CN108803097A - 像素暗态漏光的检测方法及检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种像素暗态漏光的检测方法,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,包括:拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片;提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征;根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。本发明解决了无法确定暗态漏光在一个像素内的空间分布的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种像素暗态漏光的检测方法及检测装置。
背景技术
TFT-LCD(薄膜晶体管-液晶显示器)通过电压控制液晶分子的偏转状态来调控背光光源的透光量,从而显示具有特定颜色和亮度分布的画面。对比度是衡量TFT-LCD显示质量的重要参数。对比度通常定义为亮态画面(红、绿、蓝子像素均为最高灰阶)与暗态画面(红、绿、蓝子像素均为零灰阶)的亮度比值。对比度越高,黑色画面越纯粹,给观看者的感受越好。
限制TFT-LCD对比度提升的主要因素是暗态漏光。业界通常采用频谱仪分别测量亮态画面和暗态画面的亮度来获取TFT-LCD的对比度。但是这种仪器的测量范围通常覆盖几十个像素,无法确定暗态漏光来自该像素的哪一个区域。因此,目前还没有确定TFT-LCD暗态漏光在一个像素内的空间分布的方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种像素暗态漏光分布的检测方法及检测装置,以解决无法确定暗态漏光在一个像素内的空间分布的技术问题。
本发明提供一种像素暗态漏光的检测方法,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,包括:
拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片;
提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征;
根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。
其中,所述根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域的步骤之后还包括:获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
其中,所述获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度,包括:
读取黑白照片中每个所述漏光区域的第一黑白灰阶数值;
根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
其中,所述获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度,包括:
读取彩色照片中每个所述漏光区域的红、绿、蓝三原色的灰阶数值;
将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值;
根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,包括:光学显微照相机与数字图像处理器,所述光学显微照相机用于拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片,所述数字图像处理器用于提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素,以及用于根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征。
其中,所述数字图像处理器还用于获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
其中,所述光学显微照相机的Gamma值为预设值。
其中,所述光学显微照相机的放大倍数、光源强度和曝光时间,可使光学显微照相机的视野中至少完整地显示一个所述像素。
其中,所述数字图像处理器具体用于读取黑白照片中每个所述漏光区域的第一黑白灰阶数值,以及用于根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
其中,所述数字图像处理器还具体用于读取彩色照片中每个所述漏光区域的红、绿、蓝三原色的灰阶数值,用于将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值,以及用于根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度
综上所述,本发明的像素暗态漏光的检测方法首先通过拍摄液晶显示器的显示画面在暗态条件下的照片,再通过提取照片中的像素在不同位置的区别元素,进而将所述像素分为数个漏光区域,每个所述漏光区域的区别元素均不同,根据所述区别元素可确定暗态漏光在一个所述像素内的空间分布,进而根据所述像素暗态漏光的分布区域确定了液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的像素暗态漏光的检测方法流程示意图。
图2是图1所示的检测方法对像素进行分区后的像素分区结构示意图。
图3是本发明实施例提供的像素暗态漏光的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
目前,部分液晶显示器暗态时会产生漏光现象,主要表现为像素的暗态漏光。但是目前还没有一种可以确定暗态漏光来自一个像素的哪一个区域的方法。
基于上述问题,本发明提供一种像素暗态漏光的检测方法,如图1所示,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,包括:
步骤1,拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片。其中,本步骤拍摄的照片中可至少清晰完整地显示一个像素30,且照片的灰阶与照片的亮度成正比。
步骤2,提取所述照片中的像素30的不同位置的区别元素,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征。
步骤3,根据所述区别元素将所述像素30分为数个漏光区域301与非漏光区域302,如图2所示。
本发明的像素暗态漏光的检测方法首先通过拍摄液晶显示器的显示画面在暗态条件下的照片,再通过提取照片中的像素30在不同位置的区别元素,进而将所述像素30分为数个漏光区域301,每个所述漏光区域301的区别元素均不同,根据所述区别元素可确定暗态漏光在一个所述像素30内的空间分布,进而根据所述像素30的暗态漏光的分布区域确定了液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布。
进一步地,所述根据所述区别元素将所述像素30分为数个漏光区域301与非漏光区域302的步骤之后还包括:获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度。具体为,当所述像素30进行漏光分区域后,可根据所述区别元素获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,而漏光贡献比率和相对强度可表征液晶显示器的对比度,进而基于漏光贡献比率和相对强度可分析出影响对比度的各个因素、确定对比度异常的原因以及寻找到提高对比度的方法。
因此,本发明不仅可以根据所述区别元素确定显示画面暗态漏光在一个像素内的空间分布,而且还可以根据所述区别元素获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,进而可分析出影响对比度的各个因素、确定对比度异常的原因以及寻找到提高对比度的方法。
在本发明的一个实施例中,为了获取黑白照片中的所述像素30的每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,还包括如下步骤:
读取黑白照片中每个所述漏光区域的第一黑白灰阶数值。
根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
黑白照片的灰阶数值与黑白照片的亮度成正比。其中,漏光贡献比率的获取方法为:一个区域的黑白灰阶数值/整个像素的黑白灰阶数值之和;相对强度的获取方法为:一个区域的漏光贡献比率/该区域的面积比率;面积比率的获取方法为:该区域的面积/整个像素的面积。
在本发明的另一个实施例中,为了获取彩色照片中的所述像素30的每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,还包括如下步骤:
读取彩色照片中每个所述漏光区域301的红、绿、蓝三原色的灰阶数值。
将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值。
根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度。
本实施例中,彩色照片的灰阶数值与彩色照片的亮度成正比。具体为,首先根据所述区别元素确定彩色照片红、绿、蓝三原色的暗态漏光分布区域,读取漏光区域301的红、绿、蓝三原色的灰阶数值,根据相关的转换法则将红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成相应的所述第二黑白灰阶数值,进而根据所述第二黑白灰阶数值可获取所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,获取方法同上,在此不再赘述。
请参阅图3,本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置100,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,包括:光学显微照相机10与数字图像处理器20,所述光学显微照相机10用于拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片,所述数字图像处理器20用于提取所述照片中的像素30的不同位置的区别元素,以及用于根据所述区别元素将所述像素30分为数个漏光区域301与非漏光区域302,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征。
所述光学显微照相机10的Gamma值为预设值。在本实施例中,所述光学显微照相机10的Gamma值为1。其中,Gamma值用于表征照片的灰阶与亮度的线性关系,当Gamma值不为1时,则说明灰阶与亮度不成正比关系,则需将Gamma值调整为1,以使灰阶与亮度成正比关系。
所述光学显微照相机10的放大倍数、光源强度和曝光时间,可使光学显微照相机10的视野中至少完整地显示一个所述像素30。也就是说,所述光学显微照相机10拍摄的照片中可至少清楚完整地显示一个所述像素30。
本发明的像素暗态漏光的检测装置100首先通过拍摄液晶显示器的显示画面在暗态条件下的照片,再通过提取照片中的像素30在不同位置的区别元素,进而将所述像素30分为数个漏光区域301,每个所述漏光区域301的区别元素均不同,根据所述区别元素可确定暗态漏光在一个所述像素30内的空间分布,进而根据所述像素30暗态漏光的分布区域确定了液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布。本发明同时拓宽了所述检测装置的适用范围,将所述检测装置的应用范围拓展到了确定暗态漏光在一个所述像素30内的空间分布,进而为分析出影响对比度的各个因素、确定对比度异常的原因以及寻找到提高对比度的方法提供了依据。
进一步地,所述数字图像处理器20还用于获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度。具体为,当所述像素30进行分区域后,所述数字图像处理器20可根据所述区别元素获取每个漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,而漏光贡献比率和相对强度可表征液晶显示器的对比度,进而可分析出影响对比度的各个因素、确定对比度异常的原因以及寻找到提高对比度的方法。
所述数字图像处理器20具体用于读取黑白照片中每个所述漏光区域301的第一黑白灰阶数值,并根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度。
在一具体实施方式中,为了获取黑白照片中的所述像素30的每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,所述数字图像处理器20用于读取黑白照片中每个所述漏光区域301的第一黑白灰阶数值,以及用于根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度。本实施例中,黑白照片的灰阶数值与亮度成正比。其中,漏光贡献比率的获取方法为:一个区域的黑白灰阶数值/整个像素的黑白灰阶数值之和;相对强度的获取方法为:一个区域的漏光贡献比率/该区域的面积比率;面积比率的获取方法为:该区域的面积/整个像素的面积。
在另一具体实施方式中,为了获取彩色照片中的所述像素30的每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,所述数字图像处理器20用于读取彩色照片中每个所述漏光区域301的红、绿、蓝三原色的灰阶数值,用于将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值,以及用于根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度。本实施例中,彩色照片的灰阶数值与亮度成正比。具体为,所述数字图像处理器20首先通过所述区别元素确定了彩色照片红、绿、蓝三原色的暗态漏光分布区域,然后读取了所述漏光区域301的红、绿、蓝三原色的灰阶数值,并根据相关的转换法则将红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成相应的所述第二黑白灰阶数值,最后根据所述第二黑白灰阶数值获得所述漏光区域301的漏光贡献比率和相对强度,获取方法同上,在此不再赘述。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程,并依本发明权利要求所作的等同变化,仍属于发明所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种像素暗态漏光的检测方法,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,其特征在于,包括:
拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片;
提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征;
根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。
2.根据权利要求1所述的像素暗态漏光的检测方法,其特征在于,所述根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域的步骤之后还包括:获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
3.根据权利要求2所述的像素暗态漏光的检测方法,其特征在于,所述获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度,包括:
读取黑白照片中每个所述漏光区域的第一黑白灰阶数值;
根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
4.根据权利要求2所述的像素暗态漏光的检测方法,其特征在于,所述获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度,包括:
读取彩色照片中每个所述漏光区域的红、绿、蓝三原色的灰阶数值;
将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值;
根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
5.一种像素暗态漏光的检测装置,用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布,其特征在于,包括:光学显微照相机与数字图像处理器,所述光学显微照相机用于拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片,所述数字图像处理器用于提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素,以及用于根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域,其中,所述区别元素包括以下一种或多种:漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征。
6.根据权利要求5所述的像素暗态漏光的检测装置,其特征在于,所述数字图像处理器还用于获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
7.根据权利要求6所述的像素暗态漏光的检测装置,其特征在于,所述光学显微照相机的Gamma值为预设值。
8.根据权利要求7所述的像素暗态漏光的检测装置,其特征在于,所述光学显微照相机的放大倍数、光源强度和曝光时间,可使光学显微照相机的视野中至少完整地显示一个所述像素。
9.根据权利要求8所述的像素暗态漏光的检测装置,其特征在于,所述数字图像处理器具体用于读取黑白照片中每个所述漏光区域的第一黑白灰阶数值,以及用于根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
10.根据权利要求8所述的像素暗态漏光的检测装置,其特征在于,所述数字图像处理器还具体用于读取彩色照片中每个所述漏光区域的红、绿、蓝三原色的灰阶数值,用于将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值,以及用于根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。
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Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: TCL Huaxing Photoelectric Technology Co.,Ltd. Address before: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. |
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GR01 | Patent grant | ||
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