JP2013097853A - セルフリフレッシュパルス生成回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】セルフリフレッシュパルス生成回路は、セルフリフレッシュモード入り後初期期間の終了時点でレベルが遷移する制御信号を生成する制御信号生成部と、前記セルフリフレッシュモードにおいて、前記制御信号に応答して、周期が制御されたセルフリフレッシュパルスを生成するセルフリフレッシュパルス生成部とを備える。
【選択図】図3
Description
3 セルフリフレッシュパルス生成部
21 制御信号出力部
29 アドレスカウンタ
31 パルス生成部
33 セルフリフレッシュパルス出力部
Claims (21)
- セルフリフレッシュモード入り後初期期間の終了時点でレベルが遷移する制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記セルフリフレッシュモードにおいて、前記制御信号に応答して、周期が制御されたセルフリフレッシュパルスを生成するセルフリフレッシュパルス生成部とを備えることを特徴とするセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記初期期間は、セルフリフレッシュモードに入った時点からロウアドレスのビットがすべてカウントされる時点までであることを特徴とする請求項1に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記制御信号生成部は、
前記セルフリフレッシュパルスに応答して、前記ロウアドレスをカウントするアドレスカウンタと、
セルフリフレッシュ信号および前記ロウアドレスに応答して、制御信号を出力する制御信号出力部とを備えることを特徴とする請求項1に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記アドレスカウンタは、前記セルフリフレッシュパルスが発生するたびに、ロウアドレスを1ビットずつカウントすることを特徴とする請求項3に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記制御信号出力部は、
前記セルフリフレッシュ信号に応答して、第1レベルパルスを生成する第1レベルパルス生成部と、
前記ロウアドレスに応答して、第2レベルパルスを生成する第2レベルパルス生成部と、
前記第1レベルパルスおよび前記第2レベルパルスに応答して、前記制御信号を駆動して出力する出力部とを備えることを特徴とする請求項3に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記出力部は、
前記第1レベルパルスに応答して、ノードをプルアップ駆動するプルアップ駆動部と、
前記第2レベルパルスに応答して、前記ノードをプルダウン駆動するプルダウン駆動部と、
前記ノードの信号をラッチするラッチ部とを備えることを特徴とする請求項5に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記ラッチ部の出力信号をバッファリングするバッファをさらに備えることを特徴とする請求項6に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記セルフリフレッシュパルス生成部は、
セルフリフレッシュ信号に応答して、第1パルスおよび第2パルスを生成するパルス生成部と、
前記制御信号に応答して、前記第1パルスまたは前記第2パルスを選択的にセルフリフレッシュパルスとして出力するセルフリフレッシュパルス出力部とを備えることを特徴とする請求項1に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記第1パルスの周期は、前記第2パルスの周期より短いことを特徴とする請求項8に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- セルフリフレッシュ信号に応答して、第1パルスおよび第2パルスを生成するパルス生成部と、
セルフリフレッシュモード入り後初期期間の終了時点でレベルが遷移する制御信号に応答して、前記第1パルスまたは前記第2パルスを選択的にセルフリフレッシュパルスとして出力するセルフリフレッシュパルス出力部とを備えることを特徴とするセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記第1パルスの周期は、前記第2パルスの周期より短いことを特徴とする請求項10に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記初期期間は、セルフリフレッシュモードに入った時点からロウアドレスのビットがすべてカウントされる時点までであることを特徴とする請求項10に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記制御信号を生成する制御信号生成部をさらに備えることを特徴とする請求項10に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記制御信号生成部は、
前記セルフリフレッシュパルスに応答して、前記ロウアドレスをカウントするアドレスカウンタと、
セルフリフレッシュ信号および前記ロウアドレスに応答して、制御信号を出力する制御信号出力部とを備えることを特徴とする請求項13に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記アドレスカウンタは、前記セルフリフレッシュパルスが発生するたびに、ロウアドレスを1ビットずつカウントする請求項14に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- 前記制御信号出力部は、
前記セルフリフレッシュ信号に応答して、第1レベルパルスを生成する第1レベルパルス生成部と、
前記ロウアドレスに応答して、第2レベルパルスを生成する第2レベルパルス生成部と、
前記第1レベルパルスおよび前記第2レベルパルスに応答して、前記制御信号を駆動して出力する出力部とを備えることを特徴とする請求項14に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記出力部は、
前記第1レベルパルスに応答して、ノードをプルアップ駆動するプルアップ駆動部と、
前記第2レベルパルスに応答して、前記ノードをプルダウン駆動するプルダウン駆動部と、
前記ノードの信号をラッチするラッチ部とを備えることを特徴とする請求項16に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。 - 前記ラッチ部の出力信号をバッファリングするバッファをさらに備えることを特徴とする請求項17に記載のセルフリフレッシュパルス生成回路。
- メモリのセルに対してセルフリフレッシュ動作を繰り返し行うための周期を示すセルフリフレッシュパルスを生成するセルフリフレッシュパルス生成回路であって、
セルフリフレッシュモード入り後初期期間の終了時点で論理レベルが変化する制御信号を生成する制御信号生成部と、
前記セルフリフレッシュモードにおいて、前記制御信号の論理レベルの変化に応じて周期が変化するセルフリフレッシュパルスを生成するセルフリフレッシュパルス生成部と、
を備えることを特徴とするセルフリフレッシュパルス生成回路。 - セルフリフレッシュパルス生成装置により行われるセルフリフレッシュパルス生成方法であって、
セルフリフレッシュモード入り後初期期間の終了時点でレベルが遷移する制御信号を生成するステップと、
前記セルフリフレッシュモードにおいて、前記制御信号に応答して、周期が制御されたセルフリフレッシュパルスを生成するステップとを含むことを特徴とするセルフリフレッシュパルス生成方法。 - コンピュータに、
セルフリフレッシュモード入り後初期期間の終了時点でレベルが遷移する制御信号を生成するステップと、
前記セルフリフレッシュモードにおいて、前記制御信号に応答して、周期が制御されたセルフリフレッシュパルスを生成するステップと、を実行させることを特徴とするセルフリフレッシュパルス生成プログラム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2011-0114797 | 2011-11-04 | ||
KR1020110114797A KR20130049656A (ko) | 2011-11-04 | 2011-11-04 | 셀프리프레쉬펄스 생성회로 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013097853A true JP2013097853A (ja) | 2013-05-20 |
Family
ID=48206290
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012048027A Pending JP2013097853A (ja) | 2011-11-04 | 2012-03-05 | セルフリフレッシュパルス生成回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8780661B2 (ja) |
JP (1) | JP2013097853A (ja) |
KR (1) | KR20130049656A (ja) |
CN (1) | CN103093806B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10037787B2 (en) * | 2016-09-06 | 2018-07-31 | Etron Technology, Inc. | Circuit for outputting information of a memory circuit during a self-refresh mode and related method thereof |
CN106373601B (zh) * | 2016-10-19 | 2019-02-19 | 成都益睿信科技有限公司 | 一种自刷新的脉冲发生器 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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TWI414994B (zh) * | 2009-09-24 | 2013-11-11 | Ind Tech Res Inst | 可重組態處理裝置及其系統 |
-
2011
- 2011-11-04 KR KR1020110114797A patent/KR20130049656A/ko not_active Application Discontinuation
- 2011-12-27 US US13/337,471 patent/US8780661B2/en active Active
-
2012
- 2012-02-14 CN CN201210032524.XA patent/CN103093806B/zh active Active
- 2012-03-05 JP JP2012048027A patent/JP2013097853A/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130049656A (ko) | 2013-05-14 |
US20130114348A1 (en) | 2013-05-09 |
US8780661B2 (en) | 2014-07-15 |
CN103093806A (zh) | 2013-05-08 |
CN103093806B (zh) | 2017-04-12 |
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A621 | Written request for application examination |
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A521 | Written amendment |
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