JP2011005236A5 - - Google Patents

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Description

本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光に基づいて、前記被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記被検査物に対して前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段の走査方向における前記複数の測定光の照射位置の配置を変更する変更手段と、を有する。
また、別の本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段により前記被検査物に照射される前記複数の測定光の照射位置の位置関係を変更する変更手段と、
前記変更手段により変更された前記位置関係で前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査された複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段と、
前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を解析する解析手段と、
前記解析手段による解析結果に基づいて、前記変更手段を制御する制御手段と、を有する。
また、別の本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段により前記被検査物に照射される前記複数の測定光の照射位置を略主走査方向に並べて該複数の測定光を走査する走査手段と、
前記複数の測定光の前記主走査方向の走査速度を変更する変更手段と、
前記走査された複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段と、を有する。
また、本発明に係る撮像方法は、
複数の測定光を照射した被検査物からの戻り光に基づいて、前記被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
前記被検査物に対して前記複数の測定光を走査する走査手段の走査方向における前記複数の測定光の照射位置の配置を変更する工程を含む。
また、別の本発明に係る撮像方法は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する工程と、
前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を解析する工程と、
前記解析する工程における解析結果を用いて前記被検査物に照射される前記複数の測定光の照射位置の位置関係を変更する工程と、を含む。
また、別の本発明に係る撮像方法は、
被検査物に照射される複数の測定光の照射位置を略主走査方向に並べて該複数の測定光を走査する走査手段の走査速度であって、前記複数の測定光の前記略主走査方向の走査速度を変更する工程と、
前記走査された複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する工程と、を含む。

Claims (20)

  1. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光に基づいて、前記被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
    前記被検査物に対して前記複数の測定光を走査する走査手段と、
    前記走査手段の走査方向における前記複数の測定光の照射位置の配置を変更する変更手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記被検査物が、被検眼であり、
    前記変更手段が、前記被検眼の眼底表面における前記複数の照射位置の間隔を変更することにより前記配置を変更することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記変更手段が、前記走査手段の副走査方向における前記複数の照射位置の幅を変更することにより前記配置を変更することを特徴とする請求項1あるいは2に記載の撮像装置。
  4. 前記変更手段が、前記複数の照射位置の配列を、前記走査手段の主走査方向から副走査方向に変更する、あるいは該副走査方向から該主走査方向に変更することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
  5. 前記複数の測定光を前記被検査物に射出する複数のファイバ端を含み、
    前記変更手段が、前記複数のファイバ端を前記複数の測定光の射出方向を軸にして回転することにより前記配置を変更することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。
  6. 前記複数の測定光を前記被検査物に射出する複数のファイバ端を含み、
    前記変更手段が、前記複数のファイバ端の一部を選択することにより前記配置を変更することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記変更手段が、前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を取得した際よりも前記複数の測定光の照射位置の間隔を狭くすることにより前記配置を変更し、
    前記広い走査領域に含まれる前記被検査物の注目領域における前記光干渉断層画像が、前記狭くされた間隔で前記複数の測定光を走査することにより、取得されることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を解析する解析手段と、
    前記解析手段による解析結果に基づいて、前記変更手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の撮像装置。
  9. 複数の測定光を被検査物に照射する照射手段と、
    前記照射手段により前記被検査物に照射される前記複数の測定光の照射位置の位置関係を変更する変更手段と、
    前記変更手段により変更された前記位置関係で前記複数の測定光を走査する走査手段と、
    前記走査された複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段と、
    前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を解析する解析手段と、
    前記解析手段による解析結果に基づいて、前記変更手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
  10. 前記解析手段が、前記広域画像から前記被検査物の注目領域を決定し、
    前記変更手段が、前記広域画像を取得した際よりも前記複数の照射位置の間隔を狭くするように前記位置関係を変更し、
    前記取得手段が、前記変更手段により変更された前記位置関係で前記注目領域の前記光干渉断層画像を取得することを特徴とする請求項に記載の撮像装置。
  11. 複数の測定光を被検査物に照射する照射手段と、
    前記照射手段により前記被検査物に照射される前記複数の測定光の照射位置を略主走査方向に並べて該複数の測定光を走査する走査手段と、
    前記複数の測定光の前記主走査方向の走査速度を変更する変更手段と、
    前記走査された複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
  12. 複数の測定光を照射した被検査物からの戻り光に基づいて、前記被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
    前記被検査物に対して前記複数の測定光を走査する走査手段の走査方向における前記複数の測定光の照射位置の配置を変更する工程を含むことを特徴とする撮像方法。
  13. 前記被検査物が、被検眼であり、
    前記変更する工程において、前記被検眼の眼底表面における前記複数の照射位置の間隔を変更することにより前記配置を変更することを特徴とする請求項12に記載の撮像方法。
  14. 前記変更する工程において、前記走査手段の副走査方向における前記複数の照射位置の幅を変更することを特徴とする請求項12あるいは13に記載の撮像方法。
  15. 前記変更する工程において、前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を取得した際よりも前記複数の測定光の照射位置の間隔を狭くすることにより前記配置を変更し、
    前記広い走査領域に含まれる前記被検査物の注目領域における前記光干渉断層画像が、前記狭くされた間隔で前記複数の測定光を走査することにより、取得されることを特徴とする請求項12乃至14のいずれか1項に記載の撮像方法。
  16. 前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を解析する工程を含み、
    前記変更する工程において、前記解析する工程における解析結果に基づいて、前記配置を変更することを特徴とする請求項12乃至15のいずれか1項に記載の撮像方法。
  17. 複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する工程と、
    前記光干渉断層画像を取得する走査領域よりも広い走査領域で取得された前記被検査物の広域画像を解析する工程と、
    前記解析する工程における解析結果を用いて前記被検査物に照射される前記複数の測定光の照射位置の位置関係を変更する工程と、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
  18. 前記広域画像から前記被検査物の注目領域を決定する工程を含み、
    前記変更する工程において、前記広域画像を取得した際よりも前記複数の照射位置の間隔を狭くするように前記位置関係を変更し、
    前記取得する工程において、前記変更された前記位置関係で前記注目領域の前記断層画像を取得することを特徴とする請求項17に記載の撮像方法。
  19. 被検査物に照射される複数の測定光の照射位置を略主走査方向に並べて該複数の測定光を走査する走査手段の走査速度であって、前記複数の測定光の前記略主走査方向の走査速度を変更する工程と、
    前記走査された複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する工程と、
    を含むことを特徴とする撮像方法。
  20. 請求項12乃至1のいずれか1項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7091018B2 (ja) 2016-10-28 2022-06-27 キヤノン株式会社 断層画像取得装置及び方法
JP7120400B2 (ja) 2017-12-25 2022-08-17 日本電気株式会社 光干渉断層撮像器

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5590831B2 (ja) 2009-07-13 2014-09-17 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP5486543B2 (ja) * 2011-03-31 2014-05-07 キヤノン株式会社 眼科撮像装置、眼科撮像装置の制御方法、およびプログラム
JP5955163B2 (ja) 2011-09-06 2016-07-20 キヤノン株式会社 画像処理装置および画像処理方法
JP5924955B2 (ja) * 2012-01-27 2016-05-25 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理装置の制御方法、眼科装置およびプログラム
JP5955020B2 (ja) * 2012-02-21 2016-07-20 キヤノン株式会社 眼底撮像装置及び方法
JP5174258B2 (ja) * 2012-03-13 2013-04-03 キヤノン株式会社 断層像撮像装置およびその制御方法、プログラム
JP6105852B2 (ja) 2012-04-04 2017-03-29 キヤノン株式会社 画像処理装置及びその方法、プログラム
KR101350739B1 (ko) * 2012-04-10 2014-01-16 경북대학교 산학협력단 모니터링 영상에서의 표적 지정방식을 이용한 표적 스캐닝 광단층 촬영 시스템
JP2014045869A (ja) * 2012-08-30 2014-03-17 Canon Inc 撮影装置、画像処理装置、及び画像処理方法
JP6227337B2 (ja) * 2013-01-24 2017-11-08 株式会社日立エルジーデータストレージ 光計測装置
EP2792996A1 (en) * 2013-04-17 2014-10-22 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Interferometric distance sensing device and method
JP6174908B2 (ja) * 2013-05-27 2017-08-02 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及び、コンピュータプログラム
WO2014193310A1 (en) * 2013-05-31 2014-12-04 National University Of Singapore Optical imaging device and method of controlling the same
CN104867077A (zh) * 2014-02-25 2015-08-26 华为技术有限公司 存储医疗图像的方法、交互信息的方法和装置
WO2016002740A1 (ja) * 2014-07-01 2016-01-07 興和株式会社 断層像撮影装置
EP3175777A4 (en) * 2014-07-30 2018-03-28 KOWA Co., Ltd. Tomography device
KR101591191B1 (ko) 2014-08-14 2016-02-02 엘지전자 주식회사 공기 조화기 및 그 제어방법
JP6603074B2 (ja) * 2015-08-25 2019-11-06 株式会社トプコン 眼底撮影装置
KR101706865B1 (ko) 2015-10-19 2017-02-15 엘지전자 주식회사 공기조화기
EP3305175A3 (en) * 2016-10-05 2018-07-25 Canon Kabushiki Kaisha Tomographic image acquisition apparatus and tomographic image acquisition method
JP2018175790A (ja) * 2017-04-21 2018-11-15 ソニー株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
EP3901614B1 (en) * 2018-12-20 2023-02-08 NEC Corporation Optical coherence tomography device
JP6732085B2 (ja) * 2019-10-09 2020-07-29 株式会社トプコン 眼底撮影装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2851750B1 (de) * 1978-11-30 1980-03-06 Ibm Deutschland Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Ebenheit der Rauhigkeit oder des Kruemmungsradius einer Messflaeche
WO1992019930A1 (en) 1991-04-29 1992-11-12 Massachusetts Institute Of Technology Method and apparatus for optical imaging and measurement
JP2002148185A (ja) * 2000-11-08 2002-05-22 Fuji Photo Film Co Ltd Oct装置
DE102004037479A1 (de) * 2004-08-03 2006-03-16 Carl Zeiss Meditec Ag Fourier-Domain OCT Ray-Tracing am Auge
US8922781B2 (en) * 2004-11-29 2014-12-30 The General Hospital Corporation Arrangements, devices, endoscopes, catheters and methods for performing optical imaging by simultaneously illuminating and detecting multiple points on a sample
US8219172B2 (en) * 2006-03-17 2012-07-10 Glt Acquisition Corp. System and method for creating a stable optical interface
JP4869756B2 (ja) * 2006-03-24 2012-02-08 株式会社トプコン 眼底観察装置
JP5448353B2 (ja) 2007-05-02 2014-03-19 キヤノン株式会社 光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置
JP5117787B2 (ja) * 2007-08-13 2013-01-16 株式会社トプコン 光画像計測装置
EP2306888A1 (en) * 2008-04-14 2011-04-13 Optovue, Inc. Method of eye registration for optical coherence tomography
JP5339934B2 (ja) 2009-01-22 2013-11-13 キヤノン株式会社 光断層撮像装置および光断層撮像方法
JP5558735B2 (ja) * 2009-04-13 2014-07-23 キヤノン株式会社 光断層撮像装置及びその制御方法
JP5725697B2 (ja) 2009-05-11 2015-05-27 キヤノン株式会社 情報処理装置および情報処理方法
JP5590831B2 (ja) 2009-07-13 2014-09-17 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP4902721B2 (ja) 2009-10-23 2012-03-21 キヤノン株式会社 光断層画像生成装置及び光断層画像生成方法
JP5036785B2 (ja) 2009-10-23 2012-09-26 キヤノン株式会社 光断層画像生成方法及び光断層画像生成装置
JP5808119B2 (ja) 2010-04-13 2015-11-10 キヤノン株式会社 模型眼、光断層画像撮像装置の調整方法、及び評価方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7091018B2 (ja) 2016-10-28 2022-06-27 キヤノン株式会社 断層画像取得装置及び方法
JP7120400B2 (ja) 2017-12-25 2022-08-17 日本電気株式会社 光干渉断層撮像器

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