JP2011242370A - インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法 - Google Patents

インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011242370A
JP2011242370A JP2010117307A JP2010117307A JP2011242370A JP 2011242370 A JP2011242370 A JP 2011242370A JP 2010117307 A JP2010117307 A JP 2010117307A JP 2010117307 A JP2010117307 A JP 2010117307A JP 2011242370 A JP2011242370 A JP 2011242370A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
detection circuit
circuit
operational amplifier
impedance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010117307A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Ishizeki
芳明 石関
Minoru Kudo
穣 工藤
Hiroaki Shirai
宏明 白井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Electronics Corp
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Priority to JP2010117307A priority Critical patent/JP2011242370A/ja
Priority to US13/104,601 priority patent/US8525529B2/en
Publication of JP2011242370A publication Critical patent/JP2011242370A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance

Abstract

【課題】正確に測定対象のインピーダンスを検出することができる小型のインピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法を提供すること。
【解決手段】本発明にかかるインピーダンス検出回路では、交流信号発生器1が正弦波信号S1を出力する。検出回路2は、被測定容量Cと接続され、正弦波信号S1を被測定容量Cに印加する。そして、検出回路2は、被測定容量Cと寄生容量Cとの合成インピーダンスに対応したノード電位V6を出力する。補正回路3は、正弦波信号S1に応じて、寄生容量Cに対応したノード電位V6と同期するノード電位V8を出力。減算回路4は、ノード電位V6からノード電位V8を減算した検出信号VOUTを出力する。
【選択図】図1

Description

本発明は、信号線に接続される回路などのインピーダンスを検出するインピーダンス検出回路及び、そのインピーダンス検出回路に付く寄生インピーダンスの調整方法に関する。
近年のシステムの高度化に伴い、容量センサーなどのインピーダンス値を検出する回路が多く使用されている。このようなインピーダンス検出回路は、様々な機器に搭載されるため、小型かつ調整が簡単であることが求められる。また、インピーダンス検出回路は、外部環境によらず正確にインピーダンス値を検出できる能力が求められる。
容量素子のインピーダンスを検出する回路の例が提案されている(特許文献1)。図4は、従来の静電容量−電圧変換装置(インピーダンス検出回路)の構成を模式的に示す回路図である。図4を参照して、このインピーダンス検出回路300について説明する。このインピーダンス検出回路300は、被測定容量30の未知の静電容量Csを、対応する(すなわち、Cに比例する)電圧に変換するよう動作する。このインピーダンス検出回路300は、検出回路31、位相補償回路32、振幅補償回路33、減算回路34及び交流信号発生器35により構成される。
検出回路31は、被測定容量30の静電容量Cを検出する。検出回路31は、演算増幅器41を有する。演算増幅器41は、電圧利得が閉ループ利得よりも極めて大きく、ほぼ無限大であるように見える増幅器である。演算増幅器41の出力端子と反転入力端子(−)との間には、抵抗値がRf1の帰還抵抗42が接続される。これにより、演算増幅器41には負帰還がかけられる。演算増幅器41の非反転入力端子(+)には、交流信号発生器35から出力される駆動信号が印加される。演算増幅器41の反転入力端子(−)は、信号線43を介して、被測定容量30の一端と更に接続される。被測定容量30の他端は、一定の直流バイアスVが印加される。
外部からのノイズ等の不要信号が信号線43に誘導されるのを防止するために、信号線43の周囲は、シールド線44によって包囲される。シールド線44は接地されず、演算増幅器41の非反転入力端子(+)と接続される。
なお、図4の符号Cは、信号線43のシールドされていない部分、すなわち信号線が止むを得ず露出している部分に生じる寄生容量を表す。この寄生容量Cを介して、周囲の交流信号が反転入力端子(−)に印加される可能性がある。
上述のように、演算増幅器41には、帰還抵抗42を介して負帰還がかかっている。そして、演算増幅器41は、その電圧利得の方が閉ループ利得よりも極めて大きく、電圧利得はほぼ無限大であるように見える増幅器である。よって、演算増幅器41の両入力端子間は、イマジナリ・ショートの状態にある。すなわち、演算増幅器41の反転入力端子(−)と非反転入力端子(+)との間の電圧差は、実質的にゼロである。従って、信号線43とシールド線44とは同じ電位(いわゆる電圧)となる。これにより、信号線43とシールド線44との間に生じる浮遊容量をキャンセルすることができる。このことは信号線43の長さに無関係に成立する。また、信号線43の移動や折り曲げ、折り返し等に関係なく成立する。
位相補償回路32は、交流信号発生器35から出力される駆動信号の位相を補償する回路である。位相補償回路32は、演算増幅器51を含む。演算増幅器51の出力端子と反転入力端子(−)との間には、抵抗値がRの帰還抵抗52が接続される。演算増幅器51の反転入力端子(−)には、交流信号発生器35から出力される駆動信号が抵抗値Rの抵抗53を介して加えられる。また、この駆動信号は、抵抗値Ri2の可変抵抗54を介して演算増幅器51の非反転入力端子(+)にも印加される。この非反転入力端子(+)は、容量Cのコンデンサ55を介して接地される。
振幅補償回路33は、交流信号発生器35からの駆動信号の振幅を補償するための回路である。振幅補償回路33は、演算増幅器61を含む。演算増幅器61の出力端子と反転入力端子(−)との間には、抵抗値がRf3の帰還抵抗62が接続される。演算増幅器61の反転入力端子(−)には、抵抗値Ri3の抵抗63を介して位相補償回路の出力電圧、すなわち演算増幅器51の出力Vが印加される。演算増幅器61の非反転入力端子(+)は接地される。さらに、演算増幅器61の出力Vは、抵抗値Ri1の抵抗45を介して演算増幅器41の反転入力端子(−)に接続される。更に付け加えると、静電容量Cと寄生容量Cとによって発生する電流は、帰還抵抗42に向かって流れる。このとき、付加されている寄生容量Cの分の電流を打ち消すように、振幅補償回路33の出力から抵抗45を介して、調整された電流が帰還抵抗42に流れ込んでいる。
減算回路34は、検出回路31の出力から交流信号発生器35の出力を引き去るための回路である。減算回路34は、演算増幅器71を含む。演算増幅器71の出力端子と反転入力端子(−)との間には、抵抗値がRの帰還抵抗72が接続される。演算増幅器71の反転入力端子(−)には、抵抗値がRの抵抗73を介して検出回路31の出力、すなわち演算増幅器41の出力Vが印加される。演算増幅器71の非反転入力端子(+)には、抵抗値がRの抵抗74を介して交流信号発生器35の出力が印加される。この非反転入力端子(+)には、抵抗値がRの抵抗75を介して直流バイアスVが印加される。
交流信号発生器35から出力される駆動信号は、交流信号Vdvと直流バイアスVとの和であるが、直流バイアスVはゼロであってもよい。以下、図4に示すインピーダンス検出回路300の動作を説明する。検出回路31の演算増幅器41の反転入力端子と被測定容量30を形成する電極の一方とを結ぶ信号線43は、シールド線44によって包囲されてシールドされている。しかし、被測定容量30が接続されていないときであっても、このインピーダンス検出回路300の出力、すなわち演算増幅器71の出力Voutの位相は、交流信号Vdvの位相から僅かではあるがシフトする。これは、信号線43のシールドされていない、信号線が接続などのために仕方なく露出している部分に生じる寄生容量Cが残留するためである。
従って、こうした位相シフトをキャンセルするために、交流信号Vdvの位相及び振幅を位相補償回路32及び振幅補償回路33でそれぞれ調整する。これにより、調整後の信号すなわち演算増幅器61の出力Vを、抵抗45を介して検出回路31の演算増幅器41の反転入力端子に帰還させる。
ここで、交流信号Vdvの角周波数をωとする。位相補償回路32の出力Vは、以下の式(1)で表される。
Figure 2011242370
振幅補償回路33の出力Vは、以下の式(2)で表される。

Figure 2011242370
検出回路31の出力Vは、以下の式(3)で表される。

Figure 2011242370
減算回路34の出力Voutは、以下の式(4)で表される。

Figure 2011242370
ここで、Pは以下の式(5)で示される。Qは以下の式(6)で示される。

Figure 2011242370
Figure 2011242370
したがって、可変抵抗54の抵抗値Ri2及び抵抗63の抵抗値Ri3を寄生容量Cに依存して調整することにより、P=0及びQ=0の条件を実現することができる。被測定容量30の静電容量Cを測定する際には、被測定容量30を接続する前に、これらの抵抗値Ri2及びRi3の調整を行う。この条件においては、可変抵抗54の抵抗値Ri2は、以下の式(7)で表される。抵抗63のRi3は、以下の式(8)で表される。

Figure 2011242370
Figure 2011242370
その結果、減算回路34の出力Voutは、以下の式(9)で表わされる。

Figure 2011242370
式(9)は、減算回路34の出力Voutの振幅が、寄生容量Cに影響されることなく、被測定容量30の静電容量Cに比例することを示している。
以上説明したように、図4に示すインピーダンス検出回路300においては、2つの可変抵抗の値を調整することにより、寄生容量Cに影響されず且つ被測定容量30の静電容量Cに比例する値を持つ出力信号を得ることができる。
特開2002−350477号公報
しかし、インピーダンス検出回路300は、回路規模が大きくなるという問題がある。インピーダンス検出回路300では、寄生容量の影響により、検出回路31の演算増幅器41の反転入力端子における信号の位相が、非反転入力端子に入力される原信号の位相に対して遅れる。そのため、原信号に対して進んだ位相を有する信号を生成し、検出回路31の演算増幅器41の反転入力端子に加算している。これにより、寄生容量の影響を除去している。
検出回路31では、寄生容量の影響により0〜90度の範囲で位相遅れが発生する。この位相遅れを打ち消すには、0〜90度位相が進んだ信号を生成する必要がある。しかし、現実的には位相が進んだ信号を生成することはできない。そこで、位相が270〜360度遅れた信号を生成することで、実質的に位相が0〜90度進んだ信号に相当する信号を生成している。ところが、演算増幅器1個では、0〜180度の範囲の位相遅れを有する信号しか生成できない。そこで、インピーダンス検出回路300では、まず位相補償回路32の演算増幅器51により、位相を90〜180度の範囲で遅らせる。更に、振幅補償回路33の演算増幅器61で出力を反転(位相を180度遅らせる)させることにより、270〜360度の位相遅れを有する信号を生成している。従って、インピーダンス検出回路300のような従来技術においては、2個の演算増幅器が必要になる。その結果、インピーダンス検出回路の回路規模の増大を招いてしまう。
本発明の一態様であるインピーダンス検出回路は、交流信号を出力する交流信号発生器と、被測定回路と接続され、前記交流信号発生器からの前記交流信号を前記被測定回路に転送することにより、前記被測定回路のインピーダンス及び前記被測定回路との間に寄生する寄生インピーダンスの合成インピーダンスに対応した第1の信号を出力する検出回路と、前記交流信号発生器からの前記交流信号に応じて、前記寄生インピーダンスに対応した前記第1の信号と同期する第2の信号を出力する補正回路と、前記第1の信号から前記第2の信号を減算した検出信号を出力する減算回路と、を備える、ものである。本発明の一態様であるインピーダンス検出回路は、前記第1の信号から前記第2の信号を減算する。これにより、前記第1の信号に重畳されている前記寄生インピーダンスの影響を除去することができる。よって、被測定回路のインピーダンスに正確に対応した検出信号が出力される。
本発明によれば、正確に測定対象のインピーダンスを検出することができる小型のインピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法を提供することができる。
実施の形態1にかかるインピーダンス検出回路(インピーダンス−電圧変換回路)100の構成を示すブロックダイアグラム図である。 インピーダンス検出回路100の構成を詳細に表示した回路図である。 実施の形態2にかかるインピーダンス検出回路200の構成を示す回路図である。 従来の静電容量−電圧変換装置(インピーダンス検出回路)の構成を模式的に示す回路図である。
実施の形態1
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。本発明の実施の形態1にかかるインピーダンス−電圧変換回路(以下、インピーダンス検出回路)は、測定対象となる回路や素子(被測定回路)のインピーダンス値に比例した電圧を出力するものである。このインピーダンス検出回路は、測定対象のインピーダンス測定の精度低下の原因となる寄生インピーダンスの影響を除去する。具体的には、このインピーダンス検出回路は、寄生インピーダンスの影響を除去する補正回路を有する。
図1は、実施の形態1にかかるインピーダンス検出回路(インピーダンス−電圧変換回路)100の構成を示すブロックダイアグラム図である。図2は、インピーダンス検出回路100の構成を詳細に表示した回路図である。図1及び2を参照して、インピーダンス検出回路100の構成について説明する。インピーダンス検出回路100は、交流信号発生器1、検出回路2、補正回路3、減算回路4、信号線5及びシールド線6により構成される。
交流信号発生器1は、正弦波信号S1を出力する。正弦波信号S1は、交流信号成分Vaと正弦波信号S1の中点電位Vcとの合成信号である。
検出回路2は、演算増幅器AMP1及び帰還抵抗R2により構成される。演算増幅器AMP1の反転入力端子(−)と出力端子との間には、帰還抵抗R2が接続される。演算増幅器AMP1の反転入力端子(−)は、信号線5を介して、被測定容量Cと更に接続される。演算増幅器AMP1の非反転入力端子(+)は、交流信号発生器35と接続され、交流信号発生器35の出力信号である正弦波信号S1が入力される。
補正回路3は、演算増幅器AMP2、帰還抵抗R3及び可変容量Cvにより構成される。演算増幅器AMP2の反転入力端子(−)と出力端子との間には、帰還抵抗R3が接続される。演算増幅器AMP2の反転入力端子(−)は、可変容量Cvを介して、接地電位と更に接続される。演算増幅器AMP2の非反転入力端子(+)は、交流信号発生器35と接続され、交流信号発生器35の出力信号である正弦波信号S1が入力される。
減算回路4は、演算増幅器AMP3、抵抗R8〜10及び帰還抵抗R11により構成される。演算増幅器AMP3の反転入力端子(−)と出力端子との間には、帰還抵抗R11が接続される。演算増幅器AMP3の反転入力端子(−)は、抵抗R9を介して、演算増幅器AMP1の出力端子と更に接続される。演算増幅器AMP3の非反転入力端子(+)と正弦波信号S1の中点電位Vcとの間には、抵抗R10が接続される。演算増幅器AMP3の非反転入力端子(+)は、抵抗R8を介して、演算増幅器AMP2の出力端子と更に接続される。
インピーダンス検出回路の測定対象である被測定容量Cの一端は、信号線5と接続される。被測定容量Cの他端は、直流バイアスVに接続される。直流バイアスVは、接地電位、特定のDC電圧又はハイ・インピーダンス状態である。
信号線5は、外部からのノイズの影響を防ぐ為に、シールド線6で覆われる。演算増幅器AMP1の反転入力端子(−)と非反転入力端子(+)とはイマジナリ・ショートの状態にあるので、信号線5にも正弦波の信号が流れる。
シールド線6が直流電位でバイアスされている場合には、信号線5とシールド線6との間に寄生容量(寄生インピーダンス)が発生する。この寄生容量の発生を防止するため、シールド線6には、交流信号発生器35の出力信号である正弦波信号S1が供給される。これにより、信号線5とシールド線6との間の寄生容量の発生を防止することができる。
また、信号線5が長くなると、信号線5の寄生容量(寄生インピーダンス)が大きくなる。しかし、シールド線6に覆われている限りは、信号線5の長さに依存した寄生容量を無視することができる。しかし、信号線5と被測定容量Cとの間には、シールド線6に覆われていない、信号線5の配線が露出している部分が存在する。この露出部分には、寄生容量(寄生インピーダンス)Cが寄生してしまう。図1及び2では、寄生容量Cを、容量素子として表示している。
次に、インピーダンス検出回路100の動作について説明する。インピーダンス検出回路100は、検出回路2の検出結果から、補正回路3により再現した寄生容量Cの影響を減算する。これにより、インピーダンス検出回路100は、被測定容量Cの容量値に比例した出力電圧を出力する動作を行う。
上述のように、交流信号発生器35から出力される正弦波信号S1は、交流信号成分Vaと交流信号振幅の中点電位Vcとの合成信号である。被測定容量Cには、DC電圧レベルによる充放電電流は流れない。つまり、DC電圧レベルは、被測定容量Cの容量値検出には実質的に影響しない。従って、被測定容量Cの容量値を検出するためには、正弦波信号S1の交流信号成分Vaのみに着目すればよい。以下では、交流信号成分Vaに着目して、インピーダンス検出回路100の動作を説明する。
説明にあたり、交流信号成分Vaの角周波数をωとする。検出回路2の演算増幅器AMP1の非反転入力端子(+)のノード電位をV4とする。演算増幅器AMP1の反転入力端子(―)のノード電位をV5とする。演算増幅器AMP1の出力端子の電位をV6とする。補正回路3の演算増幅器AMP2の反転入力端子(−)のノード電位をV7とする。演算増幅器AMP2の出力端子のノード電位をV8とする。被測定容量Cの直流バイアスVは接地電位とする。
検出回路2では、演算増幅器AMP1の出力端子と反転入力端子(−)とが閉ループで閉じられている。よって、演算増幅器AMP1の反転入力端子(−)と非反転入力端子(+)とはイマジナリ・ショート状態にある。この状態において、演算増幅器AMP1の非反転入力端子(+)には交流信号成分Vaが入力される。よって、演算増幅器AMP1の反転入力端子(−)は、交流信号成分Vaが印加された状態になる。
従って、被測定容量C及び寄生容量Cには、交流信号成分Vaが印加されることになる。被測定容量Cと寄生容量Cとの合成インピーダンスをRspとすると、Rspは以下の式(10)で表される。

Figure 2011242370
被測定容量C及び寄生容量Cに流れる電流をi1とすると、ノード電位V5は以下の式(11)で表される。

Figure 2011242370
式(11)を電流i1に着目して変形すると、以下の式(12)となる。

Figure 2011242370
電流i1は、検出回路2の帰還抵抗Rにも流れる。よって、オームの法則より、帰還抵抗Rの両端のノード電位V6とノード電位V5との差電圧は、以下の式(13)で表される。

Figure 2011242370
その結果、ノード電位V6は以下の式(14)で表される。

Figure 2011242370
同様に、補正回路3では、演算増幅器AMP2の出力端子と反転入力端子(−)とが閉ループで閉じられている。よって、演算増幅器AMP2の出力端子と反転入力端子(−)と非反転入力端子(+)とはイマジナリ・ショート状態にある。この状態において、演算増幅器AMP2の非反転入力端子(+)には交流信号成分Vaが入力される。よって、演算増幅器AMP2の反転入力端子(−)は、交流信号成分Vaが印加された状態になる。
補正回路3の可変容量Cvに流れる電流をi2とすると、ノード電位V7は以下の式(15)で表される。

Figure 2011242370
式(15)を電流i2に着目して変形すると、以下の式(16)となる。

Figure 2011242370
電流i2は、補正回路3の帰還抵抗R3にも流れる。よって、オームの法則より、帰還抵抗R3の両端のノード電位V8とノード電位V7との差電圧は、以下の式(17)で表される。

Figure 2011242370
その結果、ノード電位V8は以下の式(18)で表される。

Figure 2011242370
減算回路34には、ノード電位V6とノード電位V8とが印加される。そして、ノード電位V6とノード電位V8との減算結果が検出信号VOUTとなる。すなわち、(検出信号VOUT)=(ノード電位V6)−(ノード電位V8)である。従って、検出信号VOUTは、式(14)に式(18)を代入することにより、以下の式(19)で表される。

Figure 2011242370
イマジナリ・ショートの関係を考慮すると、(交流信号成分Va)=(ノード電位V4)=(ノード電位V5)=(ノード電位V7)が成立する。また、(帰還抵抗R2)=(帰還抵抗R3)及び(寄生容量C)=(可変容量C)であるとすると、式(19)は以下の式(20)で表される。

Figure 2011242370
つまり、(帰還抵抗R2)=(帰還抵抗R3)及び(可変容量C)=(寄生容量C)とすれば、検出信号VOUTは、寄生容量Cの値に依存しない。よって、検出信号VOUTは、被測定容量Cに比例した値となる。従って、インピーダンス検出回路100は、寄生容量Cの影響を受けることなく、被測定容量Cの容量値に比例した出力電圧を得ることができる。尚、インピーダンス検出回路100は、容量値だけではなく、抵抗値の検出も可能であることはいうまでもない。
インピーダンス検出回路100において、(可変容量C)=(寄生容量C)を実現する方法について説明する。まず、インピーダンス検出回路100に被測定容量Cを接続せずに、インピーダンス検出回路100を動作させる。このとき、インピーダンス検出回路100は、寄生容量Cの影響のみを受けることとなる。この状態において補正回路3の可変容量Cを調整して、ノード電位V6とノード電位V8とが同じ値になるように調整する。すなわち、ノード電位V6とノード電位V8が同じ値になったかの判断は、減算回路4の検出信号VOUTをモニターする。検出信号VOUTが交流信号成分を含まず、直流成分のみを含む状態に調整することにより、(可変容量C)=(寄生容量C)を実現することができる。この後、被測定容量Cを接続してインピーダンス検出回路100を動作させて、寄生容量Cの影響を受けることなく被測定容量Cの容量値を正確に測定できる。
すなわち、インピーダンス検出回路100は、検出回路2のレプリカ回路である補正回路3を有する。つまり、補正回路3は、検出回路2にかかる寄生容量Cの影響を再現する。そして、検出回路2の出力信号から補正回路3の出力信号を減算する。補正回路3から出力される出力信号(ノード電位V8)は、検出回路2の出力信号(ノード電位V6)と同期している。よって、減算回路4が出力する検出信号VOUTからは、寄生容量Cの影響が除去される。これにより、インピーダンス検出回路100は、被測定容量Cにかかるインピーダンスを正確に検出することが可能となる。
また、本構成によれば、インピーダンス検出回路を小型化することができる。インピーダンス検出回路100は、補正回路3は1個の演算増幅器を有する。従って、インピーダンス検出回路100は、検出回路2及び減算回路4を除き、1個の演算増幅器を有する。一方、図4に示すインピーダンス検出回路300は、位相補償回路32及び振幅補償回路33が、それぞれ1個の演算増幅器を有する。従って、インピーダンス検出回路300は、検出回路31及び減算回路34を除き、2個の演算増幅器を有する。一般に、演算増幅器は大規模な回路構成を有する。従って、インピーダンス検出回路100によれば、小型のインピーダンス検出回路を実現することが可能である。
一般に、演算増幅器には定常的に電流が流れる部分が存在する。よって、演算増幅器の設置数が増えるに従って、消費電力が大きくなる。ところが、インピーダンス検出回路100は、上述のように、演算増幅器の設置数を削減することができる。従って、インピーダンス検出回路100によれば、消費電力の低減が可能である。
加えて、インピーダンス検出回路100は、インピーダンス検出回路300のような従来構成と比べて、補正回路3に要する素子数が少ない。従って、より低コストのインピーダンス検出回路を実現することができる。
更に、本構成によれば、1個の可変容量の容量値を調整するのみで、容易に正確なインピーダンス検出が可能である。また、1個の可変容量のみ調整すればよいので、調整作業を容易かつ迅速に行うことができる。従って、インピーダンス検出作業に要するコストを低減することが可能である。
実施の形態2
次に、本発明の実施の形態2にかかるインピーダンス検出回路について説明する。図3は、実施の形態2にかかるインピーダンス検出回路200の構成を示す回路図である。まず、図3を参照して、インピーダンス検出回路200の構成について説明する。インピーダンス検出回路200は、インピーダンス検出回路100と比較して、検出回路2と被測定容量Cとの間に、フィルタ回路7が挿入されている。フィルタ回路7の挿入により、寄生容量Cは相対的に十分に小さくなり、その影響が直接現れることはなくなる。すなわち、インピーダンス検出回路200においては、寄生容量Cは十分に小さく、その影響を受けることはない。更に、インピーダンス検出回路200は、インピーダンス検出回路100と比較して、補正回路3が補正回路8に置換されている。インピーダンス検出回路200のその他の構成は、インピーダンス検出回路100と同様であるので説明を省略する。
フィルタ回路7は、容量C4及びC5、抵抗R4及びR5により構成される。抵抗R5の一端は、検出回路2の演算増幅器AMP1の反転入力端子(−)と接続される。抵抗R5の他端は、抵抗R4の一端と接続される。抵抗R4の他端は、信号線5と接続される。抵抗R4と抵抗R5との間のノードと、接地電位と、の間には、容量C5が接続される。抵抗R4と信号線5との間のノードと、接地電位と、の間には、容量C4が接続される。
補正回路8は、図2に示す補正回路3の可変容量Cが、補正用フィルタ回路9に置換された構成を有する。補正用フィルタ回路9は、容量C6、可変容量C7、抵抗R6及びR7により構成される。抵抗R7の一端は、演算増幅器AMP2の反転入力端子(−)と接続される。抵抗R7の他端は、抵抗R6の一端と接続される。抵抗R6の他端は、容量C6を介して、接地電位と接続される。抵抗R6と抵抗R7との間のノードと、接地電位と、の間には、可変容量C7が接続される。
インピーダンス検出回路200では、被測定容量Cを測定するための電極や、信号線5のシールド線6に覆われていない部分は、ノイズの影響を受け易い。しかし、外部からのノイズの影響を受ける測定環境においても、被測定容量Cの容量値を正しく測定することが求められる。そのため、インピーダンス検出回路200では、ノイズの影響を抑制するために、フィルタ回路7が挿入されている。
ところが、フィルタ回路7を挿入すると、フィルタ回路7のインピーダンスが、被測定容量Cのインピーダンスに加算されて測定されてしまう。よって、被測定容量Cのインピーダンスを正確に測定するためには、フィルタ回路7のインピーダンスの影響を除去する必要がある。そのため、フィルタ回路7と同様の構成を有する補正用フィルタ回路9を、補正回路8に設けている。これにより、フィルタ回路7のインピーダンスの影響は除去される。
換言すれば、フィルタ回路7のインピーダンスは、図2に示す寄生容量Cのインピーダンスに相当する。従って、インピーダンス検出回路200においても、補正回路8により、インピーダンス検出回路100と同様にフィルタ回路7のインピーダンスの影響を相殺できることが理解できる。
従って、インピーダンス検出回路200によれば、ノイズによる影響を抑制するためのフィルタ回路などを挿入した場合においても、被測定容量Cのインピーダンスを正確に測定することができる。すなわち、インピーダンス検出回路200によれば、測定対象物以外に起因して信号線に付加されるインピーダンスを除去して、測定対象物のインピーダンスを正確に測定することができる。
本構成によれば、フィルタ回路7により、寄生容量の影響を抑制できる。従って、インピーダンス検出回路100で必要であった可変容量の調整を省略することが可能である。これにより、インピーダンス検出作業に要する時間を更に低減することができる。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の検出回路及び補正回路の構成はあくまで例示である。従って、検出回路の出力信号から補正回路の出力信号を減算することにより、寄生インピーダンスの影響を除去できるならば、検出回路及び補正回路は他の構成とすることも可能である。
1、35 交流信号発生器
2、31 検出回路
3、8 補正回路
4、34 減算回路
5、43 信号線
6、44 シールド線
7 フィルタ回路
9 補正用フィルタ回路
30、C 被測定容量
32 位相補償回路
33 振幅補償回路
41、51、61、71、AMP1〜3 演算増幅器
42、52、62、72、R2、R3、R11 帰還抵抗
45、53、54、63、73〜75、R4〜R10 抵抗
54 可変抵抗
55 コンデンサ
100、200 インピーダンス検出回路
C4〜7 容量
寄生容量
静電容量
可変容量
S1 正弦波信号
〜V 出力
V4〜8 ノード電位
Vc 中点電位
dv 交流信号
Va 交流信号成分
直流バイアス
VOUT 検出信号
out 出力

Claims (7)

  1. 交流信号を出力する交流信号発生器と、
    被測定回路と接続され、前記交流信号発生器からの前記交流信号を前記被測定回路に印加することにより、前記被測定回路のインピーダンス及び前記被測定回路との間に寄生する寄生インピーダンスとの合成インピーダンスに対応した第1の信号を出力する検出回路と、
    前記交流信号発生器からの前記交流信号に応じて、前記寄生インピーダンスに対応した前記第1の信号と同期する第2の信号を出力する補正回路と、
    前記第1の信号から前記第2の信号を減算した検出信号を出力する減算回路と、を備える、
    インピーダンス検出回路。
  2. 前記検出回路は、
    非反転入力端子が前記交流信号発生器の出力端子と接続され、反転入力端子が前記被測定回路を介して固定電位と接続され、出力端子が前記減算回路と接続される第1の演算増幅器と、
    前記第1の演算増幅器の出力端子と前記反転入力端子との間に接続される第1の抵抗素子と、を備え、
    前記補正回路は、
    非反転入力端子が前記交流信号発生器の前記出力端子と接続され、出力端子が前記減算回路と接続される第2の演算増幅器と、
    前記第2の演算増幅器の出力端子と反転入力端子との間に接続される第2の抵抗素子と、
    前記第2の演算増幅器の前記反転入力端子と接地電位との間に接続される可変容量素子と、を備えることを特徴とする、
    請求項1に記載のインピーダンス検出回路。
  3. 前記第1の演算増幅器は、前記第2の演算増幅器と同じ増幅特性を有し、
    前記第1の抵抗素子は、前記第2の抵抗素子と同じ抵抗値を有することを特徴とする、
    請求項2に記載のインピーダンス検出回路。
  4. 前記第1の演算増幅器の前記反転入力端子と前記被測定回路とを接続する信号線と、
    前記第1の演算増幅器の前記非反転入力端子及び前記第2の演算増幅器の前記非反転入力端子と接続され、前記信号線をシールドするシールド線と、を備え、
    前記信号線には、前記シールド線にシールドされていない部分が存在することを特徴とする、
    請求項2又は3に記載のインピーダンス検出回路。
  5. 前記信号線の前記シールド線によりシールドされていな部分に挿入されるフィルタ回路を更に備え、
    前記フィルタ回路は、一端が前記第1の演算増幅器の前記反転入力端子と接続される第3の抵抗素子と、
    前記第3の抵抗素子の他端と前記被測定回路との間に接続される第4の抵抗素子と、
    前記第3の抵抗素子及び前記第4の抵抗素子の接続点と接地電位との間に接続される第1の容量素子と、
    前記被測定回路と前記第4の抵抗素子との間に接続される第2の容量素子とを備え、
    前記補正回路は、
    前記可変容量素子と前記第2の演算増幅器の前記反転入力端子との間に接続される第5の抵抗素子と、
    一端が前記可変容量素子の前記第2の演算増幅器側の一端と接続される第6の抵抗素子と、
    前記第6の抵抗素子の他端と接地電位との間に接続される第3の容量素子と、を更に備えることを特徴とする、
    請求項4に記載のインピーダンス検出回路。
  6. 前記第3乃至6の抵抗素子は、それぞれ同じ抵抗値を有し、
    前記第1乃至3の容量素子は、それぞれ同じ容量値を有することを特徴とする、
    請求項5に記載のインピーダンス検出回路。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一項に記載のインピーダンス検出回路に前記被測定回路を接続しない状態において、前記交流信号発生器から前記交流信号を出力し、
    前記可変容量素子の容量値を調整することにより、前記第1の信号と前記第2の信号とを等しくすることを特徴とする、
    インピーダンス検出回路の調整方法。
JP2010117307A 2010-05-21 2010-05-21 インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法 Pending JP2011242370A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010117307A JP2011242370A (ja) 2010-05-21 2010-05-21 インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法
US13/104,601 US8525529B2 (en) 2010-05-21 2011-05-10 Impedance detection circuit and adjustment method of impedance detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010117307A JP2011242370A (ja) 2010-05-21 2010-05-21 インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011242370A true JP2011242370A (ja) 2011-12-01

Family

ID=44971990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010117307A Pending JP2011242370A (ja) 2010-05-21 2010-05-21 インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8525529B2 (ja)
JP (1) JP2011242370A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106066424A (zh) * 2016-06-08 2016-11-02 重庆金山科技(集团)有限公司 食道阻抗检测电路
WO2018116706A1 (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 アルプス電気株式会社 静電容量検出装置及び入力装置
CN117665397A (zh) * 2024-02-01 2024-03-08 安徽大学 一种具有自适应寄生电容补偿的电容器复数阻抗测量方法、电路和装置
CN117665397B (en) * 2024-02-01 2024-04-30 安徽大学 Capacitor complex impedance measurement method, circuit and device

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9581628B2 (en) * 2012-05-04 2017-02-28 Apple Inc. Electronic device including device ground coupled finger coupling electrode and array shielding electrode and related methods
CN102735944B (zh) * 2012-07-12 2014-08-13 杭州电子科技大学 直流电机电枢电感检测电路
CN104640053A (zh) 2015-01-19 2015-05-20 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 扬声器的直流阻抗检测方法、电路以及d类音频放大器
CN106454679B (zh) 2016-11-17 2019-05-21 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 扬声器振膜状态估计方法及应用其的扬声器驱动电路
CN106341763B (zh) 2016-11-17 2019-07-30 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 扬声器驱动装置和扬声器驱动方法
JP6943727B2 (ja) * 2017-11-09 2021-10-06 日置電機株式会社 インピーダンス測定システムおよびインピーダンス測定方法
CN112666397B (zh) * 2020-11-27 2024-03-19 大连理工大学 高频电刀负极板接触阻抗检测电路及检测方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6485408A (en) * 1987-09-28 1989-03-30 Yokogawa Electric Corp Automatic zero circuit
JPH01184469A (ja) * 1988-01-18 1989-07-24 Shiojiri Kogyo Kk 容量測定装置
JPH0772192A (ja) * 1993-09-03 1995-03-17 Fuji Electric Co Ltd 抵抗値測定装置
JP2000515253A (ja) * 1998-01-23 2000-11-14 住友金属工業株式会社 静電容量−電圧変換装置及び変換方法
JP2002350477A (ja) * 2001-05-29 2002-12-04 Sumitomo Metal Ind Ltd インピーダンス検出回路
JP2007271363A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Fujitsu Ltd 強誘電体特性測定装置
JP2010071963A (ja) * 2008-09-22 2010-04-02 Yokogawa Electric Corp 電流測定装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6485408A (en) * 1987-09-28 1989-03-30 Yokogawa Electric Corp Automatic zero circuit
JPH01184469A (ja) * 1988-01-18 1989-07-24 Shiojiri Kogyo Kk 容量測定装置
JPH0772192A (ja) * 1993-09-03 1995-03-17 Fuji Electric Co Ltd 抵抗値測定装置
JP2000515253A (ja) * 1998-01-23 2000-11-14 住友金属工業株式会社 静電容量−電圧変換装置及び変換方法
JP2002350477A (ja) * 2001-05-29 2002-12-04 Sumitomo Metal Ind Ltd インピーダンス検出回路
JP2007271363A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Fujitsu Ltd 強誘電体特性測定装置
JP2010071963A (ja) * 2008-09-22 2010-04-02 Yokogawa Electric Corp 電流測定装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106066424A (zh) * 2016-06-08 2016-11-02 重庆金山科技(集团)有限公司 食道阻抗检测电路
WO2018116706A1 (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 アルプス電気株式会社 静電容量検出装置及び入力装置
US10817114B2 (en) 2016-12-21 2020-10-27 Alps Alpine Co., Ltd. Capacitance detection device for detecting capacitance between object proximate to detection electrode and the detection electrode and input device used for inputting information according to proximity of object
CN117665397A (zh) * 2024-02-01 2024-03-08 安徽大学 一种具有自适应寄生电容补偿的电容器复数阻抗测量方法、电路和装置
CN117665397B (en) * 2024-02-01 2024-04-30 安徽大学 Capacitor complex impedance measurement method, circuit and device

Also Published As

Publication number Publication date
US20110285407A1 (en) 2011-11-24
US8525529B2 (en) 2013-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011242370A (ja) インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出回路の調整方法
TW546480B (en) Circuit, apparatus and method for inspecting impedance
TW448302B (en) Static capacitance-to-voltage converter and converting method
JP5474707B2 (ja) 電圧検出装置用の検出回路および電圧検出装置
US8508217B2 (en) Output circuit of charge mode sensor
WO2015137018A1 (ja) 非接触電圧計測装置
JP5502597B2 (ja) インピーダンス検出回路およびインピーダンス検出方法
TW591236B (en) Impedance detector circuit and static capacitance detector circuit
JP3501398B2 (ja) インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出方法
TWI221194B (en) Capacitance sensing apparatus for sensor and method of the same
JP3501401B2 (ja) インピーダンス検出回路、インピーダンス検出装置、及びインピーダンス検出方法
JP4287130B2 (ja) 静電容量検出回路及び静電容量検出方法
JP3501403B2 (ja) インピーダンス検出回路、インピーダンス検出装置、及びインピーダンス検出方法
JP3454426B2 (ja) インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出方法
JP2016109465A (ja) 静電容量型センサ
JP2003075486A (ja) インピーダンス検出回路及び静電容量検出回路とその方法
EP3123183A1 (en) Apparatus and methods for measuring electrical current
JP4282321B2 (ja) インピーダンス検出装置及びインピーダンス検出方法
JP2007212192A (ja) 電流計測回路及びそれを用いた検査装置
JP2006170797A (ja) 不平衝容量の検出装置、及びセンサの不平衝容量の検出方法、並びにこれらに用いる変換器
JP4072401B2 (ja) インピーダンス検出回路及び静電容量検出回路
JP4859353B2 (ja) 増幅回路、及び試験装置
TWI226522B (en) Potential fixing apparatus, potential fixing method and capacity measuring apparatus
JP2002044788A (ja) マイクロフォン装置
JP2003075482A (ja) インピーダンス検出方法、静電容量検出方法及びそのための装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130208

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140304

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20141014