JP2010507261A - ポリマー基材上で物質をパターニングする方法 - Google Patents

ポリマー基材上で物質をパターニングする方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010507261A
JP2010507261A JP2009533464A JP2009533464A JP2010507261A JP 2010507261 A JP2010507261 A JP 2010507261A JP 2009533464 A JP2009533464 A JP 2009533464A JP 2009533464 A JP2009533464 A JP 2009533464A JP 2010507261 A JP2010507261 A JP 2010507261A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polymer film
film substrate
functionalized
substrate
polymer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009533464A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010507261A5 (ja
JP5437808B2 (ja
Inventor
エイチ. フライ,マシュー
ピー. グエン,カン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
3M Innovative Properties Co
Original Assignee
3M Innovative Properties Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 3M Innovative Properties Co filed Critical 3M Innovative Properties Co
Publication of JP2010507261A publication Critical patent/JP2010507261A/ja
Publication of JP2010507261A5 publication Critical patent/JP2010507261A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5437808B2 publication Critical patent/JP5437808B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061Etching masks
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/02Local etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/84Heating arrangements specially adapted for transparent or reflecting areas, e.g. for demisting or de-icing windows, mirrors or vehicle windshields
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0073Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces
    • H05K3/0079Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces characterised by the method of application or removal of the mask
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0073Shielding materials
    • H05K9/0094Shielding materials being light-transmitting, e.g. transparent, translucent
    • H05K9/0096Shielding materials being light-transmitting, e.g. transparent, translucent for television displays, e.g. plasma display panel
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B2203/00Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
    • H05B2203/017Manufacturing methods or apparatus for heaters
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0393Flexible materials
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09036Recesses or grooves in insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09045Locally raised area or protrusion of insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0104Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
    • H05K2203/0108Male die used for patterning, punching or transferring
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/05Patterning and lithography; Masks; Details of resist
    • H05K2203/0502Patterning and lithography
    • H05K2203/0528Patterning during transfer, i.e. without preformed pattern, e.g. by using a die, a programmed tool or a laser
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/05Patterning and lithography; Masks; Details of resist
    • H05K2203/0502Patterning and lithography
    • H05K2203/0537Transfer of pre-fabricated insulating pattern
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/15Position of the PCB during processing
    • H05K2203/1545Continuous processing, i.e. involving rolls moving a band-like or solid carrier along a continuous production path
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0014Shaping of the substrate, e.g. by moulding
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24479Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/26Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
    • Y10T428/268Monolayer with structurally defined element

Abstract

ポリマー基材(105)上で第1物質(110)をパターニングする方法が記載されている。この方法は、凹部領域(108)と、隣接する隆起領域(106)と、を含むレリーフパターンの付いた主要表面(104)を有する、ポリマーフィルム基材(105)を提供する工程と、前記ポリマーフィルム基材(105)の前記主要表面(104)上に第1物質(110)を堆積させて、コーティングされたポリマーフィルム基材を形成する工程と、前記コーティングされたポリマーフィルム基材の前記隆起領域(106)の上に機能化材料の層(131)を選択的に形成して、機能化された隆起領域と機能化されていない凹部領域とを形成する工程と、前記ポリマー基材の、機能化されていない凹部領域から前記第1物質(110)を選択的にエッチングする工程と、を含む。

Description

本開示内容は、一般に、ポリマー基材上で物質をパターニングする方法、及びかかる方法によって形成される物品に関する。
金属物質のパターンを有するポリマーフィルムは、多種多様な商業的用途を有している。場合によっては、導電性グリッドは、肉眼では視認できないほど十分に細かいこと、及び透明なポリマー基材上に担持されていることが望ましい。透明な導電性シートには様々な用途があり、例えば、抵抗加熱ウィンドウ、電磁波(EMI)シールド層、静電気消散構成要素、アンテナ、コンピュータディスプレイ用のタッチスクリーン、並びにエレクトロクロミックウィンドウ用、光起電デバイス用、エレクトロルミネッセント素子用、及び液晶ディスプレイ用の表面電極が挙げられる。
EMIシールドとしての用途に本質的に透明な導電性グリッドを使用することが知られている。グリッドは、透明シートの間に挟まれた又は積層されたか、あるいは基材に埋め込まれた金属ワイヤのネットワーク又はスクリーンから形成することができる(米国特許第3,952,152号、米国特許第4,179,797号、米国特許第4,321,296号、米国特許第4,381,421号、米国特許第4,412,255号)。ワイヤスクリーンを利用することの一つの欠点は、非常に細いワイヤが取り扱い難いこと、又は極めて細かなワイヤスクリーンの作製及び取り扱いが困難であることである。例えば、直径20マイクロメートルの銅ワイヤは、引っ張り強度が0.28N(1オンス(28グラム重))しかないため、損傷し易い。直径20マイクロメートルのワイヤを用いて製造されたワイヤスクリーンは、非常に細いワイヤが取り扱い難いため、入手可能であるが高価である。
既存のワイヤスクリーンを基材に埋め込むのではなく、最初に溝又はチャネルのパターンを基材に形成してから溝又はチャネルに導電性物質を充填することによって導電性パターンをその場で製造することも可能である。この方法は、導電性回路のラインやパターンを様々な手段で作製するために用いられてきたが、通常は比較的目の粗い規模のライン及びパターンに使用されている。溝は、成形法やエンボス加工によって、又はリソグラフィー法によって基材に形成することができる。溝には、その後、導電性インク又はエポキシを充填するか(米国特許第5,462,624号)、蒸着金属、スパッタ金属、若しくはメッキ金属を充填するか(米国特許第3,891,514号、米国特許第4,510,347号、及び米国特許第5,595,943号)、融解金属を充填するか(米国特許第4,748,130号)、あるいは金属粉末を充填することができる(米国特許第2,963,748号、米国特許第3,075,280号、米国特許第3,800,020号、米国特許第4,614,837号、米国特許第5,061,438号、及び米国特許第5,094,811号)。ポリマーフィルム上の導電性グリッドは、導電性ペーストを印刷することによって(米国特許第5,399,879号)、又は光リソグラフィー法及びエッチングによって(米国特許第6,433,481号)作製されてきた。これら先行技術の方法には制限がある。例えば、導電性のインク又はエポキシに関する一つの問題は、導電性が、隣接する導電性粒子間の接触形成に左右されることであって、全体の導電性は通常、固体金属に比べてかなり小さい。金属の蒸着又は電気メッキは一般にスピードが遅く、多くの場合、溝の間に堆積している余剰の金属を取り除くために後続の工程を必要とする。融解金属は、溝の中に入れることができるが、通常は、金属が濡らす溝の中に、ある物質を付着させる必要がある。そうでなければ、融解金属は、融解金属の表面張力のために、溝に入り込むことも留まることもできない。
導電性グリッドに加えて、導電性物質のパターンを電気回路の形態で担持するポリマーフィルムもまた有用である。フレキシブル回路は、電子的構成要素の支持や相互接続のみならず、センサーの製造にも使用される。センサーの例としては、環境センサー、医療用センサー、化学センサー、及びバイオメトリックセンサーが挙げられる。いくつかのセンサーは、好ましくは透明である。導電性グリッドの場合のように、ポリマーフィルム基材上のフレキシブル回路は多くの場合、フォトレジストの付着、露光、現像、及び除去という、複数の工程を含む光リソグラフィー法を用いて作製される。かかる高価な設備やこれほど多くの製造プロセス工程を必要としない代替の方法が、当該産業界では望まれている。
回路は、溝の中に金属粉末を入れた後、この粉末を圧縮して粒子間の電気接触を増強することによって、作製されている。リリー(Lillie)ら(米国特許第5,061,438号)及びケイン(Kane)ら(米国特許第5,094,811号)では、この方法を利用してプリント基板を形成している。しかしながら、これらの方法は、微細な回路や微細な金属パターンの製造には実用的ではない。微細な規模では、エンボス加工されたパターンの上部に用具を再設置又は再度位置合わせして金属を圧縮することが難しい可能性がある。例えば、20マイクロメートル幅のチャネルのパターンを有するシートでは、用具をパターンの上部に、シートの片面からもう一方の面までほぼ3マイクロメートルの精度で設置する必要がある。多くの用途では、シートは30cm×30cm程度であってよい。熱可塑性シートの熱収縮に起因する寸法変化は、典型的に、形成温度から室温までの冷却中に約1パーセント以上である。すなわち、30cm×30cmのシートの場合、1パーセントの収縮によって全体で0.3cm縮小する。この値は、要求されている3マイクロメートルの設置精度よりも1000倍大きく、用具の正確な再配置を困難にする。
本開示は、ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする方法、及び構造化されたポリマーフィルム基材とパターン化された機能化材料とを含む物品に関する。特に、本開示は、本質的に形状のない印刷プレートを用いてポリマーフィルム基材の隆起部分上に機能化材料を選択的に転写した後、物質を機能化されていない領域(凹部領域又は非隆起領域)からエッチングすることによる、ポリマー基材上で物質をパターニングする方法に関する。この新たな方法は、機能化材料(単数及び複数)の微細規模のパターンを、ロールツーロール(roll-to-roll)装置の同期にほとんど関係なく、高速で連続的にウェブ基材へ転写することができる。
ある代表的な実施において、方法には、凹部領域と、隣接する隆起領域と、を含むレリーフパターンの付いた主要表面を有する、ポリマーフィルム基材を提供する工程と、前記ポリマーフィルム基材の前記主要表面に第1物質を堆積させて、コーティングされたポリマーフィルム基材を形成する工程と、前記コーティングされたポリマーフィルム基材の前記隆起領域に機能化材料の層を選択的に形成して、機能化された隆起領域と機能化されていない凹部領域とを形成する工程と、前記ポリマーフィルム基材の、機能化されていない凹部領域から前記第1物質を選択的にエッチングする工程と、が含まれる。
別の代表的な実施では、物品は、隆起領域と、隣接する凹部領域と、を含むレリーフ構造の付いた主要表面を有するポリマーフィルムを含み、前記隆起領域は第1物質で選択的にコーティングされており、前記第1物質は機能化分子を担持している。
本発明による方法及び物品に関する前記及び他の態様は、図面と併せて以下の「発明を実施するための形態」から、当業者には容易に明白になるであろう。
また、添付の図面と関連して本発明の様々な実施形態を記述する、以下の「発明を実施するための形態」を検討することで、本発明をより完全に理解することができる。
ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。 ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。 例示的なロールツーロール装置の概略図である。
本発明は様々な修正及び代替形態に補正することができるが、本発明の詳細は、図面に例示されており、また詳述される。しかしながら、本発明を、説明される特定の実施形態に制限する意図はないと理解すべきである。反対に、その意図は、本発明の趣旨及び範囲内にある全ての修正、等価形態、及び代替物を対象とすることである。
それ故に、本発明の開示は、ポリマーフィルム基材上で物質をパターニングする方法を目的とする。ポリマーフィルム基材は、その主要表面の一方又は両方にレリーフパターン(すなわち、構造又はミクロ構造)を有している。主要表面にレリーフパターンの付いたポリマーフィルム基材は、構造化又はミクロ構造化されていると考えられる。
レリーフパターンの付いた、とは、表面にトポグラフィーパターン、例えば、凹部領域(例えば、チャネル、窪み、溝)のパターン、又は隆起領域(例えば、隆起部、柱、半球)のパターンを含むことを意味する。ポリマーフィルム基材は、例えば、成型と硬化とによるミクロ構造転写(cast-and-cure microreplication)又はエンボス加工によって構造化することができ、その後、これら構造化されたフィルム基材は、その構造化されたフィルム基材の隆起領域上に選択的に配置された機能化分子を有することができる。
これら機能化分子は、例えば、選択エッチングを通して、後続のパターニング用のマスクとして役立つことができる。本発明はそのように限定されるものではないが、以下に提供される実施例の考察を通じて本発明の様々な態様への理解が得られるであろう。
次に定義する用語については、別の定義が特許請求の範囲中あるいは本明細書中に与えられなければ、これらの定義が適用されるものとする。
「領域」とは、表面全体(例えば、基材表面)の、近接する分画部分を指す。隆起領域とは、主要表面の隣接領域から突出し、ある高さを有する表面領域を指す。凹部領域とは、主要表面の隣接領域に関して内側に広がり、ある深さを有する表面領域を指す。隆起領域及び/又は凹部領域は、不連続な領域であることができ、その場合、それと隣接する凹部領域及び/又は隆起領域(それぞれ)が、全ての側でその不連続な領域を取り囲んでいる。あるいは、隆起領域又は凹部領域は、表面の長さ又は幅に沿って概ね線状に延びたほぼ近接する領域であることもでき、主要表面の隣接する領域は、全ての側でそれと近接する領域を取り囲んでいるわけではない。基材の隆起表面領域は、一般に、基材表面と他の物体の平坦な表面(すなわち、構造化されていない平面的なもの)とが接触したときに、その平坦な物体の面積が隆起領域及び任意の隣接する凹部領域よりも大きい場合に、別の物体の平坦な表面に接触する基材表面の部分である。基材の凹部表面領域(単数又は複数)は一般に、このように、隆起表面領域に対して補足的な表面領域である。補足的とは、全ての隆起表面領域(単数又は複数)と全ての凹部表面領域(単数又は複数)とが、本質的に主要表面全体を画定するように組み合わさっていることを意味する。
機能化材料の層を「選択的に」形成するとは、機能化材料の層を一方の表面領域には形成するが、機能化材料の層を他方の表面領域には形成しないことを指す。基材表面上に選択的に堆積される機能化材料の層は、基材表面全体には堆積されていない。すなわち、機能化材料の層は、あるパターンを基材表面上に形成する。
ポリマー「フィルム」基材は、ロールツーロール(roll-to-roll)様式で加工するのに十分な可撓性及び強度を有する、平坦なシート状のポリマー材料である。ロールツーロール(roll-to-roll)とは、材料を支持体上に巻き取る又は支持体から巻戻すプロセスだけでなく、何らかの方法で更に加工するプロセスを意味する。更なるプロセスの例としては、コーティング、スリット加工、打ち抜き加工、及び放射線への曝露などが挙げられる。ポリマーフィルムは、一般には約5マイクロメートル〜1000マイクロメートルまでの範囲の様々な厚さで、製造することができる。多くの実施形態において、ポリマーフィルムの厚さは、約25マイクロメートル〜約500マイクロメートル、又は約50マイクロメートル〜約250マイクロメートル、又は約75マイクロメートル〜約200マイクロメートルの範囲である。一方又は両方の主要表面にレリーフ構造を含むフィルムの場合、フィルムの厚さとは、フィルムの面積全体の平均厚さを表す。
金属の「選択的な」除去又はエッチングとは、一方の表面領域上の物質は除去するが、もう一方の表面領域上の物質は除去しないことを意味する。基材表面上で選択的に除去される物質は、基材表面全体からは除去されていない。
「機能化分子」とは、化学結合によって基材表面(又はコーティングされた基材表面)に付着している分子を指す。機能化分子は、それが付着される表面領域を不動態化又は活性化することができる。多くの実施形態では、機能化分子は、自己組織化単層(self-assembled monolayer)を形成する。
「自己組織化単層」とは、表面に(例えば、化学結合によって)付着している分子の単層であって、表面に関して及び更には互いに関しても好ましい配向をとる分子の単層を指す。自己組織化単層は、表面の特性が変わるほど完全に表面を覆うとされている。例えば、自己組織化単層を適用することで、表面エネルギーの低下をもたらすことができる。
自己組織化単層を形成するのに好適な化学種の例としては、有機硫黄化合物、シラン、ホスホン酸、ベンゾトリアゾール、及びカルボン酸などの有機化合物が挙げられる。かかる化合物の例は、ウルマン(Ulman)が総説で論じている(A.ウルマン(A. Ulman)、「自己組織化単層の形成と構造(Formation and Structure of Self-Assembled Monolayers)」、化学概論(Chem. Rev.)、96、1533〜1554(1996年))。有機化合物に加えて、特定の有機金属化合物も、自己組織化単層を形成するのに有用である。自己組織化単層を形成するのに好適な有機硫黄化合物の例としては、アルキルチオール、ジアルキルジスルフィド、ジアルキルスルフィド、アルキルキサンテート、及びジアルキルチオカルバメートが挙げられる。自己組織化単層を形成するのに好適なシランの例としては、有機クロロシラン及び有機アルコキシシランが挙げられる。自己組織化単層を形成するのに好適なホスホン酸分子の例は、パラライト(Pellerite)らが論じている(M.J.パラライト(M. J. Pellerite)、T.D.ダンバー(T. D. Dunbar)、L.D.ボードマン(L. D. Boardman)、及びE.J.ウッド(E. J. Wood)、「アルミニウム上でのアルカンホスホン酸からの自己組織化単層の形成に関するフッ素化効果:動力学及び構造(“Effects of Fluorination on Self-Assembled Monolayer Formation from Alkanephosphonic Acids on Aluminum: Kinetics and Structure”」、物理化学会誌B(Journal of Physical Chemistry B)、107、11726〜11736(2003年))。自己組織化単層を形成するのに好適な化学種としては、例えば、炭化水素化合物、部分フッ素化炭化水素化合物、又はペルフルオロ化合物を挙げることができる。自己組織化単層は、2つ以上の異なる化学種を含むことができる。2つ以上の異なる化学種を利用する際、それら化学種は、自己組織化単層中に混合物として又は相分離した形態で存在していてよい。
自己組織化単層を形成するのに有用な例示的な分子としては、例えば、(C〜C20)アルキルチオール、又は(C10〜C20)アルキルチオール、又は(C15〜C20)アルキルチオールが挙げられる。アルキル基は、直鎖又は分枝状であることができ、自己組織化単層の形成を妨害しない置換基で置換又は非置換することが可能である。
自己組織化単層は、無機物質でコーティングされたポリマー表面(例えば、金属でコーティングされたポリマー表面)に様々な方法を利用して形成することができる。多くの実施形態では、自己組織化単層は、選択された領域又は隆起領域と、自己組織化単層分子がその中又はその上に配置されたプレートとを接触させることによって、金属でコーティングされたポリマー基材の隆起領域に適用される。プレートとは、機能化分子を基材に供給するエラストマー転写要素を意味する。プレートは、平面的であっても、円筒形であっても、又は別の形であってもよい。
多くの実施形態では、自己組織化単層分子が中又は上に配置されたプレート(又は円筒)には形状がなく、ポリマー基材上の自己組織化単層のパターンは、ポリマー基材の隆起領域又は凹部領域によって画定される。形状がないとは、プレートが、基材表面上のレリーフ構造で平滑である(レリーフ構造がない)ことを意味する。先行技術の方法(例えば、マイクロコンタクト印刷、米国特許第5,512,131号)と比べて、本開示内容では、基材に関するプレートのずれを規制する必要なしに、機能化分子(例えば、自己組織化単層)をポリマーフィルム表面上にパターンで配置することができる。マイクロコンタクト印刷では、パターン忠実度を保持するために、レリーフ構造の型と平坦な基材とがずれずに接触及び分離する必要がある。このことは、極めて細かな形状寸法のロールツーロール(roll-to-roll)を可撓性ポリマーフィルム基材上に連続してマイクロコンタクト印刷しようとする場合、特に困難である。ポリマーフィルム基材と、パターンの小さな形状寸法(例えば、10マイクロメートル未満、1マイクロメートル未満)とを用いて連続的にマイクロコンタクト印刷するロールツーロールの実施は、同期化(例えば、印刷プレートの回転に関するウェブ前進の制御)に重要な課題を有している。本開示は、プレートレリーフの印刷と、基材との接触や基材からの剥離の詳細とを組み合わせるのではなく、転写した機能化分子のパターンを基材のレリーフ構造で画定させることによって、この問題を克服している。また、エラストマー材料は、機能化分子(例えば、自己組織化単層)を表面へ転写するのに特に有用であるが、微細なレリーフパターンで構造化する場合は、印刷操作によって変形し易い。本発明は、ポリマーフィルム基材上の機能化分子のパターンを潜在的に更に固い物質(エラストマー印刷プレートよりもむしろ、基材自体)で画定させて、機能化分子、そして堆積した金属に関する最終的なパターン忠実度を更に確実なものにすることができる。
プレートを形成するのに有用なエラストマーとしては、シリコーン、ポリウレタン、EPDMゴム、並びに現在市販されている一連のフレキソ印刷プレート材料(例えば、デラウェア州ウィルミントン(Wilmington)のE.I.デュポン・ド・ヌムール・アンド・カンパニー(E. I. du Pont de Nemours and Company)から商標名サイレル(Cyrel)(登録商標)として市販されているもの)が挙げられる。ポリジメチルシロキサン(PDMS)が特に有用である。プレートは、複合材料から製造することができる。エラストマーは、ゲル物質(例えば、共連続的な液相及び固相)、例えば、ヒドロゲルであることができる。プレートは、別の材料、例えば、使用中のプレートの形と大きさを確定するための更に固い材料の上に担持されることができる。プレートは、機能化分子の転写中に活性化する(例えば、加熱する、又は超音波で推進する)ことができる。
有用なエッチング化学物質は、パターニングされる物質及び機能化材料に依存する。エッチング化学物質の選択基準としては、パターニングされる物質に対する十分なエッチング速度だけでなく、機能化材料との適合性も挙げられる。適合性とは、パターニングされた機能化材料が、パターンエッチング工程に有効な遮蔽マスクとして働くことを意味する。金をパターニングする場合、有用なエッチング系としては、硝酸第二鉄系及びチオ尿素系のものが挙げられる。金に有用な他のエッチング系は、フェリシアン化カリウム系である。酸化インジウムスズをパターニングするのに有用なエッチング化学物質は、シュウ酸系のものが挙げられる。銅、金、又は銀をエッチパターニングする場合、例えば、酸素及びシアン化物イオンを溶解したアルカリ性溶液が有用である。本明細書では、エッチング選択性を改善するために、エッチング槽に添加物を含めることが検討される。(米国特許第7,041,232号)。
ポリマーフィルム基材上の無機物質コーティング(例えば、金属コーティング)は、自己組織化単層を担持するために用いられ、そしてその後、エッチングによりパターニングすることができる。無機コーティングには、例えば、元素金属、金属合金、金属間化合物、金属酸化物、金属硫化物、金属炭化物、金属窒化物、及びこれらの組み合わせを挙げることができる。自己組織化単層を担持するための代表的な無機表面としては、金、銀、パラジウム、白金、ロジウム、銅、ニッケル、鉄、インジウム、スズ、タンタル、並びにこれら元素の混合物、合金、及び化合物が挙げられる。有用な化合物には、金属酸化物、例えば、酸化インジウムスズが挙げられる。ポリマー基材上の無機コーティングは、例えば1〜3000ナノメートルのように、いかなる厚さも可能である。無機材料コーティングは、任意の便利な方法、例えば、スパッタリング、蒸着、化学気相成長法、又は化学溶液堆積法(無電解メッキを含む)を利用して堆積することができる。
特に明記しない限り、本明細書及び特許請求の範囲で用いられている特徴の大きさ、量、及び物理的特性を表す数字はいずれも、全ての場合において「約」という用語で修飾されていると理解すべきである。それ故に、特に記載のない限り、前記明細書及び添付の特許請求の範囲に記載されている数値パラメータは、本明細書に開示する教示を利用する当業者が入手しようと試みる所望の特性に応じて変えることのできる近似値である。
端点による数値範囲の列挙には、その範囲内に含まれるすべての数(例えば1〜5には、1、1.5、2、2.75、3、3.80、4、及び5が含まれる)と、その範囲内のあらゆる範囲とが含まれる。
本明細書及び添付の特許請求の範囲で使用するとき、単数形「a」、「an」、及び「the」は、その内容について別段の明確な指示がない限り、複数の指示対象を有する実施形態を包含する。本明細書及び添付の特許請求の範囲で使用するとき、用語「又は」は、その内容について別段の明確な指示がない限り、一般に「及び/又は」を包含する意味で用いられる。
用語「ポリマー」には、ポリマー、コポリマー(例えば、2種以上の異なるモノマーを用いて形成されたポリマー)、オリゴマー、及びそれらの組み合わせだけでなく、混和性ブレンド中で形成され得るポリマー、オリゴマー、又はコポリマーをも包含されると理解されたい。
本開示内容は、一般に、構造化又はミクロ構造化された表面を有するポリマーフィルム基材上で無機物質(例えば、金属)をパターニングする方法に関する。多くの実施形態では、前記物質は、基材上では、ポリマーフィルム基材の隆起領域にのみ残留する。これら隆起領域は、ポリマーフィルム基材上に規則正しい又は反復する幾何学的配置、例えば、多角形の配列、又は多角形の配列を含む別個の領域を画定するトレースのパターンを示すことができる。他の実施形態では、隆起領域は、ポリマーフィルム基材上に無作為な配置、例えば、不規則な形の境界を画定する無作為な網目状のトレースを示すことができる。更に別の実施形態では、隆起領域は、規則正しくない、反復しない、又は無作為ではない配置であるが、対称的若しくは反復する形状を含むか又はそれらを有さない特定のデザインである、配置を示すことができる。パターニングされる材料は、基材表面の1つの領域上にのみ存在することもできるし、又は基材表面の1を超える領域上に存在してもよいが、パターニングされるのに、基材表面の全ての領域に存在していなくてもよい。
レリーフパターンをポリマーフィルム表面上又はその中に調製するのに特に有利な方法としては、機械的用具を用いてミクロ構造を複製又は形成することが含まれる。機械的用具は、レリーフパターン又はミクロ構造をポリマーフィルム基材表面上にエンボス加工、スクライビング、又は成形することによって、ミクロ構造化パターン又はレリーフパターンをポリマーフィルム表面上又はその中に形成する。複製には、マスター用具(例えば、機械的用具)から別の材料への表面構造形状の転写が含まれ、エンボス加工又は成形が挙げられる。複製を伴う方法は、構造化表面を有する材料を作り出すことができる容易さと速度の点で注目すべきである。また、複製によって作り出される表面構造形状に得られる小さな寸法にも注目すべきである。10ナノメートル未満の大きさのナノスケールの形状が複製可能である。
複製は、あらゆる方法で達成することができる。マスター機械的用具の表面構造形状を別の材料の表面に複製するための一つの例示的な方法は、加熱エンボス加工によるものである(米国特許第5,932,150号)。加熱エンボス加工は、マスター機械的用具を変形可能な材料に押圧することと、前記マスター用具の表面構造を以って、変形可能な材料の表面を変形させることとを伴い、それによってそのマスター用具表面のネガ型複製を作り出す。表面構造を用いてエンボス加工できる材料としては、例えば、柔軟な金属、及びポリマーなどの有機材料が挙げられる。エンボス加工可能な柔軟な金属の例としては、インジウム、銀、金、及び鉛が挙げられる。加熱エンボス加工に好適なポリマーとしては、熱可塑性樹脂が挙げられる。熱可塑性樹脂の例としては、ポリオレフィン、ポリアクリレート、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、及びポリエステルが挙げられる。熱可塑性樹脂の更なる例としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ(メチルメタクリレート)、ビスフェノールAのポリカーボネート、ポリ(塩化ビニル)、ポリ(エチレンテレフタレート)、及びポリ(フッ化ビニリデン)が挙げられる。加熱エンボス加工した材料の調製に関し、フィルム状の材料を用いて開始することが、多くの場合、都合がよく有用である。所望により、エンボス加工用のフィルムは、多層を含むことができる(米国特許第6,737,170号及び米国特許第6,788,463号)。
マスター機械的用具の表面構造をポリマーの表面に複製するための別の方法は、マスター機械的用具と接触させながらポリマーの流動性前駆体を硬化させることである。マスター機械的用具と接触させながらポリマーの流動性前駆体を硬化させることは、成形法の一形態である。流動性前駆体の例としては、純(neat)モノマー、モノマーの混合物、除去可能な溶媒を含み得るモノマー又はポリマーの溶液、並びに非架橋ポリマーが挙げられる。一般には、硬化したポリマーの前駆体を、マスター機械的用具の上又は型の中に成型した後、硬化することができる(米国特許第4,576,850号)。硬化とは、通常は化学反応を通じて、高い弾性率を発生させることを指す。硬化して弾性率を発生させることとしては、加熱、触媒の添加、反応開始剤の添加、又は紫外線、可視光、赤外線、X線、若しくは電子ビームへの曝露を挙げることができる。ポリマーは、硬化した時点で、マスター用具又は型との接触から外して固体として取り出すことができる。成形に好適なポリマーの例としては、ポリアクリレート、ポリイミド、エポキシ、シリコーン、ポリウレタン、及びある種のポリカーボネートが挙げられる。成形によって構造化ポリマーフィルムを形成するのに特に有用で、ロールツーロール(roll-to-roll)加工に好適なポリマーとしては、ポリアクリレート及びポリメタクリレートが挙げられる。これらポリマーのうちいくつか、特にポリアクリレートは、パターニングされた伝導体を担持する特定のディスプレイ用途及びセンサー用途(例えば、EMIシールドフィルム)にそれらを上手く適合させる光学特性も有している。
機械的用具を用いてミクロ構造又はレリーフパターンをポリマーフィルム基材の表面上に作り出すための別の例示的な方法には、スクライビングによるものが挙げられる。「スクライビング」とは、そうしないと非構造化である表面にスタイラスを適用して、スタイラスを表面に押圧するか又は平行移動させて、表面ミクロ構造を作り出すことを指す。スタイラスチップは、例えば、金属、セラミック、又はポリマーなどの任意の材料から作製することができる。スタイラスチップには、ダイアモンド、アルミニウム酸化物、又は炭化タングステンが含まれていてもよい。スタイラスチップにはまた、コーティング、例えば、窒化チタンなどの耐磨耗性コーティングが含まれていてもよい。
構造化ポリマーフィルム基材は、ロールツーロール装置で加工するのに十分な機械的特性(例えば、強度及び可撓性)を有する好適なポリマー材料から調製することができる。かかるポリマーの例としては、熱可塑性ポリマーが挙げられる。有用な熱可塑性ポリマーの例としては、ポリオレフィン、ポリアクリレート、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエステル、及びビフェノール系又はナフタレン系の液晶ポリマーが挙げられる。有用な熱可塑性樹脂の更なる例としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリ(メチルメタクリレート)、ビスフェノールAのポリカーボネート、ポリ(塩化ビニル)、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、及びポリ(フッ化ビニリデン)が挙げられる。これらポリマーのうちいくつか、特にポリカーボネート及びポリエステルは、パターニングされた伝導体を担持する特定のディスプレイ用途及びセンサー用途(例えば、EMIシールドフィルム)にそれらを特に上手く適合させる光学特性(例えば、透明性)も有している。これらポリマーのうち他のもの、特にポリイミド及び液晶ポリマーは、パターニングされた伝導体を担持する特定の電気回路用途(例えば、電子的構成要素の支持や相互接続)にそれらを特に上手く適合させる熱的特性及び電気特性を有している。
図1A〜1Gは、ポリマーフィルム基材105上で第1物質110をパターニングする例示的な方法の概略図である。ポリマー基材105は、機械的用具120で複製(100)されて、凹部領域108と、隣接する隆起領域106と、を含むレリーフパターンの付いた主要表面104を有する構造化ポリマー基材111を形成する。機械的用具120は、ポリマー基材105の主要表面104に(下向きの矢印で表されるようにして)適用することができる。機械的用具120は、ポリマー基材105の主要表面104の中に広がる凹部領域108を形成する。凹部領域108は、凹部表面107で画定される深さ及び幅を有する。いくつかの実施形態では、凹部領域108は、0.1〜10マイクロメートルの範囲の深さと、0.25〜50マイクロメートルの範囲の幅とを有する、概ね平行なチャネルであり、隣接する平行な凹部領域108間の距離は、100マイクロメートル〜1センチメートルの範囲である。
ポリマーフィルム基材105は、上記のような、有用ないかなるポリマー材料からも形成することができる。多くの実施形態では、ポリマー基材105は、(図3に示す)ロールツーロール装置で利用可能な可撓性のポリマーフィルムである。いくつかの実施形態では、ポリマー基材105は、(図3に示す)ロールツーロール装置で利用可能な、可撓性で所望により透明なポリマーフィルムである。
第1物質110を、ポリマー基材105の隆起領域106と凹部領域108とを含む主要表面104に堆積することで、コーティングされたポリマー基材112が形成される。多くの実施形態では、第1物質110は、上記のような金属層である。
機能化材料の層131は、隆起領域106上に選択的に形成(113)されて、機能化された隆起領域106と機能化されていない凹部領域108とを形成する。機能化材料の層131は、エラストマーであり得る、形状のないプレート130を用いて、隆起領域106に適用することができる。形状のないプレート130は、機能化材料131を、形状のないプレート130が隆起領域106と接触しているその隆起領域106に転写する。形状のないプレート130は、機能化材料131を凹部領域108に転写しない。というのも、形状のないプレート130は凹部表面107と接触しないためである。このように、ポリマー基材105のレリーフパターンは、機能化材料131が選択的に転写される領域を決定する。多くの実施形態では、機能化材料は、上記のような自己組織化単層131である。
選択的に機能化されたポリマー基材114を、次に、物質110を機能化されていない凹部領域108から選択的にエッチングする液状エッチング溶液160に曝露(115)して、第1物質のパターニングされたポリマー基材116を形成する。一実施形態では、第1物質110は金を含む。多くの実施形態では、選択的なエッチング工程の後で機能化材料の層131のうち少なくとも一部を取り除くことができる。
図2A〜2Fは、ポリマーフィルム基材200上で物質210をパターニングする別の例示的な方法の概略図である。例示的なポリマー基材200には2つ以上のポリマー層が含まれており、第1ポリマー層204はベース層であり、その第1層204の上には第2層205が配置されている。第1ポリマー層204及び第2ポリマー層205は、同じ又は異なるポリマー材料から形成することができる。いくつかの実施形態では、第1ポリマー層204は、ポリエチレンテレフタレート又はポリエチレンナフタレートなどのポリエステルから形成され、第2ポリマー層205は、ポリアクリレートから形成されている。多くの実施形態では、第1ポリマー層204及び第2ポリマー層205はフィルム又はウェブを形成している。多くの実施形態では、ポリマー基材200は、(図3に示す)ロールツーロール装置で利用可能な、可撓性で所望により透明なポリマーフィルムである。
ポリマー基材200は、主要表面203から突出している1つ以上の隆起領域208を含むレリーフパターンの付いた主要表面203を有しており、1つ以上の凹部領域206は隆起領域208と隣接している。隆起領域208は、本明細書で説明する複製方法のうちいずれかで形成することができる。隆起領域208は、隆起領域表面207で画定されている。隆起領域208は、隆起領域表面207で画定される高さ及び幅を有する。いくつかの実施形態では、隆起領域208は、0.1〜10マイクロメートルの範囲の高さと、0.25マイクロメートル〜2ミリメートルの範囲の幅とを有する、概ね平行な隆起部であって、隣接する平行な隆起領域208間の距離は、0.25マイクロメートル〜1センチメートルの範囲である。
第1物質210を凹部領域206と隆起領域208とに堆積することで、コーティングされたポリマーフィルム基材211が形成される。多くの実施形態では、第1物質210は、上記のような金属層である。
機能化材料の層231は、隆起領域208上に選択的に形成(212)されて、機能化された隆起領域表面207と機能化されていない凹部領域206とを形成する。機能化材料の層231は、エラストマーであり得る、形状のないプレート230を用いて、隆起領域208に適用することができる。形状のないプレート230は、機能化材料231を、形状のないプレート230が隆起領域208と接触するその隆起領域208に転写する。形状のないプレート230は、機能化材料231を凹部領域206には転写しない。というのも、形状のないプレート230は凹部領域206と接触しないためである。このように、ポリマーフィルム基材のレリーフ構造は、機能化材料231が選択的に転写される領域を決定する。多くの実施形態では、機能化材料は、上記のような自己組織化単層231である。
選択的に機能化されたポリマー基材213を次に、物質210を機能化されていない凹部領域106から選択的にエッチングする液状エッチング溶液260に曝露して、第1物質のパターニングされたポリマー基材215を形成する。一実施形態では、第1物質110は金を含む。多くの実施形態では、選択的なエッチング工程の後で、機能化材料の層231のうち少なくとも一部を取り除くことができる。
図3は、例示的なロールツーロール装置300の概略図である。例示されるロールツーロール装置300には、投入ロール310と、巻取りロール320と、ポリマーフィルム311とが含まれている。図1及び図2で例示した方法は、ポリマーフィルム311上の箱330で実施することができる。パターニングされたポリマー基材又はフィルム312は、図示するように、巻取りロールに巻き取られて、要求に応じて更に加工することが可能である。
ポリマー基材上でパターニングされた第1物質は、基材表面上で、ある領域の形及びある領域の大きさ、並びに厚さを有すると説明することができる。パターニングされた第1物質の領域の形状は、基材上で規則正しい又は反復する幾何学的配置、例えば、パターニングされた第1物質の多角形の配列、又は多角形の配列を含む不連続なエッチングされた領域の境界を画定する、パターニングされた第1物質のトレースのパターンを示すことができる。他の実施形態では、パターニングされた第1物質の形は、基材上で無作為な配置、例えば、エッチングされた領域のための不規則な形の境界を画定する、無作為な網目状のトレースを示してもよい。更に別の実施形態では、パターニングされた第1物質の形は、規則的でない、反復しない、又は無作為ではない配置であるが、対称的又は反復する幾何学的要素を含むか又はそれらを有さない特定のデザインである配置を示す場合もある。一実施形態では、光透過性のEMIシールド材料を作製するのに有用な、パターニングされた第1物質に関する形は、正方形グリッドであって、幅と厚さとピッチとで特徴付けられるパターニングされた第1物質のトレースを含むものである。光透過性のEMIシールド材料を作製するのに有用な他の形としては、正六角形の形状をもつ空き領域を画定し、かつぎっしり詰まった状態で配置された、連続的な金属トレースが挙げられる。正方形グリッド形状の連続的な金属トレースを作製するために、ポリマーフィルム基材に有用なレリーフパターンとしては、凹んだ正方形領域の正方形配列(グリッドと平行に配向したもの)が挙げられる。六角形の網目状の連続的な金属トレースを作製するために、ポリマーフィルム基材に有用なレリーフパターンとしては、凹んだ六角形領域の六角形配列(縁部は網目トレース方向と平行に配向されている)が挙げられる。まとめると、堆積した伝導体のEMIシールドパターンを作製する場合、幾つかの有用なレリーフパターンは、近接する隆起領域でそれぞれが囲まれた不連続な凹部領域の配列を含んでいる。
金属ワイヤグリッド偏光器構造物(例えば、可視光用)を作製するためには、その幅と間隔が、偏光が望まれる光の波長よりも小さいか、又は偏光が望まれる光の波長の三分の一未満であるか、又は偏光が望まれる光の波長の十分の一未満である、平行な隆起部の配列を含むレリーフパターンが有用である。多くの実施形態では、隆起部の高さは、幅の四分の一〜幅の10倍の範囲である。
幾つかの実施形態では、パターニングされた第1物質の形に関する最小領域寸法、例えば、パターニングされた第1物質の直線トレースの幅は、100ナノメートル〜1ミリメートル、又は500ナノメートル〜50マイクロメートル、又は1マイクロメートル〜25マイクロメートル、又は1マイクロメートル〜15マイクロメートル、又は0.5〜10マイクロメートルの範囲であることができる。光透過性EMIシールド材料を作製するための一つの例示的な実施形態では、パターニングされた第1物質の直線トレースの幅は、5マイクロメートル〜15マイクロメートル、又は0.5〜10マイクロメートルの範囲であり、厚さは、0.5〜10マイクロメートル、又は1マイクロメートル〜5マイクロメートルの範囲であり、ピッチは、25マイクロメートル〜1ミリメートル、又は100〜500マイクロメートルの範囲である。上記のパターニングされた第1物質の形に関する最大領域寸法、例えば、パターニングされた第1物質の直線トレースの長さは、1マイクロメートル〜5メートル、又は10マイクロメートル〜1メートルまでの範囲であることができる。光透過性EMIシールド材料である、EMIシールド材料のシートを作製する場合、パターニングされた第1物質の直線トレースの長さは、例えば、1センチメートル〜1メートルの範囲であることができる。
本発明は、本明細書に記載した特定の実施例に限定されるとみなされるべきではなく、むしろ、特許請求の範囲に明記するような本発明の全ての態様を網羅するものと理解されるべきである。本明細書を検討すると、本発明が対象とする当業者には、様々な修正や等価の方法だけでなく、本発明を適用できる多数の構造も容易に明らかとなるであろう。
別段の注記のない限り、化学試薬及び溶媒は、ウィスコンシン州ミルウォーキー(Milwaukee)のアルドリッチ・ケミカル社(Aldrich Chemical Co.)から入手したか又は入手可能なものである。
実施例1
基材の調製
透明なポリカーボネートの250マイクロメートル厚のフィルム(コネチカット州フェアフィールド(Fairfield)のゼネラル・エレクトリック社(GE Plastics division)のGEプラスチックス事業部(General Electric Company)(マサチューセッツ州ピッツフィールド(Pittsfield))から商標名レキサン(Lexan)として入手可能)を、隆起した正方形で補完した凹部グリッドラインのレリーフパターンを用いて加熱エンボス加工に付した。エンボス加工用具は、直径10センチメートルの溶融石英の円形プレートから、光リソグラフィーと反応性イオンエッチング法とを用いて製造した。この用具は、幅が10マイクロメートル及び高さが約10マイクロメートルの隆起部であって、正方形グリッドのラインを200マイクロメートルピッチで画定する隆起部を含んでいた。エンボス加工は、モデル・オートM(Model AUTO M)積層プレス機(インディアナ州ウォバッシュ(Wabash)のカーバー社(Carver, Inc.)から入手可能)を用いて、エンボス加工用具をポリカーボネートフィルムに対して176℃で15分間10,000ニュートンの力で押圧することによって実施した。エンボス加工したフィルムには、幅が10マイクロメートル及び深さが約10マイクロメートルのチャネルであって、正方形グリッドのラインを200マイクロメートルピッチで画定するチャネルが含まれていた。エンボス加工した時点で、ポリカーボネートフィルムは、15オングストロームのチタン層を蒸着することによって先ず金属化して連結層を形成し、次いで加熱蒸発装置(ペンシルバニア州ピッバーグ(Pittsburgh)のカート・J・レスカー社(Kurt J. Lesker Co.)から入手可能)を用いて600オングストロームの金層を形成した。
エラストマープレートの調製
ポリジメチルシロキサン(PDMS、ミシガン州ミッドランド(Midland)のダウ・コーニング社(Dow Corning Corporation)製のシルガード(Sylgard)(登録商標)184)の本質的に形状のないプレート2枚をシリコン単結晶に向けて投じた。プレートを飽和させるために、一方のプレートを、成型した平坦な面を大気に曝露しながら、5ミリモル濃度のオクタデカンチオールのエタノール溶液に2日間部分的に沈めた。続いて、二枚目のプレートを一枚目のプレートと手で接触させて、一枚目のプレートの上に30分間配置することで、二枚目のプレートのインク面を作製した。
次にポリカーボネートフィルムの金属化されて構造化された表面を、二枚目のプレートのインク面と手で接触させて配置することで、オクタデカンチオールの自己組織化単層(SAM)をポリカーボネートフィルムの隆起領域に転写し、10マイクロメートル幅の溝(又はチャネル)は機能化されない(SAM無し)ままにした。
エッチング
SAM印刷された基材(機能化されていない10マイクロメートル幅の溝を有するもの)は、その後、液状エッチング液に15分間沈めることで、構造化された基材の凹部領域から金を取り除くことができる。金用の液状エッチング液は、例えば、0.02モル濃度の硝酸第二鉄と0.03モル濃度のチオ尿素との水溶液であり得る。
得られた基材は、その主要表面に金をパターン形態で有する可撓性の構造化された基材であり、そのパターンの形状は、構造化された基材の、金を有さない凹部領域で画定される。

Claims (20)

  1. ポリマー基材上で第1物質をパターニングする方法であって、前記方法が、
    凹部領域と、隣接する隆起領域と、を含むレリーフパターンの付いた主要表面を有する、ポリマーフィルム基材を提供する工程と、
    前記ポリマーフィルム基材の前記主要表面上に第1物質を堆積させて、コーティングされたポリマーフィルム基材を形成する工程と、
    前記コーティングされたポリマーフィルム基材の前記隆起領域の上に機能化材料の層を選択的に形成して、機能化された隆起領域と機能化されていない凹部領域とを形成する工程と、
    前記ポリマー基材の機能化されていない凹部領域から前記第1物質を選択的にエッチングして、第1物質のパターニングされたポリマー基材を形成する工程と、を含む、方法。
  2. 前記ポリマーフィルム基材を機械的用具を用いて成型又はエンボス加工することによって、レリーフパターンの付いた前記主要表面を形成することを更に含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記提供工程が、透明なポリマーフィルム基材を提供することを含む、請求項1に記載の方法。
  4. 前記提供工程が、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエステル、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、及び液晶ポリマーの群より選択されるポリマーを含むポリマーフィルム基材を提供することを含む、請求項1に記載の方法。
  5. 前記形成工程が、自己組織化単層を前記隆起領域の上に選択的に形成することを含み、前記自己組織化単層が、有機硫黄化合物、シラン、ホスホン酸、ベンゾトリアゾール、及びカルボン酸からなる群より選択される化学種を含む、請求項1に記載の方法。
  6. 前記エッチング工程の後で前記機能化材料を前記隆起領域から取り除くことを更に含む、請求項1に記載の方法。
  7. 第1物質を堆積する工程が、金属を前記ポリマーフィルム基材上に堆積することを含む、請求項1に記載の方法。
  8. 前記形成工程が、前記機能化材料を、前記コーティングされたポリマーフィルム基材の前記隆起領域の上にエラストマープレートを用いて選択的に適用することを含む、請求項1に記載の方法。
  9. 前記形成工程が、前記コーティングされたポリマーフィルム基材の前記隆起領域の上に前記機能化材料を、形状の無いエラストマープレートを用いて選択的に適用することを含む、請求項1に記載の方法。
  10. ポリマーフィルム基材上で第1物質をパターニングする前記方法が、ロールツーロール加工装置を用いて実施される、請求項1に記載の方法。
  11. 第1物質を堆積する工程が、金、銀、パラジウム、白金、ロジウム、銅、ニッケル、鉄、インジウム、スズ、並びにそれらの混合物、合金、又は化合物からなる群より選択される金属を10〜30000オングストローム堆積させることを含む、請求項1に記載の方法。
  12. 前記提供工程が、近接する隆起領域でそれぞれが囲まれた不連続な凹部領域の配列を含むレリーフパターンの付いた主要表面を有するポリマーフィルム基材を提供することを含む、請求項1に記載の方法。
  13. 前記提供工程が、近接する凹部領域で互いに単離された直線トレースの形状で複数の隆起領域を含むレリーフパターンの付いた主要表面を有するポリマーフィルム基材を提供することを含む、請求項1に記載の方法。
  14. 前記提供工程が、近接する凹部領域で互いに単離された直線トレースの形状で複数の隆起領域を含むレリーフパターンの付いた主要表面を有するポリマーフィルム基材を提供することを含み、前記隆起領域が、0.1〜10マイクロメートルの範囲の高さと0.25マイクロメートル〜2ミリメートルまでの範囲の幅とを有する、請求項13に記載の方法。
  15. 前記提供工程が、概ね平行な隣接する隆起領域間の距離が0.25マイクロメートル〜1センチメートルの範囲である、概ね平行な直線トレースの形状の複数の隆起領域を含むレリーフパターンの付いた主要表面を有するポリマーフィルム基材を提供することを含む、請求項13に記載の方法。
  16. ポリマーフィルムを含む物品であって、
    前記ポリマーフィルムが、隆起領域と、隣接する凹部領域と、を含むレリーフ構造の付いた主要表面を有し、
    前記隆起領域が第1物質で選択的にコーティングされており、前記第1物質が機能化分子を担持している、物品。
  17. 前記機能化分子が自己組織化単層の形状である、請求項16に記載の物品。
  18. 前記ポリマーフィルムが、厚さ5マイクロメートル〜1000マイクロメートルであり、ポリイミド、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアクリレート、ポリ(メチルメタクリレート)、ビスフェノールAのポリカーボネート、ポリ(塩化ビニル)、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ(フッ化ビニリデン)、ポリメタクリレート、及び液晶ポリマーの群より選択されるポリマーを含む、請求項16に記載の物品。
  19. 前記ポリマーフィルムが透明である、請求項16に記載の物品。
  20. 前記第1物質が、金、銀、パラジウム、白金、ロジウム、銅、ニッケル、鉄、インジウム、スズ、並びにそれらの混合物、合金、又は化合物からなる群より選択される金属を含む、請求項16に記載の物品。
JP2009533464A 2006-10-18 2007-10-15 ポリマー基材上で物質をパターニングする方法 Expired - Fee Related JP5437808B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/550,542 2006-10-18
US11/550,542 US8764996B2 (en) 2006-10-18 2006-10-18 Methods of patterning a material on polymeric substrates
PCT/US2007/081390 WO2008048928A2 (en) 2006-10-18 2007-10-15 Methods of patterning a material on polymeric substrates

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010507261A true JP2010507261A (ja) 2010-03-04
JP2010507261A5 JP2010507261A5 (ja) 2010-11-25
JP5437808B2 JP5437808B2 (ja) 2014-03-12

Family

ID=39166986

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009533464A Expired - Fee Related JP5437808B2 (ja) 2006-10-18 2007-10-15 ポリマー基材上で物質をパターニングする方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8764996B2 (ja)
EP (1) EP2082629A2 (ja)
JP (1) JP5437808B2 (ja)
CN (1) CN101530010A (ja)
WO (1) WO2008048928A2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011007875A (ja) * 2009-06-23 2011-01-13 Asahi Kasei E-Materials Corp ワイヤグリッド偏光板
JP2014094467A (ja) * 2012-11-08 2014-05-22 Mitsubishi Plastics Inc 透明導電膜基材用ポリエステルフィルムおよび透明導電フィルム
KR20160063368A (ko) * 2013-09-30 2016-06-03 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 캄파니 패턴화된 나노와이어 투명 전도체 상의 인쇄된 전도성 패턴을 위한 보호 코팅

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4109117B2 (ja) * 2001-03-01 2008-07-02 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 表面層および接着フィルムがカバーされて成る固体
US9164037B2 (en) * 2007-01-26 2015-10-20 Palo Alto Research Center Incorporated Method and system for evaluation of signals received from spatially modulated excitation and emission to accurately determine particle positions and distances
US8821799B2 (en) * 2007-01-26 2014-09-02 Palo Alto Research Center Incorporated Method and system implementing spatially modulated excitation or emission for particle characterization with enhanced sensitivity
US8222518B2 (en) * 2007-03-29 2012-07-17 Kelly Thomas L Photovoltaic roofing panel
US7879390B2 (en) * 2007-05-30 2011-02-01 Palo Alto Research Center Incorporated Surface energy control methods for color filter printing
JP2010532096A (ja) * 2007-06-28 2010-09-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー ゲート構造体を形成する方法
US8629981B2 (en) 2008-02-01 2014-01-14 Palo Alto Research Center Incorporated Analyzers with time variation based on color-coded spatial modulation
US8373860B2 (en) 2008-02-01 2013-02-12 Palo Alto Research Center Incorporated Transmitting/reflecting emanating light with time variation
JP2011517355A (ja) 2008-02-28 2011-06-02 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 低可視性導電体を有するタッチスクリーンセンサ
EP2863295B1 (en) 2008-02-28 2019-10-16 3M Innovative Properties Company Touch screen sensor having varying sheet resistance
US8284332B2 (en) * 2008-08-01 2012-10-09 3M Innovative Properties Company Touch screen sensor with low visibility conductors
JP2011513846A (ja) 2008-02-28 2011-04-28 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー タッチスクリーンセンサ
US8425792B2 (en) * 2008-02-28 2013-04-23 3M Innovative Properties Company Methods of patterning a conductor on a substrate
US8580344B2 (en) * 2008-03-17 2013-11-12 Intermolecular, Inc. Stamp usage to enhance surface layer functionalization and selectivity
EP2370401B1 (en) * 2008-12-11 2018-01-24 3M Innovative Properties Company Amide-linked perfluoropolyether thiol compounds and processes for their preparation and use
JP5464574B2 (ja) * 2009-03-31 2014-04-09 日本写真印刷株式会社 透明導電性シートとその製造方法、加飾成形品
BR112012000203B1 (pt) * 2009-06-12 2020-01-28 Lord Corp método para proteção de um substrato contra relâmpagos
CN102803562B (zh) 2009-06-25 2015-09-30 3M创新有限公司 湿式蚀刻自组装单层图案化基材和金属图案化制品的方法
EP2449547B1 (en) 2009-06-30 2016-09-21 3M Innovative Properties Company Electronic displays and metal micropatterned substrates having a graphic
EP2273324A1 (fr) * 2009-07-06 2011-01-12 ETA SA Manufacture Horlogère Suisse Procédé de fabrication d'une pièce en relief décorée
KR101197776B1 (ko) * 2010-12-27 2012-11-06 엘지이노텍 주식회사 와이어그리드편광자의 제조방법
KR101757241B1 (ko) 2010-12-29 2017-07-26 엘지디스플레이 주식회사 나노 와이어 그리드 편광판 및 그 제조방법과 이를 포함하는 액정표시장치
KR101771138B1 (ko) * 2011-05-13 2017-08-25 삼성전자주식회사 와이어 그리드 편광자, 상기 와이어 그리드 편광자의 제조 방법 및 상기 와이어 그리드 편광자를 포함하는 디스플레이 패널
US9029800B2 (en) 2011-08-09 2015-05-12 Palo Alto Research Center Incorporated Compact analyzer with spatial modulation and multiple intensity modulated excitation sources
US8723140B2 (en) 2011-08-09 2014-05-13 Palo Alto Research Center Incorporated Particle analyzer with spatial modulation and long lifetime bioprobes
CN102627856B (zh) * 2012-04-01 2015-01-07 云南云天化股份有限公司 高剥离强度柔性电路板的聚酰亚胺薄膜、制备方法及其电路板
JP5224203B1 (ja) 2012-07-11 2013-07-03 大日本印刷株式会社 タッチパネルセンサ、タッチパネル装置および表示装置
KR102042822B1 (ko) * 2012-09-24 2019-11-08 한국전자통신연구원 전자회로 및 그 제조방법
US9167700B2 (en) * 2013-03-05 2015-10-20 Eastman Kodak Company Micro-channel connection method
US20140338191A1 (en) * 2013-05-15 2014-11-20 Uni-Pixel Displays, Inc. Method of manufacturing an integrated touch sensor with decorative color graphics
KR20150009846A (ko) * 2013-07-17 2015-01-27 삼성디스플레이 주식회사 터치 스크린 패널 및 그 제조 방법
AU2014364898B2 (en) * 2013-12-19 2018-07-26 Illumina, Inc. Substrates comprising nano-patterning surfaces and methods of preparing thereof
JP2019197423A (ja) * 2018-05-10 2019-11-14 シャープ株式会社 基板の製造方法及び表示装置の製造方法
CN112300627B (zh) * 2019-07-26 2022-05-31 北京梦之墨科技有限公司 一种疏金属材料的应用
KR20210030145A (ko) * 2019-09-09 2021-03-17 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린을 갖는 표시장치
CN114515516B (zh) * 2022-01-27 2023-07-07 南京工业大学 一种高通量波纹状pdms纳米纤维复合膜及其制备方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63285995A (ja) * 1987-05-19 1988-11-22 Sankyo Kasei Kk 回路基板の製法
JPH0476985A (ja) * 1990-07-18 1992-03-11 Cmk Corp プリント配線板の製造法
JP2000174486A (ja) * 1998-12-04 2000-06-23 Sumitomo Rubber Ind Ltd 透光性電磁波シールドフィルムおよび透光性電磁波シールドパネルの製造方法
JP2002294469A (ja) * 2001-03-26 2002-10-09 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Sam基板の選択的エッチング方法
JP2004146536A (ja) * 2002-10-23 2004-05-20 Mitsui Chemicals Inc ディスプレイ用フィルタ
JP2004241761A (ja) * 2003-01-16 2004-08-26 Dainippon Printing Co Ltd 電磁波遮蔽用シート、及びその製造方法
JP2006060171A (ja) * 2004-08-24 2006-03-02 Toppan Printing Co Ltd 黒化処理装置
WO2006061741A2 (en) * 2004-12-06 2006-06-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Etchant solutions and additives therefor
JP2006261322A (ja) * 2005-03-16 2006-09-28 Jsr Corp 電磁波シールドフィルムおよびその製造方法

Family Cites Families (67)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2963748A (en) 1957-05-27 1960-12-13 Young Lawrence John Printed circuits
US3075280A (en) 1959-10-19 1963-01-29 Bell Telephone Labor Inc Method of making printed wiring assemblies
US3620933A (en) 1969-12-31 1971-11-16 Macdermid Inc Forming plastic parts having surfaces receptive to adherent coatings
US3800020A (en) 1972-03-23 1974-03-26 Cramer P Co Method of making a circuit board
CH591570A5 (ja) 1972-11-28 1977-09-30 Buser Ag Maschf Fritz
US3952152A (en) 1974-10-29 1976-04-20 Teletype Corporation CRT shield
US4179797A (en) 1978-03-23 1979-12-25 Xerox Corporation Method of making a resistor array
FR2430847A1 (fr) 1978-07-13 1980-02-08 Saint Gobain Vitrage chauffant et/ou d'alarme
US4576850A (en) 1978-07-20 1986-03-18 Minnesota Mining And Manufacturing Company Shaped plastic articles having replicated microstructure surfaces
US4381421A (en) 1980-07-01 1983-04-26 Tektronix, Inc. Electromagnetic shield for electronic equipment
US4412255A (en) 1981-02-23 1983-10-25 Optical Coating Laboratory, Inc. Transparent electromagnetic shield and method of manufacturing
US4510347A (en) 1982-12-06 1985-04-09 Fine Particles Technology Corporation Formation of narrow conductive paths on a substrate
US5094811A (en) 1983-09-21 1992-03-10 Allied-Signal Method of making a printed circuit board
US5061438A (en) 1983-09-21 1991-10-29 Allied-Signal Inc. Method of making a printed circuit board
US4775611A (en) 1983-11-10 1988-10-04 Sullivan Donald F Additive printed circuit boards with flat surface and indented primary wiring conductors
AU570309B2 (en) 1984-03-26 1988-03-10 Unisearch Limited Buried contact solar cell
US4552615A (en) 1984-05-21 1985-11-12 International Business Machines Corporation Process for forming a high density metallurgy system on a substrate and structure thereof
US4614837A (en) 1985-04-03 1986-09-30 Allied Corporation Method for placing electrically conductive paths on a substrate
CA1293918C (en) * 1987-01-26 1992-01-07 Donald E. Beckett Element for microwave heating
US4869930A (en) 1987-07-10 1989-09-26 International Business Machines Corporation Method for preparing substrates for deposition of metal seed from an organometallic vapor for subsequent electroless metallization
DE3832299A1 (de) 1988-09-20 1990-03-22 Schering Ag Verfahren zur herstellung eines 3-d-leiterformkoerpers mit einem tiefergelegten leiterbahnlavout
US5462624A (en) 1992-12-22 1995-10-31 Vlsi Technology, Inc. Embedded inter-connect frame
US5399879A (en) 1993-02-05 1995-03-21 National Research Council Of Canada Long wavelength IR photo-induced switching of a resonant tunnelling diode using the intersubband transition
US6180239B1 (en) 1993-10-04 2001-01-30 President And Fellows Of Harvard College Microcontact printing on surfaces and derivative articles
US5512131A (en) 1993-10-04 1996-04-30 President And Fellows Of Harvard College Formation of microstamped patterns on surfaces and derivative articles
US6776094B1 (en) 1993-10-04 2004-08-17 President & Fellows Of Harvard College Kit For Microcontact Printing
US5900160A (en) 1993-10-04 1999-05-04 President And Fellows Of Harvard College Methods of etching articles via microcontact printing
US5595943A (en) 1994-06-30 1997-01-21 Hitachi, Ltd. Method for formation of conductor using electroless plating
US6518168B1 (en) * 1995-08-18 2003-02-11 President And Fellows Of Harvard College Self-assembled monolayer directed patterning of surfaces
US6060121A (en) 1996-03-15 2000-05-09 President And Fellows Of Harvard College Microcontact printing of catalytic colloids
JPH1075038A (ja) 1996-06-28 1998-03-17 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板とその製造方法
US6048623A (en) * 1996-12-18 2000-04-11 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Method of contact printing on gold coated films
US5932150A (en) 1997-08-25 1999-08-03 Holo-Source Corporation Replication of diffraction images in oriented films
US6788463B2 (en) 1998-01-13 2004-09-07 3M Innovative Properties Company Post-formable multilayer optical films and methods of forming
JP2000223886A (ja) 1999-01-28 2000-08-11 Nisshinbo Ind Inc 透視性電磁波シールド材及びその製造方法
US6121150A (en) 1999-04-22 2000-09-19 Advanced Micro Devices, Inc. Sputter-resistant hardmask for damascene trench/via formation
TW539763B (en) 1999-06-18 2003-07-01 Ibm Method for printing a catalyst on substrates for electroless deposition
JP3503546B2 (ja) 1999-11-01 2004-03-08 信越化学工業株式会社 金属パターンの形成方法
JP4013021B2 (ja) 1999-12-17 2007-11-28 松下電工株式会社 透視性電磁波シールド材及びその製造方法
JP2001335952A (ja) 2000-05-31 2001-12-07 Rikogaku Shinkokai 無電解めっき方法、並びに、配線装置およびその製造方法
US6442316B1 (en) * 2000-12-21 2002-08-27 Alcatel Stress sensor based on periodically inserted color-changing tactile films to detect mishandling of fiber optic cables
US6599824B1 (en) 2001-02-26 2003-07-29 Advanced Micro Devices, Inc. System for and method of forming local interconnect using microcontact printing
JP5222453B2 (ja) 2001-05-23 2013-06-26 プラスティック ロジック リミテッド デバイスのパターニング
US6737170B2 (en) 2001-09-06 2004-05-18 Toray Plastics (America), Inc. Coated film with exceptional embossing characteristics and method for producing it
GB2381274A (en) 2001-10-29 2003-04-30 Qinetiq Ltd High resolution patterning method
AU2002348870A1 (en) 2001-12-06 2003-06-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method for defining a source and a drain and a gap inbetween
US6828581B2 (en) 2002-02-26 2004-12-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Selective electroless attachment of contacts to electrochemically-active molecules
US6875475B2 (en) 2002-04-01 2005-04-05 William Marsh Rice University Methods for producing submicron metal line and island arrays
US6911385B1 (en) 2002-08-22 2005-06-28 Kovio, Inc. Interface layer for the fabrication of electronic devices
US6764885B2 (en) 2002-10-17 2004-07-20 Avery Dennison Corporation Method of fabricating transistor device
GB0229191D0 (en) 2002-12-14 2003-01-22 Plastic Logic Ltd Embossing of polymer devices
US7144608B2 (en) 2003-01-24 2006-12-05 Nitto Denko Corporation Color correcting polarizer
US7001658B2 (en) 2003-04-28 2006-02-21 Eastman Kodak Company Heat selective electrically conductive polymer sheet
JP2005032894A (ja) 2003-07-10 2005-02-03 Hitachi Cable Ltd 半導体装置用テープキャリア
GB0326904D0 (en) * 2003-11-19 2003-12-24 Koninkl Philips Electronics Nv Formation of self-assembled monolayers
KR100590727B1 (ko) * 2004-02-24 2006-06-19 한국기계연구원 임프린트된 나노구조물을 이용한 미세접촉 인쇄기법과이의 나노 구조물
KR100581221B1 (ko) 2004-06-30 2006-05-22 삼성전자주식회사 테이프 배선 기판 제조 방법
US6932150B1 (en) * 2004-09-10 2005-08-23 Industrial Technology Research Institute Heat-dissipation device
US7160583B2 (en) 2004-12-03 2007-01-09 3M Innovative Properties Company Microfabrication using patterned topography and self-assembled monolayers
US7585424B2 (en) * 2005-01-18 2009-09-08 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Pattern reversal process for self aligned imprint lithography and device
GB2427509A (en) * 2005-06-21 2006-12-27 Seiko Epson Corp Organic electronic device fabrication by micro-embossing
US7871670B2 (en) * 2005-08-10 2011-01-18 3M Innovative Properties Company Microfabrication using replicated patterned topography and self-assembled monolayers
US8109612B2 (en) 2005-08-29 2012-02-07 Fujifilm Corporation Wiring substrate, method of manufacturing wiring substrate, and liquid droplet ejection head
WO2008091279A2 (en) * 2006-06-28 2008-07-31 Northwestern University Etching and hole arrays
US20080095988A1 (en) * 2006-10-18 2008-04-24 3M Innovative Properties Company Methods of patterning a deposit metal on a polymeric substrate
US7968804B2 (en) * 2006-12-20 2011-06-28 3M Innovative Properties Company Methods of patterning a deposit metal on a substrate
KR101468960B1 (ko) * 2008-07-16 2014-12-04 삼성전자주식회사 리소그래피 마스크 제조방법 및 이를 이용한 미세패턴형성방법

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63285995A (ja) * 1987-05-19 1988-11-22 Sankyo Kasei Kk 回路基板の製法
JPH0476985A (ja) * 1990-07-18 1992-03-11 Cmk Corp プリント配線板の製造法
JP2000174486A (ja) * 1998-12-04 2000-06-23 Sumitomo Rubber Ind Ltd 透光性電磁波シールドフィルムおよび透光性電磁波シールドパネルの製造方法
JP2002294469A (ja) * 2001-03-26 2002-10-09 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Sam基板の選択的エッチング方法
JP2004146536A (ja) * 2002-10-23 2004-05-20 Mitsui Chemicals Inc ディスプレイ用フィルタ
JP2004241761A (ja) * 2003-01-16 2004-08-26 Dainippon Printing Co Ltd 電磁波遮蔽用シート、及びその製造方法
JP2006060171A (ja) * 2004-08-24 2006-03-02 Toppan Printing Co Ltd 黒化処理装置
WO2006061741A2 (en) * 2004-12-06 2006-06-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Etchant solutions and additives therefor
JP2006261322A (ja) * 2005-03-16 2006-09-28 Jsr Corp 電磁波シールドフィルムおよびその製造方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011007875A (ja) * 2009-06-23 2011-01-13 Asahi Kasei E-Materials Corp ワイヤグリッド偏光板
JP2014094467A (ja) * 2012-11-08 2014-05-22 Mitsubishi Plastics Inc 透明導電膜基材用ポリエステルフィルムおよび透明導電フィルム
KR20160063368A (ko) * 2013-09-30 2016-06-03 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 캄파니 패턴화된 나노와이어 투명 전도체 상의 인쇄된 전도성 패턴을 위한 보호 코팅
JP2016535433A (ja) * 2013-09-30 2016-11-10 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー パターン化されたナノワイヤ透明導電体上の印刷された導電性パターンのための保護用コーティイグ
KR102264357B1 (ko) * 2013-09-30 2021-06-15 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 캄파니 패턴화된 나노와이어 투명 전도체 상의 인쇄된 전도성 패턴을 위한 보호 코팅

Also Published As

Publication number Publication date
US8764996B2 (en) 2014-07-01
CN101530010A (zh) 2009-09-09
US20080095985A1 (en) 2008-04-24
EP2082629A2 (en) 2009-07-29
WO2008048928A3 (en) 2008-07-24
JP5437808B2 (ja) 2014-03-12
WO2008048928A2 (en) 2008-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5437808B2 (ja) ポリマー基材上で物質をパターニングする方法
US20100203248A1 (en) Methods of patterning a deposit metal on a polymeric substrate
JP5932872B2 (ja) 基材上で付着金属をパターン化する方法
JP6321716B2 (ja) 基材上に導電体をパターン化する方法
EP1825021B1 (en) Microfabrication using patterned topography and self-assembled monolayers
EP2620523B1 (en) Method of forming a microstructure
US9058084B2 (en) Hybrid single-side touch screen
KR20130122776A (ko) 패턴화된 연성의 투명 전도성 시트 및 이의 제조 방법
EP2298046A1 (en) Providing a plastic substrate with a metallic pattern
TW201132256A (en) Formation of electrically conductive pattern by surface energy modification
KR20060135310A (ko) 소프트 몰드를 이용한 미세 패턴 형성방법
KR100957487B1 (ko) 플라스틱 전극필름 제조방법
Sneck et al. Reverse-offset printing of polymer resist ink for micrometer-level patterning of metal and metal-oxide layers
Cai et al. Highly-facile template-based selective electroless metallization of micro-and nanopatterns for plastic electronics and plasmonics
KR101856231B1 (ko) 나노패턴을 구비한 투명기판 및 그 제조방법
CN107835974B (zh) 包括通孔的电子设备以及形成此类电子设备的方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101004

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101004

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120426

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120508

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120807

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120814

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130326

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130625

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131112

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131212

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5437808

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees