JP2012199262A - 回路基板、接続構造体及び回路基板の接続方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】回路基板であるフレキシブル配線基板123は、配線と、配線の端部を構成する出力端子2を有する。出力端子2は、断面台形状の凸条をなし、且つ、断面における上底をw、高さをhとしたとき、w/h比が0.1以上2.0以下に規定されている。また、断面台形状の接続端子2は先端が平坦であるため、その先端面を、他の回路基板の接続端子2の表面に広い接続面積で安定に当接させることができる。
【選択図】図2
Description
これらの接続構造体では、電子機器の高密度化に伴って配線幅や配線ピッチの狭小化(微細化)が進められ、それに伴って配線同士の接続部では接続抵抗や接続信頼性を確保するのが難しい状況になっている。
また、断面が三角状の接続端子は、端子をエッチングで細らせて形成されるが、この際、オーバーエッチングにより三角の頂点がなくなって丸状になったり、端子全体が消失したりするリスクが高く、実現性に乏しい。
また、接続端子のw/h比が所定の範囲に規定されていることにより、接続端子の両側面が適度な傾斜を有している。これにより、該回路基板の接続端子形成領域を、接着剤が供給された他の回路基板の接続端子形成領域に接合して接続構造体を形成する際、接続端子が、該接続端子と他の回路基板の接続端子との間の接着剤をかき出すように作用し、接着剤が、端子間から効率良く排除される。このため、該接続端子の先端面と、他の接続端子の表面とを低い接続抵抗で接続することが可能となる。
このため、この回路基板の接続方法によって接続された接続構造体は、接続端子間の接続抵抗が低く、また、高い接続信頼性を得ることが可能となる。
図1は本発明に係る接続構造体を適用した液晶表示装置を示す模式図である。まず、図1を用いて本発明に係る接続構造体の適用例を説明する。
液晶表示装置100は、図1に示すように、液晶パネル110と、電子部品(液晶駆動用ICチップ)121と、フレキシブル配線基板123とを有して構成されている。なお、この液晶表示装置100には、図示しないものの、偏光板、反射シート、バックライト等の付帯部材が、必要に応じて適宜設けられるものとする。また、液晶表示装置100は、電子部品121を有さない場合もある。
ここで、本実施形態では、基板111及び入力配線111dが、本発明の回路基板(フレキシブル配線基板123)が実装される第2回路基板を構成し、この第2回路基板とフレキシブル配線基板123(第1回路基板)とが、本発明の接続構造体を構成する。
本実施形態では、フレキシブル配線基板123の構成、特に、出力端子2の形状に特徴がある。これについては、後に詳述する。
次に、液晶表示装置100に適用された、本発明の接続構造体の実施形態1について説明する。
図2は、実施形態1に係る接続構造体を出力端子の幅方向に切った断面図(図1におけるA−A線断面図)であり、図3は、図2に示す接続構造体が備えるフレキシブル配線基板123を拡大して示す要部拡大斜視図である。
フレキシブル配線基板123は、柔軟性があり、大きく変形させることが可能なプリント基板である。より詳しくは、フレキシブル配線基板123は、ポリイミド膜やフォトソルダーレジスト膜等の絶縁膜からなるフィルム状の可撓性基材(基材)3上に、複数の配線が形成されてなり、各配線の一端部が出力端子2として機能する。配線及び出力端子2は、例えば可撓性基材3に設けられた銅箔がエッチング等によってパターニングされて形成されている。なお、各出力端子2には、さらにその表面に金メッキが施されていても良い。これにより、入力端子111dyとの接続抵抗を安定化することができる。
次に、本実施形態の回路基板の接続方法を、図2に示す接続構造体を製造する場合を例にして説明する。
実施形態1に係る回路基板の接続方法は、第2回路基板5の第2端子形成領域S2に、導電粒子を実質的に含まない接着剤を供給する第1工程と、第2回路基板5の接着剤が供給された面に、フレキシブル配線基板123の第1端子形成領域S1を、入力端子111dyと出力端子2とが対応するように重ね、この状態で、フレキシブル配線基板123と第2回路基板5とを、入力端子111dyに出力端子2が当接するように圧着する第2工程とを有する。以下、工程順に説明する。
図2に示す接続構造体1を製造するには、まず、図4(a)に示すように、第2回路基板5と、フレキシブル配線基板123とを用意する。そして、入力端子111dyを上側に向けて第2回路基板5を基台(図示せず)上に載置し、第2端子形成領域S2に樹脂層6の形成材料である接着剤6aとして、NCP又はNCFを配置する。
なお、本実施形態では接着剤6a(NCP、NCF)が熱硬化性樹脂からなるものとして説明する。
次に、第2回路基板5の第2端子形成領域S2に対してフレキシブル配線基板123の第1端子形成領域S1を位置合わせし、図4(b)に示すように複数の入力端子111dyに対してそれぞれに対応する出力端子2が当接するように、フレキシブル配線基板123を第2回路基板5上に配置する。その際、出力端子2の接続面(先端側の面)全体が入力端子111dyの接続面上に載るように、フレキシブル配線基板123を配置する。
なお、圧着によって第2回路基板5とフレキシブル配線基板123との間からはみ出た接着剤6a(熱硬化性樹脂)については、取り除いておく。
以上の工程により、図1に示した本実施形態の接続構造体1が得られる。
以上により、この回路基板の接続方法によって接続された接続構造体1は、入力端子111dyと出力端子2との間の接続抵抗が低く、また、高い接続信頼性を得ることが可能となる。
次に、実施形態2に係る回路基板、接続構造体及び回路基板の接続方法について説明する。
図5は、実施形態2に係る接続構造体が備えるフレキシブル配線基板を示す要部拡大斜視図であり、図6は、図5に示すフレキシブル配線基板の接続端子に設けられた凹部の寸法を説明するための図であり、接続端子を延在方向に切った模式的な断面図である。
なお、実施形態2においては、実施形態1との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
複数の凹部2aは、出力端子2の延在方向に沿って略等しいピッチで列設され、それぞれ、先端面側と両側とが開放しており、延在方向における長さが略等しい長さとされている。
そして、本実施形態では、図6に示すように、隣り合う凹部2a間の凸部2bの長さをL、凹部同士のピッチをPとしたとき、L/P比が0.25以上1.0未満に規定されている。
また、実施形態2の接続構造体では、特に、フレキシブル配線基板123の各出力端子2に、凹部2aが設けられている。これにより、出力端子2の凸部2bの面積が小さくなるため、前述の端子接続工程で、フレキシブル配線基板123の第1端子形成領域S1を、接着剤が供給された第2回路基板5の第2端子形成領域S2に接合する際、出力端子2の凸部2bによる接着剤6aをかき分ける作用を高めることができ、出力端子2を円滑に接着剤6a中に進入させることができ、凸部2bの先端面を入力端子111dyの表面に接着剤を介さずに当接させることができる。
一方、出力端子2の凹部2aでは、その内側に接着剤6aが貯留する。この凹部2a内に貯留する接着剤6aによって、出力端子2が入力端子111dyに直接接着される。このため、接着剤6aによって、凸部2bと入力端子111dyとの当接状態を確実に保持されるため、より優れた接続信頼性を得ることが可能となる。
例えば、本実施形態では、第1回路基板がフレキシブル配線基板である場合を例にして説明したが、第1回路基板はリジッド回路基板であっても構わない。リジッド回路基板のベース材料としては、例えばガラスやシリコン等の無機材料が用いられる。
(実験例1)
まず、フレキシブル配線基板と第2回路基板とを用意した。ここで、フレキシブル配線基板は、可撓性基材上に銅よりなる配線が形成されたものであり、ここでは、接続端子におけるw/h比が0.1、L/P比が1.0、0.5、0.25の3種類を使用した。なお、L/P比が0.5、0.25のフレキシブル配線基板は、接続端子に凹部が設けられているもの、L/P比が1.0のフレキシブル配線基板は、接続端子に凹部が設けられていないものである。また、第2回路基板は、ガラス基板上にITOよりなる第2配線が形成されたものである。
次に、第2回路基板の第2接続端子形成領域に、フレキシブル配線基板の接続端子形成領域を、第2接続端子と、それに対応する接続端子との位置が合うように重ね、この状態でフレキシブル配線基板を加圧して第2回路基板に圧着させた。
そして、第2回路基板とフレキシブル配線基板との間からはみ出た熱硬化性樹脂を除去し、第2回路基板とフレキシブル基板との間の熱硬化性樹脂を加熱硬化させた。
以上の工程により、3種類の接続構造体を得た。
フレキシブル配線基板における接続端子のw/h比を1.0に変えた以外は、実験例1と同様にして、3種類の接続構造体を得た。
フレキシブル配線基板における接続端子のw/h比を2.0に変えた以外は、実験例1と同様にして、3種類の接続構造体を得た。
フレキシブル配線基板における接続端子のw/h比を2.75に変えた以外は、実験例1と同様にして、3種類の接続構造体を得た。
第2回路基板に供給する接着剤として、実験例1の接着剤よりも硬化収縮率の小さい熱硬化性樹脂からなる接着剤を用いた以外は、実験例1〜実験例3と同様にして、9種類の接続構造体を得た。
第2回路基板に供給する接着剤として、実験例1の接着剤よりも硬化収縮率の小さい熱硬化性樹脂からなる接着剤を用いた以外は、比較実験例1と同様にして、3種類の接続構造体を得た。
各実験例および各比較実験例で得られた接続構造体(サンプル数:620個)について、それぞれ、次のようにして接続信頼性を評価した。
各接続構造体について、初期の接続抵抗Ro、及び、高温高湿度条件下で放置した後の接続抵抗Raをそれぞれ測定した。そして、初期の接続抵抗Roに対する接続抵抗変化の割合(Ra−Ro)×100/Roを求め、その平均値を以下の基準に従い評価した。
△:接続抵抗変化の割合が±12%以内の場合。
×:接続抵抗変化の割合が±15%を超える場合。
評価結果を表1〜表3に示す。
また、表3に示すように、特に、接続端子に凹部が設けられた接続構造体(L/P比が0.25以上1.0未満)は、比較的硬化収縮率の小さい接着剤を使用した場合でも抵抗変化を小さく抑えることができ、接続信頼性により優れることがわかった。
Claims (4)
- 基板と、該基板上に設けられた配線と、該配線の端部を構成し、凸条形状をなす接続端子とを有し、
前記接続端子は、幅方向における断面形状が台形であり、前記接続端子の少なくとも一部は、その断面における上底をw、高さをhとしたとき、w/h比が0.1以上2.0以下であることを特徴とする回路基板。 - 前記接続端子の前記基板と反対側の面に、前記接続端子の延在方向に沿って複数の凹部が列設され、
隣り合う前記凹部間の凸部の長さをL、前記凹部同士のピッチをPとしたとき、L/P比が0.25以上1.0未満である、請求項1に記載の回路基板。 - 前記請求項1又は前記請求項2に記載の回路基板よりなる第1回路基板と、
第2基板と、該第2基板上に設けられた第2配線と、該第2配線の端部を構成し、前記第1回路基板の接続端子に接続される第2接続端子を有する第2回路基板とを備え、
前記第2回路基板の第2接続端子形成領域に、前記第1回路基板の接続端子形成領域が、前記第2接続端子に前記接続端子を当接させた状態で、導電粒子を実質的に含まない樹脂層を介して固定されていることを特徴とする接続構造体。 - 前記請求項1又は前記請求項2に記載の回路基板よりなる第1回路基板の接続端子を、第2基板と、該第2基板上に設けられた第2配線と、該第2配線の端部を構成する第2接続端子とを有する第2回路基板の前記第2接続端子に接続する回路基板の接続方法であって、
前記第2回路基板の第2接続端子形成領域に、導電粒子を実質的に含まない接着剤を供給する第1工程と、
前記第2回路基板の接着剤が供給された面に、前記第1回路基板の接続端子形成領域を、前記第2接続端子と前記接続端子とを位置合わせして重ね、この状態で、前記第1回路基板と前記第2回路基板とを、前記第2接続端子に前記接続端子が当接するように圧着する第2工程とを有することを特徴とする回路基板の接続方法。
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