JP2013166672A - 単結晶の製造方法および製造装置 - Google Patents
単結晶の製造方法および製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013166672A JP2013166672A JP2012031906A JP2012031906A JP2013166672A JP 2013166672 A JP2013166672 A JP 2013166672A JP 2012031906 A JP2012031906 A JP 2012031906A JP 2012031906 A JP2012031906 A JP 2012031906A JP 2013166672 A JP2013166672 A JP 2013166672A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat insulating
- insulating material
- single crystal
- crucible
- tapered guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 136
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims abstract description 177
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 46
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 102
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 28
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 28
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- NFFIWVVINABMKP-UHFFFAOYSA-N methylidynetantalum Chemical compound [Ta]#C NFFIWVVINABMKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910003468 tantalcarbide Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 8
- 239000007770 graphite material Substances 0.000 claims 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 74
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 20
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 20
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 11
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 4
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000005092 sublimation method Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000002500 effect on skin Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002149 energy-dispersive X-ray emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Abstract
【解決手段】原料2を収納する収納部を有する坩堝1内に、収納部側へ拡がったテーパー状のガイド3を配置する工程と、テーパー状のガイド3と坩堝1の内壁との空間に配置した断熱材5を密閉する断熱材保護部6を配置する工程と、原料2を加熱し、原料2を昇華させることにより、原料2に対向させて配置した種結晶4上に単結晶を成長させる工程と、を備えることを特徴とする単結晶の製造方法。
【選択図】図1
Description
図1は、この発明の実施の形態1における単結晶製造装置の断面を示す図である。例えば、単結晶としてはSiCが考えられる。はじめに、この実施の形態1におけるSiCの単結晶の製造装置の全体構成について説明する。図1に示すように、坩堝セット10は、坩堝1、単結晶の原料2、テーパー状のガイド3、単結晶の種結晶4、第一のカーボン断熱材5a(カーボン断熱材5)、第一の断熱材カバー6a(断熱材カバー6)、台座7、坩堝蓋9で構成される。収納部は、坩堝1内で原料2を収納する場所である。
図4は、この発明の実施の形態2における単結晶製造装置の断面を示す図である。はじめに、この実施の形態2における単結晶の製造装置の全体構成について説明する。図4に示すように、坩堝セット20は、坩堝1、単結晶の原料2、テーパー状のガイド3、単結晶の種結晶4、第一のカーボン断熱材5a、第二のカーボン断熱材5b、第一の断熱材カバー6a、第二の断熱材カバー6b、台座7、坩堝蓋9で構成される。
実施の形態3.
Claims (16)
- 原料を収納する収納部を有する坩堝内に、前記収納部側へ拡がったテーパー状のガイドを配置する工程と、前記テーパー状のガイドと前記坩堝の内壁との空間に配置した断熱材を密閉する断熱材保護部を配置する工程と、前記原料を加熱し、前記原料を昇華させることにより、前記原料に対向させて配置した種結晶上に単結晶を成長させる工程と、を備えることを特徴とする単結晶の製造方法。
- 前記断熱材保護部の前記断熱材と対向する面の反対面側に、第二の断熱材を配置する工程と、前記第二の断熱材を覆うように第二の断熱材保護部を配置する工程と、を備えることを特徴とする請求項1記載の単結晶の製造方法。
- 前記断熱材保護部と前記テーパー状のガイドを一体成形したことを特徴とする請求項1または請求項2記載の単結晶の製造方法。
- 前記断熱材保護部の前記断熱材と対向する面側に、グラファイトシートを固着したことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項記載の単結晶の製造方法。
- 前記第二の断熱材保護部の前記第二の断熱材と対向する面側に、グラファイトシートを固着したことを特徴とする請求項2ないし請求項4のいずれか1項記載の単結晶の製造方法。
- 前記テーパー状のガイドおよび前記断熱材保護部は、密度が1.89〜1.95g/cm3のグラファイト材で形成されたことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項記載の単結晶の製造方法。
- 前記断熱材保護部は、炭化タンタル(TaC)あるいは炭化タンタル(TaC)を用いて表面保護されたグラファイト材で形成されたことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項記載の単結晶の製造方法。
- 前記種結晶の中心部のインゴットの高さ(H)と前記種結晶の端部のインゴットの高さ(h)との比(H/h)は、1.01〜1.1であることを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか1項記載の単結晶の製造方法。
- 原料を収納する収納部を備えた坩堝と、前記収納部に対向させて種結晶を配置する台座と、前記台座側から前記収納部側へ拡がったテーパー状のガイドと、前記テーパー状のガイドと前記坩堝の内壁との空間に配置した断熱材を密閉する断熱材保護部と、を備えたことを特徴とする単結晶の製造装置。
- 前記断熱材保護部の前記断熱材と対向する面の反対面側に配置した第二の断熱材と、前記第二の断熱材を覆うように配置した第二の断熱材保護部とを備えることを特徴とする請求項9記載の単結晶の製造装置。
- 前記断熱材保護部と前記テーパー状のガイドを一体成形したことを特徴とする請求項9または請求項10記載の単結晶の製造装置。
- 前記断熱材保護部の前記断熱材と対向する面側に、グラファイトシートを固着したことを特徴とする請求項9ないし請求項11のいずれか1項記載の単結晶の製造装置。
- 前記第二の断熱材保護部の前記第二の断熱材と対向する面側に、グラファイトシートを固着したことを特徴とする請求項10ないし請求項12のいずれか1項記載の単結晶の製造装置。
- 前記テーパー状のガイドおよび前記断熱材保護部は、密度が1.89〜1.95g/cm3のグラファイト材で形成されたことを特徴とする請求項9ないし請求項13のいずれか1項記載の単結晶の製造装置。
- 前記断熱材保護部は、炭化タンタル(TaC)あるいは炭化タンタル(TaC)を用いて表面保護されたグラファイト材で形成されたことを特徴とする請求項9ないし請求項14のいずれか1項記載の単結晶の製造装置。
- 前記種結晶の中心部のインゴットの高さ(H)と前記種結晶の端部のインゴットの高さ(h)との比(H/h)は、1.01〜1.1であることを特徴とする請求項9ないし請求項15のいずれか1項記載の単結晶の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012031906A JP5699963B2 (ja) | 2012-02-16 | 2012-02-16 | 単結晶の製造方法および製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012031906A JP5699963B2 (ja) | 2012-02-16 | 2012-02-16 | 単結晶の製造方法および製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013166672A true JP2013166672A (ja) | 2013-08-29 |
JP5699963B2 JP5699963B2 (ja) | 2015-04-15 |
Family
ID=49177419
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012031906A Active JP5699963B2 (ja) | 2012-02-16 | 2012-02-16 | 単結晶の製造方法および製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5699963B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015063435A (ja) * | 2013-09-26 | 2015-04-09 | 三菱電機株式会社 | 単結晶インゴットの製造方法、単結晶基板の製造方法、および半導体装置の製造方法 |
DE102015212323A1 (de) | 2014-07-04 | 2016-01-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Schmelztiegel und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls |
JP2016011215A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | 三菱電機株式会社 | 単結晶の製造装置および製造方法 |
JP2016017003A (ja) * | 2014-07-04 | 2016-02-01 | 住友電気工業株式会社 | 坩堝および単結晶の製造方法 |
JP2017069334A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 新日鐵住金株式会社 | 炭化珪素単結晶基板の製造方法 |
WO2018055917A1 (ja) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | 昭和電工株式会社 | SiC単結晶成長用坩堝 |
CN111593401A (zh) * | 2019-02-20 | 2020-08-28 | 硅晶体有限公司 | 块状SiC单晶的生成方法及其生长装置 |
JP2022041903A (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-11 | セニック・インコーポレイテッド | 炭化珪素インゴットの製造方法及びそれによって製造された炭化珪素インゴット |
DE112017005752B4 (de) | 2016-11-15 | 2022-06-30 | Showa Denko K.K. | SiC-Einkristallverbund und SiC-Block |
US11453958B2 (en) | 2018-04-26 | 2022-09-27 | Showa Denko K.K. | Heat-insulating shield member and single crystal manufacturing apparatus having the same |
CN115537929A (zh) * | 2022-12-06 | 2022-12-30 | 浙江晶越半导体有限公司 | 一种用于气相升华法生长氮化铝的晶体生长装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005225710A (ja) * | 2004-02-12 | 2005-08-25 | Denso Corp | SiC単結晶の製造方法およびSiC単結晶の製造装置 |
JP2009078967A (ja) * | 2008-11-04 | 2009-04-16 | Toyo Tanso Kk | 高熱伝導黒鉛材料及びその製造方法 |
JP2009274933A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | 単結晶成長装置および単結晶の製造方法 |
JP2010285309A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Bridgestone Corp | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
JP2011011926A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Denso Corp | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
JP2011093724A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Mitsubishi Electric Corp | 単結晶の製造方法および製造装置 |
-
2012
- 2012-02-16 JP JP2012031906A patent/JP5699963B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005225710A (ja) * | 2004-02-12 | 2005-08-25 | Denso Corp | SiC単結晶の製造方法およびSiC単結晶の製造装置 |
JP2009274933A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | 単結晶成長装置および単結晶の製造方法 |
JP2009078967A (ja) * | 2008-11-04 | 2009-04-16 | Toyo Tanso Kk | 高熱伝導黒鉛材料及びその製造方法 |
JP2010285309A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Bridgestone Corp | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
JP2011011926A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Denso Corp | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
JP2011093724A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Mitsubishi Electric Corp | 単結晶の製造方法および製造装置 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
JPN6014040476; S. K. Lilov: 'Study of the equilibrium processes in the gas phase during silicon carbide sublimation' Mater. Sci. Eng. B Vol. 21, 19930920, pp. 65-69, Elsevier Seqouoia * |
JPN7014002774; 東洋炭素 CARBON-GRAPHITE PRODUCTS製品総合カタログ , 201309, p. 10, 東洋炭素株式会社 * |
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015063435A (ja) * | 2013-09-26 | 2015-04-09 | 三菱電機株式会社 | 単結晶インゴットの製造方法、単結晶基板の製造方法、および半導体装置の製造方法 |
JP2016011215A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | 三菱電機株式会社 | 単結晶の製造装置および製造方法 |
DE102015212323A1 (de) | 2014-07-04 | 2016-01-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Schmelztiegel und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls |
JP2016017003A (ja) * | 2014-07-04 | 2016-02-01 | 住友電気工業株式会社 | 坩堝および単結晶の製造方法 |
JP2017069334A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 新日鐵住金株式会社 | 炭化珪素単結晶基板の製造方法 |
WO2018055917A1 (ja) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | 昭和電工株式会社 | SiC単結晶成長用坩堝 |
JP2018048053A (ja) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | 昭和電工株式会社 | SiC単結晶成長用坩堝 |
CN109715868A (zh) * | 2016-09-23 | 2019-05-03 | 昭和电工株式会社 | SiC单晶生长用坩埚 |
DE112017005752B4 (de) | 2016-11-15 | 2022-06-30 | Showa Denko K.K. | SiC-Einkristallverbund und SiC-Block |
US11618969B2 (en) | 2016-11-15 | 2023-04-04 | Showa Denko K.K. | SiC single crystal composite and SiC ingot |
US11453958B2 (en) | 2018-04-26 | 2022-09-27 | Showa Denko K.K. | Heat-insulating shield member and single crystal manufacturing apparatus having the same |
DE102019109551B4 (de) | 2018-04-26 | 2024-05-02 | Resonac Corporation | Wärmeisolierendes abschirmungselement und einkristall-herstellungsvorrichtung, welche dieses aufweist |
CN111593401A (zh) * | 2019-02-20 | 2020-08-28 | 硅晶体有限公司 | 块状SiC单晶的生成方法及其生长装置 |
CN111593401B (zh) * | 2019-02-20 | 2024-04-09 | 硅晶体有限公司 | 块状SiC单晶的生成方法及其生长装置 |
JP2022041903A (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-11 | セニック・インコーポレイテッド | 炭化珪素インゴットの製造方法及びそれによって製造された炭化珪素インゴット |
JP7057014B2 (ja) | 2020-08-31 | 2022-04-19 | セニック・インコーポレイテッド | 炭化珪素インゴットの製造方法及びそれによって製造された炭化珪素インゴット |
US11339497B2 (en) | 2020-08-31 | 2022-05-24 | Senic Inc. | Silicon carbide ingot manufacturing method and silicon carbide ingot manufactured thereby |
CN115537929A (zh) * | 2022-12-06 | 2022-12-30 | 浙江晶越半导体有限公司 | 一种用于气相升华法生长氮化铝的晶体生长装置 |
CN115537929B (zh) * | 2022-12-06 | 2023-03-10 | 浙江晶越半导体有限公司 | 一种用于气相升华法生长氮化铝的晶体生长装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5699963B2 (ja) | 2015-04-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5699963B2 (ja) | 単結晶の製造方法および製造装置 | |
CN102630257B (zh) | 碳化硅单晶的制造方法 | |
TWI750628B (zh) | 碳化矽晶圓以及碳化矽晶圓之製備方法 | |
JP5560862B2 (ja) | 炭化珪素単結晶インゴットの製造装置 | |
JP4985625B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
JP2013103848A (ja) | SiC単結晶の製造方法 | |
JP5124402B2 (ja) | 炭化珪素単結晶材の焼鈍方法 | |
JP4523733B2 (ja) | 炭化珪素単結晶インゴットの製造方法並びに炭化珪素単結晶育成用種結晶の装着方法 | |
TW202113954A (zh) | 碳化矽基板的製造方法 | |
KR20120025554A (ko) | 탄화규소 결정의 제조 방법, 탄화규소 결정, 및 탄화규소 결정의 제조 장치 | |
WO2019171901A1 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
JP5293732B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
JP6119397B2 (ja) | 炭化珪素単結晶育成用種結晶基板 | |
JP5843725B2 (ja) | 単結晶の製造方法 | |
JP2015040146A (ja) | 単結晶製造装置及びこれを用いた単結晶製造方法 | |
JP2008280196A (ja) | 種結晶の固定方法 | |
TWI772866B (zh) | 晶圓以及其製造方法 | |
JP5602093B2 (ja) | 単結晶の製造方法および製造装置 | |
US20110217224A1 (en) | Silicon carbide crystal, method of manufacturing the same, apparatus for manufacturing the same, and crucible | |
JP4494856B2 (ja) | 炭化珪素単結晶成長用種結晶とその製造方法及びそれを用いた結晶成長方法 | |
JP5418236B2 (ja) | 窒化物半導体結晶の製造装置、窒化物半導体結晶の製造方法および窒化アルミニウム結晶 | |
JP5761264B2 (ja) | SiC基板の製造方法 | |
JP5867913B2 (ja) | 炭化珪素膜のcvd装置 | |
JP2012036035A (ja) | 炭化ケイ素単結晶の製造方法 | |
JP2009102187A (ja) | 炭化珪素単結晶育成用坩堝、及びこれを用いた炭化珪素単結晶の製造方法、並びに炭化珪素単結晶インゴット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131017 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140320 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20140326 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140415 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140603 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140924 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141024 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150120 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150202 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5699963 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |