JP2007078540A - 外観検査方法及び外観検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明に係る外観検査方法は、検査対象物22を撮像して撮像画像P1を取得する工程と、軸X,Y方向における検査対象物画像P1aの平均輝度分布を算出する工程と、マスタ画像P2を平均輝度分布に基づいて生成する工程と、撮像画像P1とマスタ画像P2とから第1補正画像P3を生成する工程と、ソーベルフィルタにより第1補正画像P3における各画素の輝度値の変化量を算出してソーベル処理画像P4を生成する工程と、ソーベル処理画像P4と第1補正画像P3とから第2補正画像P5を生成する工程と、第2補正画像P5を2値化して連結領域を特定し、その連結領域の画素数と閾値とを対比する工程とを備える。
【選択図】 図7
Description
図1を参照して、本実施形態に係る外観検査装置10の構成について説明する。図1は、(a)が外観検査装置の構成を概略的に示す斜視図であり、(b)が検査対象物の斜視図である。
次に、図2〜図10を参照して、以上の構成を有する外観検査装置10を用いた検査対象物22の外観検査処理方法について説明する。なお、ここでは特に、検査対象物22のうち円柱面状となっている外周面22a又は内周面22bの外観検査を行う場合について説明する。
続くステップ3では、第1補正画像生成処理が行われる。第1補正画像生成処理が開始されると、図3に示されるステップ11に進んで、撮像画像P1において輝度値が0でない連続する画素の領域を求めた後、その画素の領域に外接する長方形を求めることで、撮像画像P1における検査対象物画像P1aの外形領域A1を決定する処理を行う。このとき、決定された外形領域A1の面積(画素数)及び外形領域A1の位置する座標を算出する処理も行われる。ステップ12に進むと、ステップ11において決定された外形領域A1の面積が所定の閾値以上であるか否かを判定する。すなわち、欠陥を検出する対象である検査対象物画像P1aの面積(画素数)は、各検査対象物22において略同一であるから、外形領域A1の面積(画素数)が閾値以上であれば撮像されたものが検査対象物22であると判定してステップ13に進むが、そうでなければ撮像されたものが検査対象物22ではない(例えば、検査対象物22の破片)と判定して図2に示されるステップ8に進んで、外観検査処理を終了するようにしている。
図2に戻り、ステップ4に進むと、欠陥検出第1処理が行われる。この欠陥検出第1処理では、例えば検査対象物22のクラックや検査対象物22に付着した異物による欠陥を検出している。欠陥検出第1処理が開始されると、図4に示されるステップ21に進んで、処理領域A2において第1補正画像P3をソーベルフィルタによって処理し、第1補正画像P3中における濃淡変化(エッジ部分)を検出する処理を行う。具体的には、第1補正画像P3における所定の画素とその画素の周囲における隣接画素とで、下記の式(4)による演算を第1補正画像P3の全ての画素について行う。これにより、第1補正画像P3における各画素の輝度値I´の変化量E1が求められ、濃淡変化が生じている箇所でエッジの検出が行われたソーベル処理画像P4が生成される(図7(d)参照)。
図2に戻り、ステップ5に進むと、欠陥検出第2処理が行われる。この欠陥検出第1処理では、例えば検査対象物22の欠けによる欠陥を検出している。欠陥検出第2処理が開始されると、図5に示されるステップ31に進んで、処理領域A2において第1補正画像P8(図9(a)参照)を微分フィルタによって処理し、第1補正画像P8中における濃淡変化(エッジ部分)を検出する処理を行う。具体的には、第1補正画像P8における所定の画素とその画素の周囲における隣接画素とで、下記の式(6)による演算を第1補正画像P8の全ての画素について行う。これにより、第1補正画像P8における各画素の輝度値I´の変化量E2が求められ、濃淡変化が生じている箇所でエッジの検出が行われた微分処理画像P9が生成される(図9(b)参照)。
図2に戻り、ステップ6に進むと、欠陥検出第3処理が行われる。この欠陥検出第1処理では、例えば検査対象物22の剥離による欠陥を検出している。欠陥検出第3処理が開始されると、図6に示されるステップ41に進んで、処理領域A2における検査対象物画像P13aを所定の閾値によって2値化処理し、その閾値以上の輝度値である画素を白、その閾値より小さな輝度値である画素を黒として表示した2値化画像P14を生成する(図10(b)参照)。そして、ステップ42に進むと、2値化画像P14のラベリング処理を行い、2値化画像P14において白で表示される画素が連結している連結領域を特定する。また、ステップ42では、特定された連結領域の数、各連結領域の面積(画素数)及び処理領域A2における各連結領域の位置を検出する処理を行う。
Claims (12)
- 検査対象物の外観検査を行うための外観検査方法であって、
前記検査対象物を撮像して検査対象物画像を含む撮像画像を取得する工程と、
前記検査対象物画像の外縁に沿う第1の方向に平行な一連の画素からなる第1の画素列毎に該第1の画素列に含まれる前記一連の画素の輝度値の平均を算出すると共に、前記第1の方向と直交する第2の方向に平行な一連の画素からなる第2の画素列毎に該第2の画素列に含まれる前記一連の画素の輝度値の平均を算出することで、前記第1の方向及び前記第2の方向における前記検査対象物画像の平均輝度分布を算出する工程と、
前記検査対象物画像に対して基準となる基準画像を前記平均輝度分布に基づいて生成する工程と、
前記撮像画像と前記基準画像とから第1補正画像を生成する工程と、
ソーベルフィルタにより前記第1補正画像における各画素の輝度値の変化量を算出してソーベル処理画像を生成する工程と、
前記ソーベル処理画像と前記第1補正画像とから第2補正画像を生成する工程と、
前記第2補正画像を2値化して連結領域を特定し、該連結領域の画素数と閾値とを対比する工程とを備えることを特徴とする外観検査方法。 - 前記第1補正画像を生成する前記工程では、前記撮像画像と前記基準画像とで対応する位置にある画素毎に、前記撮像画像の各画素における輝度値から前記基準画像の各画素における輝度値を減算することで前記第1補正画像を生成することを特徴とする請求項1に記載された外観検査方法。
- 前記第2補正画像を生成する前記工程では、前記第1補正画像と前記ソーベル処理画像とで対応する位置にある画素毎に、前記第1補正画像の各画素における輝度値から前記ソーベル処理画像の各画素における輝度値を減算することで前記第2補正画像を生成することを特徴とする請求項1又は2に記載された外観検査方法。
- 微分フィルタにより前記第1補正画像における各画素の輝度値の変化量を算出して微分処理画像を生成する工程と、
前記微分処理画像と前記第1補正画像とから第3補正画像を生成する工程と、
前記第3補正画像を2値化して連結領域を特定し、該連結領域の画素数と閾値とを対比する工程とを更に備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載された外観検査方法。 - 前記第3補正画像を生成する前記工程では、前記微分処理画像と前記第1補正画像とで対応する位置にある画素毎に、前記微分処理画像の各画素における輝度値と前記第1補正画像の各画素における輝度値とを加算することで前記第3補正画像を生成することを特徴とする請求項4に記載された外観検査方法。
- 前記撮像画像を2値化して連結領域を特定し、該連結領域の画素数と閾値とを対比する工程を更に備えることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載された外観検査方法。
- 検査対象物の外観検査を行うための外観検査装置であって、
前記検査対象物を照明する照明手段と、
前記照明手段によって照明された前記検査対象物を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段によって撮像された撮像画像に含まれる検査対象物画像の外縁に沿う第1の方向に平行な一連の画素からなる第1の画素列毎に該第1の画素列に含まれる前記一連の画素の輝度値の平均を算出すると共に、前記第1の方向と直交する第2の方向に平行な一連の画素からなる第2の画素列毎に該第2の画素列に含まれる前記一連の画素の輝度値の平均を算出することで、前記第1の方向及び前記第2の方向における前記検査対象物画像の平均輝度分布を算出する手段と、
前記検査対象物画像に対して基準となる基準画像を前記平均輝度分布に基づいて生成する手段と、
前記撮像画像と前記基準画像とから第1補正画像を生成する手段と、
ソーベルフィルタにより前記第1補正画像における各画素の輝度値の変化量を算出してソーベル処理画像を生成する手段と、
前記ソーベル処理画像と前記第1補正画像とから第2補正画像を生成する手段と、
前記第2補正画像を2値化して連結領域を特定し、該連結領域の画素数と閾値とを対比する手段とを備えることを特徴とする外観検査装置。 - 前記第1補正画像を生成する前記手段は、前記撮像画像と前記基準画像とで対応する位置にある画素毎に、前記撮像画像の各画素における輝度値から前記基準画像の各画素における輝度値を減算することで前記第1補正画像を生成することを特徴とする請求項7に記載された外観検査装置。
- 前記第2補正画像を生成する前記手段は、前記第1補正画像と前記ソーベル処理画像とで対応する位置にある画素毎に、前記第1補正画像の各画素における輝度値から前記ソーベル処理画像の各画素における輝度値を減算することで前記第2補正画像を生成することを特徴とする請求項7又は8に記載された外観検査装置。
- 微分フィルタにより前記第1補正画像における各画素の輝度値の変化量を算出して微分処理画像を生成する手段と、
前記微分処理画像と前記第1補正画像とから第3補正画像を生成する手段と、
前記第3補正画像を2値化して連結領域を特定し、該連結領域の画素数と閾値とを対比する手段とを更に備えることを特徴とする請求項7〜9のいずれか1項に記載された外観検査装置。 - 前記第3補正画像を生成する前記手段は、前記微分処理画像と前記第1補正画像とで対応する位置にある画素毎に、前記微分処理画像の各画素における輝度値と前記第1補正画像の各画素における輝度値とを加算することで前記第3補正画像を生成することを特徴とする請求項10に記載された外観検査装置。
- 前記撮像画像を2値化して連結領域を特定し、該連結領域の画素数と閾値とを対比する工程を更に備えることを特徴とする請求項7〜11のいずれか1項に記載された外観検査装置。
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