JP2011149045A - 軟磁性合金薄帯及びその製造方法、並びに軟磁性合金薄帯を有する磁性部品 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 Fe100-x-y-zAxByXz(ただし、AはCu及び/又はAuであり、XはSi,S,C,P,Al,Ge,Ga及びBeから選ばれた少なくとも一種の元素であり、x,y及びzはそれぞれ原子%で0<x≦5、10≦y≦22、1≦z≦10、及びx+y+z≦25の条件を満たす数である。)により表される組成を有し、非晶質相中に平均粒径が60 nm以下の微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した母相を有する軟磁性合金薄帯であって、表面に酸化皮膜を有し、前記酸化皮膜の一部が前記母相における平均B濃度より低いB濃度を有する層である軟磁性合金薄帯。
【選択図】 図1
Description
(1)組成
本発明の軟磁性合金薄帯は、Fe100-x-y-zAxByXz(ただし、AはCu及び/又はAuであり、XはSi,S,C,P,Al,Ge,Ga及びBeから選ばれた少なくとも一種の元素であり、x,y及びzはそれぞれ原子%で0<x≦5、10≦y≦22、1≦z≦10、及びx+y+z≦25の条件を満たす数である。)により表される組成を有する。1.7 T以上の飽和磁束密度Bsを有するためには、bcc-Feの微細結晶(ナノ結晶)を有する組織となる必要があり、そのためにはFe濃度が高いことが必要である。具体的には、Fe濃度は75原子%以上が必要であり、好ましくは77原子%以上である。
本発明の軟磁性合金薄帯、特にSiを含む系では、急冷時に表面に高Si濃度酸化物層が形成される。その後の酸素含有雰囲気中でのナノ結晶化熱処理によりSi及びFeが表面域に拡散し、図1に概略的に示すように、母相側から順に高Si濃度酸化物層、高Fe濃度酸化物層及びSi+Fe酸化物層からなる全体で約30 nmと厚い酸化皮膜が形成される。酸化皮膜とナノ結晶母相との間には、酸化皮膜側から順にナノ結晶層、高B濃度非晶質層、及び場合により粗大ナノ結晶層がある。この表面域組織により良好な軟磁気特性とともに優れた絶縁性及び耐食性が得られると言えるが、この組織を得るにはB濃度が高い安定な非晶質層の形成が最も重要である。
熱処理後の母相は、平均粒径60 nm以下の体心立方(bcc)構造の微細結晶粒が30%以上の体積分率で非晶質相中に分散した組織を有する。微細結晶粒の平均粒径が60 nmを超えると軟磁気特性が低下する。微細結晶粒の体積分率が30%未満では、非晶質の割合が多すぎ、飽和磁束密度が低い。熱処理後の微細結晶粒の平均粒径は40 nm以下が好ましく、30 nm以下がより好ましい。また熱処理後の微細結晶粒の体積分率は50%以上が好ましく、60%以上がより好ましい。60 nm以下の平均粒径及び30%以上の体積分率で、Fe基非晶質合金より磁歪が低く軟磁性に優れた合金薄帯が得られる。同組成のFe基非晶質合金薄帯は磁気体積効果により比較的大きな磁歪を有するが、bcc-Feを主体とする微細結晶粒が分散した本発明の軟磁性合金薄帯は磁気体積効果により生じる磁歪がはるかに小さく、ノイズ低減効果が大きい。
(1) 合金溶湯
Fe及び半金属元素を含む合金溶湯は、Fe100-x-y-zAxByXz(ただし、AはCu及び/又はAuであり、XはSi,S,C,P,Al,Ge,Ga及びBeから選ばれた少なくとも一種の元素であり、x、y及びzはそれぞれ原子%で0<x≦5、10≦y≦22、1≦z≦10、及びx+y+z≦25の条件を満たす数である。)により表される組成を有する。A元素としてCuを使用した場合を例にとって、本発明の製造方法を以下詳細に説明する。
溶湯の急冷は単ロール法により行うことができる。溶湯温度は合金の融点より50〜300℃高いのが好ましく、例えば微細結晶核が析出した厚さ数十μmの薄帯を製造する場合、1300℃の溶湯をノズルから冷却ロール上に噴出させるのが好ましい。単ロール法における雰囲気は、合金が活性な金属を含まない場合は大気又は不活性ガス(Ar、窒素等)であり、活性な金属を含む場合は不活性ガス(Ar、He、窒素等)又は真空である。表面に酸化皮膜を形成するために、溶湯の急冷を酸素ガス含有雰囲気(例えば大気)中で行うのが好ましい。
急冷した合金薄帯と冷却ロールとの間にノズルから不活性ガス(窒素等)を吹き付けることにより、合金薄帯を冷却ロールから剥離する。合金薄帯の剥離温度は不活性ガスを吹き付けるノズルの位置(剥離位置)を変えることにより調整できる。剥離温度は170〜350℃であり、好ましくは200〜340℃であり、より好ましくは250〜330℃である。剥離温度が170℃未満であると、急冷が進んで合金組織がほぼ非晶質となり、Cuの凝集、Cuクラスターの形成、及び微細結晶核の析出に至らず、初期微結晶合金が得られない。ロール上での冷却速度が適正な場合、薄帯の表面域は急冷によりCu量が減って微細結晶核が生成されないが、内部では冷却速度が比較的遅いためにCu量が表面域より多く分布し、微細結晶核が均質に生成される。その結果、内部の母相より高いB濃度の(Feに対するBの割合が大きい)層が表面域(深さ30〜130 nm)に形成される。表面近傍の高B濃度の非晶質層により、初期微結晶合金薄帯は良好な靭性を有する。剥離温度が350℃超であると、Cuによる結晶化が進み過ぎ、表面近傍に高B濃度非晶質層が形成されないので、十分な靭性が得られない。
初期微結晶合金薄帯は、平均粒径が0 nm超〜30 nm以下の微細結晶核が非晶質相中に0%超〜30%未満の体積分率で分散した組織を有する。微細結晶核の平均粒径が30 nm超であると、熱処理により微細結晶核が粗大化しすぎ、軟磁気特性が劣化する。優れた軟磁気特性を得るためには、微細結晶核の平均粒径は25 nm以下が好ましく、20 nm以下がより好ましい。ただし、非晶質相中に微細結晶核が存在する必要があるので、微細結晶核の平均粒径は0.5 nm以上であるのが好ましく、2 nm以上であるのがより好ましい。初期微結晶合金薄帯に生成したこのような平均粒径を有する微細結晶核の体積分率は一般に0%超〜30%未満の範囲内にある。微細結晶核の体積分率が30%以上となると平均粒径も30 nm超となる傾向がある。一方、微細結晶核がないと(完全に非晶質であると)、かえって熱処理により粗大結晶粒生成し易い。また微細結晶核の体積分率が30%以上であると合金薄帯は十分な靭性を有さず、後工程でのハンドリングが困難である。
初期微結晶合金薄帯を酸素含有雰囲気中で熱処理することにより、(a) 微細結晶核が成長して60 nm以下の平均粒径を有する微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した母相組織が得られるとともに、(b) 酸化に応じた量のSi及びFeが表面に向かって拡散し、図1に示すようにSi及びFeを主体とする酸化皮膜(表面から順にSi+Fe酸化物層、高Fe濃度酸化物層及び高Si濃度酸化物層を有する)が形成される。微細結晶粒は体心立方構造のFe(bcc-Fe)を主体し、軟磁性合金薄帯の飽和磁束密度を上昇させるとともに、磁歪を低下させる。また酸化皮膜は低B濃度層及び低Cu濃度層を有する。
高温高速熱処理の方が一般的に必要な磁気特性を得やすい。初期微結晶合金薄帯を100℃/分以上の最大昇温速度で最高温度まで加熱し、最高温度に1時間以下保持する熱処理を施すことにより、平均粒径60 nm以下の微細結晶粒を有する組織を含有し、低保磁力で、低磁場での磁束密度が高く、かつヒステリシス損失が少ない軟磁性合金薄帯が得られる。最高温度までの平均昇温速度は100℃/分以上が好ましい。300℃以上の高温域での昇温速度は軟磁性合金薄帯の磁気特性に大きな影響を与えるため、300℃以上での平均昇温速度は100℃/分以上が好ましい。
初期微結晶合金薄帯を約350℃以上〜430℃未満の最高温度に1時間以上保持する。量産性の観点から、保持時間は24時間以下が好ましく、4時間以下がより好ましい。保磁力の増加を抑制するため、平均昇温速度は0.1〜200℃/分が好ましく、0.1〜100℃/分がより好ましい。この熱処理により角形性の高い軟磁性合金薄帯が得られる。
Si,Fe,B及びCuを表面側に拡散させることにより所望の層構成を有する酸化皮膜を形成するために、熱処理雰囲気の酸素濃度は6〜18%であり、好ましくは7〜16%であり、より好ましくは8〜15%であり、最も好ましくは9〜13%である。熱処理雰囲気は窒素、Ar、ヘリウム等の不活性ガスと酸素との混合ガスが好ましい。熱処理雰囲気の酸素濃度が6%未満であると、表面酸化が不十分で、所望の層構成を有する酸化皮膜が得られない。一方、熱処理雰囲気の酸素濃度が18%超であると、軟磁性合金薄帯の湾曲度(湾曲半径により表される)が大きくなる。熱処理により生成された酸化皮膜と合金との熱膨張率差により軟磁性合金薄帯は湾曲するが、一般に酸化皮膜が厚くなるに従って湾曲度が大きくなる(湾曲半径が小さくなる)。従って、湾曲度は酸化皮膜の厚さを示すパラメータであると言うことができる。湾曲度が小さければ(湾曲半径が大きければ)、軟磁性合金薄帯は比較的平坦でハンドリングが容易である。一方、湾曲度が大きければ(湾曲半径が小さければ)、軟磁性合金薄帯のハンドリングが困難になるだけでなく、巻回又は積層したときの体積率が低下する。
磁場中熱処理により軟磁性合金薄帯に誘導磁気異方性を付与することができる。良好な誘導磁気異方性を付与するために、昇温中、最高温度の保持中及び冷却中も磁場を印加した方が好ましい。磁場中熱処理により高角形比又は低角形比の直流ヒステリシスループを有する軟磁性合金薄帯が得られる。磁場を印加しない熱処理の場合、軟磁性合金薄帯は中程度の角形比の直流ヒステリシスループを有する。
本発明の軟磁性合金薄帯はFe及びSiを含む酸化皮膜を有するが、必要に応じてSiO2、MgO、Al2O3等の酸化物で被覆しても良い。表面処理を熱処理工程中に行うと酸化物の結合強度が上がり、アノード酸化処理より良好な絶縁性が得られ、処理効率も良い。必要に応じて軟磁性合金薄帯からなる磁心に樹脂を含浸させても良い。
本発明の軟磁性合金薄帯からなる磁性部品(巻磁心等)は飽和磁束密度が高いので、磁気飽和が問題となるハイパワーの用途に好適であり、例えばアノードリアクトル等の大電流用リアクトル、アクティブフィルタ用チョークコイル、平滑用チョークコイル、レーザ電源や加速器等に用いられるパルスパワー磁性部品、トランス、通信用パルストランス、モータ又は発電機の磁心、ヨーク材、電流センサ、磁気センサ、アンテナ磁心、電磁波吸収シート等が挙げられる。
Febal.Cu1.35Si3B11の組成を有する合金溶湯を単ロール法により大気中で急冷し、250℃で冷却ロールより剥離し、非晶質相中に平均粒径30 nm以下の微細結晶核が25%の体積分率で分散した組織を有する幅5 mm及び厚さ18μmの初期微結晶合金薄帯を得た。初期微結晶合金薄帯の剥離温度は下記の方法により測定した。
熱処理雰囲気を酸素濃度が1%未満の真空とした以外実施例1と同じ方法で、Febal.Cu1.35Si3B11の組成を有する合金溶湯から幅5 mm及び厚さ18μmの軟磁性合金薄帯を作製した。この軟磁性合金薄帯における各元素の分布をGDOESにより測定した結果を図3(a)〜図3(c) に示す。図3(a)〜図3(c) から明らかなように、軟磁性合金薄帯の表面には、急冷時に形成されたと考えられる高Si濃度酸化物層がある。急冷の際、表面張力が低いSiは酸素との結合により表面に偏析しやすい。また表面張力が低いB及び.Cuも表面に偏析する傾向がある。真空中の熱処理では酸化が起こらないので、急冷により形成された酸化皮膜が成長することはない。その結果、酸化皮膜は実質的に高Si濃度酸化物からなり、かつBを多く含有する。合金層の深さ20 nm近傍でB量が増えるが、深さ40 nm近傍では低減し、低B濃度層を形成している。これは、酸化皮膜にBが拡散したことにより合金層の表面域内のB濃度が低下したためであると考えられる。合金層内の低B濃度層では結晶粒は平均粒径が50 nm以上と粗大化し、非晶質層が形成されない。そのため実効結晶磁気異方性が大きくなり、良好な軟磁気特性が得られない。
Febal.Cu1.35Si2B12の組成を有する合金溶湯から実施例1と同じ方法で軟磁性合金薄帯を作製した。この軟磁性合金薄帯の元素分布をGDOESにより測定した。結果を図4に示す。この軟磁性合金薄帯の元素分布は実施例1のものと実質的に同じであった。
表1に示す組成を有する合金溶湯から、実施例1と同じ方法で非晶質相中に平均粒径30 nm以下の微細結晶粒が2〜25%の体積分率で分散した組織を有する幅5 mm、厚さ16〜25μmの初期微結晶合金薄帯を作製した。この初期微結晶合金薄帯に酸素濃度が15%の窒素ガス中でナノ結晶化熱処理を施し、軟磁性合金薄帯を作製した。各軟磁性合金薄帯における微細結晶粒の平均粒径及び体積分率を下記の方法により測定した。その結果、各軟磁性合金薄帯は非晶質相中に平均粒径が60 nm以下の微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した組織を有することが分った。各軟磁性合金薄帯について、Fe,B及びCuの濃度分布及び耐食性を下記の方法により測定した。表面から深さ10 nmまでにおけるFe、B及びCuの平均濃度(原子%)、Cu/Fe原子比(%)、B/Fe原子比(%)、合金層内のB濃度の分布、及び耐食性を表1に示す。
剥離位置に配置したノズルから吹き付ける窒素ガスにより冷却ロールから剥離するときの初期微結晶合金薄帯の温度を放射温度計(アピステ社製、型式:FSV-7000E)により測定し、剥離温度とした。
各試料のTEM写真から微細結晶粒の平均粒径を測定した。また各試料のTEM写真に長さLtの任意の直線を引き、微細結晶粒と交差する部分の長さの合計Lcを求め、Lc/Ltを計算した。この操作を複数回繰り返し、Lc/Ltの平均を微細結晶粒の体積分率とした。
各試料の自由面(冷却ロールに接しない面)から内部に向かう各元素の濃度分布を、GD-Profiler 2(株式会社堀場製作所製)を用いて、グロー放電発光分光分析[GDOES(Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy)]により測定した。
合金薄帯間に良好な絶縁性があればP10/1kが10 W/kg未満であるが、薄帯間の絶縁性が悪く渦電流損失が薄帯間でも働くと、この値を上回る。従って、1 T及び1 kHzの条件下で、120 mm×5 mmの各軟磁性合金薄帯試料に交流磁気測定装置(東栄工業(株)製、型式:TWM-18SR)により正弦波形を入力し、2次コイルで検出した波形信号を解析した。渦電流損失は周波数の2乗に比例するため、高周波数では薄帯間の絶縁性により大きく変化する。絶縁性は、P10/1k<10 W/kgの場合は良好と判断され、10≦P10/1k<20 W/kgの場合は許容範囲の下限と判断される。
各軟磁性合金薄帯試料を水道水に5時間浸漬することにより、表面に出た錆びの量から耐食性を下記基準で評価した。
◎:僅かに赤錆が出たが、試料全面を覆っていなかった。
○:試料表面全体に薄い赤錆が出たが、布で擦れば除去できた。
△:試料表面全体に赤錆が出たが、ヤスリで磨けば除去でき、試料内部まで浸透していないことが分った(許容できる最下限)。
×:表面全体に出た赤錆が試料内部まで浸透していた。
熱処理雰囲気を真空度10-4 torrの真空とした以外実施例1と同じ方法により、表2に示す組成を有する合金溶湯から軟磁性合金薄帯を作製し、実施例3と同じ測定を行った。結果を表2に示す。
熱処理雰囲気の酸素濃度を変えた以外実施例1と同じ方法で、Febal.Cu1.35Si2B12の組成を有する合金溶湯から軟磁性合金薄帯を作製した。微細結晶粒の平均粒径及び体積分率を実施例3と同じ方法により測定した結果、各軟磁性合金薄帯は非晶質相中に平均粒径が60 nm以下の微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した組織を有することが分った。各軟磁性合金薄帯について、Fe,B及びCuの濃度分布、耐食性、湾曲度、角形比(80 A/mの磁束密度B80に対する残留磁束密度Brの比Br/B80で定義される)及び保磁力Hcを測定した。湾曲度は熱処理済みの各軟磁性合金薄帯の湾曲半径R(m)により表され、湾曲半径は熱処理により生じた酸化皮膜の厚さに比例する。結果を表3に示す。
実施例3と同じ方法で、表4に示す組成を有する合金溶湯から、非晶質相中に平均粒径30 nm以下の微細結晶粒が2〜25%の体積分率で分散した組織を有する幅5 mm及び厚さ16〜25μmの初期微結晶合金薄帯を作製した。各初期微結晶合金薄帯に熱処理雰囲気中の酸素濃度を10%とした以外実施例3と同じ条件でナノ結晶化熱処理を施し、軟磁性合金薄帯を作製した。微細結晶粒の平均粒径及び体積分率を実施例3と同じ方法により測定した結果、各軟磁性合金薄帯は平均粒径が60 nm以下の微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した組織を有することが分った。各軟磁性合金薄帯に対して実施例3と同じ測定を行った。結果を表4に示す。
図5(a)〜図5(c) は実施例5と同様に作製したFebal.Cu1.2Si5B11P2合金の深さ方向の元素分布を示す。この合金はPを含有するが、元素分布は図1に示すものと似ている。PはB及びCuと同様に高Si濃度酸化物層に偏析しやすく、またナノ結晶層、非晶質層及びナノ結晶母相からなる層状構造の形成を助ける。
図6は実施例5の試料4-19(Febal.Cu1.35Si4B12P4)の軟磁性合金薄帯における深さ方向の元素分布を示す。図6に示す元素分布は図5(a)〜図5(c) に示すものとほぼ同様であった。
熱処理工程での昇温速度を変えた以外実施例1と同じ方法で、表5に示す組成を有する合金溶湯から軟磁性合金薄帯を作製し、表面でのB濃度(原子%)、低B濃度層における最低B濃度(原子%)、表面から10 nmの深さまでのFe、Cu及びBの平均濃度(原子%)、Cu/Fe及びB/Fe、並びに耐食性を測定した。結果を表5に示す。
Claims (11)
- Fe100-x-y-zAxByXz(ただし、AはCu及び/又はAuであり、XはSi,S,C,P,Al,Ge,Ga及びBeから選ばれた少なくとも一種の元素であり、x,y及びzはそれぞれ原子%で0<x≦5、10≦y≦22、1≦z≦10、及びx+y+z≦25の条件を満たす数である。)により表される組成を有し、非晶質相中に平均粒径が60 nm以下の微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した母相を有する軟磁性合金薄帯であって、表面に酸化皮膜を有し、前記酸化皮膜の一部が前記母相における平均B濃度より低いB濃度を有する層であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1に記載の軟磁性合金薄帯において、表面から深さ10 nmまでの平均B濃度が1原子%以下であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1又は2項に記載の軟磁性合金薄帯において、表面から深さ10 nmまでの酸化皮膜におけるB/Feの原子比が1/20以下であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜3のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯において、前記酸化皮膜の一部が前記母相における平均Cu濃度より低いCu濃度を有する層であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯において、表面から深さ10 nmまでの平均Cu濃度が2原子%以下であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯において、前記酸化皮膜におけるCu/Feの原子比が1/10以下であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯において、前記酸化皮膜における平均Fe濃度が10原子%以上であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯において、前記元素XのうちSi及び/又はPが必須であることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯において、Feの一部が合金1.5原子%以下の範囲でNi,Mn,Co,V,Cr,Ti,Zr,Nb,Mo,Hf,Ta及びWから選ばれた少なくとも一種の元素で置換されていることを特徴とする軟磁性合金薄帯。
- 請求項1〜9のいずれかに記載の軟磁性合金薄帯からなることを特徴とする磁性部品。
- Fe100-x-y-zAxByXz(ただし、AはCu及び/又はAuであり、XはSi,S,C,P,Al,Ge,Ga及びBeから選ばれた少なくとも一種の元素であり、x,y及びzはそれぞれ原子%で0<x≦5、10≦y≦22、1≦z≦10、及びx+y+z≦25の条件を満たす数である。)により表される組成を有し、平均粒径が60 nm以下の微細結晶粒が50%以上の体積分率で分散した母相を有し、表面に酸化皮膜を有し、前記酸化皮膜の一部が前記母相の平均B濃度より低いB濃度を有する層である軟磁性合金薄帯を製造する方法において、(1) 前記組成を有する合金の溶湯を回転する冷却ロール上に噴出することにより急冷し、非晶質相中に平均粒径30 nm以下の微細結晶核が0%超え30%未満の体積分率で分散した母相を有する初期微結晶合金薄帯を形成し、次いで(2) 前記初期微結晶合金薄帯に6〜18%の酸素濃度を有する雰囲気中で熱処理を施すことを特徴とする方法。
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