JP2012047677A - 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置 - Google Patents

電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012047677A
JP2012047677A JP2010192071A JP2010192071A JP2012047677A JP 2012047677 A JP2012047677 A JP 2012047677A JP 2010192071 A JP2010192071 A JP 2010192071A JP 2010192071 A JP2010192071 A JP 2010192071A JP 2012047677 A JP2012047677 A JP 2012047677A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
detection
signal
resistor
reference signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010192071A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5474707B2 (ja
Inventor
Koichi Yanagisawa
浩一 柳沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2010192071A priority Critical patent/JP5474707B2/ja
Publication of JP2012047677A publication Critical patent/JP2012047677A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5474707B2 publication Critical patent/JP5474707B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

【課題】温度変化や経時変化に対して安定して参照信号の電圧を除去し、低コスト化を図る。
【解決手段】検出電極が反転入力端子に接続された1つの演算増幅器31aと、第1抵抗31b(抵抗値Rx)、第2抵抗31c(抵抗値Ry)、第3抵抗31d(抵抗値α×Rx)、および第4抵抗31e(抵抗値α×Ry)を有し、互いに接続された第1抵抗と第2抵抗の他端に電圧がVsで周波数がfsの参照信号Ssが供給されると共に、第4抵抗の他端が基準電位に接続されて、検出対象交流電圧V1(周波数f1)が生じている検出対象体2と検出電極11とが容量値Cで容量結合している状態において、下記式で表される電圧Vを出力する電流電圧変換回路31を備えている。V=(α/(1+α))×jωs×C×Rx×Vs−α×jω1×C×Rx×V1。ただし、ωs=2×π×fs、ω1=2×π×f1。
【選択図】図2

Description

本発明は、検出対象体の検出対象交流電圧を非接触で検出する非接触型の電圧検出装置に使用される電圧検出装置用の検出回路、およびこの検出回路を備えた電圧検出装置に関するものである。
この種の電圧検出装置として、本願発明者は、下記特許文献1に開示された電圧検出装置を既に提案している。この電圧検出装置は、検出対象体に生じている交流電圧を非接触で検出する電圧検出装置であって、検出対象体に対向して非接触な状態で配設される検出電極と、非反転入力端子が基準電圧(電圧信号の電圧)に規定された演算増幅器を有し交流電圧および基準電圧の間の交流の電位差に応じた電流値で検出対象体との間で検出電極を介して流れる電流信号を検出電圧信号に変換して出力する電流電圧変換回路と、検出電圧信号を積分して電位差に応じて振幅が変化する積分信号を出力する積分回路と、積分回路の後段に配設されて、入力した積分信号を電気的に絶縁して出力するフォトカプラと、上記の電位差が減少するように積分信号に基づく信号を増幅して基準電圧として電圧信号を生成する電圧生成回路とを備えている。
この電圧検出装置では、電圧生成回路の上記動作(フィードバック制御動作)により、検出対象体に生じている交流電圧と基準電圧の間の交流の電位差がほぼゼロになるように基準電圧が制御されるため、この基準電圧を測定することにより、検出対象体に生じている交流電圧を測定可能となっている。
また、本願発明者は、フィードバック制御方式以外の方式による非接触型の電圧検出装置についても開発を実施しており、既に特許出願(特願2010−171261)を行っている。この電圧検出装置51は、図5に示すように、検出電極11、検出部52、参照信号出力部13、振幅変更部14、増幅部15、加算部16、同期検波部17、制御部18、処理部19、記憶部20および出力部21を備え、グランド電位(基準電位の一例)Vgを基準として検出対象体2に生じている交流電圧V1を非接触で検出可能に構成されている。
この電圧検出装置51では、検出電極11と検出対象体2とが容量結合(容量値Cの静電容量C0で結合)した際に検出対象体2に生じている交流電圧V1に起因した電流I1が流れる経路A(一点鎖線で示す経路)に参照信号出力部13から参照信号Ss(電圧Vsの交流信号)を供給し、この経路Aに交流電圧V1に起因した電流I1と共に、参照信号Ssに起因した電流Isを流すようにする。この場合、参照信号Ssは上記の静電容量に対して交流電圧V1とは逆側に供給されるため、電流I1と電流Isの合成電流は、交流電圧V1と参照信号Ssの差分電圧Vdi(=V1−Vs)に応じた電流、すなわち電流I1と電流Isの差分に応じた電流となる。
また、この経路には検出部52が配設されており、この検出部52は、図6に示すように、電流電圧変換回路61、バッファ回路62、差動増幅回路63および積分回路64を含んで構成されている。この検出部52では、抵抗値がR1の帰還抵抗を有する電流電圧変換回路61が、交流電圧V1に起因した電流I1と参照信号Ssに起因した電流Isとを電圧V2a(=Vs−R1×(I1−Is))に変換して差動増幅回路63に出力する。この電圧V2aには参照信号Ssの電圧Vsが含まれているため、この電圧Vsをバッファ回路62を介して差動増幅回路63に電圧V2b(=Vs)として出力する。これにより、差動増幅回路63が、電圧V2aから電圧Vsを減算(除去)して電圧V3として出力する。この電圧V3は、交流電圧V1に起因した電流I1と参照信号Ssに起因した電流Isの差分を表す電圧(−R1×(I1−Is))であるため、積分回路64が、この電圧V3を積分することにより、交流電圧V1と参照信号Ssの電圧Vsとの差分に比例する積分信号S1(=ε×(V1−Vs))を生成して出力する。ここで、εは比例定数である。
次いで、増幅部15が、制御部18によって制御される利得でこの積分信号S1を増幅して増幅信号S2として出力し、続いて、加算部16が、振幅変更部14によって振幅が規定のレベルに変更された参照信号(基準信号Sr)とこの増幅信号S2とを加算して出力信号Soとして出力する。この場合、制御部18は、出力信号So内に含まれている同期検波部17によって抽出された参照信号Srの成分(検波信号Vd)がゼロになるように、制御信号Sc2を増幅部15に出力してその利得を制御する。したがって、処理部19では、参照信号Ssの成分がゼロになった出力信号So(つまり、交流電圧V1)をサンプリングして得られるデジタルデータD1と、このデジタルデータD1と交流電圧V1とが予め対応して記憶された電圧算出用データテーブルTBとに基づいて、交流電圧V1を検出することが可能となっている。この方式の電圧検出装置は、フィードバック制御方式の電圧検出装置と比較して、検出部52をフローティング状態にする必要がないため、DC/DCコンバータなどを用いた専用の電源、および検出部52から出力される信号をアイソレーションして出力するアイソレータを不要にできるというメリットを有している。
特開2010−25918号公報(第3−10頁、第1図)
ところが、本願発明者がこの電圧検出装置51についてさらに検討を行った結果、この電圧検出装置51では、参照信号Ssの電圧Vsを除去した電圧V3を生成する検出部52の回路に図6に示すように3つの演算増幅器を使用しており、これらの演算増幅器は温度変化や経時変化に対して安定して上記した規定の動作を行えるように、それぞれの諸特性が揃えられている。しかしながら、諸特性を揃えるようにしたとしても、諸特性を完全に同一にするのは困難である。このため、この電圧検出装置用の検出部(検出回路)には、温度変化や経時変化などにより、上記した規定の動作を行えない状況が発生し、この結果として、参照信号Ssの電圧Vsについての除去が不完全となり、参照信号Ssの電圧Vsを含む電圧V3が生成される虞があるという解決すべき課題が存在している。また、このため、この検出回路を使用した電圧検出装置において、温度変化や経時変化などにより、検出対象体2に生じている交流電圧V1を正確に検出できない虞があるという解決すべき課題が存在している。また、3つの演算増幅器を使用する構成では部品点数が多く、装置コストの低減のためには、検出回路を構成する部品点数の削減が望まれている。
本発明は、上記の課題を解決すべくなされたものであり、温度変化や経時変化に対して安定して参照信号の電圧を除去でき、しかも低コストの電圧検出装置用の検出回路を提供することを主目的とする。また、この検出回路を備えた電圧検出装置を提供することを他の主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の電圧検出装置用の検出回路は、検出対象体と容量結合する検出電極、および基準電位を基準として周波数がfsで電圧がVsの参照信号を出力する参照信号出力部を備えて前記検出対象体に生じている周波数がf1の検出対象交流電圧V1を前記基準電位を基準として検出する電圧検出装置に使用される当該電圧検出装置用の検出回路であって、前記検出電極が反転入力端子に接続された1つの演算増幅器と、抵抗値がRxに規定されて一端が前記反転入力端子に接続された第1抵抗と、抵抗値がRyに規定されると共に一端が前記演算増幅器の非反転入力端子に接続され、かつ他端が前記第1抵抗の他端に接続されて、当該他端に前記参照信号が供給される第2抵抗と、抵抗値が(α×Rx)に規定されると共に一端が前記反転入力端子に接続され、かつ他端が前記演算増幅器の出力端子に接続された第3抵抗と、抵抗値が(α×Ry)に規定されると共に一端が前記演算増幅器の非反転入力端子に接続され、かつ他端が前記基準電位に接続された第4抵抗とを有し、前記検出対象体と前記検出電極とが容量値Cで容量結合している状態において、下記式(1)で表される電圧Vを出力する電流電圧変換回路を備えている。
V=(α/(1+α))×jωs×C×Rx×Vs
−α×jω1×C×Rx×V1 ・・・ (1)
ただし、ωs=2×π×fs、ω1=2×π×f1である。
また、請求項2記載の電圧検出装置用の検出回路は、請求項1記載の電圧検出装置用の検出回路において、前記第1抵抗の前記抵抗値Rxよりも前記第2抵抗の前記抵抗値Ryが小さい値に規定されている。
また、請求項3記載の電圧検出装置用の検出回路は、請求項1または2記載の電圧検出装置用の検出回路において、前記αは数値1に規定されている。
また、請求項4記載の電圧検出装置は、請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出装置用の検出回路と、前記検出電極と、前記参照信号出力部と、前記検出回路から出力される前記電圧Vを積分して下記式(2)で表される積分信号S1を生成する積分部と、前記積分信号S1を制御に応じた利得で増幅して増幅信号を生成しつつ、前記参照信号と当該増幅信号との加算によって当該参照信号と当該増幅信号に含まれている前記参照信号の信号成分とを相殺可能に前記利得を制御すると共に、前記検出対象交流電圧の信号成分を当該増幅信号から抽出して出力信号として出力する信号抽出部と、前記出力信号をサンプリングして得られる電圧データと前記検出対象交流電圧V1とが対応して予め記憶された記憶部と、前記出力信号をサンプリングして前記電圧データを算出すると共に、前記記憶部を参照して当該算出した電圧データに対応する前記検出対象交流電圧V1を取得して出力する処理部とを備えている。
S1=(α/(1+α))×C×Rx×Vs−α×C×Rx×V1 ・・・ (2)
また、請求項5記載の電圧検出装置は、請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出装置用の検出回路と、前記検出電極と、波形データに基づいて前記参照信号を生成して出力する参照信号出力処理、前記電圧Vを電圧データに変換するA/D変換処理、当該電圧データに含まれている周波数fsの信号成分((α/(1+α))×C×Rx×Vs)と周波数f1の信号成分(α×C×Rx×V1)とを抽出するデジタルフィルタ処理、および当該抽出された前記周波数fsの信号成分((α/(1+α))×C×Rx×Vs)を前記参照信号出力処理において出力される前記電圧Vsに正規化する係数kを算出すると共に当該算出した係数kを前記周波数f1の信号成分(α×C×Rx×V1)に乗算して前記検出対象交流電圧V1を算出して出力する電圧算出処理を実行する信号処理部とを備えている。
また、請求項6記載の電圧検出装置は、請求項4または5記載の電圧検出装置において、電圧値がVs×α/(1+α)に規定されたガード電圧を前記参照信号に基づいて生成する電圧生成部、および前記カード電圧が供給されるガード電極を有する電圧ガード部を備えている。
請求項1記載の電圧検出装置用の検出回路では、1つの演算増幅器を備えて構成されている。したがって、この電圧検出装置用の検出回路によれば、検出電極が検出対象体と容量結合し、かつ互いに接続された第1抵抗および第2抵抗の各他端に参照信号が供給されている状態において、1つの演算増幅器で、参照信号の電圧Vsの除去と、検出対象交流電圧V1に起因して検出対象体と検出電極との間に流れる電流の電圧への変換と、参照信号の電圧Vsに起因して検出対象体と検出電極との間に流れる電流の電圧への変換とを同時に行って、上記式(1)で表される電圧Vを出力することができる。このため、この電圧検出装置用の検出回路によれば、演算増幅器が複数の場合に温度変化時や経時変化時に発生する個々の特性のバラツキに起因した検出誤差を大幅に低減することができるため、出力する電圧Vから参照信号の電圧Vsを安定して精度よく除去することができる。また、演算増幅器を1つとすることで、演算増幅器および抵抗の部品点数を削減することができるため、低コスト化を図ることができる。
請求項2記載の電圧検出装置用の検出回路によれば、回路インピーダンスが高くなりがちな演算増幅器の非反転入力端子側に接続されている第2抵抗および第4抵抗の抵抗値Ry,α×Ryを、反転入力端子側に接続されている第1抵抗および第3抵抗の抵抗値Rx,α×Rxよりも小さい値に規定した(低くした)ことにより、非反転入力端子側の回路が外部ノイズの影響を受け難くすることができるため、外部ノイズによる影響を電流電圧変換部全体として低減することができる。
請求項3記載の電圧検出装置用の検出回路によれば、αを数値1に規定したことにより、第1抵抗の抵抗値Rxと第3抵抗の抵抗値(α×Rx)とを等しくし、かつ第2抵抗の抵抗値Ryと第4抵抗の抵抗値(α×Ry)とを等しくできる結果、使用する抵抗の抵抗値の種類を1/2にすることができる。したがって、第1抵抗〜第4抵抗に使用する抵抗の特性の選別作業に要する時間を短縮することができる。
請求項4記載の電圧検出装置によれば、電圧検出装置用の検出回路が、温度変化や経時変化に対して、出力する電圧Vから参照信号の電圧Vsを安定して除去することができるため、積分回路でこの電圧Vを積分して上記式(2)で表される積分信号S1とすることにより、この積分信号S1と参照信号とに基づいて、温度変化や経時変化に対して、より精度よく検出対象体の検出対象交流電圧V1を非接触で検出することができる。
請求項5記載の電圧検出装置によれば、温度変化や経時変化の影響を受けやすいアナログ処理の多くの部分を温度変化の影響を受けにくいデジタル処理に置き換えることができるため、電気特性のばらつきが電子部品の点数を大幅に削減できることと相まって、一層正確に交流電圧V1を検出することができる。
請求項6記載の電圧検出装置によれば、電圧値がVs×α/(1+α)に規定されたガード電圧を参照信号に基づいて生成する電圧生成部、およびカード電圧が供給されるガード電極を有する電圧ガード部を備えているため、検出対象体の近傍に存在している他の導電体をガード電極で遮蔽することにより、検出電極と他の導電体との容量結合を回避できるため、他の導電体の存在下においても、検出対象体の検出対象交流電圧V1を正確に検出することができる。
電圧検出装置1の構成図である。 図1における検出部12の回路図である。 電圧検出装置1Aの構成図である。 電圧ガード部41および電圧ガード部41に接続される電流電圧変換回路31の構成図である。 電圧検出装置51の構成図である。 電圧検出装置51における検出部52の回路図である。
以下、添付図面を参照して、電圧検出装置の実施の形態について説明する。
最初に、電圧検出装置1について、図面を参照して説明する。なお、後述する各演算増幅器は、発明の理解を容易にするため、基準電位(グランド電位)を基準(ゼロボルト)とした正負の両電圧(例えば、±15ボルトの電圧)で作動する理想の演算増幅器(理想オペアンプ)として機能するものとする。
電圧検出装置1は、非接触型の電圧検出装置であって、図1に示すように、検出電極11、検出部12、参照信号出力部13、振幅変更部14、増幅部15、加算部16、同期検波部17、制御部18、処理部19、記憶部20および出力部21を備え、基準電位(本例ではグランド電位Vg)を基準として検出対象体2に生じている交流電圧V1(検出対象交流電圧。周波数f1)を非接触で検出可能に構成されている。この場合、増幅部15、加算部16、同期検波部17および制御部18は、信号抽出部EXを構成する。
検出電極11は、一例として平板状に形成されて、検出対象体2に生じている交流電圧V1の検出に際しては、図1に示すように検出対象体2と容量結合(容量値Cの静電容量C0を介して結合)させられる。この検出電極11は、後述するように電流電圧変換回路31を構成する演算増幅器31aの反転入力端子に接続されて、この電流電圧変換回路31の一部を構成する。
検出部12は、一例として図2に示すように、検出回路としての電流電圧変換回路31および積分回路(積分部)32を含んで構成されている。なお、積分回路32については、必ずしも検出部12に含める必要はなく、増幅部15の前段回路として信号抽出部EXに含める構成を採用することもできる。
電流電圧変換回路31は、図2に示すように、1つの演算増幅器31a、第1抵抗31b、第2抵抗31c、第3抵抗31dおよび第4抵抗31eを備えている。この場合、第1抵抗31bは、抵抗値がRxに規定されて、一端が演算増幅器31aの反転入力端子に接続されている。第2抵抗31cは、抵抗値がRyに規定されると共に、一端が演算増幅器31aの非反転入力端子に接続され、かつ他端が第1抵抗31bの他端に接続されている。第3抵抗31dは、抵抗値が(α×Rx)に規定されると共に、一端が演算増幅器31aの反転入力端子に接続され、かつ他端が演算増幅器31aの出力端子に接続されている。第4抵抗31eは、抵抗値が(α×Ry)に規定されると共に、一端が演算増幅器31aの非反転入力端子に接続され、かつ他端がグランド電位(基準電位)Vgに接続されている。なお、αは、正の数である。また、演算増幅器31aの反転入力端子には、検出電極11が接続されている。
この電流電圧変換回路31では、後述するように、互いに接続された第1抵抗31bおよび第2抵抗31cの各他端に参照信号出力部13から参照信号Ss(一例として、電圧がVsで、周波数がfsの正弦波信号)が入力されるが、この入力状態において、演算増幅器31aの非反転入力端子および反転入力端子には、電圧Vsが第2抵抗31cおよび第4抵抗31eによって分割された電圧V2(=Vs×α/(1+α))が発生する。これにより、演算増幅器31aの反転入力端子に接続されている検出電極11の電位も電圧V2となる。
したがって、上記のように、検出対象体2に周波数f1の交流電圧V1が発生しており、かつ第1抵抗31bおよび第2抵抗31cの各他端に周波数がfsで電圧がVsの参照信号Ssが供給されることによって検出電極11の電位が電圧V2となっている状態において、静電容量C0には、交流電圧V1を静電容量C0のインピーダンス(1/(jω1×C))で除算した電流I1と、電圧V2を静電容量C0のインピーダンス(1/(jωs×C))で除算した電流Isの合成電流(Is−I1)が流れる。なお、交流電圧V1および電圧V2は、静電容量C0の異なる端部に供給される電圧であるため、こららの電圧V1,V2に起因して流れる各電流I1,Isの極性は逆になることから、合成電流は電流I1と電流Isの差として表される。また、ω1=2×π×f1であり、ωs=2×π×fsである。
また、途中の算出式は省略するが、電流電圧変換回路31は、交流電圧V1に起因して流れる電流I1に基づく下記式(1a)で表される電圧V3aを出力する。
V3a=−α×jω1×C×Rx×V1 ・・・ (1a)
また、電流電圧変換回路31は、電圧Vsに起因して流れる電流Isに基づく下記式(1b)で表される電圧V3bを出力する。
V3b=(α/(1+α))×jωs×C×Rx×Vs ・・・ (1b)
したがって、最終的に電流電圧変換回路31から出力される電圧Vとしての電圧V3は、重ね合わせの理により、上記電圧V3aおよび電圧V3bを加算したものとなり、下記式(1)で表される。
V3=V3a+V3b
=−α×jω1×C×Rx×V1
+(α/(1+α))×jωs×C×Rx×Vs
=(α/(1+α))×jωs×C×Rx×Vs
−α×jω1×C×Rx×V1 ・・・ (1)
この式(1)の第1項は[(α/(1+α))×Vs×jωs×C]×[α×Rx]というように変形することができ、電圧V2に対する静電容量C0のインピーダンス(1/(jωs×C))で電圧V2を除算して得られる電流Isに、第3抵抗31dの抵抗値を乗算したものであることを表している。このため、この第1項は、電流電圧変換回路31において電圧に変換された電流Isを表している。また、式(1)の第2項は[V1×jω1×C]×[α×Rx]というように変形することができ、交流電圧V1に対する静電容量C0のインピーダンス(1/(jω1×C))で交流電圧V1を除算して得られる電流I1に、第3抵抗31dの抵抗値を乗算したものであることを表している。このため、この第2項は、電流電圧変換回路31において電圧に変換された電流I1を表している。すなわち、この電流電圧変換回路31では、図6に示す検出部52の電流電圧変換回路61、バッファ回路62および差動増幅回路63が行っていた参照信号Ssの電圧Vsを減算(除去)する減算処理(除去処理)、並びに交流電圧V1に起因して静電容量C0に流れる電流I1および参照信号Ssの電圧Vsに起因して静電容量C0に流れる電流Isの電圧への変換を、1つの演算増幅器31aが行っている。
積分回路32は、一例として、演算増幅器32a、入力抵抗32bおよび帰還コンデンサ32cを備えている。この場合、演算増幅器32aは、非反転入力端子がグランド電位Vgに接続され、反転入力端子に入力抵抗32bが接続されている。また、帰還コンデンサ32cは、演算増幅器32aの非反転入力端子と反転入力端子との間に接続されている。この構成により、積分回路32は、電流電圧変換回路31から出力される電圧V3を積分して、積分信号S1を出力する。この場合、電圧V3は、上記したように、交流電圧V1に起因して静電容量C0に流れる電流I1、および参照信号Ssの電圧Vsに起因して静電容量C0に流れる電流Isをパラメータとして有している。また、静電容量C0に流れる電流I1は交流電圧V1の微分成分に相当し、静電容量C0に流れる電流Isは電圧Vsの微分成分に相当する。このため、積分回路32が電圧V3を積分して出力する積分信号S1は、下記式(2)で表される。
S1=−β×((α/(1+α))×C×Rx×Vs−α×C×Rx×V1)
・・・ (2)
ただし、βは、入力抵抗32bの抵抗値と帰還コンデンサ32cの容量値とで規定されるパラメータである。
参照信号出力部13は、グランド電位Vgを基準として電圧Vsが所定の周期で変化し振幅が一定の参照信号Ss(周波数fsおよび振幅Vsが一定の交流信号。一例として正弦波信号)を生成して、検出部12および振幅変更部14に出力する。また、本例では、一例として、参照信号Ssは、その周波数fsが検出対象体2の交流電圧V1の周波数f1よりも高い周波数に規定されているが、周波数f1と異なる周波数であればよいため、周波数fsを検出対象体2の交流電圧V1の周波数f1よりも低い周波数に規定することもできる。振幅変更部14は、アッテネータや増幅器で構成されて、参照信号Ss(電圧Vs)を入力すると共に、その振幅のみを変更して(γ(γは正の数)倍して)、基準信号Sr(電圧Vr=γ×Vs)として出力する。本例では、振幅変更部14は、発明の理解を容易にするため、参照信号Ssに対して遅延のない状態で基準信号Srを出力するものとする。なお、γ=1のときには、基準信号Srは参照信号Ssそのものとなる。この場合には、振幅変更部14を省略することができ、参照信号Ssを基準信号Srとして使用することもできる。
増幅部15は、検出部12から出力される積分信号S1を入力すると共に、制御部18から出力される制御信号(具体的には制御電圧)Sc2のレベル(直流電圧レベル)によって規定される増幅率(利得)δ(δは正の数であり、1以上でも1未満でもよい)で積分信号S1を増幅して、下記式(3)で表される増幅信号S2を生成して出力する。本例では一例として、増幅部15は、入力される制御信号Sc2のレベルが増加したときにはその増幅率δを増加させ、制御信号Sc2のレベルが減少したときには増幅率δを減少させる。
S2=δ×(−β×((α/(1+α))×C×Rx×Vs−α×C×Rx×V1))
・・・ (3)
加算部16は、増幅信号S2および基準信号Srを入力して、両信号S2,Srを加算し、加算によって得られた加算信号を出力信号Soとして出力する。この場合、上記したように、増幅信号S2は、その電圧が上記式(3)で表される信号であり、また基準信号Srは、その電圧Vrが(γ×Vs)で表される信号である。したがって、加算部16は、両信号S2,Srの加算処理を実行することにより、後述するように、増幅部15での増幅率δが制御部18によって(γ=δ×β×(α/(1+α))×C×Rx)を満たすように制御されているときに、増幅信号S2を構成する参照信号Ssについての電圧成分を、参照信号Ssの電圧成分で構成される基準信号Srで相殺(キャンセル)する処理を実行する。つまり、加算部16は、相殺回路として機能する。
なお、増幅部15において、出力する増幅信号S2の極性を上記の極性に対して反転させるか、または振幅変更部14において、加算部16に出力する基準信号Srの極性を上記の極性に対して反転させるかすることにより、加算部16を減算部として構成して、両信号S2,Srの減算処理を実行することにより、増幅信号S2を構成する参照信号Ssについての電圧成分を、参照信号Ssの電圧成分で構成される基準信号Srで相殺(キャンセル)することも可能である。
同期検波部17は、出力信号Soおよび基準信号Srを入力すると共に、基準信号Srで出力信号Soを同期検波することにより、検波信号Vdを生成して出力する。具体的には、同期検波部17は、同期検波により、出力信号Soに含まれる参照信号Ssの信号成分(具体的には、参照信号Ssと同一周波数の信号成分。電圧Vsの成分)の振幅の増減に応じて電圧の絶対値が増減し、かつ出力信号Soに含まれる参照信号Ssの信号成分の位相が参照信号Ssの位相と一致しているとき(同位相のとき)と180°ずれているとき(逆位相のとき)とで極性の異なる検波信号Vdを生成して出力する。本例では、一例として、同期検波部17は、出力信号Soに含まれている参照信号Ssの信号成分と基準信号Srとが同位相のときには正極性(正電圧)となり、逆位相のときには負極性(負電圧)となる検波信号Vdを生成して出力する。
制御部18は、入力した検波信号Vdの極性に基づいて電圧が増減する制御信号Sc2を生成して、増幅部15に出力する。本例では、一例として、制御部18は、入力した検波信号Vdが正極性のときには、制御信号Sc2の電圧レベルを増加させ、一方、入力した検波信号Vdが負極性のときには、制御信号Sc2の電圧レベルを減少させる。以上の構成により、増幅部15の増幅率δに対するフィードバック制御が同期検波部17および制御部18によって行われて、制御部18が、増幅信号S2を構成する参照信号Ssと同一周波数の信号成分(電圧Vsの成分)の振幅(δ×β×(α/(1+α))×C×Rx)を、基準信号Srの振幅(γ×Vs)と同じ振幅となるように、増幅部15の増幅率δを検波信号Vdに基づいて制御する。具体的には、制御部18は、(γ=δ×β×(α/(1+α))×C×Rx)を満たすように増幅率δを制御する。したがって、加算部16は、増幅信号S2および基準信号Srの加算処理を実行して、増幅信号S2を構成する参照信号Ssの信号成分(電圧Vsの成分)を基準信号Srで相殺(キャンセル)して、検出対象体2の交流電圧V1と同一周波数f1の信号成分で構成される出力信号Soを生成して出力する。
処理部19は、A/D変換器およびCPU(いずれも図示せず)を備えて構成されて、出力信号Soの電圧波形(レベル)を予め規定された周波数(交流電圧V1の周波数よりも十分に早い周波数)のサンプリングクロックでサンプリングしてデジタルデータD1に変換して記憶部20に記憶させる記憶処理、このデジタルデータD1に基づいて交流電圧V1を算出する電圧算出処理、および算出した交流電圧V1を出力する出力処理を実行する。記憶部20は、ROMやRAMなどで構成されて、処理部19での電圧算出処理において使用される電圧算出用テーブルTBが予め記憶されている。
この電圧算出用テーブルTBの作成手順について、その概要を説明する。一例として、電圧Vsが一定の参照信号Ssを検出部12および振幅変更部14に出力して、同期検波部17および制御部18によるフィードバック制御を行っている状態において、まず、検出対象体2に発生させる交流電圧V1を所定の電圧ステップで変化させつつデジタルデータD1を取得する。次いで、変化させた各交流電圧V1とそのときに取得したデジタルデータD1とを対応させて記憶部20に記憶させることで、電圧算出用テーブルTBを作成する。この構成により、処理部19は、電圧算出処理において新たに取得したデジタルデータD1と同じ値のデジタルデータD1に対応する交流電圧V1を電圧算出用テーブルTBを参照して取得することにより、検出対象体2の交流電圧V1を算出することが可能となっている。出力部21は、本例では、一例としてディスプレイ装置で構成されて、処理部19での出力処理において、交流電圧V1の波形や算出した電圧パラメータ(振幅や実効値)を表示させる。
次いで、電圧検出装置1による検出対象体2の交流電圧V1に対する検出動作について説明する。
まず、非接触の状態で検出対象体2に対向するように検出電極11を検出対象体2の近傍に位置させる。これにより、図1に示すように、検出電極11と検出対象体2との間に静電容量C0が形成された状態(検出電極11と検出対象体2とが容量結合した状態)となる。この場合、静電容量C0の容量値Cは、検出電極11と検出対象体2の距離に反比例して変化するが、検出電極11を一旦配設した後は、温度などの環境が一定の条件下においては一定の(変動しない)値となる。
また、検出電極11と検出対象体2とが静電容量C0を介して交流的に接続されることにより、グランド電位Vgから、検出対象体2、検出電極11、検出部12および参照信号出力部13を介してグランド電位Vgに至る電流経路A(図1中において一点鎖線で示す経路)が形成される。このため、この電流経路Aには、参照信号Ssの電圧Vsに起因した電流と、検出対象体2の交流電圧V1に起因した電流とが流れ、特に、静電容量C0には、上記したように、交流電圧V1を静電容量C0のインピーダンス(1/(jω1×C))で除算した電流I1と、電圧V2を静電容量C0のインピーダンス(1/(jωs×C))で除算した電流Isとが流れる。る。
検出部12では、上記したように、1つの演算増幅器31aで構成される電流電圧変換回路31が、参照信号Ssの電圧Vsの除去処理、並びに交流電圧V1に起因して流れる電流I1および参照信号Ssの電圧Vsに起因して流れる電流Isの電圧への変換を行って、上記式(1)で表される電圧V3を出力する。次いで、積分回路32が、この出力電圧V3を積分することにより、上記式(2)で表される積分信号S1を生成して出力する。
続いて、同期検波部17および制御部18が、上記したように作動して、加算部16での増幅信号S2および基準信号Srについての加算処理において、増幅信号S2を構成する参照信号Ssについての電圧成分が基準信号Srで相殺されるように、増幅部15における積分信号S1に対する増幅率δを制御する。これにより、加算部16は、検出対象体2の交流電圧V1と同一周波数f1の信号成分で構成される出力信号Soを生成して出力する。
次いで、処理部19が、記憶処理を実行して、出力信号Soを入力すると共にデジタルデータD1に変換して記憶部20に記憶させる。続いて、処理部19は、電圧算出処理を実行する。この電圧算出処理では、処理部19は、記憶部20に記憶されているデジタルデータD1を読み出すと共に、電圧算出用テーブルTBを参照して、読み出したデジタルデータD1に対応する交流電圧V1を取得する。また、処理部19は、この取得した各デジタルデータD1に対応する交流電圧V1に基づいて、例えば交流電圧V1の実効値や振幅などを算出して記憶部20に記憶させる。最後に、処理部19は、出力処理を実行して、記憶部20に記憶されている交流電圧V1の実効値や振幅などを、ディスプレイ装置で構成された出力部21に表示させる。これにより、電圧検出装置1による検出対象体2の交流電圧V1についての検出が完了する。なお、出力処理において、処理部19が、取得した交流電圧V1に基づいて、交流電圧V1の電圧波形を出力部21に表示させる構成を採用することもできる。
この電圧検出装置1では、検出回路としての電流電圧変換回路31が、検出電極11、1つの演算増幅器31a、第1抵抗31b、第2抵抗31c、第3抵抗31dおよび第4抵抗31eを備えて上記のように構成されている。したがって、この電流電圧変換回路31によれば、検出電極11が検出対象体2と容量結合し、かつ互いに接続された第1抵抗31bおよび第2抵抗31cの各他端に参照信号出力部13から参照信号Ssが供給されている状態において、1つの演算増幅器31aで、参照信号Ssの電圧Vsの除去と、交流電圧V1に起因して検出対象体2と検出電極11との間(静電容量C0)に流れる電流I1の電圧への変換と、参照信号Ssの電圧Vsに起因して静電容量C0に流れる電流Isの電圧への変換とを同時に行って、上記式(1)で表される電圧V3を出力することができる。このため、この電流電圧変換回路31によれば、演算増幅器が複数の場合に温度変化時や経時変化時に発生する個々の特性のバラツキに起因した検出誤差を大幅に低減することができるため、出力する電圧V3から参照信号Ssの電圧Vsを安定して精度よく除去することができる。また、演算増幅器31aを1つとすることで、演算増幅器および抵抗の部品点数を削減することができるため、低コスト化を図ることができる。
また、この電流電圧変換回路31を備えた電圧検出装置1によれば、電流電圧変換回路31が、温度変化や経時変化に対して、出力する電圧V3から参照信号Ssの電圧Vsを安定して除去することができるため、積分回路32でこの電圧V3を積分して上記式(2)で表される積分信号S1とすることにより、この積分信号S1と参照信号Ssとに基づいて、温度変化や経時変化に対して、より精度よく検出対象体2の交流電圧V1を非接触で検出することができる。
なお、上記の電圧検出装置1では、検出部12の積分回路32、参照信号出力部13、振幅変更部14、増幅部15、加算部16、同期検波部17、制御部18、処理部19および記憶部20を個別のハードウェア(電気回路)で構成して、出力信号Soの出力までをアナログ処理で行っているが、DSPなどを用いることにより、図3に示す電圧検出装置1Aのように、これらを1つの信号処理部22としてまとめて、交流電圧V1の算出までをデジタル処理で行う構成にすることもできる。なお、上記した構成要素と同一の機能を有するものには同一の符号を付して重複した説明を省略する。また、この構成では、検出部12Aは、図2に示す電流電圧変換回路31のみで構成される。
具体的には、この電圧検出装置1Aの信号処理部22は、検出部12Aから出力される電圧V3を電圧データ(デジタルデータ)に変換して取り込む不図示のA/D変換器を備えてA/D変換処理を実行する。また、信号処理部22は、参照信号Ss用の波形データをアナログ信号に変換して参照信号Ssとして出力する不図示のD/A変換器および増幅器を備えている。
また、信号処理部22は、例えばCPUおよびメモリを備えて構成された不図示の処理回路を備え、この処理回路が、予めメモリに記憶されている波形データを読み出して上記のD/A変換器に出力することにより、この波形データに基づいてグランド電位Vgを基準として周波数が一定で電圧がVsの参照信号Ssを生成して出力する参照信号出力処理を実行する。また、この処理回路は、A/D変換処理によって得られた上記式(1)で示される電圧V3の電圧データに含まれている周波数fsの信号成分((α/(1+α))×C×Rx×Vs)と周波数f1の信号成分(α×C×Rx×V1)とを抽出するデジタルフィルタ処理、およびこの抽出された周波数fsの信号成分((α/(1+α))×C×Rx×Vs)を参照信号出力処理において出力される電圧Vsに正規化する係数kを算出すると共に、この算出した係数kを周波数f1の信号成分(α×C×Rx×V1)に乗算して交流電圧V1を算出して出力部21に出力する電圧算出処理を実行する。
この電圧検出装置1によれば、温度変化や経時変化の影響を受けやすいアナログ処理の多くの部分を温度変化の影響を受けにくいデジタル処理に置き換えることができるため、電気特性のばらつきが不可避の電子部品の点数を大幅に削減できることと相まって、一層正確に交流電圧V1を検出することができる。
また、上記の電圧検出装置1,1Aでは、第1抵抗31bの抵抗値Rxと第2抵抗31cの抵抗値Ryとの関係については特に限定してはいないが、抵抗値Rxよりも抵抗値Ryを低くするのが好ましい。一般的に、演算増幅器31aを使用する電流電圧変換回路31では、第1抵抗31bの抵抗値Rxと第2抵抗31cの抵抗値Ryとを揃えた場合であっても、負帰還(フィードバック)される演算増幅器31aの反転入力端子側の回路インピーダンスに対して、非反転入力端子側の回路インピーダンスの方が高くなる傾向にある。また、インピーダンスの高い回路の方が外部ノイズの影響をより受け易いという事実がある。したがって、外部ノイズによる影響を電流電圧変換回路31全体として低減するため、回路インピーダンスが高くなりがちな演算増幅器31aの非反転入力端子側に接続されている第2抵抗31cおよび第4抵抗31eの抵抗値Ry,α×Ryを、反転入力端子側に接続されている第1抵抗31bおよび第3抵抗31dの抵抗値Rx,α×Rxよりも小さい値(Ry<Rx,α×Ry<α×Rx)に規定して(低くして)、非反転入力端子側の回路が外部ノイズの影響を受け難くする、つまり非反転入力端子側の回路への外部ノイズの影響を低減するのが好ましい。
また、上記の電圧検出装置1,1Aでは、第1抵抗31bの抵抗値Rxと第3抵抗31dの抵抗値(α×Rx)との比率、および第2抵抗31cの抵抗値Ryと第4抵抗31eの抵抗値(α×Ry)との比率を示す数値αについては正の数としか限定してはいないが、数値1に規定するのが好ましい。これにより、第1抵抗31bの抵抗値Rxと第3抵抗31dの抵抗値(α×Rx)とが等しくなると共に、第2抵抗31cの抵抗値Ryと第4抵抗31eの抵抗値(α×Ry)とが等しくなる結果、使用する抵抗の抵抗値の種類を1/2にすることができる。したがって、第1抵抗31b〜第4抵抗31eに使用する抵抗の特性の選別作業に要する時間を短縮することができる。
また、検出対象体2の近傍に他の導電体が存在している場合には、検出電極11が検出対象体2のみならず、この他の導電体とも容量結合する虞があり、このような場合には、検出対象体2の交流電圧V1を正確に検出できない事態が生じる。このため、図4に示すように、上記の電圧検出装置1に、電圧ガード部41を配設する構成を採用することもできる。以下、電圧ガード部41について説明する。なお、上記した構成要素と同一の機能を有するものには同一の符号を付して重複した説明を省略する。
電圧ガード部41は、電圧生成部42およびガード電極43を備えている。本例では、電圧生成部42は、一例として、第5抵抗42a(抵抗値:Rz)、第6抵抗42b(抵抗値:α×Rz)、および演算増幅器42cを備えて構成されている。この場合、第5抵抗42aおよび第6抵抗42bが、参照信号Ssの電圧Vsを分圧することにより、Vs×α/(1+α)の電圧V4を生成し、ボルテージフォロワ回路に構成された演算増幅器42cが、この電圧V4を低インピーダンスでガード電極43に印加する。この構成により、ガード電極43と検出電極11とは同電位となることから、ガード電極43は検出電極11と容量結合しない構成要素として機能する。したがって、検出対象体2の近傍に存在している他の導電体をガード電極43で遮蔽することにより、検出電極11と他の導電体との容量結合を回避できるため、他の導電体の存在下においても、検出対象体2の交流電圧V1を正確に検出することができる。
1,1A 電圧検出装置
11 検出電極
12,12A 検出部
13 参照信号出力部
22 信号処理部
31 電流電圧変換回路
31a 演算増幅器
31b 第1抵抗
31c 第2抵抗
31d 第3抵抗
31e 第4抵抗
32 積分回路
EX 信号抽出部
S1 積分信号
S2 増幅信号
So 出力信号
Ss 参照信号
V1 交流電圧
V3 出力電圧
Vs 参照信号の電圧

Claims (6)

  1. 検出対象体と容量結合する検出電極、および基準電位を基準として周波数がfsで電圧がVsの参照信号を出力する参照信号出力部を備えて前記検出対象体に生じている周波数がf1の検出対象交流電圧V1を前記基準電位を基準として検出する電圧検出装置に使用される当該電圧検出装置用の検出回路であって、
    前記検出電極が反転入力端子に接続された1つの演算増幅器と、
    抵抗値がRxに規定されて一端が前記反転入力端子に接続された第1抵抗と、
    抵抗値がRyに規定されると共に一端が前記演算増幅器の非反転入力端子に接続され、かつ他端が前記第1抵抗の他端に接続されて、当該他端に前記参照信号が供給される第2抵抗と、
    抵抗値が(α×Rx)に規定されると共に一端が前記反転入力端子に接続され、かつ他端が前記演算増幅器の出力端子に接続された第3抵抗と、
    抵抗値が(α×Ry)に規定されると共に一端が前記演算増幅器の非反転入力端子に接続され、かつ他端が前記基準電位に接続された第4抵抗とを有し、前記検出対象体と前記検出電極とが容量値Cで容量結合している状態において、下記式(1)で表される電圧Vを出力する電流電圧変換回路を備えている電圧検出装置用の検出回路。
    V=(α/(1+α))×jωs×C×Rx×Vs
    −α×jω1×C×Rx×V1 ・・・ (1)
    ただし、ωs=2×π×fs、ω1=2×π×f1である。
  2. 前記第1抵抗の前記抵抗値Rxよりも前記第2抵抗の前記抵抗値Ryが小さい値に規定されている請求項1記載の電圧検出装置用の検出回路。
  3. 前記αは数値1に規定されている請求項1または2記載の電圧検出装置用の検出回路。
  4. 請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出装置用の検出回路と、
    前記検出電極と、
    前記参照信号出力部と、
    前記検出回路から出力される前記電圧Vを積分して下記式(2)で表される積分信号S1を生成する積分部と、
    前記積分信号S1を制御に応じた利得で増幅して増幅信号を生成しつつ、前記参照信号と当該増幅信号との加算によって当該参照信号と当該増幅信号に含まれている前記参照信号の信号成分とを相殺可能に前記利得を制御すると共に、前記検出対象交流電圧の信号成分を当該増幅信号から抽出して出力信号として出力する信号抽出部と、
    前記出力信号をサンプリングして得られる電圧データと前記検出対象交流電圧V1とが対応して予め記憶された記憶部と、
    前記出力信号をサンプリングして前記電圧データを算出すると共に、前記記憶部を参照して当該算出した電圧データに対応する前記検出対象交流電圧V1を取得して出力する処理部とを備えている電圧検出装置。
    S1=(α/(1+α))×C×Rx×Vs−α×C×Rx×V1 ・・・ (2)
  5. 請求項1から3のいずれかに記載の電圧検出装置用の検出回路と、
    前記検出電極と、
    波形データに基づいて前記参照信号を生成して出力する参照信号出力処理、前記電圧Vを電圧データに変換するA/D変換処理、当該電圧データに含まれている周波数fsの信号成分((α/(1+α))×C×Rx×Vs)と周波数f1の信号成分(α×C×Rx×V1)とを抽出するデジタルフィルタ処理、および当該抽出された前記周波数fsの信号成分((α/(1+α))×C×Rx×Vs)を前記参照信号出力処理において出力される前記電圧Vsに正規化する係数kを算出すると共に当該算出した係数kを前記周波数f1の信号成分(α×C×Rx×V1)に乗算して前記検出対象交流電圧V1を算出して出力する電圧算出処理を実行する信号処理部とを備えている電圧検出装置。
  6. 電圧値がVs×α/(1+α)に規定されたガード電圧を前記参照信号に基づいて生成する電圧生成部、および前記カード電圧が供給されるガード電極を有する電圧ガード部を備えている請求項4または5記載の電圧検出装置。
JP2010192071A 2010-08-30 2010-08-30 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置 Expired - Fee Related JP5474707B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010192071A JP5474707B2 (ja) 2010-08-30 2010-08-30 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010192071A JP5474707B2 (ja) 2010-08-30 2010-08-30 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012047677A true JP2012047677A (ja) 2012-03-08
JP5474707B2 JP5474707B2 (ja) 2014-04-16

Family

ID=45902719

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010192071A Expired - Fee Related JP5474707B2 (ja) 2010-08-30 2010-08-30 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5474707B2 (ja)

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104781679A (zh) * 2012-12-03 2015-07-15 三菱电机株式会社 电压检测装置
US10119998B2 (en) 2016-11-07 2018-11-06 Fluke Corporation Variable capacitance non-contact AC voltage measurement system
US10120021B1 (en) 2017-06-16 2018-11-06 Fluke Corporation Thermal non-contact voltage and non-contact current devices
CN108828307A (zh) * 2018-09-12 2018-11-16 深圳市泰昂能源科技股份有限公司 一种交流电压采样电路及检测装置
US10139435B2 (en) 2016-11-11 2018-11-27 Fluke Corporation Non-contact voltage measurement system using reference signal
US10254375B2 (en) 2016-11-11 2019-04-09 Fluke Corporation Proving unit for voltage measurement systems
US10281503B2 (en) 2016-11-11 2019-05-07 Fluke Corporation Non-contact voltage measurement system using multiple capacitors
US10352967B2 (en) 2016-11-11 2019-07-16 Fluke Corporation Non-contact electrical parameter measurement systems
US10359494B2 (en) 2016-11-11 2019-07-23 Fluke Corporation Proving unit for non-contact voltage measurement systems
US10502807B2 (en) 2017-09-05 2019-12-10 Fluke Corporation Calibration system for voltage measurement devices
US10509063B2 (en) 2017-11-28 2019-12-17 Fluke Corporation Electrical signal measurement device using reference signal
US10539643B2 (en) 2017-09-01 2020-01-21 Fluke Corporation Proving unit for use with electrical test tools
US10551416B2 (en) 2018-05-09 2020-02-04 Fluke Corporation Multi-sensor configuration for non-contact voltage measurement devices
US10557875B2 (en) 2018-05-09 2020-02-11 Fluke Corporation Multi-sensor scanner configuration for non-contact voltage measurement devices
US10591515B2 (en) 2016-11-11 2020-03-17 Fluke Corporation Non-contact current measurement system
US10605832B2 (en) 2016-11-11 2020-03-31 Fluke Corporation Sensor subsystems for non-contact voltage measurement devices
US10677876B2 (en) 2018-05-09 2020-06-09 Fluke Corporation Position dependent non-contact voltage and current measurement
US10746767B2 (en) 2018-05-09 2020-08-18 Fluke Corporation Adjustable length Rogowski coil measurement device with non-contact voltage measurement
US10775409B2 (en) 2018-05-09 2020-09-15 Fluke Corporation Clamp probe for non-contact electrical parameter measurement
US10802072B2 (en) 2018-05-11 2020-10-13 Fluke Corporation Non-contact DC voltage measurement device with oscillating sensor
US10908188B2 (en) 2018-05-11 2021-02-02 Fluke Corporation Flexible jaw probe for non-contact electrical parameter measurement
CN113721071A (zh) * 2021-07-16 2021-11-30 中国电力科学研究院有限公司 一种测量非介入式对地电压的系统和方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001099875A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Matsushita Electric Works Ltd アナログ入力検出回路及び電圧検出レベル判定方法
JP2010025653A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Hioki Ee Corp 測定装置
JP2010025918A (ja) * 2008-06-18 2010-02-04 Hioki Ee Corp 電圧検出装置および線間電圧検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001099875A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Matsushita Electric Works Ltd アナログ入力検出回路及び電圧検出レベル判定方法
JP2010025918A (ja) * 2008-06-18 2010-02-04 Hioki Ee Corp 電圧検出装置および線間電圧検出装置
JP2010025653A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Hioki Ee Corp 測定装置

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104781679A (zh) * 2012-12-03 2015-07-15 三菱电机株式会社 电压检测装置
US10119998B2 (en) 2016-11-07 2018-11-06 Fluke Corporation Variable capacitance non-contact AC voltage measurement system
US10281503B2 (en) 2016-11-11 2019-05-07 Fluke Corporation Non-contact voltage measurement system using multiple capacitors
US11237192B2 (en) 2016-11-11 2022-02-01 Fluke Corporation Non-contact current measurement system
US10139435B2 (en) 2016-11-11 2018-11-27 Fluke Corporation Non-contact voltage measurement system using reference signal
US10254375B2 (en) 2016-11-11 2019-04-09 Fluke Corporation Proving unit for voltage measurement systems
US10591515B2 (en) 2016-11-11 2020-03-17 Fluke Corporation Non-contact current measurement system
US10352967B2 (en) 2016-11-11 2019-07-16 Fluke Corporation Non-contact electrical parameter measurement systems
US10359494B2 (en) 2016-11-11 2019-07-23 Fluke Corporation Proving unit for non-contact voltage measurement systems
US10605832B2 (en) 2016-11-11 2020-03-31 Fluke Corporation Sensor subsystems for non-contact voltage measurement devices
US10120021B1 (en) 2017-06-16 2018-11-06 Fluke Corporation Thermal non-contact voltage and non-contact current devices
US10539643B2 (en) 2017-09-01 2020-01-21 Fluke Corporation Proving unit for use with electrical test tools
US10502807B2 (en) 2017-09-05 2019-12-10 Fluke Corporation Calibration system for voltage measurement devices
US10509063B2 (en) 2017-11-28 2019-12-17 Fluke Corporation Electrical signal measurement device using reference signal
US10551416B2 (en) 2018-05-09 2020-02-04 Fluke Corporation Multi-sensor configuration for non-contact voltage measurement devices
US10557875B2 (en) 2018-05-09 2020-02-11 Fluke Corporation Multi-sensor scanner configuration for non-contact voltage measurement devices
US10677876B2 (en) 2018-05-09 2020-06-09 Fluke Corporation Position dependent non-contact voltage and current measurement
US10746767B2 (en) 2018-05-09 2020-08-18 Fluke Corporation Adjustable length Rogowski coil measurement device with non-contact voltage measurement
US10775409B2 (en) 2018-05-09 2020-09-15 Fluke Corporation Clamp probe for non-contact electrical parameter measurement
US10802072B2 (en) 2018-05-11 2020-10-13 Fluke Corporation Non-contact DC voltage measurement device with oscillating sensor
US10908188B2 (en) 2018-05-11 2021-02-02 Fluke Corporation Flexible jaw probe for non-contact electrical parameter measurement
US11209480B2 (en) 2018-05-11 2021-12-28 Fluke Corporation Non-contact DC voltage measurement device with oscillating sensor
CN108828307A (zh) * 2018-09-12 2018-11-16 深圳市泰昂能源科技股份有限公司 一种交流电压采样电路及检测装置
CN113721071A (zh) * 2021-07-16 2021-11-30 中国电力科学研究院有限公司 一种测量非介入式对地电压的系统和方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5474707B2 (ja) 2014-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5474707B2 (ja) 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置
US11946987B2 (en) Hall electromotive force signal detection circuit having a difference calculation circuit and current sensor thereof
JP5420387B2 (ja) 電圧検出装置
JP2011242370A (ja) インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法
JP2011232136A (ja) 電磁流量計
JP2011053201A (ja) 電圧検出装置および線間電圧検出装置
JP2010286474A (ja) 電圧検出装置
WO2016167146A1 (ja) 正弦波乗算装置とこれを有する入力装置
JP2017083379A (ja) インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法
JP4590394B2 (ja) 電流センサおよび電流センサのオフセット除去方法
JP5313033B2 (ja) 電圧検出装置および線間電圧検出装置
JP6445360B2 (ja) 電流測定装置
JP2016109465A (ja) 静電容量型センサ
JP2016099207A (ja) 電圧測定装置
JP4949008B2 (ja) 電流センサおよび電流センサのオフセット除去方法
JP2006242718A (ja) インピーダンス検出装置
JP4613523B2 (ja) 電流測定装置
JP2020046225A (ja) 電流入力回路及び電力測定器
JP2006170797A (ja) 不平衝容量の検出装置、及びセンサの不平衝容量の検出方法、並びにこれらに用いる変換器
JP2018091798A (ja) 水分量検出器
CN219369871U (zh) 一种断路器的采样电路及断路器
CN216117782U (zh) 小电压信号采样电路
JP4590391B2 (ja) 電流センサおよび電流センサのオフセット除去方法
JP2016065731A (ja) センサ装置
JP4523934B2 (ja) 電流センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130628

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140131

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140205

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5474707

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees