CN101206180A - 镜头模组检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种镜头模组检测装置及检测方法，用以检测收容在镜头模组中的光学元件是否有微粒污染。所述镜头模组检测装置包括：一个线性滑轨；一个承载台，用以装载镜头模组，该承载台可在垂直于该线性滑轨的延伸方向的平面内移动；一个光学成像模块，其与该承载台相对设置且滑动设置在该线性滑轨上，用以对装载在承载台上的镜头模组中的光学元件进行光学成像，并产生与该光学成像相对应的电子信号；以及一个显示模块，用以接收所述光学成像模块输出的电子信号并显示镜头模组中的光学元件的光学成像。所述镜头模组检测装置操作方便，可获得较佳的镜头模组检测效率。

Description

镜头模组检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及一种镜头模组检测装置及检测方法，用以检测收容在镜头模组中的光学元件是否有微粒污染。

背景技术

随着摄像技术的发展，镜头模组在各种用途的摄像装置中得到广泛的应用，镜头模组与各种便携式电子装置如手机、计算机等的结合，更得到众多消费者的青睐。

镜头模组通常包括镜座、与镜座啮合的镜筒、以及收容于镜筒中的光学元件。所述光学元件包括镜片、滤光片、及用以间隔镜片与滤光片的间隔部件，如间隔体等。当镜头模组组装时，通常需将所述镜片、滤光片及间隔体等组件按照一定顺序装入镜筒中，然后再将上述镜筒旋入镜座中以组装成一镜头模组。

在镜头模组的组装过程中，由于人为因素或组装环境的影响，某些微粒，如灰尘等可能会随着组装动作附在光学元件上，这些微粒将随着光学元件组装进镜头模组内而阻挡该镜头模组中光线的行进，从而导致经由镜头模组成像后的图像出现黑点等瑕疵。

有鉴于此，提供一种能精确检定镜头模组内的光学元件是否有微粒污染的镜头模块检测装置及检测方法实为必要。

发明内容

下面将以实施例说明一种镜头模组检测装置及镜头模组检测方法，其可精确检测收容在镜头模组中的光学元件是否有微粒污染。

一种镜头模组检测装置，其包括：一个线性滑轨；一个承载台，用以装载镜头模组，该承载台可在垂直于该线性滑轨的延伸方向的平面内移动；一个光学成像模块，其与该承载台相对设置且滑动设置在该线性滑轨上，用以对装载在承载台上的镜头模组中的光学元件进行光学成像并产生与该光学成像相对应的电子信号；以及一个显示模块，用以接收所述光学成像模块输出的电子信号并显示镜头模组中的光学元件的光学成像。

以及，一种采用上述镜头模组检测装置的镜头模组检测方法，该检测方法包括以下步骤：

将镜头模组装载在所述承载台上，并驱动该承载台在垂直于所述线性滑轨的延伸方向的平面内移动以使所述镜头模组与所述光学成像模块对准；驱动所述光学成像模块沿所述线性滑轨的延伸方向滑动以调整光学成像模块与镜头模组的距离，经由该光学成像模块对所述镜头模组中的光学元件进行光学成像并产生对应该光学成像的电子信号；显示模块接收所述电子信号并显示所述镜头模组中的光学元件的光学成像以供检定该光学元件是否有微粒污染。

相对于现有技术，所述镜头模组检测装置及镜头模组检测方法，其通过设置一个光学成像模块对镜头模组中的光学元件进行光学成像，并经由连接一个显示模块显示所述镜头模组中的光学元件的光学成像，可方便快捷地检测收容在镜头模组中的光学元件是否有微粒污染。

附图说明

图1是本发明实施例提供的镜头模组检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明实施例作进一步的详细说明。

请参阅图1，本发明实施例提供的镜头模组检测装置10，用以检测收容在镜头模组100中的光学元件是否有微粒污染。对于镜头模组，其通常会收容有镜片，滤光片等光学元件。所述镜头模组检测装置10包括一个线性滑轨11、一个承载台12、一个光学成像模块13、及一个显示模块14。

所述线性滑轨11沿图1所示Z轴方向延伸，其设置在光学成像模块13的一侧。

所述承载台12用以装载镜头模组100。该承载台12可在垂直于该线性滑轨的延伸方向(也即Z方向)的XY平面内移动。

所述光学成像模块13用以对装载在承载台上的镜头模组100中的光学元件进行光学成像并产生与该光学成像相对应的电子信号，其与所述承载台12相对设置且滑动设置在所述线性滑轨11上，该光学成像模块13可沿如图1双向箭头所示方向滑动。所述光学成像模块13可包括：一个光学显微镜131，用以对装载在承载台12上的镜头模组100中的光学元件进行光学成像；以及一个图像感测处理单元132，用以产生与该光学成像相对应的电子信号。具体地，所述光学显微镜可包括多个物镜1311，该多个物镜1311可旋转式切换以选择性地对装载在承载台12上的镜头模组100中的光学元件进行光学成像。该多个物镜1311可设置为具有不同的放大倍数。所述图像感测单元可包括：一个图像感测器(图未示)，用以感测镜头模组100中的光学元件的光学成像；以及一个图像处理单元(图未示)，用以对将感测到的光学成像转换成所述相对应的电子信号。所述图像感测器可为电荷耦合感测器(ChargeCoupled Device，CCD)或互补金属氧化物半导体感测器(ComplementaryMetal-Oxide-Semiconductor，CMOS)。所述图像处理单元可为图像信号处理器(Image Signal Processor，ISP)或数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)。

所述显示模块14与所述光学成像模块13的图像感测处理单元132可经由数据线相连，用以接收所述光学成像模块13输出的电子信号并显示镜头模组100中的光学元件的光学成像。该显示模块14可选用液晶显示器或阴极射线(Cathode-ray tube，CRT)显示器等。

下面将具体描述一种采用上述镜头模组检测装置10的镜头模组检测方法，其包括以下步骤：

(1)将镜头模组100装载在所述承载台12上，并驱动该承载台12在XY平面内移动使所述镜头模组100与所述光学成像模块13对准。具体的，驱动该承载台12在XY平面内移动使所述镜头模组100与所述光学成像模块13的光学显微镜131的物镜1311对准。

(2)驱动所述光学成像模块13沿所述线性滑轨11滑动以调整光学成像模块13与镜头模组100的距离，以对所述镜头模组100中的光学元件进行光学成像并产生对应该光学成像的电子信号。在光学成像模块13对镜头模组100中光学元件成像的过程中，可旋转切换光学显微镜131的物镜1311，以选择具有合适放大倍数的物镜。

(3)显示模块14接收所述电子信号并显示所述镜头模组100中的光学元件的光学成像以供检定该光学元件是否有微粒污染。具体地，操作员可通过观测所示显示模块14以确定该光学元件是否有微粒污染，当观察到该光学元件的光学成像出现黑点时，可确定所述镜头模组100中的光学元件有微粒污染。

所述镜头模组100检测装置10及检测方法，其通过光学成像模块13对镜头模组10中的光学元件进行光学成像，并经由连接显示模块14显示所述镜头模组100中的光学元件的光学成像，可方便快捷地检定收容在镜头模组100中的光学元件是否有微粒污染。

可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它各种对应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (5)

1.一种镜头模组检测装置，用以检测收容在镜头模组中的光学元件是否有微粒污染，所述镜头模组检测装置包括：

一个线性滑轨；

一个承载台，用以装载镜头模组，该承载台可在垂直于该线性滑轨的延伸方向的平面内移动；

一个光学成像模块，其与该承载台相对设置且滑动设置在该线性滑轨上，用以对装载在承载台上的镜头模组中的光学元件进行光学成像并产生与该光学成像相对应的电子信号；以及

一个显示模块，用以接收所述光学成像模块输出的电子信号并显示镜头模组中的光学元件的光学成像。

2.如权利要求1所述的镜头模组检测装置，其特征在于，所述光学成像模块包括：

一个光学显微镜，用以对装载在承载台上的镜头模组中的光学元件进行光学成像；及

一个图像感测处理单元，用以产生与该光学成像相对应的电子信号。

3.如权利要求2所述的镜头模组检测装置，其特征在于，所述图像感测处理单元包括：

一个图像感测器，用以感测镜头模组中的光学元件的光学成像；及

一个图像处理单元，用以将该感测到的光学成像转换成所述相对应的电子信号。

4.如权利要求2所述的镜头模组检测装置，其特征在于，所述光学显微镜包括多个物镜，该多个物镜可旋转式切换以选择性地对装载在承载台上的镜头模组中的光学元件进行光学成像。

5.一种采用如权利要求1所述的镜头模组检测装置的镜头模组检测方法，其包括以下步骤：

将镜头模组装载在所述承载台上，并驱动该承载台在垂直于所述线性滑轨的延伸方向的平面内移动以使所述镜头模组与所述光学成像模块对准；

驱动所述光学成像模块沿所述线性滑轨的延伸方向滑动以调整光学成像模块与镜头模组的距离，经由该光学成像模块对所述镜头模组中的光学元件进行光学成像并产生对应该光学成像的电子信号；

显示模块接收所述电子信号并显示所述镜头模组中的光学元件的光学成像以供检定该光学元件是否有微粒污染。

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