JP2011128504A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8432603B2 (en) 2009-03-31 2013-04-30 View, Inc. Electrochromic devices
US9958750B2 (en) 2010-11-08 2018-05-01 View, Inc. Electrochromic window fabrication methods
US12403676B2 (en) 2011-12-12 2025-09-02 View Operating Corporation Thin-film devices and fabrication
US12061402B2 (en) 2011-12-12 2024-08-13 View, Inc. Narrow pre-deposition laser deletion
US11865632B2 (en) 2011-12-12 2024-01-09 View, Inc. Thin-film devices and fabrication
US10295880B2 (en) 2011-12-12 2019-05-21 View, Inc. Narrow pre-deposition laser deletion
CN104011588B (zh) 2011-12-12 2021-06-22 唯景公司 薄膜装置和制造
US10802371B2 (en) 2011-12-12 2020-10-13 View, Inc. Thin-film devices and fabrication
CN109298592A (zh) * 2012-02-15 2019-02-01 大日本印刷株式会社 相移掩模及使用该相移掩模的抗蚀图案形成方法
JP6063650B2 (ja) * 2012-06-18 2017-01-18 Hoya株式会社 フォトマスクの製造方法
TWI689771B (zh) * 2014-07-03 2020-04-01 美商唯景公司 雷射圖案化電致變色裝置
US12235560B2 (en) 2014-11-25 2025-02-25 View, Inc. Faster switching electrochromic devices
CA2980477A1 (en) 2015-03-20 2016-09-29 View, Inc. Faster switching low-defect electrochromic windows
JP2017072842A (ja) * 2016-11-09 2017-04-13 Hoya株式会社 フォトマスクの製造方法、フォトマスク、パターン転写方法、及びフラットパネルディスプレイの製造方法
US12078921B2 (en) 2020-11-20 2024-09-03 Entegris, Inc. Phase-shift reticle for use in photolithography
CN113589641B (zh) * 2021-07-20 2024-03-19 华虹半导体(无锡)有限公司 相移掩模的制作方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100322537B1 (ko) * 1999-07-02 2002-03-25 윤종용 블랭크 마스크 및 이를 이용한 위상 반전 마스크 제조방법
US6569581B2 (en) * 2001-03-21 2003-05-27 International Business Machines Corporation Alternating phase shifting masks
JP2003121988A (ja) * 2001-10-12 2003-04-23 Hoya Corp ハーフトーン型位相シフトマスクの欠陥修正方法
JP3727319B2 (ja) 2002-04-30 2005-12-14 松下電器産業株式会社 フォトマスク及びその作成方法
US7001694B2 (en) * 2002-04-30 2006-02-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Photomask and method for producing the same
JP2003330159A (ja) 2002-05-09 2003-11-19 Nec Electronics Corp 透過型位相シフトマスク及び該透過型位相シフトマスクを用いたパターン形成方法
JP4443873B2 (ja) 2003-08-15 2010-03-31 Hoya株式会社 位相シフトマスクの製造方法
TWI243280B (en) * 2004-05-19 2005-11-11 Prodisc Technology Inc Optical device manufacturing method
JP4566666B2 (ja) * 2004-09-14 2010-10-20 富士通セミコンダクター株式会社 露光用マスクとその製造方法
JP4823711B2 (ja) * 2006-02-16 2011-11-24 Hoya株式会社 パターン形成方法及び位相シフトマスクの製造方法
JP4883278B2 (ja) * 2006-03-10 2012-02-22 信越化学工業株式会社 フォトマスクブランク及びフォトマスクの製造方法
TW200736821A (en) * 2006-03-16 2007-10-01 Hoya Corp Pattern forming method and method of producing a gray tone mask
TW200913013A (en) * 2007-07-30 2009-03-16 Hoya Corp Method of manufacturing a gray tone mask, gray tone mask, method of inspecting a gray tone mask, and method of transferring a pattern
JP5254581B2 (ja) * 2007-08-22 2013-08-07 Hoya株式会社 フォトマスク及びフォトマスクの製造方法
KR20090044534A (ko) * 2007-10-31 2009-05-07 주식회사 하이닉스반도체 노광 마스크, 노광 마스크 제조 방법 및 이를 이용한반도체 소자의 제조 방법

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