CN110187532A - 一种像素暗态漏光的检测装置 - Google Patents

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侯伟康
陈黎暄
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TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
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    • G—PHYSICS
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    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Abstract

本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置，该检测装置包括：载台；图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数。本发明的像素暗态漏光的检测装置，能够准确地获取漏光特征参数，从而有效地提升对比度。

Description

一种像素暗态漏光的检测装置
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种像素暗态漏光的检测装置。
【背景技术】
液晶显示装置以其轻薄小巧和低能耗等优点，被广泛的应用于各种电子产品中。对比度是衡量TFT-LCD显示质量的重要参数，对比度通常定义为亮态画面(红、绿、蓝子像素均为最高灰阶)与暗态画面(红、绿、蓝子像素均为零灰阶)的亮度比值。对比度越高，黑色画面纯度越高，给观看者的感受越好。
然而，暗态漏光往往是限制TFT-LCD对比度提升的主要因素，目前通常采用频谱仪分别测量亮态画面和暗态画面的亮度来获取TFT-LCD的对比度。但是这种仪器的测量范围通常覆盖几十个至几百个像素，通过此装置只能确定暗态漏光的总量，无法确定暗态漏光的分布都来自该像素的哪一个区域。或者通过光学显微镜得到暗态漏光图像，但是成像质量较低，且无法去除显微成像系统中的图片自动处理功能，从而难以进行精确的后期定量计算与处理。可见，现有的像素暗态漏光检测装置无法准确地获取漏光特征参数，进而不能有效地提升对比度。
因此，有必要提供一种像素暗态漏光的检测装置，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种像素暗态漏光的检测装置，能够准确地获取漏光特征参数，从而有效地提升对比度。
为解决上述技术问题，本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置，包括：
载台；
图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；
图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数。
本发明的像素暗态漏光的检测装置，包括载台；图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数，由于通过相机和光学显微镜共同获取暗态显示时像素的画面，从而能够准确性获取漏光特征参数，进而有效地提升对比度。
【附图说明】
图1为本发明的像素暗态漏光的检测装置的结构示意图；
图2为本发明的载台的俯视图；
图3为本发明的位置调整组件的俯视图；
图4为本发明的夹具的正视图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
如图1所示，本发明的像素暗态漏光的检测装置包括：载台10、图像获取模组20以及图像处理器30。
在一实施方式中，结合图2，所述载台10上可设置有滑轨11，为了增大图像获取模组的移动距离，所述滑轨11可沿所述载台10的长度方向排布。
所述图像获取模组20用于获取所述待检测显示面板40处于暗态显示时像素的图像。图像获取模组20设置在所述载台10上，所述图像获取模组20可在所述载台10上相对待检测显示面板40往返移动。
返回图1，所述图像获取模组20包括相机21和光学显微镜22，所述相机21的镜头的位置与所述光学显微镜22的镜头的位置对应。在一实施方式中，可调节相机21的位置与角度，实现与光学显微镜22的对组。其中，所述光学显微镜包括第一镜头221和第二镜头222，所述第一镜头221靠近所述待检测显示面板40，且朝向所述待检测显示面板40的显示面，所述第二镜头222的位置与所述相机21的镜头211的位置对应。在一实施方式中，所述待检测显示面板40的显示面垂直于所述光学显微镜的第一镜头221。
图像处理器30用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数，所述漏光特征参数包括漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征，根据所述漏光特征参数可将像素分为数个漏光区域与非漏光区域。可以理解的，当显示面板存在暗态漏光时，漏光位置的像素存在多个漏光区域和非漏光区域。所述图像处理器30可为计算机。
结合图2，在一实施方式中，所述载台10上还设置有第一滑块12，所述第一滑块12可沿所述滑轨11的长度方向往返移动，所述相机21的底部固定在所述第一滑块12上。由于设置第一滑块21，使得相机21可在滑轨11上沿滑轨的长度方向自由滑动，从而调节相机21和显微镜22的相对位置。
其中，为了提高相机的稳定性，结合图2，所述第一滑块12的宽度大于或等于所述载台10的宽度。比如第一滑块12的宽度为8cm，所述载台10的宽度为6cm，滑轨的宽度为4cm。
进一步地，所述载台10上还设置有第二滑块13，所述第二滑块13也可沿所述滑轨11的长度方向往返移动，所述光学显微镜22的底部设置在所述第二滑块13上，此时相机21和光学显微镜22均可在滑轨11上自由滑动，以更加方便地调节相机和光学显微镜的相对位置。
为了方便调整光学显微镜和相机的相对位置，以提高图像的质量，所述第二滑块13上还可设置有位置调整组件14，所述光学显微镜22设置在所述位置调整组件14上。结合图3，所述位置调整组件14包括平台141以及多个位置调节旋钮142-144，位置调节旋钮设置在平坦141的侧壁上。其中142-144分别表示X轴、Y轴、Z轴三个方向上的调节旋钮，以调整光学显微镜22分别与相机21和待检测显示面板40的相对位置，通过旋转位置调整旋钮可实现相机和显微镜模块的精确对组以及对像素特定区域的拍摄。在一实施方式中，所述位置调整组件14为三维移动平台。
为了提高光学显微镜的稳定性，返回图1，所述位置调整组件14上设置夹具15，所述夹具15用于夹持所述光学显微镜22，以防止光学显微镜晃动。所述夹具15与光学显微镜接触的表面与光学显微镜接触的外表面匹配。如图4所示，所述夹具15的内径R与光学显微镜的外径匹配，比如R为4cm。
返回图1，所述像素暗态漏光的检测装置还包括支撑架16，所述支撑架16设置在所述载台10的下方。在一实施方式中，所述支撑架17为三角架。其中三脚架的高度可调。
一实施方式中，在具体工作过程中，在待检测显示面板40处于亮态显示时，将光学显微镜22与相机21进行对组，当待检测显示面板40处于暗态显示时，通过调节相机21的曝光时间、光圈、感光度(ISO)等参数以拍摄光学显微镜22中的像素的画面，得到图片；之后相机21将该图片导入计算机中，通过计算机内的程序对图片进行处理，得到漏光特征参数。
本发明的像素暗态漏光的检测装置，包括载台；图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数，由于通过相机和光学显微镜共同获取暗态显示时像素的画面，从而能够准确性获取漏光特征参数，进而有效地提升对比度。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，包括：
载台；
图像获取模组，设置在所述载台上，所述图像获取模组可在所述载台上相对待检测显示面板往返移动，所述图像获取模组包括相机和光学显微镜，所述相机的镜头的位置与所述光学显微镜的镜头的位置对应；所述图像获取模组用于获取所述待检测显示面板处于暗态显示时像素的图像；
图像处理器，用于对所述图像进行处理，以获取漏光特征参数。
2.根据权利要求1所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，
所述载台上设置有滑轨和和第一滑块，所述第一滑块可沿所述滑轨的长度方向往返移动，所述相机的底部固定在所述第一滑块上。
3.根据权利要求2所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，所述第一滑块的宽度大于或等于所述载台的宽度。
4.根据权利要求2所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，所述滑轨沿所述载台的长度方向排布。
5.根据权利要求2所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，
所述载台上还设置有第二滑块，所述第二滑块也可沿所述滑轨的长度方向往返移动，所述光学显微镜设置在所述第二滑块上。
6.根据权利要求5所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，
所述第二滑块上还设置有位置调整组件，所述光学显微镜设置在所述位置调整组件上。
7.根据权利要求6所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，所述位置调整组件包括平台和设置在所述平台侧壁上的多个位置调节旋钮。
8.根据权利要求6所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，
所述位置调整组件上设置夹具，所述夹具用于夹持所述光学显微镜。
9.根据权利要求1所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，
所述光学显微镜包括第一镜头和第二镜头，所述第一镜头朝向所述待检测显示面板的显示面，且靠近所述待检测显示面板，所述第二镜头的位置与所述相机的镜头的位置对应。
10.根据权利要求1所述的像素暗态漏光的检测装置，其特征在于，
所述像素暗态漏光的检测装置还包括支撑架，所述载台设于所述支撑架的上方。
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