JP2012122964A - 表面欠陥検知方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】表面欠陥検知装置1を用いて物体10の表面欠陥を検知する場合、まず、撮像部2により、物体10の表面10aの画像を取得する。続いて、画像解析部3により、当該画像の明度のヒストグラムを生成し、このヒストグラムにおける第1及び第2階調の間の中央値を二値化レベルに設定する。そして、画像解析部3により、設定した二値化レベルで画像11に二値化処理を施す。これにより、表面欠陥を目視でも判別可能な物体10の表面10aの画像が取得されることとなる。
【選択図】図1
Description
Claims (3)
- 物体の表面欠陥を検知するための表面欠陥検知方法であって、
前記物体の表面の画像を取得する画像取得工程と、
前記画像取得工程で取得した前記画像に二値化処理を施す二値化処理工程と、を備え、
前記二値化処理工程においては、
前記画像取得工程で取得した前記画像についての階調に関する明度分布を取得し、
前記明度分布において、前記明度が最も高い第1ピーク値のときの第1階調と、前記明度が前記第1ピーク値の次に高い第2ピーク値のときの第2階調と、を導出し、
前記第1及び第2階調の間の値を、前記二値化処理を行うための閾値となる二値化レベルとして、前記画像に前記二値化処理を施すこと、を特徴とする表面欠陥検知方法。 - 前記二値化処理工程では、前記第1及び第2階調の中央値を二値化レベルとして設定することを特徴とする請求項1記載の表面欠陥検知方法。
- 前記物体は、可視光に対し透明な透明体であることを特徴とする請求項1又は2記載の表面欠陥検知方法。
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