やミラー243とを備える。
画像取得装置50は、可視光を検出する検出面を有するCCDカメラ51と、CCDカメラ51の前方に配置されたリレーレンズ52とを備える。
これにより、試料S上の分析位置からの赤外光がカセグレン鏡260によって集光されて、所定方向(−Z方向)に進行する赤外光となって、光路上に配置された切替鏡70によって赤外光が−X方向に反射された後、検出部240で検出されるようになっている。また、試料S表面上の分析位置を含む領域からの可視光がカセグレン鏡260によって集光されて、所定方向(−Z方向)に進行する可視光となった後、CCDカメラ51の検出面で検出されるようになっている。
モニタ93には、画像取得装置50から取得された測定画像(例えば、500μm×400μm)が表示されている。測定画像上には、現在の微動ステージの位置関係での分析位置(例えば、50μm×50μm)を示す点線の四角形の分析位置画像が表示されている。
そこで、本発明は、試料上における赤外光や紫外光や可視光等の測定光の照射位置を容易に短時間で指定することができる顕微鏡を提供することを目的とする。
また、「光束分離手段」としては、空間的・波長的に分割されて両方の検出器(検出部及び第一画像取得部)に導入されるものであれば何でも良く、例えば、切替鏡やビームスプリッタ等が挙げられ、さらに「ビームスプリッタ」としては、波長で透過と反射とを切り分けるダイクロックミラーのようなものや、空間で透過と反射とを切り分けるエッジミラーやポルカドットミラーのようなもの等が挙げられる。
また、本発明の顕微鏡において、前記第二画像取得部は、取得する大領域の光学像を縮小又は拡大することが可能な縮小拡大機構を有するようにしてもよい。
本発明の顕微鏡によれば、試料表面を把握しやすい範囲となるように大領域の光学像を拡大したり縮小したりすることができ、その結果、概略的な位置合わせがより容易となる。
本発明の顕微鏡によれば、第二画像取得部の光学系の光軸が、第一画像取得部の光学系の光軸に対してある角度を有している場合、大領域の光学像は試料を斜めから観測したものとなり歪みが存在することとなる。また、第二画像取得部と第一画像取得部とが有する歪みは一般的に異なる。よって、第二画像取得部で取得された大領域の光学像の歪みを、検出部に測定光を導く光学系と同じ光軸で取得されたように補正するので、測定光の照射位置を正確に指定することができる。また、第二画像取得部と第一画像取得部とが有する歪みを補正することで、第二画像取得部と第一画像取得部とから得られた画像を直接対応させて扱うことができ、位置決めが容易となる。
また、本発明の顕微鏡において、前記制御部は、前記第一画像取得部で取得された光学像画像と、前記大領域光学像画像とを同時に表示するか、或いは、切り替えて表示するようにしてもよい。
また、本発明の顕微鏡において、前記制御部は、前記大領域光学像画像上に、前記第一画像取得部で取得された光学像画像の位置を示す光学像位置画像を表示するか、或いは、前記分析位置を示す分析位置画像を表示するかの少なくともいずれかの画像を表示するようにしてもよい。
本発明の顕微鏡によれば、例えば、試料台の移動方法に関して、別途設けられたジョイスティックやキーボード等の専用操作部を用いるものでも問題ないが、大領域光学像画像上における光学像位置画像又は分析位置画像をドラッグしたり、大領域光学像画像上において目的とする位置をダブルクリックしたりして通知すること等の操作と連動する試料ステージを設けることで、より直感的で直接的な位置の指定が可能となり、位置決め操作を容易にするととともに、位置決めに要する時間を短縮することができる。
本発明の顕微鏡によれば、第二画像取得部の光学系の光軸が、第一画像取得部の光学系の光軸に対してある角度を有している場合、試料ステージが検出部に導かれる光路方向に移動することで、試料上における各々の光軸中心位置(視野中心)が一致しなくなるが、試料ステージが検出部に導かれる光路方向に移動する移動量に連動して、第二画像取得部は、視野中心方向を変化させる。これにより、観測位置のズレや合焦状態のズレを修正するため、試料ステージが光路方向に移動する移動量を気にすることなく、分析位置を正確に決定することが可能となる。なお、厚みのある試料や、補助的な試料保持機構を試料ステージに設置する場合にも有効となる。
本発明の顕微鏡によれば、カセグレン鏡副鏡の背面では中心部の光は使用していないため、カセグレン鏡副鏡の背面に第二画像取得部や光学系を設置しても、測定光学系の光をさえぎることがない。
本発明の顕微鏡によれば、第二画像取得部は検出部に測定光を導く光学系と同じ光軸で可視光を取得しているので、測定光の照射位置を正確に指定することができる。
本発明の顕微鏡によれば、第二画像取得部が第一画像取得部よりも低倍率であるので、第二画像取得部の焦点深度が第一画像取得部よりも深くなるため、第一画像取得部では凹凸がある試料を水平平面内で移動させたときにピントがずれて分析位置を見失うことがあったが、第二画像取得部では、ピントズレが少なくなり、位置決め時間を短縮する効果が高くなる。
図1は、第一実施形態に係る顕微鏡の要部の構成を示す図である。なお、図1では、試料から検出器ないし観測画像を得るためのカメラ部分までが示されており、可視光の導入光学系や、測定光の導入光学系は省略している。
顕微鏡1は、試料Sが載置される試料ステージ10と、測定光を出射する測定光源部(図示せず)と、可視光を出射する可視光源部(図示せず)と、測定光を検出する検出部40と、可視光を検出する検出面を有する第一画像取得装置50と、可視光を検出する検出面を有する第二画像取得装置80と、光学素子60と、平板形状のビームスプリッタ70と、顕微鏡1全体の制御を行うコンピュータ90とを備える。
このような第二画像取得装置80によれば、微動ステージの上面が第一画像取得装置50の光学系にて合焦となるような位置において、第一画像取得装置50の光学系の光軸中心がCCDカメラ81、82の光軸中心と一致するように、CCDカメラ81、82の回転角度を調整し、その角度を予め記録しておく。この角度は製造時の調整に当たる。この状態で微動ステージをZ方向に位置を変更すれば、移動量に対応した回転を施すことにより、第一画像取得装置50の光学系の光軸中心をCCDカメラ81、82の視野中央に位置させることが可能となる。また、極めて厚みのある試料Sや、補助的な試料設置保持機構の厚みが問題となる場合は、CCDカメラ51ないしはCCDカメラ81、82でほぼ合焦となる位置に微動ステージをZ方向に移動させ、その位置を検出することで、厚みを考慮しない本来の合焦Z軸位置との差を決定でき、その量より今回の合焦位置でCCDカメラ51の光学系の光軸中心をCCDカメラ81、82の視野中央とするための追加回転量を決定すればよい。
よって、CCDカメラ81とCCDカメラ82とは、微動ステージが位置10’に移動しても、試料S表面上の分析位置を含む大領域(試料S表面の全体)からの可視光が検出面で検出されるようになっている。また、検出部40に測定光を導く光学系(光学素子60)の合焦する位置で、CCDカメラ81とCCDカメラ82との光学系が合焦するようにすることができる。すなわち、観測位置のズレや合焦状態のズレを修正することができる。
モニタ93の左側領域には、現在の微動ステージの位置関係で第一画像取得装置50から取得された測定画像(例えば、500μm×400μm)が表示されるとともに、モニタ93の右側領域には、第二画像取得装置80から取得された大領域光学像画像(例えば、10,000μm×10,000μm)が表示されている。測定画像上には、現在の微動ステージの位置関係での分析位置(例えば、50μm×50μm)を示す点線の四角形の分析位置画像が表示されている。大領域光学像画像上には、測定画像の位置を示す実線の四角形の測定画像領域画像が表示されている。
なお、これらの四角形は、各画像の中央部分に配置させる必要はなく、任意の場所に配置させることができる。また、図3では、測定画像と大領域光学像画像との両方が同時に表示されているが、各々を選択切り替えて表示してもよい。また、複数のCCDカメラを設置した場合、大領域光学像画像の表示は一度に行っても、特定の1つ以上の画像を選択切り替えて表示してもよい。また、ポップアップ画面のように必要に応じて動的に各画像を表示してもよい。
図4は、第二実施形態に係る赤外顕微鏡の要部の構成を示す図である。なお、上述した赤外顕微鏡101と同様のものについては、同じ符号を付している。
赤外顕微鏡201は、試料Sが載置される試料ステージ10と、赤外光を出射する赤外光源部20と、可視光を出射する可視光源部30と、赤外光を検出する検出部240と、可視光を検出する検出面を有する第一画像取得装置50と、可視光を検出する検出面を有する第二画像取得装置280と、カセグレン鏡(光学素子)260、261と、平板形状の切替鏡270と、赤外顕微鏡201全体の制御を行うコンピュータ(図示せず)とを備える。
カセグレン鏡副鏡260bは、Z方向から視ると円形状であり、Y方向やX方向から視ると上面が半球状を有する凸面であるとともに下面が平面である。そして、カセグレン鏡副鏡260bは、試料ステージ10の上方に配置されており、上面が上方(−Z方向)を向くように配置されている。また、カセグレン鏡主鏡260aは、Z方向から視るとカセグレン鏡副鏡260bと同形状の開口を有する円環形状であり、Y方向やX方向から視ると下面が半球状を有する凹面であるとともに上面が平面である。そして、カセグレン鏡主鏡260aは、試料ステージ10の上方に配置され、さらにカセグレン鏡副鏡260bの上方に配置されており、上面が上方(−Z方向)を向くように配置されている。
これにより、赤外光源部20からの赤外光は、カセグレン鏡副鏡260bで反射された後、カセグレン鏡主鏡260aによって集光されて、試料S上の分析位置に照射されるようになっている。また、試料S上の分析位置を含む領域からの光は、カセグレン鏡主鏡260aで集光された後、カセグレン鏡副鏡260bで反射されて、−Z方向に進行するようになっている。
なお、カセグレン鏡(シュバルツシルド式反射対物鏡)261も、カセグレン鏡260と同様の構造をしており、試料ステージ10を挟んで上下対称となるように配置されている。
このような第二画像取得装置280によれば、試料S上の分析位置を含む大領域(試料S表面の全体)からの可視光がCCDカメラ281の検出面で検出されるようになっている。すなわち、カセグレン鏡260を介さずに可視光がCCDカメラ281の検出面で検出されるようになっている。
図5は、第三実施形態に係る赤外顕微鏡の要部の構成を示す図である。なお、上述した赤外顕微鏡101と同様のものについては、同じ符号を付している。
赤外顕微鏡301は、試料Sが載置される試料ステージ10と、赤外光を出射する赤外光源部20と、可視光を出射する可視光源部30と、赤外光を検出する検出部240と、可視光を検出する検出面を有する第一画像取得装置50と、可視光を検出する検出面を有する第二画像取得装置380と、カセグレン鏡(光学素子)260、261と、平板形状の切替鏡270と、赤外顕微鏡301全体の制御を行うコンピュータ(図示せず)とを備える。
このような第二画像取得装置380によれば、試料S上の分析位置を含む大領域(試料S表面の全体)からの可視光が撮影レンズ382を介してCCDカメラ381の検出面で検出されるようになっている。すなわち、カセグレン鏡260を介さずに可視光がCCDカメラ381の検出面で検出されるようになっている。
(1)上述したような顕微鏡1では、第一画像取得装置50がビームスプリッタ70の上方に配置されるとともに、検出部40がビームスプリッタ70の右方に配置される構成としたが、第一画像取得装置50がビームスプリッタ70の右方に配置されるとともに、検出部40がビームスプリッタ70の上方に配置されるような構成としてもよい。
(3)上述したような顕微鏡1では、第二画像取得装置80は、CCDカメラ81と、CCDカメラ82との2台のカメラを備える構成としたが、3台以上のカメラを備える構成としてもよい。
(4)上述したような赤外顕微鏡301では、CCDカメラ381と撮影レンズ382とは、カセグレン鏡副鏡260bの下方(裏側)に配置されている構成としたが、カセグレン鏡副鏡260bの下方(裏側)に、CCDカメラ481と撮影レンズ482(例えば、右方)に導くためのミラー483が配置され、CCDカメラ481と撮影レンズ482とは、カセグレン鏡副鏡260bの下方(裏側)でなく異なる位置(例えば、右方)に配置される構成としてもよい。図8は、第四実施形態に係る赤外顕微鏡401の要部の構成を示す図である。なお、上述した赤外顕微鏡301と同様のものについては、同じ符号を付している。
10 試料ステージ
20 測定光源部
30 可視光源部
40 検出部
50 第一画像取得部
60 光学素子
70 ビームスプリッタ
80 第二画像取得部
91 CPU(制御部)
Claims (11)
- 試料上の分析位置に測定光を出射する測定光源部と、
前記試料上の分析位置を含む領域に可視光を出射する可視光源部と、
前記試料上の分析位置からの測定光を検出する検出部と、
前記試料上の分析位置を含む領域からの可視光が検出面に入射して光学像を取得する第一画像取得部と、
前記試料上の分析位置からの測定光が検出部に導かれる光路上に配置され、当該光路を切り替えるか若しくは分割することによって前記試料上の分析位置を含む領域からの可視光を前記第一画像取得部の検出面に導く光束分離手段とを備え、
前記試料を前記検出部及び前記第一画像取得部に対して移動させることが可能な顕微鏡であって、
前記検出部に導かれる光路上でない位置に配置され、前記可視光が検出面に導かれることにより、前記第一画像取得部で取得される前記試料表面上の分析位置を含む領域の光学像より大きい前記試料表面上の分析位置を含む大領域の光学像を取得する第二画像取得部を備えることを特徴とする顕微鏡。 - 前記第二画像取得部は、取得する大領域の光学像を縮小又は拡大することが可能な縮小拡大機構を有することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
- 前記第二画像取得部は、前記検出部に測定光を導く光学系とは異なる光軸で可視光を取得し、
前記第二画像取得部で取得された大領域の光学像の歪みを、前記検出部に測定光を導く光学系と同じ光軸で取得されたように補正して、大領域光学像画像を表示する制御部を備えることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の顕微鏡。 - 前記試料が載置された試料台を移動させることが可能な試料設置機構を備えることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記制御部は、前記第一画像取得部で取得された光学像画像と、前記大領域光学像画像とを同時に表示するか、或いは、切り替えて表示することを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の顕微鏡。
- 前記制御部は、前記大領域光学像画像上に、前記第一画像取得部で取得された光学像画像の位置を示す光学像位置画像を表示するか、或いは、前記分析位置を示す分析位置画像を表示するかの少なくともいずれかの画像を表示することを特徴とする請求項5に記載の顕微鏡。
- 前記制御部は、前記大領域光学像画像上における光学像位置画像又は分析位置画像の位置が入力装置によって操作されることにより、前記試料ステージを移動させることを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡。
- 前記試料ステージが前記検出部に導かれる光路方向に移動すると、前記試料表面上における前記第一画像取得部の視野中心と前記第二画像取得部の視野中心とが一致するように、前記第二画像取得部は視野中心方向を変化させることが可能となっていることを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡。
- 前記測定光源部からの測定光を集光して、前記試料上の分析位置に照射するとともに、前記試料上の分析位置を含む領域からの光を集光して光を出射する光学素子を備え、
前記光学素子は、カセグレン鏡主鏡とカセグレン鏡副鏡とを有するカセグレン鏡であり、
前記第二画像取得部又は第二画像取得部の検出面に導くための光学系は、前記カセグレン鏡副鏡の背面に配置されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の顕微鏡。 - 前記第二画像取得部は、前記検出部に測定光を導く光学系とは同じ光軸で可視光を取得し、
前記制御部は、前記第二画像取得部で取得された大領域の光学像を大領域光学像画像として表示する制御部を備えることを特徴とする請求項9に記載の顕微鏡。 - 前記第一画像取得部と前記第二画像取得部との合焦範囲が重なることを特徴とする請求項9又は請求項10に記載の顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012055972A JP5867194B2 (ja) | 2012-03-13 | 2012-03-13 | 顕微鏡 |
CN2012105952539A CN103308464A (zh) | 2012-03-13 | 2012-12-26 | 显微镜 |
US13/727,621 US9402059B2 (en) | 2012-03-13 | 2012-12-27 | Microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012055972A JP5867194B2 (ja) | 2012-03-13 | 2012-03-13 | 顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013190554A true JP2013190554A (ja) | 2013-09-26 |
JP5867194B2 JP5867194B2 (ja) | 2016-02-24 |
Family
ID=49133923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012055972A Active JP5867194B2 (ja) | 2012-03-13 | 2012-03-13 | 顕微鏡 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9402059B2 (ja) |
JP (1) | JP5867194B2 (ja) |
CN (1) | CN103308464A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016132451A1 (ja) * | 2015-02-17 | 2016-08-25 | 株式会社島津製作所 | 顕微鏡 |
WO2016199262A1 (ja) * | 2015-06-11 | 2016-12-15 | 株式会社島津製作所 | カセグレン鏡保持機構及びこれを備えた顕微鏡、並びに、カセグレン鏡の取付方法 |
JP2017009718A (ja) * | 2015-06-19 | 2017-01-12 | 株式会社島津製作所 | 顕微鏡 |
JP2019056855A (ja) * | 2017-09-22 | 2019-04-11 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、表示制御方法、及び表示制御プログラム。 |
JP2019184664A (ja) * | 2018-04-03 | 2019-10-24 | 学校法人自治医科大学 | 顕微鏡システム |
WO2020153354A1 (ja) * | 2019-01-23 | 2020-07-30 | 株式会社ニコン | 撮像装置 |
JP2020153682A (ja) * | 2019-03-18 | 2020-09-24 | 株式会社キーエンス | 画像測定装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015090493A (ja) * | 2013-11-07 | 2015-05-11 | キヤノン株式会社 | 画像取得装置、及び、画像取得方法 |
JP2015094802A (ja) * | 2013-11-11 | 2015-05-18 | キヤノン株式会社 | 対物光学系および画像取得装置 |
US10641659B2 (en) * | 2018-08-14 | 2020-05-05 | Shimadzu Corporation | Infrared microscope with adjustable connection optical system |
JP7246151B2 (ja) * | 2018-09-26 | 2023-03-27 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置 |
JP7004632B2 (ja) * | 2018-10-05 | 2022-01-21 | 京セラ株式会社 | 電磁波検出装置 |
CN110187532A (zh) * | 2019-05-30 | 2019-08-30 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种像素暗态漏光的检测装置 |
JP2021032628A (ja) * | 2019-08-21 | 2021-03-01 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 顕微鏡画像測定装置及び顕微鏡画像測定方法 |
CN111412860B (zh) * | 2020-03-25 | 2022-03-22 | 广东省微生物研究所(广东省微生物分析检测中心) | 激光共聚焦显微镜生物被膜观察载物台 |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6424312U (ja) * | 1987-08-04 | 1989-02-09 | ||
JPH01110243A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-26 | Hitachi Vlsi Eng Corp | 外観検査装置 |
JPH04308639A (ja) * | 1991-04-08 | 1992-10-30 | Nec Yamaguchi Ltd | 走査型電子顕微鏡 |
JPH08273578A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Topcon Corp | 走査型電子顕微鏡装置 |
JPH1054709A (ja) * | 1996-08-09 | 1998-02-24 | Techno Horon:Kk | 顕微鏡を用いた3次元画像認識装置 |
JP2000121554A (ja) * | 1998-10-12 | 2000-04-28 | Jasco Corp | 赤外顕微鏡 |
US6075646A (en) * | 1995-01-09 | 2000-06-13 | Olympus Optical Co., Ltd. | Observation optical apparatus |
US6274871B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-08-14 | Vysis, Inc. | Method and system for performing infrared study on a biological sample |
JP2003121526A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-23 | Yrp Mobile Telecommunications Key Tech Res Lab Co Ltd | 電波到来方向測定装置 |
JP2006010365A (ja) * | 2004-06-23 | 2006-01-12 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 電気設備点検方法及び装置、並びに紫外線映像処理方法及びプログラム |
JP3121902U (ja) * | 2006-03-07 | 2006-06-01 | 株式会社島津製作所 | 赤外顕微鏡 |
JP2006154558A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Olympus Corp | 実体顕微鏡 |
US20060146401A1 (en) * | 2005-01-06 | 2006-07-06 | Nikon Vision Co., Ltd. | Stereomicroscope |
US20060202124A1 (en) * | 2000-08-29 | 2006-09-14 | Hoult Robert A | Detector array and cross-talk linearity connection |
JP2009198709A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Nikon Corp | 観察装置と、観察方法 |
JP2012015031A (ja) * | 2010-07-02 | 2012-01-19 | Keyence Corp | 拡大観察装置及び拡大観察方法 |
US20130188034A1 (en) * | 2012-01-20 | 2013-07-25 | Bruker Optik Gmbh | IR microscope with image field curvature compensation, in particular with additional illumination optimization |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004029212B4 (de) * | 2004-06-16 | 2006-07-13 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Auf- und/oder Durchlichtinspektion von Mikrostrukturen im IR |
EP1882971A3 (en) * | 2006-01-12 | 2008-11-26 | Olympus Corporation | Microscope examination apparatus |
JP5014061B2 (ja) * | 2007-10-22 | 2012-08-29 | 日本分光株式会社 | 顕微測定装置 |
JP2010054709A (ja) * | 2008-08-27 | 2010-03-11 | Tokai Rubber Ind Ltd | トナー供給ロールおよびその製造方法 |
WO2010057081A1 (en) * | 2008-11-14 | 2010-05-20 | The Scripps Research Institute | Image analysis platform for identifying artifacts in samples and laboratory consumables |
CN102109671B (zh) * | 2009-12-25 | 2014-12-31 | 株式会社尼康 | 显微镜装置 |
JP2012042669A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Sony Corp | 顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 |
-
2012
- 2012-03-13 JP JP2012055972A patent/JP5867194B2/ja active Active
- 2012-12-26 CN CN2012105952539A patent/CN103308464A/zh active Pending
- 2012-12-27 US US13/727,621 patent/US9402059B2/en active Active
Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6424312U (ja) * | 1987-08-04 | 1989-02-09 | ||
JPH01110243A (ja) * | 1987-10-23 | 1989-04-26 | Hitachi Vlsi Eng Corp | 外観検査装置 |
JPH04308639A (ja) * | 1991-04-08 | 1992-10-30 | Nec Yamaguchi Ltd | 走査型電子顕微鏡 |
US6075646A (en) * | 1995-01-09 | 2000-06-13 | Olympus Optical Co., Ltd. | Observation optical apparatus |
JPH08273578A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Topcon Corp | 走査型電子顕微鏡装置 |
JPH1054709A (ja) * | 1996-08-09 | 1998-02-24 | Techno Horon:Kk | 顕微鏡を用いた3次元画像認識装置 |
JP2000121554A (ja) * | 1998-10-12 | 2000-04-28 | Jasco Corp | 赤外顕微鏡 |
US6274871B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-08-14 | Vysis, Inc. | Method and system for performing infrared study on a biological sample |
US20060202124A1 (en) * | 2000-08-29 | 2006-09-14 | Hoult Robert A | Detector array and cross-talk linearity connection |
JP2003121526A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-23 | Yrp Mobile Telecommunications Key Tech Res Lab Co Ltd | 電波到来方向測定装置 |
JP2006010365A (ja) * | 2004-06-23 | 2006-01-12 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 電気設備点検方法及び装置、並びに紫外線映像処理方法及びプログラム |
JP2006154558A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Olympus Corp | 実体顕微鏡 |
US20060146401A1 (en) * | 2005-01-06 | 2006-07-06 | Nikon Vision Co., Ltd. | Stereomicroscope |
JP3121902U (ja) * | 2006-03-07 | 2006-06-01 | 株式会社島津製作所 | 赤外顕微鏡 |
JP2009198709A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Nikon Corp | 観察装置と、観察方法 |
JP2012015031A (ja) * | 2010-07-02 | 2012-01-19 | Keyence Corp | 拡大観察装置及び拡大観察方法 |
US20130188034A1 (en) * | 2012-01-20 | 2013-07-25 | Bruker Optik Gmbh | IR microscope with image field curvature compensation, in particular with additional illumination optimization |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2016132451A1 (ja) * | 2015-02-17 | 2019-08-22 | 株式会社島津製作所 | 顕微鏡 |
WO2016132451A1 (ja) * | 2015-02-17 | 2016-08-25 | 株式会社島津製作所 | 顕微鏡 |
US10649190B2 (en) | 2015-06-11 | 2020-05-12 | Shimadzu Corporation | Cassegrain reflector retention mechanism, microscope equipped with same, and method for attaching Cassegrain reflector |
WO2016199262A1 (ja) * | 2015-06-11 | 2016-12-15 | 株式会社島津製作所 | カセグレン鏡保持機構及びこれを備えた顕微鏡、並びに、カセグレン鏡の取付方法 |
JPWO2016199262A1 (ja) * | 2015-06-11 | 2017-11-09 | 株式会社島津製作所 | カセグレン鏡保持機構及びこれを備えた顕微鏡、並びに、カセグレン鏡の取付方法 |
JP2017009718A (ja) * | 2015-06-19 | 2017-01-12 | 株式会社島津製作所 | 顕微鏡 |
JP2019056855A (ja) * | 2017-09-22 | 2019-04-11 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、表示制御方法、及び表示制御プログラム。 |
JP2019184664A (ja) * | 2018-04-03 | 2019-10-24 | 学校法人自治医科大学 | 顕微鏡システム |
JP7111936B2 (ja) | 2018-04-03 | 2022-08-03 | 学校法人自治医科大学 | 顕微鏡システム |
WO2020153354A1 (ja) * | 2019-01-23 | 2020-07-30 | 株式会社ニコン | 撮像装置 |
JPWO2020153354A1 (ja) * | 2019-01-23 | 2021-10-21 | 株式会社ニコン | 撮像装置 |
JP7215500B2 (ja) | 2019-01-23 | 2023-01-31 | 株式会社ニコン | 撮像装置 |
JP2020153682A (ja) * | 2019-03-18 | 2020-09-24 | 株式会社キーエンス | 画像測定装置 |
JP7240913B2 (ja) | 2019-03-18 | 2023-03-16 | 株式会社キーエンス | 画像測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103308464A (zh) | 2013-09-18 |
JP5867194B2 (ja) | 2016-02-24 |
US20130242078A1 (en) | 2013-09-19 |
US9402059B2 (en) | 2016-07-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5867194B2 (ja) | 顕微鏡 | |
TWI558997B (zh) | 缺陷觀察方法及其裝置 | |
KR101729952B1 (ko) | 결함 검출 방법 및 그 장치 및 결함 관찰 방법 및 그 장치 | |
JP2016038302A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP2013226588A (ja) | リペア装置及びリペア方法 | |
KR20170038666A (ko) | 시료 위치 맞춤 방법 및 하전 입자 빔 장치 | |
KR101652356B1 (ko) | 광학적 웨이퍼 검사 장치 | |
US20180024344A1 (en) | Microscope | |
JPWO2012099034A1 (ja) | 焦点位置維持装置及び顕微鏡 | |
JP6702807B2 (ja) | 電子顕微鏡および画像取得方法 | |
JP4869727B2 (ja) | 測定顕微鏡装置 | |
JP2007285797A (ja) | 電子プローブマイクロアナライザ | |
CN103799964B (zh) | 眼科装置和眼科摄像方法 | |
EP3282300B1 (en) | Microscope | |
US11982631B2 (en) | Defect detection device, defect detection method, and defect observation apparatus including defect detection device | |
JP5904737B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP7021870B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2007187809A (ja) | 自動焦点機構を備えた顕微鏡およびその調整方法 | |
JP6488905B2 (ja) | 顕微鏡 | |
JP6362435B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
WO2018011869A1 (ja) | 観察装置 | |
JP2007085753A (ja) | 3次元形状測定装置 | |
WO2014061690A1 (ja) | 電子顕微鏡 | |
JP2016126274A (ja) | 蛍光顕微鏡 | |
JP6029396B2 (ja) | 位相差顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140612 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150120 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150320 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150512 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151221 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5867194 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |