JP2013171656A - 異方性導電接続材料、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法 - Google Patents

異方性導電接続材料、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2013171656A
JP2013171656A JP2012033850A JP2012033850A JP2013171656A JP 2013171656 A JP2013171656 A JP 2013171656A JP 2012033850 A JP2012033850 A JP 2012033850A JP 2012033850 A JP2012033850 A JP 2012033850A JP 2013171656 A JP2013171656 A JP 2013171656A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
anisotropic conductive
flexible display
connection
electronic component
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012033850A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6209313B2 (ja
Inventor
Masami Kawatsu
雅巳 川津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dexerials Corp
Original Assignee
Dexerials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dexerials Corp filed Critical Dexerials Corp
Priority to JP2012033850A priority Critical patent/JP6209313B2/ja
Priority to CN201380010151.9A priority patent/CN104106182B/zh
Priority to KR1020147016359A priority patent/KR101886909B1/ko
Priority to PCT/JP2013/053210 priority patent/WO2013125388A1/ja
Priority to TW102105710A priority patent/TW201345091A/zh
Priority to TW107115274A priority patent/TWI647886B/zh
Publication of JP2013171656A publication Critical patent/JP2013171656A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6209313B2 publication Critical patent/JP6209313B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J9/00Adhesives characterised by their physical nature or the effects produced, e.g. glue sticks
    • C09J9/02Electrically-conducting adhesives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J11/00Features of adhesives not provided for in group C09J9/00, e.g. additives
    • C09J11/02Non-macromolecular additives
    • C09J11/04Non-macromolecular additives inorganic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/7076Coupling devices for connection between PCB and component, e.g. display
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R4/00Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
    • H01R4/04Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation using electrically conductive adhesives
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K3/00Use of inorganic substances as compounding ingredients
    • C08K3/02Elements
    • C08K3/08Metals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/29001Core members of the layer connector
    • H01L2224/29099Material
    • H01L2224/29198Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
    • H01L2224/29298Fillers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

【課題】配線のクラック発生を防止する。
【解決手段】フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを接続する異方性導電接続材料3であり、絶縁性接着剤4中に、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmである導電性粒子5を含有させる。
【選択図】図1

Description

本発明は、フレキシブルディスプレイに、例えばフレキシブルプリント配線板や半導体素子等の電子部品を実装する際に使用する異方性導電接続材料、異方性導電接続層を用いてフレキシブルディスプレイと電子部品とを接続した接続構造体、異方性導電接続層を用いてフレキシブルディスプレイと電子部品とを接続する接続方法及びこの接続方法による接続構造体の製造方法に関するものである。
半導体素子等の電子部品を基板に実装する技術として、例えば電子部品をいわゆるフェースダウン状態で基板上に実装するフリップチップ実装法が広く用いられている。フリップチップ実装法においては、接続信頼性を高めること等を目的に、電子部品の端子と基板に設けられた端子との間に異方性導電フィルムを介在させ、異方性導電フィルムによる電気的及び機械的な接続が行われている。異方性導電フィルムは、樹脂等を含有する接着剤に導電性粒子を分散させたものである。導電性粒子は、例えば樹脂粒子にニッケル、金めっきを施した粒子等である。
このような実装方法において、例えば、特許文献1では、電子部品の端子又は配線基板の端子の表面を平坦な面とし、導電性粒子を均一に潰すことにより、電子部品の端子と配線基板に設けられた端子との電気的接続を良好にしている。
また、この実装方法は、液晶ディスプレイやフレキシブルディスプレイにも使用されている。液晶ディスプレイは、ヤング率が72GPaと高く変形しにくいガラス基材が用いられており、外部からの押圧等によって破損しやすいものである。一方、柔軟なプラスチックを基材に用いたフレキシブルディスプレイは、非常に薄く、可撓性を有するため曲げることができ、破損しづらく、電子ペーパやロールアップスクリーンに用いることができる。
フレキシブルディスプレイでは、表示領域の透明電極(ITO等)が延在してプラスチック等からなる基材の端部に、ICチップやプレキシブルプリント配線板等の電子部品と電気的に接続される接続用の端子が設けられている。フレキシブルディスプレイでは、この接続用の端子が表示領域の直下又は近傍に設けられ、高密度実装等に対応するため、端子の微細化、狭ピッチ化がなされている。このように微細化、狭ピッチ化がなされた端子と、電子部品やプレキシブルプリント配線板等の端子との電気的な接続には、上述のように異方性導電フィルムが使用される(例えば特許文献2参照)。
フレキシブルディスプレイでは、ポリイミドやポリエチレンテレフタラート等の柔軟な基材を用いているため、電子部品との接続に用いられている一般的な異方性導電フィルムを使用し、加圧により接続した場合、導電性粒子を起点として端子にクラックが入ったり、基材にもクラックが入ったり又は破壊されてしまう等の不具合が生じることがある。例えば、フレキシブルディスプレイの基材上にICチップ等の電子部品を直接接続する場合、配線幅で接続するフレキシブルプリント配線板の場合と異なり、ICチップ等は端子となるバンプが点在しており、接続時に加わる圧力も点に集中して加わるため、クラックが入りやすくなる。
フレキシブルディスプレイでは、表示部の直下又は近傍に電子部品の実装領域が存在することから、上述した特許文献1のような単に配線基板に設けられた端子に電子部品を実装する場合に比べて、狭額の実装領域においてクラックが発生しないように、クラックの発生を特に抑制する必要がある。フレキシブルディスプレイでは、電子部品を接続する際に端子にクラックが入ったり、フレキシブルな基材が破壊されてしまうと、表示部までクラックや破壊等が生じてしまう場合があるため、表示部への影響が大きく、電子部品の接続によるクラックの発生や基材の破壊を抑制することが求められている。
特開2009−111043号公報 特開2009−242508号公報
本発明は、このような従来の実情に鑑みて提案されたものであり、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と、電子部品の端子とを異方性導電接続材料で機械的及び電気的に接続する際に、フレキシブルディスプレイに設けられた端子にクラックやフレキシブルディスプレイ自体にもクラックが入ったり、破壊が生じることを抑制できる異方性導電接続材料、異方性導電接続層を用いてフレキシブルディスプレイと電子部品とを接続した接続構造体、異方性導電接続層を用いてフレキシブルディスプレイと電子部品とを接続する接続方法及びこの接続方法による接続構造体の製造方法を提供することを目的とする。
上述した目的を達成する本発明に係る接続構造体の製造方法は、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子との間に異方性導電接続層を介在させて、フレキシブルディスプレイと電子部品とを接続及び導通した接続構造体の製造方法であり、異方性導電接続層を介して、電子部品の端子がフレキシブルディスプレイに設けられた端子と対向するように電子部品をフレキシブルディスプレイ上に搭載する搭載工程と、電子部品をフレキシブルディスプレイに対して加圧し、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを異方性導電接続層で接続及び異方性導電接続層中の導電性粒子を介して導通する接続工程とを有し、導電性粒子は、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることを特徴とする。
上述した目的を達成する本発明に係る接続方法は、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを異方性導電接続層により接続する接続方法であり、異方性導電接続層を介して、電子部品の端子がフレキシブルディスプレイに設けられた端子と対向するように電子部品をフレキシブルディスプレイ上に搭載する搭載工程と、電子部品をフレキシブルディスプレイに対して加圧し、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを異方性導電接続層で接続及び異方性導電接続層中の導電性粒子を介して導通する接続工程とを有し、導電性粒子は、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることを特徴とする。
上述した目的を達成する本発明に係る異方性導電接続材料は、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを接続する異方性導電接続材料であり、接着剤中に、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmである導電性粒子を含有することを特徴とする。
上述した目的を達成する本発明に係る接続構造体は、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子との間に異方性導電接続層を介在させて、フレキシブルディスプレイと電子部品とを接続及び導通した接続構造体であり、異方性導電性層中の導電性粒子は、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることを特徴とする。
本発明によれば、異方性導電接続材料の絶縁性接着剤に含有されている導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmとすることによって、フレキシブルディスプレイと電子部品とを接続する際に加圧しても、導電性粒子が変形し、導電性粒子とフレキシブルディスプレイの端子との接触面積が広くなり、フレキシブルディスプレイの端子にクラックが入ることを防止でき、フレキシブルディスプレイ自体にもクラックが入ったり、破壊されることを抑制できる。
本発明を適用したフィルム積層体の断面図である。 導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さの算出における圧縮変位−荷重の関係を示す図である。 フレキシブルディスプレイと電子部品とを異方性導電フィルムで接続した接続構造体を示す図であり、(A)は接続構造体の上面図であり、(B)は接続構造体の断面図である。 フレキシブルフィルムの端子と、電子部品の端子との接続部分を示す断面図である。 フレキシブルディスプレイに、2つのICチップ及びフレキシブルプリント配線基板を異方性導電フィルムで接続した接続構造体の上面図である。
以下、本発明が適用された異方性導電接続材料、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法について、図面を参照して詳細に説明する。なお、本発明は、特に限定がない限り、以下の詳細な説明に限定されるものではない。本発明に係る実施の形態の説明は、以下の順序で行う。
1.異方性導電接続材料
2.接続構造体・接続構造体の接続方法・接続方法
<異方性導電接続材料>
異方性導電接続材料は、フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子との間に介在し、フレキシブルディスプレイと電子部品とを接続して導通させるものである。このような異方性導電接続材料としては、フィルム状の異方性導電フィルム又はペースト状の異方性導電接続ペーストを挙げることができる。本願では、異方性導電フィルム又は異方性導電接続ペーストを「異方性導電接続材料」と定義する。以下では、異方性導電フィルムを例に挙げて説明する。
フィルム積層体1は、図1に示すように、通常、剥離基材となる剥離フィルム2上に異方性導電接続層となる異方性導電フィルム3が積層されたものである。
剥離フィルム2は、例えば、PET(Poly Ethylene Terephthalate)、OPP(Oriented Polypropylene)、PMP(Poly-4-methlpentene−1)、PTFE(Polytetrafluoroethylene)等にシリコーン等の剥離剤を塗布してなるものである。
異方性導電フィルム3は、膜形成樹脂、熱硬化性樹脂及び硬化剤等を含有する絶縁性接着剤(バインダ)4に導電性粒子5が分散されたものである。この異方性導電フィルム3は、剥離フィルム2上にフィルム状に形成されている。
膜形成樹脂としては、平均分子量が10000〜80000程度の樹脂が好ましい。膜形成樹脂としては、特にエポキシ樹脂、変形エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、フェノキシ樹脂等の各種の樹脂が挙げられる。中でも、膜形成状態、接続信頼性等の観点からフェノキシ樹脂が好ましい。膜形成樹脂の含有量は、少なすぎるとフィルムを形成せず、多すぎると電気接続のための樹脂の排除がしにくくなるので、100質量部の絶縁性接着剤4に対して、20〜80質量部、好ましくは40〜70質量部である。
硬化成分としては、常温で流動性を有していれば特に限定されず、市販のエポキシ樹脂、アクリル樹脂が挙げられる。
エポキシ樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、スチルベン型エポキシ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂等が挙げられる。これらは単独でも、2種以上の組み合わせであってもよい。
アクリル樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えばアクリル化合物、液状アクリレート等が挙げられる。具体的には、メチルアクリレート、エチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、イソブチルアクリレート、エポキシアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート、テトラメチレングリコールテトラアクリレート、2−ヒドロキシ−1,3−ジアクリロキシプロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシメトキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシエトキシ)フェニル]プロパン、ジシクロペンテニルアクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート等が挙げられる。これらは単独でも、2種以上の組み合わせであってもよい。
熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂又はアクリル樹脂を用いることが好ましい。
潜在性硬化剤としては、加熱硬化型、UV硬化型等の各種硬化剤が挙げられる。潜在性硬化剤は、通常では反応せず、熱、光、加圧等の用途に応じて選択される各種のトリガにより活性化し、反応を開始する。熱活性型潜在性硬化剤の活性化方法には、加熱による解離反応などで活性種(カチオンやアニオン)を生成する方法、室温付近ではエポキシ樹脂中に安定に分散しており高温でエポキシ樹脂と相溶・溶解し、硬化反応を開始する方法、モレキュラーシーブ封入タイプの硬化剤を高温で溶出して硬化反応を開始する方法、マイクロカプセルによる溶出・硬化方法等が存在する。熱活性型潜在性硬化剤としては、イミダゾール系、ヒドラジド系、三フッ化ホウ素−アミン錯体、スルホニウム塩、アミンイミド、ポリアミン塩、ジシアンジアミド等や、これらの変性物があり、これらは単独でも、2種以上の混合体であってもよい。中でも、マイクロカプセル型イミダゾール系潜在性硬化剤が好適である。
なお、異方性導電フィルム3には、シランカップリング剤を含有させてもよい。シランカップリング剤としては、特に限定されないが、例えば、エポキシ系、アミノ系、メルカプト・スルフィド系、ウレイド系等を挙げることができる。シランカップリング剤を添加することにより、有機材料と無機材料との界面における接続性を向上させることができる。
導電性粒子5としては、30%圧縮変形時の圧縮硬さ(K値)が150〜400Kgf/mm(1.50〜4.00GPa)であり、好ましくは150〜350Kgf/mm(1.50〜3.50GPa)である。この導電性粒子5の硬さの指標は、1つの粒子に加重をかけて粒子を変形させる際に、無負荷状態の粒子径に対して30%圧縮変形させるために必要な加重から算出したK値である。30%圧縮変形とは、導電性粒子5を一方向に圧縮した際に、導電性粒子の粒径2R(mm)が元の粒径に比べて30%短くなるように変形する状態、すなわち導電性粒子の粒径2Rが元の粒径の70%となる変形状態をいう。K値が小さいほど軟らかい粒子となる。
この導電性粒子5の30%圧縮変形時の圧縮硬さ(K値)は、下記の式(1)によって算出される。
Figure 2013171656
K値は、例えば以下の測定方法によって測定される。具体的には、先ず、室温において平滑表面を有する鋼板の上に導電性粒子を散布する。次に、散布した導電性粒子の中から1個の導電性粒子を選択する。そして、微小圧縮試験機(例えば、PCT−200型:株式会社島津製作所製)が備えるダイアモンド製の直径50μmの円柱の平滑な端面を、選択した1個の導電性粒子に押し当てることによりこの導電性粒子を圧縮する。この際、圧縮荷重は、電磁力として電気的に検出され、圧縮変位は、作動トランスによる変位として電気的に検出される。ここで、「圧縮変位」とは、変形前の導電性粒子の粒径から変形後の導電性粒子の短径の長さを引いた値(mm)をいう。その後、鋼板上の別の導電性粒子を選択し、選択した導電性粒子についても圧縮荷重及び圧縮変位を測定する。例えば10個の導電性粒子について、異なる圧縮荷重に対する圧縮変形の測定を行う。
圧縮変位−荷重の関係は、図2のように表わされる。この図2に示す関係から、導電性粒子の30%圧縮時における圧縮変位S(mm)から荷重値F(kgf)を算出する。そして、荷重値F(kgf)及び圧縮変位S(mm)により、式(1)を用いて30%圧縮時の圧縮硬さK値を算出する。
導電性粒子5の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることによって、ほぼ球状の粒子が加圧されると荷重により変形することによって、後述するようなフレキシブルディスプレイに設けられた端子と、電子部品の端子との間に異方性導電フィルム3を介在させて端子同士を接続及び導通させる際に、圧縮されても少し潰れるように変形する。このため、導電性粒子5は、フレキシブルディスプレイの端子に対して点で接触せず面で接触するようになり、端子に伝わる単位面積あたりの圧力が軽減し、端子にかかる局所的な圧力を分散でき、端子にクラックが入ったり、フレキシブルディスプレイ自体が破壊されることを防止できる。導電性粒子5のK値が小さく、柔らか過ぎると、接続部の導通抵抗値が不安定とあるため、150Kgf/mm以上とする。150〜400Kgf/mm以上とすることによって、端子のクラック発生及びフレキシブルディスプレイ自体へのクラック発生や破壊を防止できると共に、導通抵抗値も低くすることができる。
導電性粒子5としては、ニッケル、鉄、銅、アルミニウム、錫、鉛、クロム、コバルト、銀、金等の各種金属や金属合金の粒子、金属酸化物、カーボン、グラファイト、ガラス、セラミック、プラスチック等の粒子の表面に金属をコートしたもの、或いはこれらの粒子の表面に更に絶縁薄膜をコートしたもの等を使用することができる。樹脂粒子の表面に金属をコートしたものを用いる場合、樹脂粒子としては、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、アクリロニトリル・スチレン(AS)樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、ジビニルベンゼン系樹脂、スチレン系樹脂等の粒子を挙げることができる。導電性粒子5は、これらの材料からなり上記K値を満たすものである。
導電性粒子5の平均粒径は、接続信頼性の観点から、好ましくは1〜20μm、より好ましくは2〜10μmである。導電性粒子5の平均粒径を1μm〜20μmの範囲とすることによって、加圧により圧縮変形しても電気的接続が可能である。
また、絶縁性接着剤4中の導電性粒子5の平均粒子密度は、接続信頼性及び絶縁信頼性の観点から、好ましくは1000〜50000個/mm、より好ましくは3000〜30000個/mmである。
このような構成からなるフィルム積層体1は、トルエンや酢酸エチル等の溶媒に、上述した絶縁性接着剤(バインダー)4を溶解させ、導電性粒子5を分散させた異方性導電組成物を作製し、この異方性導電組成物を剥離性を有する剥離フィルム2上に所望の厚さとなるように塗布し、乾燥して溶媒を除去し、異方性導電フィルム3を形成することによって製造することができる。
なお、フィルム積層体1は、このような剥離フィルム2上に異方性導電フィルム3を形成した構成に限定されず、異方性導電フィルム3に例えば絶縁性接着剤4のみからなる絶縁性樹脂層(NCF:Non Conductive Film層)を積層するようにしてもよい。
また、フィルム積層体1は、異方性導電フィルム3の剥離フィルム2が積層された面とは反対の面側にも剥離フィルムを設ける構成としてもよい。
以上のような構成からなるフィルム積層体1の異方性導電フィルム3は、導電性粒子5の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることによって、加圧されるとほぼ球状の粒子が荷重により変形することになる。このため、この異方性導電フィルム3では、可撓性のフレキシブルディスプレイに設けられた端子と、電子部品の端子との間を接続及び導通させる際に、圧縮されてやや潰れるように変形するため、フレキシブルディスプレイの端子に対して点ではなく面で接触するようになり、接触面積が増えるため、端子にかかる圧力が分散され、端子にクラックが入ったり、フレキシブルディスプレイ自体へのクラック発生や破壊を抑制できる。
<接続構造体・接続構造体の製造方法・接続方法>
次に、この異方性導電フィルム3を用いてフレキシブルディスプレイの端子と電子部品の端子とを導通して接続する接続方法及びこれにより製造される接続構造体、接続構造体の製造方法について説明する。
図3に示す接続構造体10は、フレキシブルディスプレイ11に、このフレキシブルディスプレイ11を駆動させるための電子部品としてICチップ12や外部と電気的に接続するためにフレキシブルプリント配線板13が機械的及び電気的に接続固定されているものである。接続構造体10は、画像等を表示する表示部10aと、ICチップ12やフレキシブルプリント配線板13が機械的及び電気的に接続され実装される実装部10bとを有する。
フレキシブルディスプレイ11は、前面板と背面板の2枚のフレキシブルフィルム14を有し、この2枚のフレキシブルフィルム14の間にマイクロカプセル層又は液晶層等の表示媒体層15を配置し、この表示媒体層15の周囲が封止材による封止部16で封止されている。フレキシブルフィルム14は、ヤング率が10GPa以下であり、2〜10GPaが好ましく、3〜5GPaが更に好ましい。ヤング率は、物質に応力を印加して変形させた場合に発生する単位あたりの歪み(変形率)から算出する物質固有に定数である。このヤング率が大きいと応力に対して変形しにくく、ヤング率が小さいと変形しやすい。このフレキシブルフィルム14は、ヤング率が小さく、72GPa程度のガラス基材に比べて荷重に対して変形しやすいものである。このフレキシブルフィルム14は、例えばポリイミド又はポリエチレンテレフタラートが挙げられる。図4に示すように、背面板のフレキシブルフィルム14に設けられた端子14aと、ICチップ12の端子12aやフレキシブルプリント配線板13の端子13aとが圧縮変形した導電性粒子5によって電気的に接続されている。
この接続構造体10は、次のような接続方法を利用して製造することができる。先ず、フレキシブルフィルム14の端子14aとICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aとの間に、異方性導電フィルム3を介在させ、フレキシブルフィルム14の端子14aとICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aとが対向するように、フレキシブルフィルム14上にICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13に搭載する搭載工程を行う。次に、ICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13をフレキシブルフィルム14に対して加圧し、フレキシブルフィルム14に設けられた端子14aとICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aとを異方性導電フィルム3で接続及び異方性導電フィルム3中の導電性粒子5を介して導通する接続工程とを行う。
接続構造体10の製造方法について、例えば硬化成分として熱可塑性樹脂を用いた絶縁性接着剤4に導電性粒子5を含有した異方性導電フィルム3を備えるフィルム積層体1を用いた場合について説明する。先ず、搭載工程では、フレキシブルフィルム14の端子14aと、ICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aとを接続する位置にフィルム積層体1の異方性導電フィルム3がフレキシブルフィルム14の端子14a側となるように置き、剥離フィルム2を剥がし取り、異方性導電フィルム3のみとした後、端子14aに異方性導電フィルム3を貼付ける。この貼付けは、例えば僅かに加圧しながら、異方性導電フィルム3に含まれる熱硬化性樹脂成分が硬化しない温度で加熱して行う。これにより、異方性導電フィルム3がフレキシブルフィルム14の端子14a上に位置決め固定される。
次に、異方性導電フィルム3上にICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13を搭載する。電子部品の搭載は、異方性導電フィルム3の位置合わせ状態を確認し、位置ずれ等が生じていない場合には、フレキシブルフィルム14の端子14aとICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aが対向するように、ICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13を異方性導電フィルム3を介してフレキシブルフィルム14上に搭載する。
次に、フレキシブルディスプレイ11のフレキシブルフィルム14と、ICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13とを機械的及び電気的に接続する接続工程は、加熱及び加圧可能な押圧ヘッドでICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13の上面からICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13をフレキシブルフィルム14に対して加熱しながら加圧し、異方性導電フィルム3を硬化させ、フレキシブルフィルム14の端子14aとICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aとを導電性粒子5を介して電気に接続し、フレキシブルフィルム14とICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13とを絶縁性接着剤4で機械的に接続することによって、フレキシブルディスプレイ11にICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13が接続された接続構造体10を得ることができる。
この接続工程の条件は、加熱温度が異方性導電フィルム3に含まれる熱硬化性樹脂の硬化温度以上の温度であり、端子14aと端子12a、13aと間から熱溶融した異方性導電フィルム3が排除され、導電性粒子5を挟持し得る圧力で加圧する。これにより、フレキシブルフィルム14とICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13とが導電性粒子5により電気的に接続され、絶縁性接着剤(バインダー)4により機械的に接続される。温度及び加圧の具体的な条件としては、温度120℃〜150℃程度、圧力1MPa〜5MPa程度である。
接続工程では、ICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13がフレキシブルフィルム14側に向って押圧ヘッドで加圧されることによって、これらの間に介在している導電性粒子5が圧縮変形し、フレキシブルフィルム14の端子14aに対して点で接触せず、面で接触するようになり、端子14aとの接触面積が増える。これにより、接続工程では、導電性粒子5から端子14aに伝わる単位面積あたりの圧力が軽減し、端子14aにかかる局所的な圧力を分散でき、端子14aにクラックが発生することを防止でき、またフレキシブルフィルム14までクラックが入ったり、破壊されることを防止できる。
以上のような接続構造体10の製造方法は、フレキシブルフィルム14の端子14aと、ICチップ12の端子12a及びフレキシブルプリント配線板13の端子13aとの間に介在させた異方性導電フィルム3に含有されている導電性粒子5の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることによって、フレキシブルフィルム14と電子部品とを接続する際、特に端子が点在しているICチップ12と接続する際に、フレキシブルフィルム14の端子14aにクラックが生じること及びフレキシブルフィルム14自体にクラックが入ったり、破壊されることを防止できる。したがって、この接続構造体10の製造方法では、フレキシブルフィルム14の端子14aにクラックを発生させず、またフレキシブルフィルム14自体にもクラックが生じず、また破壊することなく、フレキシブルフィルム14上に電子部品を実装することが可能である。
したがって、接続構造体10の製造方法は、フレキシブルディスプレイ11の表示媒体層15を有する表示部10aに近接又は表示部10aの直下に電子部品の実装領域が存在する場合において、実装部10bが狭額な実装領域であってもフレキシブルフィルム14の端子14aにクラックを発生させることなく、またフレキシブルフィルム14自体にもクラックを発生させることなく、または破壊しないため、表示部10aまでクラックや破壊が伝わらず、表示媒体層15による画像等の表示に影響が及ぶことを防止できる。
上述した接続構造体10は、フレキシブルディスプレイ11に1つのICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13を機械的及び電気的に接続した構成であるが、このことに限定されず、図5に示すような接続構造体20であってもよい。接続構造体20は、フレキシブルディスプレイ11のフレキシブルフィルム14に2つのICチップ12及びフレキシブルプリント配線板13を異方性導電フィルム3で機械的及び電気的に接続した構成である。この接続構造体20は、図示しない表示媒体層による画像等を表示する表示部20aと、ICチップ12やフレキシブルプリント配線板13が機械的及び電気的に接続され、実装された実装部20bとを有する。このような接続構造体20においても、上述した接続構造体10と同様に、フレキシブルフィルム14の端子14aにクラックが発生せず、またフレキシブルフィルム14自体を破壊されることがない。
また、上述した接続構造体10、20は、フレキシブルディスプレイ11の端子14aにクラック防止のための補強処理をする必要がなく、従来のフレキシブルディスプレイ11の製造工程と変わらず、製造コストが高くなることを防止できる。
接続構造体10、20としては、上述したフレキシブルディスプレイに限定されず、フレキシブルフィルム等のフレキシブル基材に対して、ICチップ12やフレキシブルプリント配線板13等の電子部品を接続したものであってもよい。
また、電子部品としては、ICチップ12やフレキシブルプリント配線板13に限らず、他の電子部品であってもよい。例えば、LSI(Large Scale Integration)チップ等のICチップ以外の半導体チップやチップコンデンサ等の半導体素子、液晶駆動用半導体実装材料(COF:Chip On Film)等を挙げることができる。また、電子部品は、フレキシブルディスプレイ11に2以上実装してもよく、電子部品の実装位置も図4及び図5に限られず、表示部10a、20aの直下に実装してもよい。
以上、本実施の形態について説明したが、本発明が前述の実施の形態に限定されるものでないことはいうまでもなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
次に、本発明の具体的な実施例について、実際に行った実験結果に基づいて説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
<異方性導電フィルムの作製>
(実施例1〜実施例5)
実施例1〜実施例5では、膜形成樹脂としてフェノキシ樹脂(YP50、新日鐵化学社製)を30質量部と、液状エポキシ樹脂(EP−828、三菱化学社製)20質量部と、イミダゾール系潜在性硬化剤(ノバキュア3941HP、旭化成イーマテリアルズ社製)、シランカップリング剤(A−187、モメンティブ・パフォーマンスマテリアルズ社製)2質量部、所定の硬度を有する導電性粒子10質量部、トルエンを固形分50%となるように加え、異方性導電組成物を調整した。続いて、前記異方性導電組成物を剥離基材上にバーコーターを用いて塗布し、オーブンを用いてトルエンを乾燥させ、膜厚20μmの異方性導電フィルムを作製した。
導電性粒子は、コア部を樹脂で形成し、そのコア部にニッケル(Ni)メッキ又はニッケル金(NiAu)メッキを施して作製した。具体的には、コア部の樹脂粒子は、ジビニルベンゼン、スチレン、ブチルメタクリレートの混合比を調整した溶液に、重合開始剤としてベンゾイソパーオキサイドを投入して高速で均一撹拌しながら加熱を行い、重合反応を行うことにより微粒子分散液を得た。そして、この微粒子分散液をろ過し減圧乾燥することにより微粒子の凝集体であるブロック体を得た。更に、このブロック体を粉砕することにより、種々の硬度を有する平均粒子径3.0μmのジビニルベンゼン系樹脂粒子を得た。
そして、以上のようにして得たジビニルベンゼン系樹脂粒子に対して、Niメッキ又はNiAuメッキを施して、ジビニルベンゼン系樹脂粒子にNiメッキ又はNiAuメッキを施した導電性粒子を作製した。
ジビニルベンゼン系樹脂粒子にNiメッキを施した導電性粒子は、3μmのジビニルベンゼン系樹脂粒子5gに、パラジウム触媒を浸漬法により担持させた。次に、この樹脂粒子に対し、硫酸ニッケル六水和物、次亜リン酸ナトリウム、クエン酸ナトリウム、トリエタノールアミン及び硝酸タリウムから調整された無電解ニッケルメッキ液(pH12、メッキ液温50℃)を用いて無電解ニッケルメッキを行い、種々のリン含有量を有するニッケルメッキ層(金属層)が表面に形成されたニッケル被膜樹脂粒子を導電粒子(樹脂コアNiメッキ粒子)として得た。得られた導電性粒子の平均粒子径は、3〜4μmの範囲内であった。
ジビニルベンゼン系樹脂粒子にNiAuメッキを施した導電性粒子は、塩化金酸ナトリウム10gをイオン交換水1000mLに溶解させた溶液に、ジビニルベンゼン系樹脂粒子12gを混合して水性懸濁液を調整した。得られた水性懸濁液に、チオ硫酸アンモニウム15g、亜硫酸アンモニウム80g、及びリン酸水素アンモニウム40gを投入することにより金メッキ浴を調整した。得られた金メッキ浴にヒドロキシルアミン4gを投入後、アンモニアを用いて金メッキ浴のpHを9に調整し、その浴温を60℃に15〜20分程度維持することにより、金ニッケルメッキ層(金属層)が表面に形成されたニッケル被膜樹脂粒子(樹脂コアNiAuメッキ粒子)として得た。得られた導電性粒子の平均粒子径は、3〜4μmの範囲内であった。
導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さは、それぞれ表1に示すようになった。導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さは、上述したように、室温において平滑表面を有する鋼板の上に導電性粒子を散布し、散布した導電性粒子の中から1個の導電性粒子を選択した。そして、微小圧縮試験機(例えば、PCT−200型:株式会社島津製作所製)が備えるダイアモンド製の直径50μmの円柱の平滑な端面を、選択した1個の導電性粒子に押し当てることによりこの導電性粒子を圧縮した。そして、図2に示す関係から、導電性粒子の30%圧縮時における圧縮変位S(mm)から荷重値F(kgf)を算出した。続いて、算出した荷重値F(kgf)及び圧縮変位S(mm)により、式(1)を用いて30%圧縮時の圧縮硬さK値を算出した。
(比較例1〜比較例3)
比較例1〜比較例3については、樹脂コアNiメッキ粒子の30%圧縮時の圧縮硬さが表1に示すようになるように導電性粒子を作製したこと以外は、実施例と同様にして異方性導電フィルムを作製した。
<クラックの発生試験>
クラックの発生試験には、表1に示すヤング率を有するポリイミド又はポリエチレンテレフタラート(PET)のフレキシブルフィルムを用いた。このフレキシブルフィルム上に、サイズが20mm×40mm×総厚み50.6μmであって、PI/Al/ITO=50μm/0.5μm/0.1μm、ピッチ50μmで配線を形成した。
次に、配線を形成したフレキシブルフィルム上に作製した異方性導電フィルムを載せ、異方性導電フィルムを介してICチップの端子と配線とが対向するように、ICチップを異方性導電フィルム上に裁置した。そして、ICチップの上面から押圧ヘッドで温度200℃、圧力600kgf/cmの条件で加熱、加圧して接続し、接続構造体を作製した。
そして、配線のクラックの発生は、目視により確認した。クラックの発生率は、100個の配線のうち、クラックが発生した割合を示す。クラック発生率を表1及び表2に示す。
<導通抵抗値の試験>
導通抵抗値の試験は、クラックの発生試験と同様にフレキシブルフィルムとフレキシブル配線基板を接続し、接続構造体を作製し、導通抵抗を測定した。フレキシブル配線基板には、サイズが20mm×40mm×50.5μmであり、PI/Al/ITO=50μm/0.5μm/0.1μm、ピッチ50μmで導通測定用配線を形成した測定用の特性評価用素子を使用した。85℃/85%RH環境下に125時間放置後(エージング後)の導通抵抗値を評価した。導通抵抗値は、デジタルマルチメーター(商品名:デジタルマルチメーター7561、横河電機社製)を用いて、4端子法にて電流1mAを流したときの導通抵抗値を測定した。エージング後の導通抵抗値が10Ω以下である場合には、抵抗が低いものとする。導通抵抗値の測定結果を表1及び表2に示す。
Figure 2013171656
Figure 2013171656
表1及び2に示す結果から、実施例1〜5では、配線にクラックが発生しなかったり、クラックが発生しても発生率は比較例2及び3に比べて低くなり、クラックの発生が抑制されていることがわかる。したがって、実施例1〜5から、異方性導電フィルム中の導電粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さを150〜400Kgf/mmの範囲内となるようにすることで、配線のクラック発生を抑制できることがわかる。
また、実施例1〜5では、導通抵抗値が比較例1と比べて低くなり、導通抵抗が低くなった。したがって、実施例1〜5から、異方性導電フィルム中の導電粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さを150〜400Kgf/mmの範囲内となるようにすることで、配線のクラック発生を抑制できると共に、導通抵抗値を低くできることがわかる。実施例の中でも、実施例2は、配線のクラックが発生せず、かつ導通抵抗値が低くなった。
これらの実施例に対して、比較例1は、導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さが100Kgf/mmであり、硬度が低いため、配線のクラックが発生しなかったが、配線への導電性粒子の食い込み不足が生じ、低い導通抵抗値を得ることができなかった。
比較例2及び3は、導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さが500Kgf/mm、720Kgf/mmであるため、硬度が高く硬いため、導電抵抗は低くなったが、配線クラックが発生した。比較例3は、比較例2よりも硬いため、配線のクラックがより生じやすくなった。
1 フィルム積層体、2 剥離フィルム、3 異方性導電フィルム、4 絶縁性接着剤、5 導電性粒子、10 接続構造体、10a 表示部、10b 実装部、11 フレキシブルディスプレイ、12 ICチップ、12a 端子、13 フレキシブルプリント配線板、13a 端子、14 フレキシブルフィルム、15 表示媒体層、16 封止部

Claims (13)

  1. フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子との間に異方性導電接続層を介在させて、上記フレキシブルディスプレイと上記電子部品とを接続及び導通した接続構造体の製造方法において、
    上記異方性導電接続層を介して、上記電子部品の端子が上記フレキシブルディスプレイに設けられた端子と対向するように上記電子部品を上記フレキシブルディスプレイ上に搭載する搭載工程と、
    上記電子部品を上記フレキシブルディスプレイに対して加圧し、上記フレキシブルディスプレイに設けられた端子と上記電子部品の端子とを上記異方性導電接続層で接続及び上記異方性導電接続層中の導電性粒子を介して導通する接続工程とを有し、
    上記導電性粒子は、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることを特徴とする接続構造体の製造方法。
  2. 上記フレキシブルディスプレイの基材に使用されるフレキシブルフィルムは、ヤング率が2〜10GPaであることを特徴とする請求項1記載の接続構造体の製造方法。
  3. 上記導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜350Kgf/mmであることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の接続構造体の製造方法。
  4. 上記フレキシブルディスプレイの基材に使用されるフレキシブルフィルムは、ポリイミド又はポリエチレンテレフタラートであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載の接続構造体の製造方法。
  5. フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを異方性導電接続層により接続する接続方法において、
    上記異方性導電接続層を介して、上記電子部品の端子が上記フレキシブルディスプレイに設けられた端子と対向するように上記電子部品を上記フレキシブルディスプレイ上に搭載する搭載工程と、
    上記電子部品を上記フレキシブルディスプレイに対して加圧し、上記フレキシブルディスプレイに設けられた端子と上記電子部品の端子とを上記異方性導電接続層で接続及び上記異方性導電接続層中の導電性粒子を介して導通する接続工程とを有し、
    上記導電性粒子は、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることを特徴とする接続方法。
  6. 上記フレキシブルディスプレイの基材に使用されるフレキシブルフィルムは、ヤング率が2〜10GPaであることを特徴とする請求項5記載の接続方法。
  7. 上記導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜350Kgf/mmであることを特徴とする請求項5又は請求項6記載の接続方法。
  8. 上記フレキシブルディスプレイに使用されるフレキシブルフィルムは、ポリイミド又はポリエチレンテレフタラートであることを特徴とする請求項5乃至請求項7のいずれか1項記載の接続方法。
  9. フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子とを接続する異方性導電接続材料において、
    絶縁性接着剤中に、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmである導電性粒子を含有することを特徴とする異方性導電接続材料。
  10. 上記導電性粒子の30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜350Kgf/mmであることを特徴とする請求項9記載の異方性導電接続材料。
  11. 上記導電性粒子が樹脂に金属メッキを施した粒子であることを特徴とする請求項9乃又は請求項10記載の異方性導電接続材料。
  12. 剥離基材上にフィルム状に形成されていることを特徴とする請求項9乃至請求項11のいずれか1項記載の異方性導電接続材料。
  13. フレキシブルディスプレイに設けられた端子と電子部品の端子との間に異方性導電接続層を介在させて、上記フレキシブルディスプレイと上記電子部品とを接続及び導通した接続構造体であって、
    上記異方性導電性層中の導電性粒子は、30%圧縮変形時の圧縮硬さが150〜400Kgf/mmであることを特徴とする接続構造体。
JP2012033850A 2012-02-20 2012-02-20 異方性導電フィルム、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法 Active JP6209313B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012033850A JP6209313B2 (ja) 2012-02-20 2012-02-20 異方性導電フィルム、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法
CN201380010151.9A CN104106182B (zh) 2012-02-20 2013-02-12 各向异性导电连接材料、连接结构体、连接结构体的制造方法和连接方法
KR1020147016359A KR101886909B1 (ko) 2012-02-20 2013-02-12 이방성 도전 접속 재료, 접속 구조체, 접속 구조체의 제조 방법 및 접속 방법
PCT/JP2013/053210 WO2013125388A1 (ja) 2012-02-20 2013-02-12 異方性導電接続材料、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法
TW102105710A TW201345091A (zh) 2012-02-20 2013-02-19 異向性導電連接材料、連接結構體、連接結構體之製造方法及連接方法
TW107115274A TWI647886B (zh) 2012-02-20 2013-02-19 Anisotropic conductive film, connection structure, connection structure manufacturing method and connection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012033850A JP6209313B2 (ja) 2012-02-20 2012-02-20 異方性導電フィルム、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013171656A true JP2013171656A (ja) 2013-09-02
JP6209313B2 JP6209313B2 (ja) 2017-10-04

Family

ID=49005576

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012033850A Active JP6209313B2 (ja) 2012-02-20 2012-02-20 異方性導電フィルム、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6209313B2 (ja)
KR (1) KR101886909B1 (ja)
CN (1) CN104106182B (ja)
TW (2) TWI647886B (ja)
WO (1) WO2013125388A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170033378A (ko) * 2014-10-28 2017-03-24 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 이방 도전성 필름 및 접속 구조체
JP2017069191A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 積水化学工業株式会社 導電性粒子、導電材料及び接続構造体
KR20170135919A (ko) * 2015-05-27 2017-12-08 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 이방 도전성 필름 및 접속 구조체
JP2019026821A (ja) * 2017-08-03 2019-02-21 トラス カンパニー リミテッドTruss Co.,Ltd 導電性粘着テープ
US10985128B2 (en) 2016-12-01 2021-04-20 Dexerials Corporation Anisotropic conductive film

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101702718B1 (ko) * 2014-11-20 2017-02-06 삼성에스디아이 주식회사 이방성 도전 필름, 이의 조성물 및 이를 이용한 반도체 장치
CN105070351A (zh) * 2015-06-30 2015-11-18 苏州纳微科技有限公司 一种柔韧导电微球及其应用
CN109075088B (zh) * 2016-05-09 2022-01-07 昭和电工材料株式会社 半导体装置的制造方法
KR101969879B1 (ko) 2018-11-15 2019-04-17 전인하 연속식 정량 공급장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008521963A (ja) * 2004-12-16 2008-06-26 チェイル インダストリーズ インコーポレイテッド 高分子樹脂微粒子、導電性微粒子及びこれを含んだ異方導電性接続材料
WO2009154138A1 (ja) * 2008-06-18 2009-12-23 株式会社ブリヂストン 接着剤組成物、それを用いたディスプレイパネルの製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1173817A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Ricoh Co Ltd 導電性粒子および異方導電性接着材および液晶表示装置
KR20040052126A (ko) * 2002-12-13 2004-06-19 엘지전선 주식회사 이방 도전성 접착제, 이를 이용한 회로 접속 방법 및 회로접속 구조체
JP5622137B2 (ja) 2007-10-29 2014-11-12 デクセリアルズ株式会社 電気的接続体及びその製造方法
JP2009242508A (ja) 2008-03-31 2009-10-22 Asahi Kasei E-Materials Corp 接着剤及び接合体

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008521963A (ja) * 2004-12-16 2008-06-26 チェイル インダストリーズ インコーポレイテッド 高分子樹脂微粒子、導電性微粒子及びこれを含んだ異方導電性接続材料
WO2009154138A1 (ja) * 2008-06-18 2009-12-23 株式会社ブリヂストン 接着剤組成物、それを用いたディスプレイパネルの製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170033378A (ko) * 2014-10-28 2017-03-24 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 이방 도전성 필름 및 접속 구조체
KR20170135919A (ko) * 2015-05-27 2017-12-08 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 이방 도전성 필름 및 접속 구조체
KR101999913B1 (ko) 2015-05-27 2019-07-12 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 이방 도전성 필름 및 접속 구조체
JP2017069191A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 積水化学工業株式会社 導電性粒子、導電材料及び接続構造体
US10985128B2 (en) 2016-12-01 2021-04-20 Dexerials Corporation Anisotropic conductive film
JP2019026821A (ja) * 2017-08-03 2019-02-21 トラス カンパニー リミテッドTruss Co.,Ltd 導電性粘着テープ

Also Published As

Publication number Publication date
TWI647886B (zh) 2019-01-11
KR101886909B1 (ko) 2018-08-08
WO2013125388A1 (ja) 2013-08-29
TW201832415A (zh) 2018-09-01
TW201345091A (zh) 2013-11-01
JP6209313B2 (ja) 2017-10-04
CN104106182A (zh) 2014-10-15
KR20140128294A (ko) 2014-11-05
CN104106182B (zh) 2019-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6209313B2 (ja) 異方性導電フィルム、接続構造体、接続構造体の製造方法及び接続方法
KR20110034606A (ko) 도전성 입자, 이방성 도전 필름, 접합체 및 접속 방법
JP6324746B2 (ja) 接続体、接続体の製造方法、電子機器
WO2012137754A1 (ja) 異方性導電フィルム、接合体の製造方法、及び接合体
WO2013129437A1 (ja) 接続体の製造方法、及び異方性導電接着剤
JP3624818B2 (ja) 異方性導電接続材料、接続体、およびその製造方法
JP2015135878A (ja) 接続体、接続体の製造方法、接続方法、異方性導電接着剤
JP5608426B2 (ja) 異方性導電膜の製造方法
JP2010251336A (ja) 異方性導電フィルム及びこれを用いた接続構造体の製造方法
JP5816456B2 (ja) 異方性導電接続材料、フィルム積層体、接続方法及び接続構造体
JP5798848B2 (ja) 接続方法及び接続構造体の製造方法
JP6257303B2 (ja) 接続体の製造方法、接続方法、及び接続体
WO2015146434A1 (ja) 導電性粒子、導電性接着剤、接続体の製造方法、電子部品の接続方法、及び接続体
JP5608504B2 (ja) 接続方法及び接続構造体
JP6562750B2 (ja) 電子部品、接続体、接続体の製造方法、電子部品の接続方法、緩衝材
CN105430901B (zh) 电子部件及其连接方法、连接体及其制造方法、缓冲材料
JP6434210B2 (ja) 電子部品、接続体、接続体の製造方法及び電子部品の接続方法
JP2011211245A (ja) 接続構造体の製造方法及び接続構造体並びに接続方法
JP5890614B2 (ja) 接続方法及び接続構造体並びに接続構造体の製造方法
JP2012015544A (ja) 接続構造体の製造方法及び接続構造体並びに接続方法
CN110246767B (zh) 电子部件、连接体、连接体的制造方法及电子部件的连接方法
JP2019140413A (ja) 接続体、接続体の製造方法、接続方法
JP2019021947A (ja) 電子部品、接続体、接続体の製造方法及び電子部品の接続方法
TW202028390A (zh) 連接構造體之製造方法及連接膜
JP2019047140A (ja) 電子部品、接続体、接続体の製造方法及び電子部品の接続方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150908

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151029

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160405

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170414

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170621

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170911

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6209313

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250