JP2012193270A - 液晶ポリエステル樹脂組成物および成形体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物は、液晶ポリエステルと繊維状フィラーとを含有してなる液晶ポリエステル樹脂組成物であって、前記繊維状フィラーが、繊維径5〜15μm、数平均繊維長30〜200μmであり、前記繊維状フィラーの全数量に対して、繊維長が200μmを越えるものの数量が10%以下であることを特徴とする。
【選択図】なし
Description
液晶ポリエステルからなる樹脂成形体は、通常、機械強度向上のために液晶ポリエステルに強化フィラーを添加した樹脂組成物により成形される場合が多い。しかし、このような強化フィラーを用いてなる樹脂成形体より電気・電子部品や光学部品を製造すると、該部品の表面から微粒子異物(パーティクル)が発生しやすくなる問題があった。このようなパーティクルが発生すると、組み立て工程における歩留まり低下を引き起こしたり、当該機器の使用時に誤作動を引き起こす可能性があった。
そこで、本出願人らは、繊維状フィラーを含有する液晶ポリエステル樹脂成形体として、樹脂成形体の表面粗さを規定することにより、表面パーティクル発生を防止し得ることを見出し、先に出願している(特許文献1参照)。
従来の樹脂成形体は、特に、低周波数で超音波洗浄を行う場合には、耐パーティクル性が充分ではなく、更なる異物粒子発生量の低減(耐パーティクル性の向上)が望まれる。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、成形体に加工した際に優れた耐パーティクル性を有する液晶ポリエステル樹脂組成物および該液晶ポリエステル樹脂組成物を用いて得られた成形体を提供することを課題とする。
本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物において、前記液晶ポリエステルが、下記一般式(1)、(2)及び(3)で表される繰返し単位を有することが好ましい。
(1)−O−Ar1−CO−
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
(式中、Ar1は、フェニレン基、ナフチレン基又はビフェニリレン基を表し;Ar2及びAr3は、それぞれ独立に、フェニレン基、ナフチレン基、ビフェニリレン基又は下記一般式(4)で表される基を表し;X及びYは、それぞれ独立に、酸素原子又はイミノ基を表し、;前記Ar1、Ar2及びAr3中の一つ以上の水素原子は、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基又はアリール基で置換されていてもよい。)
(4)−Ar4−Z−Ar5−
(式中、Ar4及びAr5は、それぞれ独立に、フェニレン基又はナフチレン基を表し;Zは、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基又はアルキリデン基を表す。)
また、本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物は、前記一般式(3)において、X及びYが酸素原子であることが好ましい。
本発明の成形体は、前記いずれかの本発明の樹脂組成物を用いて得られたことを特徴とする。
本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物は、液晶ポリエステルと繊維状フィラーとを含有してなる液晶ポリエステル樹脂組成物であって、前記繊維状フィラーが、繊維径5〜15μm、数平均繊維長30〜200μmであり、前記繊維状フィラーの全数量に対して、繊維長が200μmを越えるものの数量が10%以下であることを特徴とする。
(I)芳香族ヒドロキシカルボン酸と、芳香族ジカルボン酸と、芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンからなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物と、を重合(重縮合)させてなるもの、
(II)複数種の芳香族ヒドロキシカルボン酸を重合させてなるもの、
(III)芳香族ジカルボン酸と、芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンからなる群から選ばれる少なくとも1種の化合物と、を重合させてなるもの、
(IV)ポリエチレンテレフタレート等のポリエステルと、芳香族ヒドロキシカルボン酸と、を重合させてなるもの
が挙げられる。ここで、芳香族ヒドロキシカルボン酸、芳香族ジカルボン酸、芳香族ジオール、芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンは、それぞれ独立に、その一部又は全部に代えて、その重合可能な誘導体が用いられてもよい。
芳香族ヒドロキシカルボン酸、芳香族ジオール及び芳香族ヒドロキシアミンのようなヒドロキシル基を有する化合物の重合可能な誘導体の例としては、ヒドロキシル基をアシル化してアシルオキシル基に変換してなるもの(アシル化物)が挙げられる。
芳香族ヒドロキシアミン及び芳香族ジアミンのようなアミノ基を有する化合物の重合可能な誘導体の例としては、アミノ基をアシル化してアシルアミノ基に変換してなるもの(アシル化物)が挙げられる。
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
式中、Ar1は、フェニレン基、ナフチレン基又はビフェニリレン基を表し;Ar2及びAr3は、それぞれ独立に、フェニレン基、ナフチレン基、ビフェニリレン基又は下記一般式(4)で表される基を表し;X及びYは、それぞれ独立に、酸素原子又はイミノ基(−NH−)を表し;前記Ar1、Ar2及びAr3中の一つ以上の水素原子は、それぞれ独立にハロゲン原子、アルキル基又はアリール基で置換されていてもよい。)
(式中、Ar4及びAr5は、それぞれ独立にフェニレン基又はナフチレン基を表し;Zは、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基又はアルキリデン基を表す。)
前記アルキル基の例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、n−オクチル基、n−ノニル基及びn−デシル基が挙げられ、その炭素数は、1〜10であることが好ましい。
前記アリール基の例としては、フェニル基、o−トリル基、m−トリル基、p−トリル基、1−ナフチル基及び2−ナフチル基が挙げられ、その炭素数は、6〜20であることが好ましい。
前記水素原子がこれらの基で置換されている場合、その数は、Ar1、Ar2又はAr3で表される前記基毎に、それぞれ独立に2個以下であることが好ましく、1個であることがより好ましい。
繰返し単位(2)の含有量は、液晶ポリエステルを構成する全繰返し単位の合計量に対して、好ましくは35モル%以下、より好ましくは10〜35モル%、さらに好ましくは15〜30モル%、特に好ましくは17.5〜27.5モル%である。
繰返し単位(3)の含有量は、液晶ポリエステルを構成する全繰返し単位の合計量に対して、好ましくは35モル%以下、より好ましくは10〜35モル%、さらに好ましくは15〜30モル%、特に好ましくは17.5〜27.5モル%である。
繰返し単位(1)の含有量が多いほど、溶融流動性や耐熱性や強度・剛性が向上し易いが、あまり多いと、溶融温度や溶融粘度が高くなり易く、成形に必要な温度が高くなり易い。
繊維状無機充填材の例としては、ガラス繊維;パン系炭素繊維、ピッチ系炭素繊維等の炭素繊維;シリカ繊維、アルミナ繊維、シリカアルミナ繊維等のセラミック繊維;及びステンレス繊維等の金属繊維が挙げられる。また、チタン酸カリウムウイスカー、チタン酸バリウムウイスカー、ウォラストナイトウイスカー、ホウ酸アルミニウムウイスカー、窒化ケイ素ウイスカー、炭化ケイ素ウイスカー等のウイスカーも挙げられる。
繊維状有機充填材の例としては、ポリエステル繊維及びアラミド繊維が挙げられる。成形加工時の装置に与える磨耗負荷や入手性を考慮すると、繊維状フィラーとしてはガラス繊維がより好ましい。
また、本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物に用いられる繊維状フィラーにおいて、繊維状フィラーの全数量に対して、繊維長が200μmを超えるものの数量の割合が10%以下とされる。繊維径及び数平均繊維長が前記範囲であり、且つ、繊維長が200μmを超えるものの割合が10%以下である繊維状フィラーを用いることにより、液晶ポリエステル樹脂組成物を用いて得られる成形体は、優れた耐パーティクル性を有する。
[繊維状フィラー測定方法]
繊維状フィラーの繊維径と数平均繊維長は、組成物ペレット中にある繊維状フィラーの外観形状で求めるものである。具体的には、繊維状フィラーの外観形状は、液晶ポリエステル樹脂組成物をペレット状に成形した組成物ペレットを600℃以上で灰化させ、その残渣をメタノールに分散させてスライドガラス上に展開させた状態で顕微鏡写真をとり、その写真から繊維状フィラーの形状を直接的に読み取って、その平均値を算出して求められるものである。尚、平均値の算出にあたっては母数を400以上とする。
二段式の分級方法で、目開き500μm以上の篩上を通した後、目開き200μmの篩上を通して繊維状フィラーの分級を行う。繊維状フィラーを篩上に通す際に、自然に篩上を滑るように傾斜がついていると良い。また、円筒状の篩形状の内部に繊維状フィラーをおいて、回転させながら行うと、フィラーが篩上を通過する面積が大きくなるため、分級効率が向上する。前述の繊維長測定方法にて確認し、該当する繊維長分布となるまで操作を繰返し、該当サンプルを作製する。若しくは、以下の重力沈降法で分級しても良い。繊維状フィラーを水、アセトン、アルコール、エーテルなどの溶媒中で攪拌して分散させ、その後に自然沈降させた後、溶媒を除去する。除去方法としては、溶媒をピペット等で吸い出しても良いし、濾過装置内で本操作を行い、沈降操作終了後に溶媒を濾過しても良い。本操作を行うことで、積層した繊維状フィラーは上下に連続的に繊維長分布が変化する集合体となる。このうち、下に沈降した繊維状フィラーを除去することで該当する繊維分布となるサンプルを作製できる。尚、繊維長は別記の測定方法で確認し、所定の繊維長分布となるまで繰返し操作を行い、該当サンプルを作製する。
一方、繊維状フィラーが5質量部を下回ると、成形体の寸法安定性が低下して所望の寸法の成形体が得られにくく、且つ、液晶ポリエステルの異方性が強く発現して、成形体に反り等が発生するおそれがある。また、繊維状フィラーが少ないと、機械強度向上の効果が低下する。
このようにして、本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物から樹脂組成物ペレットを得ると、該樹脂組成物ペレットから成形体を製造するに際し、射出成形等の成形において取り扱いが容易になるため好ましい。
成形体の平面部にJIS B0601−1994で規定されている中心線平均粗さ測定を用いて初期表面粗さRa1を測定する。Ra1を測定した平面部に、粘着力4.0N/mmのテープを貼って剥がす。このテープを貼って剥がす操作を同一の平面部に30回繰返した後、前記と同様にして表面粗さRa2を測定し、Ra2とRa1の差分(Ra2−Ra1)を表面粗さRaの上昇幅として求める。
前記表面テープ剥離試験は、より詳細には、本出願人が先に開示した特開2008−239950号公報と同様の方法で行うことができる。
日精樹脂工業株式会社製のPS40E−5ASE型射出成形機を用いた射出成形により、長さ127mm、幅12.7mm、厚さ6.4mmの試験片を成形し、A&D社製テンシロンUTM−500を用いて、ASTM D790に準拠した測定条件で3点曲げ強度、及び曲げ弾性率を測定した。
日精樹脂工業株式会社製のPS40E−5ASE型射出成形機を用いた射出成形により、長さ127mm、幅12.7mm、厚さ6.4mmの試験片を成形し、安田精機株式会社製No148 HD−PC HEAT DISTORTION TESTERを用いてASTM D648に準拠した測定条件で荷重たわみ温度を測定した。
日精樹脂工業株式会社製のPS40E−5ASE型射出成形機を用いて、4号ダンベル状試験片を形成し、株式会社島津製作所製オートグラフAG−5000Dを用いて、ASTM D790に準拠した測定方法で引張強度、及び伸びを測定した。
日精樹脂工業株式会社製のPS40E−5ASE型射出成形機を用いた射出成形により、64mm×64mm×3mmtの寸法の金型を用いてフィルムゲートで試験片を成形し、得られた試験片の寸法をマイクロメータを用いて測定した。その後、金型の寸法を基準として、試験片の流動方向(MD)と、流動方向に対して直角方向(TD)の寸法の収縮率を算出した。
日精樹脂工業株式会社製PS40E−5ASEを用いて射出成形にて、外径25.60mmφ、内径20.00mmφ、長さ19.85mmの筒状成形体を成形し、該成形体を切断部を熱カシメ部により封止した後、50mLの純水中で緩やかに1分間攪拌して表面を洗浄し、攪拌を止めて10分間放置した後、リオン株式会社製液中パーティクルカウンターシステムを用い、洗浄液中に分散されたパーティクル数を計数した。この液中パーティクルカウンターシステムは、シリンジサンプラーKZ−30W1(パーティクル分散液を採取)、パーティクルセンサーKS−65、およびコントローラーKL−11Aから構成され、試料10mL中の2μm〜100μmサイズのパーティクルを個/mL単位で計数した。測定はサンプル毎に5回行い、その平均値を分散されたパーティクル数として計数した。
日精樹脂工業株式会社製PS40E−5ASEを用いて、射出成形にて外寸64mm×64mm×1mmの平板試験片を成形し、500mLのビーカーに500mLの超純水を注水し、ゲート部分が直接水に触れないように平板試験片をビーカー内で中吊りにして、36Hzの超音波を60秒照射して平板試験片を洗浄し、洗浄後のビーカー内の水溶液を試験水とした。この試験水をリオン株式会社製液中パーティクルカウンターシステムを用い、洗浄液中に分散されたパーティクル数を計数した。この液中パーティクルカウンターシステムは、シリンジサンプラーKZ−30W1(パーティクル分散液を採取)、パーティクルセンサーKS−65、およびコントローラーKL−11Aから構成され、試料10mL中の2μm〜100μmサイズのパーティクルを個/mL単位で計数した。測定はサンプル毎に5回行い、その平均値を求めた。
電気・電子機器または光学機器などの部品は、通常振動式(超音波)洗浄機で洗浄しており、この洗浄作業によって表面からパーティクルが発生してしまうことが確認されている。
攪拌装置、トルクメータ、窒素ガス導入管、温度計及び還流冷却器を備えた反応器に、p−ヒドロキシ安息香酸994.5g(7.2モル)、テレフタル酸299.0g(1.8モル)、イソフタル酸99.7g(0.6モル)、4,4’−ジヒドロキシビフェニル446.9g(2.4モル)、無水酢酸1347.6g(13.2モル)及び1−メチルイミダゾール0.194gを入れ、窒素ガス気流下、攪拌しながら、室温から145℃まで15分かけて昇温し、145℃で1時間還流させた。次いで、1−メチルイミダゾール0.194gを加え、副生酢酸及び未反応の無水酢酸を留去しながら、145℃から320℃まで3時間かけて昇温し、320℃で2時間保持した後、反応器から内容物を取り出し、室温まで冷却した。得られた固形物を、粉砕機で粉砕して、粉末状のプレポリマーを得た。こうして得られたプレポリマーについて、フローテスター「CFT−500型」(株式会社島津製作所製)により流動開始温度を測定したところ、261℃であった。
次いで、このプレポリマーを、窒素ガス雰囲気下、室温から250℃まで1時間かけて昇温し、250℃から285℃まで5時間かけて昇温し、285℃で3時間保持することにより、固相重合させた後、冷却して、粉末状の液晶ポリエステルを得た。この液晶ポリエステルの流動開始温度は、327℃であった。このようにして得られた液晶ポリエステルをLCP1とした。
製造例で得られたLCP1と、繊維状フィラーとしてガラス繊維(セントラル硝子株式会社製EFH75−01)及びサンプル1〜3のいずれかを表1に示す組成で、二軸押出機(池貝鉄工株式会社PCM−30)を用いて、シリンダー温度340℃で溶融混練し、ペレット状の液晶ポリエステル樹脂組成物(樹脂組成物ペレット)を得た。
ここで、サンプル1〜3は、ガラス繊維(セントラル硝子株式会社製EFH75−01)を篩別(分級)して200μmを超える繊維状フィラー(ガラス繊維)の量を調整したものである。繊維状フィラーとして用いたEFH75−01及びサンプル1〜3の、繊維径、数平均繊維長、及び、各繊維状フィラーの全数量に対する繊維長200μmを超える繊維状フィラーの数量の割合(%)は表2に示す通りである。なお、繊維状フィラーの繊維径および数平均繊維長の測定は以下の方法により行った。
得られた樹脂組成物ペレットのうち1.0gをるつぼにとり、電気炉内にて600℃で4時間処理して灰化させ、その残渣をメタノールに分散させてスライドガラス上に展開させた状態で顕微鏡写真をとり、その写真から繊維状フィラーの形状を直接的に読み取って、その平均値を算出して繊維径および数平均繊維長を求めた。尚、平均値の算出にあたっては母数を100とした。
得られた各試験片について、引張強度、伸び、曲げ強度、弾性率、荷重たわみ温度及び成形収縮率を測定した結果を表3に示す。
また、実施例1〜3および比較例1の各樹脂組成物ペレットを乾燥後、パーティクル量の測定方法1及び2により発塵性(パーティクル量)を測定した結果を表4に示す。なお、パーティクル量の測定方法1で測定を行った結果については、パーティクルカウント数が100個/mL未満を許容範囲として「○」、100個/mL以上は許容範囲外として「×」として判定した。また、パーティクル量の測定方法2で測定を行った結果については、パーティクルをカウントした個数を比較した。
表4の結果より、実施例1〜3及び比較例1はいずれも、測定方法1のパーティクル量の測定において、良好な耐パーティクル性を示していた。
また、表4の結果より、繊維状フィラーのうち、繊維長200μmを超えるものの割合が10%以下である実施例1〜3は、比較例1と比較して、超音波洗浄を行った測定方法2の場合にも、パーティクル個数が少なく、耐パーティクル性が高くなっていた。
以上の結果より、本発明の液晶ポリエステル樹脂組成物より得られる成形体は、機械強度、耐熱性及び成形性に優れ、且つ、超音波洗浄を行う場合にも優れた耐パーティクル性を有することが明らかである。
Claims (5)
- 液晶ポリエステルと繊維状フィラーとを含有してなる液晶ポリエステル樹脂組成物であって、
前記繊維状フィラーが、繊維径5〜15μm、数平均繊維長30〜200μmであり、
前記繊維状フィラーの全数量に対して、繊維長が200μmを越えるものの数量が10%以下であることを特徴とする液晶ポリエステル樹脂組成物。 - 前記液晶ポリエステルが、下記一般式(1)、(2)及び(3)で表される繰返し単位を有することを特徴とする請求項1に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
(1)−O−Ar1−CO−
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
(式中、Ar1は、フェニレン基、ナフチレン基又はビフェニリレン基を表し;Ar2及びAr3は、それぞれ独立に、フェニレン基、ナフチレン基、ビフェニリレン基又は下記一般式(4)で表される基を表し;X及びYは、それぞれ独立に、酸素原子又はイミノ基を表し、;前記Ar1、Ar2及びAr3中の一つ以上の水素原子は、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基又はアリール基で置換されていてもよい。)
(4)−Ar4−Z−Ar5−
(式中、Ar4及びAr5は、それぞれ独立に、フェニレン基又はナフチレン基を表し;Zは、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基又はアルキリデン基を表す。) - 前記液晶ポリエステルが、これを構成する全繰返し単位の合計量に対して、前記一般式(1)で表される繰返し単位を30〜80モル%、前記一般式(2)で表される繰返し単位を10〜35モル%、前記一般式(3)で表される繰返し単位を10〜35モル%有することを特徴とする請求項2に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
- 前記一般式(3)において、X及びYが酸素原子であることを特徴とする請求項2又は3に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の液晶ポリエステル樹脂組成物を用いて得られたことを特徴とする成形体。
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