JP2011090610A - 温度制御装置および異常判定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】温度制御装置は、リミットサイクルを発生させてPID演算部2のPIDパラメータを設定するリミットサイクル方式のオートチューニング(AT)を実行するAT実行部4と、AT実行時の最大昇温変化率を検出する最大昇温変化率検出部6と、AT実行時の最大降温変化率を検出する最大降温変化率検出部7と、最大昇温変化率と最大降温変化率を利用して異常判定用の閾値を決定する閾値算出部8と、PID演算部2による通常の制御動作時に計測される温度PVの変化率ΔPVを検出する変化率検出部9と、変化率ΔPVが閾値よりも大きな値になった場合に異常と判定する異常判定部10と、異常判定部10の判定結果をオペレータに通知する判定出力部11とを備える。
【選択図】 図2
Description
また、本発明の温度制御装置の1構成例において、前記閾値算出手段は、前記最大昇温変化率と前記最大降温変化率とを加算した結果に予め規定された係数α(α≧1.0)を乗算して前記閾値を算出することを特徴とするものである。
計測面に貼り付けて使用する温度センサでは、センサ剥れが発生すると、温度センサで計測する温度PVの不安定ぶりは温度PVの異常な急変現象として現れる。しかし、異常と判定するための閾値を決めるための知識と作業が要求される。センサ寿命による断線を検出する場合であれば、通常は断線に至るまでに正常な状態での計測が十分に行なわれることになるので、十分な計測データを参照しながらオペレータが適宜決定することが可能である。
以下、本発明の実施の形態について説明する。半導体製造装置のテープボンダなどでは、上下のヒータを用いて被加熱物を挟み込んで熱を与えることにより、被加熱物に対する加熱処理を高速で実施する。図1(A)は半導体製造装置のテープボンダの構成を示す図であり、図1(B)は上下のヒータを用いて被加熱物を挟み込んだときの様子を示す図である。図1(A)、図1(B)において、100は電子部品実装基板などの被加熱物、101は上部ヒータ、102は下部ヒータ、103は上部ヒータ101に貼り付けられた温度センサ、104は上部ヒータ101を移動させるヒータヘッド、105は温度センサ103によって計測された温度PVが温度設定値SPと一致するように操作量MVを算出する温調計、106は操作量MVに応じてヒータ101,102に電力を供給する電力調整器である。
温度設定値SPは、オペレータによって設定され、PID演算部2とAT実行部4とに入力される。温度PVは、温度センサによって計測され、PV入力部1を介してPID演算部2とAT実行部4と変化率検出部9とに入力される。
T=α(ATU+ATD) ・・・(1)
式(1)において、α(α≧1.0)は予め規定された係数である。なお、係数αを1以上とした理由は、異常通知の誤報を削減するためである。以上で、温度制御装置の本稼働前に行う処理が終了する。
変化率検出部9は、PID制御を実行中に計測される温度PVの変化率ΔPVを検出する(図5ステップS6)。
判定出力部11は、異常判定部10の判定結果をオペレータに通知する(ステップS9)。異常発生の通知方法としては、例えばランプの点灯や、警報音の出力、メッセージの表示等がある。
Claims (4)
- 通常の制御動作時にヒータに電力を供給する電力調整器に操作量MVを出力して制御対象の温度PVを制御するPID演算手段と、
前記電力調整器に一定振幅の操作量MVを繰り返し出力するリミットサイクルを発生させて前記PID演算手段のPIDパラメータを設定するリミットサイクル方式のオートチューニング(AT)を実行するAT実行手段と、
AT実行時の温度PVの最大昇温変化率を検出する最大昇温変化率検出手段と、
AT実行時の温度PVの最大降温変化率を検出する最大降温変化率検出手段と、
前記最大昇温変化率と前記最大降温変化率とを利用して異常判定用の閾値を決定する閾値算出手段と、
通常の制御動作時に計測される温度PVの変化率ΔPVを検出する変化率検出手段と、
通常の制御動作時に前記変化率ΔPVが前記閾値よりも大きな値になった場合に異常と判定する異常判定手段と、
この異常判定手段の判定結果をオペレータに通知する判定出力手段とを備えることを特徴とする温度制御装置。 - 請求項1記載の温度制御装置において、
前記閾値算出手段は、前記最大昇温変化率と前記最大降温変化率とを加算した結果に予め規定された係数α(α≧1.0)を乗算して前記閾値を算出することを特徴とする温度制御装置。 - ヒータに電力を供給する電力調整器に一定振幅の操作量MVを繰り返し出力するリミットサイクルを発生させてPID演算手段のPIDパラメータを設定するリミットサイクル方式のオートチューニング(AT)を実行するAT実行手順と、
AT実行時の制御対象の温度PVの最大昇温変化率を検出する最大昇温変化率検出手順と、
AT実行時の制御対象の温度PVの最大降温変化率を検出する最大降温変化率検出手順と、
前記最大昇温変化率と前記最大降温変化率とを利用して異常判定用の閾値を決定する閾値算出手順と、
前記PID演算手段が前記電力調整器に操作量MVを出力して温度PVを制御する通常の制御動作時に、温度PVの変化率ΔPVを検出する変化率検出手順と、
通常の制御動作時に前記変化率ΔPVが前記閾値よりも大きな値になった場合に異常と判定する異常判定手順と、
この異常判定手順の判定結果をオペレータに通知する判定出力手順とを備えることを特徴とする異常判定方法。 - 請求項3記載の異常判定方法において、
前記閾値算出手順は、前記最大昇温変化率と前記最大降温変化率とを加算した結果に予め規定された係数α(α≧1.0)を乗算して前記閾値を算出することを特徴とする異常判定方法。
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102591378A (zh) * | 2012-02-09 | 2012-07-18 | 广州海乃大机电设备有限公司 | 一种液温调节系统及其离液断电方法 |
WO2013180010A1 (ja) * | 2012-05-28 | 2013-12-05 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、温度計測システム、処理装置の温度計測方法、搬送装置及び記録媒体 |
CN104465437A (zh) * | 2013-09-24 | 2015-03-25 | 阿自倍尔株式会社 | 故障检测系统以及故障检测方法 |
JP2015200991A (ja) * | 2014-04-07 | 2015-11-12 | 日本電産シンポ株式会社 | 陶芸窯用のコントローラ、陶芸窯、および陶芸窯管理プログラム |
CN105700508A (zh) * | 2014-11-27 | 2016-06-22 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 一种加热异常检测方法 |
WO2017061321A1 (ja) * | 2015-10-07 | 2017-04-13 | オムロン株式会社 | 温度制御装置およびオートチューニング方法 |
WO2018029912A1 (ja) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | Kyb株式会社 | 制御健全性判断装置 |
JP2019114178A (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-11 | オムロン株式会社 | 制御システム、制御方法、制御プログラム |
JPWO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 | ||
CN118331243A (zh) * | 2024-06-13 | 2024-07-12 | 深圳市鑫赛科科技发展有限公司 | 一种嵌入式工控机的自检数据处理方法及系统 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02213903A (ja) * | 1989-02-15 | 1990-08-27 | Omron Tateisi Electron Co | 制御装置 |
JPH0720907A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-24 | Tlv Co Ltd | 自動制御装置 |
JP2002351502A (ja) * | 2001-05-25 | 2002-12-06 | Canon Inc | 温度調節計、およびこれを用いた露光装置 |
JP2003150204A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-05-23 | Sekisui Chem Co Ltd | Pid制御装置 |
JP2003330504A (ja) * | 2002-05-17 | 2003-11-21 | Yamatake Corp | 制御装置 |
JP2006325334A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 電力変換装置 |
JP2009146346A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-02 | Yamatake Corp | 状態監視装置 |
-
2009
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02213903A (ja) * | 1989-02-15 | 1990-08-27 | Omron Tateisi Electron Co | 制御装置 |
JPH0720907A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-01-24 | Tlv Co Ltd | 自動制御装置 |
JP2002351502A (ja) * | 2001-05-25 | 2002-12-06 | Canon Inc | 温度調節計、およびこれを用いた露光装置 |
JP2003150204A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-05-23 | Sekisui Chem Co Ltd | Pid制御装置 |
JP2003330504A (ja) * | 2002-05-17 | 2003-11-21 | Yamatake Corp | 制御装置 |
JP2006325334A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 電力変換装置 |
JP2009146346A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-02 | Yamatake Corp | 状態監視装置 |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102591378A (zh) * | 2012-02-09 | 2012-07-18 | 广州海乃大机电设备有限公司 | 一种液温调节系统及其离液断电方法 |
WO2013180010A1 (ja) * | 2012-05-28 | 2013-12-05 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、温度計測システム、処理装置の温度計測方法、搬送装置及び記録媒体 |
CN104364888A (zh) * | 2012-05-28 | 2015-02-18 | 株式会社日立国际电气 | 基板处理装置、温度计测系统、处理装置的温度计测方法、输送装置以及记录介质 |
JPWO2013180010A1 (ja) * | 2012-05-28 | 2016-01-21 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、温度計測システム、処理装置の温度計測方法、搬送装置及び記録媒体 |
KR101772546B1 (ko) * | 2012-05-28 | 2017-08-29 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 기판 처리 장치, 온도 계측 시스템, 처리 장치의 온도 계측 방법, 반송 장치 및 기록 매체 |
US10340164B2 (en) | 2012-05-28 | 2019-07-02 | Hitachi Kokusai Electric, Inc. | Substrate processing apparatus, method of measuring temperature of substrate processing apparatus and non-transitory computer-readable recording medium |
CN104465437A (zh) * | 2013-09-24 | 2015-03-25 | 阿自倍尔株式会社 | 故障检测系统以及故障检测方法 |
JP2015200991A (ja) * | 2014-04-07 | 2015-11-12 | 日本電産シンポ株式会社 | 陶芸窯用のコントローラ、陶芸窯、および陶芸窯管理プログラム |
CN105700508B (zh) * | 2014-11-27 | 2018-05-04 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 一种加热异常检测方法 |
CN105700508A (zh) * | 2014-11-27 | 2016-06-22 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 一种加热异常检测方法 |
US10520959B2 (en) | 2015-10-07 | 2019-12-31 | Omron Corporation | Temperature control device and auto-tuning method |
WO2017061321A1 (ja) * | 2015-10-07 | 2017-04-13 | オムロン株式会社 | 温度制御装置およびオートチューニング方法 |
JP2018026038A (ja) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | Kyb株式会社 | 制御健全性判断装置 |
CN109564424A (zh) * | 2016-08-12 | 2019-04-02 | Kyb株式会社 | 控制健全性判断装置 |
WO2018029912A1 (ja) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | Kyb株式会社 | 制御健全性判断装置 |
JP2019114178A (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-11 | オムロン株式会社 | 制御システム、制御方法、制御プログラム |
JP7069702B2 (ja) | 2017-12-26 | 2022-05-18 | オムロン株式会社 | 制御システム、制御方法、制御プログラム |
JPWO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 | ||
WO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 | 理化工業株式会社 | 制御装置及び異常検知方法 |
CN115004856A (zh) * | 2020-04-03 | 2022-09-02 | 理化工业株式会社 | 控制装置及异常检测方法 |
JP7266169B2 (ja) | 2020-04-03 | 2023-04-28 | 理化工業株式会社 | 制御装置及び異常検知方法 |
CN118331243A (zh) * | 2024-06-13 | 2024-07-12 | 深圳市鑫赛科科技发展有限公司 | 一种嵌入式工控机的自检数据处理方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP5373550B2 (ja) | 2013-12-18 |
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