JP2012156343A - 太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム - Google Patents
太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012156343A JP2012156343A JP2011014700A JP2011014700A JP2012156343A JP 2012156343 A JP2012156343 A JP 2012156343A JP 2011014700 A JP2011014700 A JP 2011014700A JP 2011014700 A JP2011014700 A JP 2011014700A JP 2012156343 A JP2012156343 A JP 2012156343A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power generation
- solar cell
- generation system
- value
- solar
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010248 power generation Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 62
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 57
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 110
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 14
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 12
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 claims description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 230000001684 chronic effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 101100162020 Mesorhizobium japonicum (strain LMG 29417 / CECT 9101 / MAFF 303099) adc3 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100434411 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) ADH1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150102866 adc1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150042711 adc2 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/02016—Circuit arrangements of general character for the devices
- H01L31/02019—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02021—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】 発電中の太陽電池の出力電圧と出力電流を検出し、検出された電圧値・電流値と外部環境計測部の計測データを用いて、太陽電池特性式の数値演算と異常状態を検出するための閾値の演算を行う。特性式の演算結果と閾値を用いて、太陽電池の異常状態の種類を分類する。
【選択図】 図1
Description
演算単位ごとの日射量p1〜pn(n個の演算単位がある場合)は比較部3に入力され(S1011)、n個の演算単位間の日射量が一致しているか否かを判定する(S1012)。部分陰および充填剤の変色が生じていない場合には、それらに起因する日射量がすべての演算単位間で一致すると捉え、n個の演算単位間の日射量が一致しているときには「日射量異常なし」と判定する(S1013)。一方、日射量がすべて一致していない場合、部分陰および充填剤の変色と分類される。この時、常時不一致か否かを判定し(S1014)、慢性的に不一致が続いている場合には充填剤の変色と判定し(S1015)、一定時間のみ不一致の場合には部分陰と判定する(S1016)。ここで、慢性的か一定時間かの判断は、すべての測定回数に対する不一致の回数の割合が所定値を超えるか否かで判断すればよい。
2…異常検出部
3…パワーコンディショナ(PCS)
4…最大電力点追従部
10…太陽電池セル
11…太陽電池クラスタ
12…太陽電池モジュール
13…バイパスダイオード
14…直流電流源
15…ダイオード
16…シャント抵抗値
17…直列抵抗値
101…太陽電池(PV)
102…電流検出部
103…電圧検出部
104…外部環境計測部
105…太陽電池特性式数値演算部
106…比較部1
107…直列抵抗値・日射量変更部
108…閾値抵抗計算部
109…比較部2
110…比較部3
111…比較部4
112…分類部
113…出力部
Claims (20)
- 太陽電池セルを直列に接続して構成される太陽電池と、
発電中の前記太陽電池の出力電圧値を検出する電圧検出部と、
発電中の前記太陽電池の出力電流値を検出する電流検出部と、
外部の環境を示す外部環境データを取得する外部環境計測部と、
前記出力電圧値、前記出力電流値、及び前記外部環境データを用いて、異常状態における前記太陽電池の特性と前記異常状態を検出するための閾値を算出する特性演算部と、
前記異常状態における太陽電池の特性と前記閾値とを用いて、前記太陽電池の異常状態を検出する異常検出部と、を有する太陽光発電システム。 - 請求項1に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記特性演算部は、所定数の前記太陽電池セルが直列に接続される演算単位ごとに、直列抵抗値、日射量、逆バイアス電圧の最小値、及び前記異常状態を検出するための閾値抵抗値を算出する太陽光発電システム。 - 請求項2に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記特性演算部は、前記外部環境データを用いて前記演算単位ごとに正常状態における電流−電圧特性を算出し、前記正常状態における電流−電圧特性を用いて、配線の断線を検出するための第1の閾値抵抗値とハンダ不良を検出するための第2の閾値抵抗値を算出する太陽光発電システム。 - 請求項3に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記第1の閾値抵抗値は、発電サイトにある前記演算単位の最大電流と、前記正常状態における電流−電圧特性の示す動作電流とが一致することを条件として算出された直列抵抗値である太陽光発電システム。 - 請求項3に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記第2の閾値抵抗値は、前記太陽電池の電力損失量が所定値になることを条件として算出された直列抵抗値である太陽光発電システム。 - 請求項2に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記特性演算部は、前記外部環境データを用いて前記演算単位ごとに正常状態における電流−電圧特性を算出し、前記正常状態における電流−電圧特性と、前記出力電圧値及び前記出力電流値とが一致するように変化させた、直列抵抗値と日射量を算出する太陽光発電システム。 - 請求項1に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記異常検出部は、前記太陽電池のハンダ不良、配線の断線、バイパスダイオードの故障、充填剤の変色、及び部分陰を検出する太陽光発電システム。 - 請求項3に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記異常検出部は、前記直列抵抗値が前記第2の閾値抵抗値より大きく前記第1の閾値抵抗値より小さい場合にハンダ不良と判定し、前記直列抵抗値が前記第1の閾値抵抗値より大きい場合に配線の断線と判定する太陽光発電システム。 - 請求項2に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記異常検出部は、前記逆バイアス電圧の最小値がバイパスダイオードの動作電圧と等しくない場合に、前記バイパスダイオードの故障と判定する太陽光発電システム。 - 請求項2に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記異常検出部は、前記演算単位間の日射量が一定時間のみ不一致である場合に部分陰と判定し、前記演算単位間の日射量が慢性的に不一致である場合に充填剤の変色と判定する太陽光発電システム。 - 請求項2に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記演算単位は、前記太陽電池セルの直列接続数に応じて変更できる太陽光発電システム。 - 請求項2に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記特性演算部は、前記演算単位ごとに電流−電圧特性を算出するときに、初期電圧値の象限に応じて算出方法を変更する太陽光発電システム。 - 請求項12に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記特性演算部は、前記初期電圧値が第1象限の場合にニュートン法を用い、前記初期電圧値が第2象限の場合に電圧の逐次変更による演算を用いる太陽光発電システム。 - 請求項1に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記外部環境計測部は、センサにより温度と日射量を計測するか、又は、基準セルの短絡電流と開放電圧から温度と日射量を算出する太陽光発電システム。 - 請求項1に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記特性演算部は、前記異常状態における太陽電池の特性を用いて直列抵抗の劣化による電力損失量を計算する太陽光発電システム。 - 請求項1に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記異常検出部の検出結果に応じた情報を外部へ出力する出力部を有する太陽光発電システム。 - 請求項1に記載の太陽光発電システムにおいて、
前記太陽電池に接続される負荷変動部と、
前記出力電圧値と前記出力電流値に基づいて、前記太陽電池の出力電力値が最大電力値となるように前記負荷変動部に制御信号を出力する最大電力点追従部と、をさらに有し、
前記異常検出部は、前記太陽電池の異常状態の検出結果を前記最大電力点追従部に出力し、
前記最大電力点追従部は、前記検出結果に基づいて前記制御信号を出力する太陽光発電システム。 - 太陽電池セルを直列に接続して構成される太陽電池の異常検出方法であって、
発電中の前記太陽電池の出力電圧値を検出し、
発電中の前記太陽電池の出力電流値を検出し、
外部の温度と日射量を取得し、
前記温度と前記日射量を用いて正常状態における前記太陽電池の特性を算出し、
前記出力電圧値と前記出力電流値に基づいて、前記正常状態における太陽電池の特性が示す直列抵抗値と日射量とバイパスダイオードの接続条件を変動させることで、異常状態における前記太陽電池の特性と前記異常状態を検出するための閾値を算出し、
前記異常状態における太陽電池の特性と前記閾値とを用いて、前記太陽電池のハンダ不良、配線の断線、バイパスダイオードの故障、充填剤の変色、及び部分陰を検出する異常検出方法。 - 請求項18に記載の異常検出方法において、
所定数の前記太陽電池セルが直列に接続される演算単位ごとに、直列抵抗値、日射量、逆バイアス電圧の最小値、及び前記異常状態を検出するための閾値抵抗値を算出する異常検出方法。 - 太陽電池セルを直列に接続して構成される太陽電池の異常検出システムであって、
発電中の前記太陽電池の出力電圧値を検出する電圧検出部と、
発電中の前記太陽電池の出力電流値を検出する電流検出部と、
外部の環境を示す外部環境データを取得する外部環境計測部と、
前記出力電圧値、前記出力電流値、及び前記外部環境データを用いて、異常状態における前記太陽電池の特性と前記異常状態を検出するための閾値を算出する特性演算部と、
前記異常状態における太陽電池の特性と前記閾値とを用いて、前記太陽電池の異常状態を検出する異常検出部と、を有する異常検出システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011014700A JP5723611B2 (ja) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | 太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム |
PCT/JP2012/000441 WO2012102028A1 (ja) | 2011-01-27 | 2012-01-25 | 太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム |
US13/980,519 US9304161B2 (en) | 2011-01-27 | 2012-01-25 | Solar power generation system, abnormality detection method, and abnormality detection system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011014700A JP5723611B2 (ja) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | 太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012156343A true JP2012156343A (ja) | 2012-08-16 |
JP5723611B2 JP5723611B2 (ja) | 2015-05-27 |
Family
ID=46580603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011014700A Active JP5723611B2 (ja) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | 太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9304161B2 (ja) |
JP (1) | JP5723611B2 (ja) |
WO (1) | WO2012102028A1 (ja) |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0489131A (ja) * | 1990-07-31 | 1992-03-23 | Kawasaki Steel Corp | エンドレス圧延ストリップの巻取方法及び装置 |
JP2013156865A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Toshiba Corp | Pvパネル診断装置、診断方法及び診断プログラム |
JP2013157458A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | 故障検知装置及び故障検知方法 |
JP2014011428A (ja) * | 2012-07-03 | 2014-01-20 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | 故障検知装置、故障検知システム、及び故障検知方法 |
JP2014038961A (ja) * | 2012-08-17 | 2014-02-27 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | 導通不良検知装置及び導通不良検知方法 |
JP2014045073A (ja) * | 2012-08-27 | 2014-03-13 | Hitachi Ltd | 太陽光発電システムの故障診断方法 |
JP2014165369A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 太陽電池動作点移動計測方法 |
WO2014141498A1 (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | オムロン株式会社 | 太陽光発電システム、異常判断処理装置、異常判断処理方法、およびプログラム |
JP2014232770A (ja) * | 2013-05-28 | 2014-12-11 | 三菱電機株式会社 | 太陽光発電システム装置 |
JP2015068690A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-04-13 | 株式会社日立製作所 | 太陽光発電システムの故障診断システム及び故障診断方法 |
JP2015135882A (ja) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 日清紡メカトロニクス株式会社 | 太陽電池の出力測定方法 |
WO2015118608A1 (ja) * | 2014-02-04 | 2015-08-13 | 株式会社日立システムズ | 太陽電池検査システムおよび太陽電池検査方法 |
JP2015152353A (ja) * | 2014-02-12 | 2015-08-24 | 株式会社東芝 | 故障検知装置および、それを備える太陽光発電システム |
JP2015163043A (ja) * | 2014-02-28 | 2015-09-07 | オムロン株式会社 | 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム |
JP2016059164A (ja) * | 2014-09-09 | 2016-04-21 | 株式会社日立製作所 | 太陽電池モジュールの検査方法 |
EP3059856A1 (en) | 2015-02-17 | 2016-08-24 | Onamba Co., Ltd. | Method for predicting a future timing of lowering of a current value or power generation quantity of a solar power generation system |
JP2016208683A (ja) * | 2015-04-23 | 2016-12-08 | 株式会社日立製作所 | 太陽光発電システムの診断方法及び監視装置 |
JP2017022879A (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-26 | 株式会社ダイヘン | 診断装置、太陽光発電システム、および、劣化・故障診断方法 |
JP2017059122A (ja) * | 2015-09-18 | 2017-03-23 | 田淵電機株式会社 | 太陽光発電システム、電源装置及び太陽光発電手段の診断方法 |
JP2017161314A (ja) * | 2016-03-08 | 2017-09-14 | オムロン株式会社 | 直流電源の故障検出装置および故障検出方法 |
JP2019187112A (ja) * | 2018-04-11 | 2019-10-24 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 太陽電池評価装置及び太陽電池評価方法 |
JP2019193551A (ja) * | 2018-04-18 | 2019-10-31 | ベイジン・ハナジー・ソーラー・パワー・インベストメント・カンパニー・リミテッド | ソーラーモジュールの通電と遮断を制御する装置、システム及び方法 |
JP2022025221A (ja) * | 2020-07-29 | 2022-02-10 | 株式会社日立製作所 | 電池診断装置、電池診断方法 |
WO2022054954A1 (ja) * | 2020-09-14 | 2022-03-17 | ヒラソルエナジー株式会社 | 太陽電池の発電特性を推定する方法、システム及びプログラム |
US11495966B2 (en) | 2017-08-31 | 2022-11-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Solar power generation system and power conditioner |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130082724A1 (en) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Pv panel diagnosis device, diagnosis method and diagnosis program |
DE202011109424U1 (de) * | 2011-12-23 | 2012-01-20 | Grenzebach Maschinenbau Gmbh | Vorrichtung zur industriellen Verdrahtung und Endprüfung von photovoltaischen Konzentratormodulen |
EP2811536A4 (en) * | 2012-01-30 | 2015-08-26 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | SOLAR ENERGY GENERATION SYSTEM AND DEVICE RECOGNITION METHOD THEREFOR |
US9866043B2 (en) * | 2013-02-20 | 2018-01-09 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for removing defective energy storage cells from an energy storage array |
US10193378B2 (en) | 2014-08-15 | 2019-01-29 | Hilos Ventures, Llc | Apparatus and methods for control of power flow and battery charge |
JP6573809B2 (ja) * | 2014-09-16 | 2019-09-11 | アイメック・ヴェーゼットウェーImec Vzw | 太陽電池モジュールのシミュレーション |
CN104320075B (zh) * | 2014-10-13 | 2016-11-30 | 晖保智能科技(上海)有限公司 | 光伏电站故障分析与诊断系统 |
DE102014224486A1 (de) * | 2014-12-01 | 2016-06-02 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen einer Abschattungsart eines Fotovoltaiksystems |
JP6278912B2 (ja) * | 2015-02-10 | 2018-02-14 | 株式会社日立製作所 | 太陽光発電システム、及びその故障診断方法 |
US10622941B2 (en) * | 2015-04-10 | 2020-04-14 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Real-time series resistance monitoring in photovoltaic systems |
JP6419046B2 (ja) * | 2015-09-15 | 2018-11-07 | 本田技研工業株式会社 | 蓄電システムの故障形態判定装置 |
WO2017146074A1 (ja) * | 2016-02-26 | 2017-08-31 | シャープ株式会社 | 太陽電池を用いた電源装置、それを備える通信装置等の電子装置、および看板装置 |
TWI595744B (zh) | 2016-04-08 | 2017-08-11 | 盈正豫順電子股份有限公司 | 太陽能板發電異常測試方法及其系統 |
CN112928989B (zh) * | 2021-02-25 | 2023-03-31 | 阳光电源股份有限公司 | 一种故障诊断方法及装置 |
CN113554079B (zh) * | 2021-07-14 | 2023-08-01 | 中国地质大学(北京) | 一种基于二次检测法的电力负荷异常数据检测方法及系统 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005340464A (ja) * | 2004-05-26 | 2005-12-08 | Sharp Corp | 太陽電池アレイ診断装置およびそれを用いた太陽光発電システム |
WO2007132616A1 (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-22 | Eko Instruments Co., Ltd. | 太陽電池の特性評価装置 |
JP2008091807A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 太陽光発電システム診断装置 |
JP2010123880A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Ntt Facilities Inc | 故障判定システム、故障判定方法、コンピュータプログラム |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60238918A (ja) * | 1984-05-11 | 1985-11-27 | Mitsubishi Electric Corp | 可変速電動機の制御装置 |
KR100415321B1 (ko) * | 2001-05-07 | 2004-01-16 | 대한민국(창원대학교) | 태양전지 특성추적 방법 |
-
2011
- 2011-01-27 JP JP2011014700A patent/JP5723611B2/ja active Active
-
2012
- 2012-01-25 WO PCT/JP2012/000441 patent/WO2012102028A1/ja active Application Filing
- 2012-01-25 US US13/980,519 patent/US9304161B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005340464A (ja) * | 2004-05-26 | 2005-12-08 | Sharp Corp | 太陽電池アレイ診断装置およびそれを用いた太陽光発電システム |
WO2007132616A1 (ja) * | 2006-05-17 | 2007-11-22 | Eko Instruments Co., Ltd. | 太陽電池の特性評価装置 |
JP2008091807A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 太陽光発電システム診断装置 |
JP2010123880A (ja) * | 2008-11-21 | 2010-06-03 | Ntt Facilities Inc | 故障判定システム、故障判定方法、コンピュータプログラム |
Cited By (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0489131A (ja) * | 1990-07-31 | 1992-03-23 | Kawasaki Steel Corp | エンドレス圧延ストリップの巻取方法及び装置 |
JP2013156865A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Toshiba Corp | Pvパネル診断装置、診断方法及び診断プログラム |
JP2013157458A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | 故障検知装置及び故障検知方法 |
JP2014011428A (ja) * | 2012-07-03 | 2014-01-20 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | 故障検知装置、故障検知システム、及び故障検知方法 |
JP2014038961A (ja) * | 2012-08-17 | 2014-02-27 | Jx Nippon Oil & Energy Corp | 導通不良検知装置及び導通不良検知方法 |
JP2014045073A (ja) * | 2012-08-27 | 2014-03-13 | Hitachi Ltd | 太陽光発電システムの故障診断方法 |
US9506971B2 (en) | 2012-08-27 | 2016-11-29 | Hitachi, Ltd. | Failure diagnosis method for photovoltaic power generation system |
JP2014165369A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 太陽電池動作点移動計測方法 |
JP2014179464A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Omron Corp | 太陽光発電システム、異常判断処理装置、異常判断処理方法、およびプログラム |
WO2014141498A1 (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | オムロン株式会社 | 太陽光発電システム、異常判断処理装置、異常判断処理方法、およびプログラム |
JP2014232770A (ja) * | 2013-05-28 | 2014-12-11 | 三菱電機株式会社 | 太陽光発電システム装置 |
JP2015068690A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-04-13 | 株式会社日立製作所 | 太陽光発電システムの故障診断システム及び故障診断方法 |
JP2015135882A (ja) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 日清紡メカトロニクス株式会社 | 太陽電池の出力測定方法 |
JPWO2015118608A1 (ja) * | 2014-02-04 | 2017-03-23 | 株式会社日立システムズ | 太陽電池検査システムおよび太陽電池検査方法 |
WO2015118608A1 (ja) * | 2014-02-04 | 2015-08-13 | 株式会社日立システムズ | 太陽電池検査システムおよび太陽電池検査方法 |
JP2015152353A (ja) * | 2014-02-12 | 2015-08-24 | 株式会社東芝 | 故障検知装置および、それを備える太陽光発電システム |
JP2015163043A (ja) * | 2014-02-28 | 2015-09-07 | オムロン株式会社 | 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム |
JP2016059164A (ja) * | 2014-09-09 | 2016-04-21 | 株式会社日立製作所 | 太陽電池モジュールの検査方法 |
EP3059856A1 (en) | 2015-02-17 | 2016-08-24 | Onamba Co., Ltd. | Method for predicting a future timing of lowering of a current value or power generation quantity of a solar power generation system |
JP2016208683A (ja) * | 2015-04-23 | 2016-12-08 | 株式会社日立製作所 | 太陽光発電システムの診断方法及び監視装置 |
JP2017022879A (ja) * | 2015-07-10 | 2017-01-26 | 株式会社ダイヘン | 診断装置、太陽光発電システム、および、劣化・故障診断方法 |
JP2017059122A (ja) * | 2015-09-18 | 2017-03-23 | 田淵電機株式会社 | 太陽光発電システム、電源装置及び太陽光発電手段の診断方法 |
JP2017161314A (ja) * | 2016-03-08 | 2017-09-14 | オムロン株式会社 | 直流電源の故障検出装置および故障検出方法 |
US11495966B2 (en) | 2017-08-31 | 2022-11-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Solar power generation system and power conditioner |
JP2019187112A (ja) * | 2018-04-11 | 2019-10-24 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 太陽電池評価装置及び太陽電池評価方法 |
JP7080093B2 (ja) | 2018-04-11 | 2022-06-03 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 太陽電池評価装置及び太陽電池評価方法 |
JP2019193551A (ja) * | 2018-04-18 | 2019-10-31 | ベイジン・ハナジー・ソーラー・パワー・インベストメント・カンパニー・リミテッド | ソーラーモジュールの通電と遮断を制御する装置、システム及び方法 |
JP2022025221A (ja) * | 2020-07-29 | 2022-02-10 | 株式会社日立製作所 | 電池診断装置、電池診断方法 |
JP7420675B2 (ja) | 2020-07-29 | 2024-01-23 | 株式会社日立製作所 | 電池診断装置、電池診断方法 |
WO2022054954A1 (ja) * | 2020-09-14 | 2022-03-17 | ヒラソルエナジー株式会社 | 太陽電池の発電特性を推定する方法、システム及びプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9304161B2 (en) | 2016-04-05 |
WO2012102028A1 (ja) | 2012-08-02 |
US20130300449A1 (en) | 2013-11-14 |
JP5723611B2 (ja) | 2015-05-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5723611B2 (ja) | 太陽光発電システム、異常検出方法、及び異常検出システム | |
US9506971B2 (en) | Failure diagnosis method for photovoltaic power generation system | |
JP6209412B2 (ja) | 太陽光発電システムの故障診断システム及び故障診断方法 | |
JP6278912B2 (ja) | 太陽光発電システム、及びその故障診断方法 | |
US9651631B2 (en) | Method of calculating characteristics of solar cell and solar power generation system | |
JP6479645B2 (ja) | 太陽光発電システムの診断システム及び診断方法 | |
US6278052B1 (en) | Abnormality detection method, abnormality detection apparatus and solar cell power generating system using the same | |
JP6474305B2 (ja) | 太陽光発電システムの診断方法及び監視装置 | |
TWI595744B (zh) | 太陽能板發電異常測試方法及其系統 | |
US9876468B2 (en) | Method, system and program product for photovoltaic cell monitoring via current-voltage measurements | |
JP5730716B2 (ja) | 太陽光発電システムの故障診断方法 | |
KR101535056B1 (ko) | 계통연계형 태양광발전 시스템의 고장 검출 진단 장치 및 그 방법 | |
JP6310948B2 (ja) | 太陽電池検査システムおよび太陽電池検査方法 | |
JP2014038961A (ja) | 導通不良検知装置及び導通不良検知方法 | |
JP6312081B2 (ja) | 欠陥診断装置 | |
JP6759081B2 (ja) | 太陽電池特性の把握方法および太陽光発電制御システム | |
JP5814775B2 (ja) | 太陽電池の特性演算方法 | |
JP2018133955A (ja) | 太陽電池出力測定装置および測定方法 | |
JP2021035170A (ja) | 太陽光発電診断システムおよび太陽光発電診断方法 | |
JP2020204818A (ja) | 太陽電池の性能評価方法ならびに太陽電池の性能評価装置、太陽電池の性能評価プログラムおよび記録媒体 | |
JP2019122056A (ja) | 太陽電池診断装置、太陽電池診断方法及び太陽光発電システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120522 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130822 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140513 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140704 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140924 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150303 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150330 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5723611 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |