DE3832299A1 - Verfahren zur herstellung eines 3-d-leiterformkoerpers mit einem tiefergelegten leiterbahnlavout - Google Patents
Verfahren zur herstellung eines 3-d-leiterformkoerpers mit einem tiefergelegten leiterbahnlavoutInfo
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Description
Die Erindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Leiterzugnetzwerken auf
nichtleitenden dreidimensional gestalteten Substraten.
Es ist allgemein bekannt, daß der überwältigende Anteil der gefertigten ge
druckten Schaltungen in der Elektronikindustrie aus gepreßten planaren Duro
plasten wie Phenolharz-Hartpapier und Hartpapier- oder glasfasergefüllten Epo
xiden besteht. Polyester- und Polyimidfolien für flexible gedruckte Schaltungen
sind ebenfalls durch das planare Layout im gestreckten Zustand gekennzeichnet.
Hochtemperaturstabile Thermoplaste finden in letzter Zeit Akzeptanz bei den
Leiterplattenherstellern und -abnehmern. Solche Thermoplaste können aufgrund
ihrer mechanischen, thermischen und elektrischen Eigenschaften vom chemischen
Aufbau her Polytetrafluorethylene, Polyamide, Polyethylen- und Polybutylen
terephthalate, Polyarylsulfone, Polyethersulfone, Polyetherimide, Polyphenyl
sulfide, Polyetheretherketone oder aromatische flüssig-kristalline Polyester
sein.
All diese Thermoplaste können im Extrusionsverfahren als planare Platten ähn
licher Konstruktion wie die fest etablierten Epoxidsubstrate vom Typ FR 4 ge
fertigt werden.
Der verfahrenstechnische Vorteil der spritzgegossenen thermoplastischen Kunst
stoffe als Substratmaterial für die Elektronikindustrie liegt jedoch in der
freien Gestaltung der technisch sinnvollen Form. .
Diese nun Leiterformkörper genannten Gebilde weisen eine dreidimensionale in
den Raumkoordinaten beliebig konstruierbare Gestaltung auf, auf deren Oberflä
che und in Form von Löchern im Inneren des Körpers die Leiterbahnzüge dem
Design des Körpers folgen.
Es ist bekannt, daß die Oberfläche der Leiterformkörper nun aufgrund ihrer Ge
staltung verschiedenartig kompliziert zu strukturieren ist, um das Leiterbahn
layout zu erstellen. So können alle dem Stand der Technik entsprechenden
Strukturierungsverfahren aus der FR-4-Leiterplattentechnologie auf thermopla
stische Leiterformkörper angewandt werden, die planare Leiterbahnflächen auf
der Körperoberfläche aufweisen.
Solche Leiterformkörper können extruierte planare thermoplastische Leiterplat
ten sein, aber auch komplexe dreidimensionale Körper mit einer planaren Sei
tenfläche.
Komplex dreidimensional spritzgegossene Leiterformkörper mit freigestalteten,
der Oberfläche folgendem Leiterbahnlayout sind mit der oben erwähnten Struktu
rierungstechnologie nicht zu verwirklichen. Hier muß noch ein technologisch
effektives Verfahren entwickelt werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die zur Verfügungstellung eines Verfah
rens, welches die Strukturierung planarer Schaltlayoutflächen auch auf komplex
geformten Formköpern elegant ermöglicht.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren gemäß dem kennzeichnen
den Teil des Patentanspruchs gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind den Kennzeichnungsteilen der Unter
ansprüche zu entnehmen.
Die räumliche Gestaltung der planaren Seitenfläche einer Leiterplatte oder
eines komplexen 3-D-Bauteils wird so ausgeführt, daß die Leiterbahnen und die
Lötaugen sowie SMD-Plätze vertieft angebracht werden. Das Dielektrikum bildet
das Hochplateau der planaren Seitenfläche. Die Talsohle der Kanäle bildet die
Grundfläche des späteren Leiterzuges. Selbstverständlich können zum Beispiel
auch duromere Epoxidleiterplatten mit eingefrästem Leiterbahnlayout verwendet
werden.
Der Leiterformkörper mit der in dieser Art und Weise gestalteten und dem Stand
der Technik entsprechenden Ausführung wird nun ganzflächig metallisiert. Dies
kann in der bekannten naßchemischen Verfahrensart (chemische und elektrolyti
sche Metallabscheidung) in Additiv- oder Semiadditiv-Technik, im Photoforming-
Verfahren oder mit Hilfe physikalischer Verfahren wie Vakuumverdampfen, Katho
denzerstäubung, Ionenplattieren, Elektronenstrahlbeschichtung sowie des CVD-
Verfahrens durchgeführt werden. Vorzugsweise wird als Metall hierfür Kupfer
verwendet. Die von der Industrie akzeptierte Schichtdicke des Leiterbahnzuges
liegt um 35 µm.
Die Aufagebe wird erfindungsgemäß gelöst, wenn nun ein Flüssigresist oder ein
funktionell ähnliches Dielektrikum als Lack oder Staub auf die planare Seiten
fläche mit dem tiefergelegten Leiterbahnlayout zum Beispiel aufgegossen wird.
Das Dielektrikum kann selbstverständlich auch durch folgende Techniken wie
Tauchen der Formkörper in eine Lösung des Dielektrikums, durch Bedrucken der
Layoutoberfläche mittels Siebdruck oder Tampondruck, durch elektrophoretische
Abscheidung auf die Gesamtoberfläche oder aber durch elektrostatische Abschei
dung des Dielektrikums auf die Gesamtoberfläche aufgebracht werden. Mit Hilfe
eines Rakels wird der Lack nun über die gesamte planare Fläche mit geringem
Preßdruck verteilt. Auf dem Plateau wird somit eine 2-15 µm dicke Lackschicht
(je nach der eingestellten Viskosität des Lackes) aufgetragen. Der Vorteil
dieser Technik, die den Lack oder Staub mittels eines Rakels verteilt, ist die
vorteilhaft Schichtdickenverteilung auf dem Plateau (wenig) und den Kanälen
(viel).
In der tiefergelegten Leitfähigkeitsstruktur steht der Lack nun entsprechend
der Kanaltiefe. Vorzugsweise beträgt die optimale Schichttiefe der Kanäle,
Lötaugen und SMD-Fächen 250-350 µm. Es empfiehlt sich die im Leiterformkörper
konstruierten Löcher an dem gegenüberliegenden Ende der planaren Seitenfläche
durch eine Konterplatte oder -wanne zu verschließen. Der so behandelte Leiter
formkörper mit planarer Seitenfläche wird zwecks Aushärtung des Lackes getem
pert oder mit Energie bestrahlt.
Nach diesen Arbeitsschritten wird die planare Seitenfläche des Leiterformkör
pers, die ja eine Auflage von 35 mm Kupfer zuzüglich der dünnen Lackschicht
aufweist, einer handelsüblichen Bürstmaschine ausgesetzt. Durch den Bürstvor
gang wird die Lackschicht entfernt und gegebenenfalls ein wenig des Kupfer
aufbaus entfernt. In der tierfergelegten Leiterstruktur bleibt die Lackschicht
erhalten. Selbstverständlich können auch andere Abtragstechniken wie zum Bei
spiel Schleifen oder Polieren eingesetzt werden. Das durch den Bürstvorgang
freigelegte Kupfer des Hochplateaus der planaren Seitenfläche wird jetzt in
einem herkömmlichen chemischen Ätzangriff weggelöst. Der Leiterformkörper wird
somit auf der Oberfläche von der Metallhülle befreit mit Ausnahme der im Inne
ren des Körpers befindlichen Löcher und der tiefergelegten Leiterbahnzüge.
Der wesentliche Vorteil dieser Technik gegenüber einer bekannten Technik, die
keinen Lack verwendet und das Hochplateau-Kupfer komplett abschleift (US-PS
45 32 152), liegt darin, daß das weiche Metall-Kupfer nicht in die Oberfläche
des thermoplastischen Substrates eingebürstet wird und somit als Verursacher
von Kurzschlüssen fungieren kann. Auch das gemäß der bekannten Technik erfor
derliche Metallisieren mittels Flammspritzen zeigt häufig Fehlstellen in der
Lochmetallisierung, welche zu Durchkontaktierungsfehlern führen kann.
Das Aufbringen des Isolierlackes auf die Schaltlayoutflächen mit Hilfe einer
Gießapparatur und eines Rakels, welches Gegenstand der vorliegenden Erfindung
ist, weist den Vorteil einer einfachen und preisgünstigen Technik gegenüber der
Rollercoatertechnik des US-Patents 45 32 152 auf. In der vorliegenden Erfindung
kann somit jeder Isolierlack oder -staub zur Anwendung kommen, wohingegen beim
Rollercoaterverfahren nur bestimmte Isolierlacke mit besonderen thixotropen Ei
genschaften Verwendung finden.
In einem letzten Arbeitsschritt wird der Lack in dem tiefergelegten Leiterbahn
layout aufgelöst. Der Leiterformkörper besteht nun an der Oberfläche aus dem
Thermoplast, in dem das Leiterbahnlayout als Reinkupferschaltung tiefgelegt
ist.
Das erfindungsgemäße Verfahren findet Verwendung zur Herstellung von 3-D-Lei
terformkörpern in der Elektrotechnik und Elektronik und wird von uns als
"Fließbettechnik" bezeichnet.
Für die oben beschriebene Technik genügt die Verwendung von zum Beispiel nicht
lichtempfindlichen Siebdrucklacken. Zur Herstellung von Kupferschaltungen mit
verzinnbleiten Lötaugen oder Chippads kann zum Beispiel ein lichtempfindlicher
Photoresistlack eingesetzt werden. Dieser Lack wird entsprechend der oben be
schriebenen Technik auf die ganzflächig verkupferten Leiterformkörper aufge
bracht.
Unter Verwendung von strukturierten Photofilmen oder starren Abdeckschablonen
können nun die Stellen im Photolack, die später Lötaugen oder Chippads werden
sollen, mit Hilfe von UV- und VIS-Lichtquellen belichtet und durch handelsübli
che Entwickler freigelegt werden. Selbstverständlich eignet sich zum Belichten
auch ein Laser.
Die nun nicht mit Lack belegten Stellen auf der Oberfläche des Leiterformkör
pers werden nun in handelsüblichen Zinn-Bleibädern zu einer dem Stand der Tech
nik entsprechenden Schichtdicke aufgebaut. Hach dem Abtrag der dünnen Lack
schicht auf dem Hochplateau der planaren Layoutfläche und dem Wegätzen des
Hochplateau-Kupfers wird der Resistlack abgelöst. Der so gefertigte Leiterform
körper weist Kupferschaltungen auf mit verzinnbleiten Lötstellen. Wahlweise
kann auch das gesamte Schaltlayout mit einer Zinn-Blei-Schicht und/oder Nickel-
sowie Goldsschichten, den elektronischen Anforderungen entsprechend, versehen
werden.
Wenn die Geometrie des Leiterformkörpers es erlaubt (zum Beispiel planare
Platten) kann anstelle des lichtempfindlichen Flüssigresists gleich ein licht
empfindllicher Lötstopplack eingesetzt werden. Auch bei komplex gestalteten
3-D-Formkörpern mit planaren Layoutseitenflächen kann direkt der lichtempfind
liche Lötstopplack verwendet werden, wenn zum Beispiel die Geometrie des
3-D-Formkörpers so gewählt wird, daß der Lötstopplack beim Auftragen auf die
Layoutseitenfläche nicht auf die restliche Oberfläche des Leiterformkörpers
laufen kann. Der Lötstopplack braucht somit nicht gestrippt werden und ver
bleibt in den Leiterbahnkanälen.
Die nachfolgenden Beispiele dienen der Erläuterung der Erfindung.
Eine spritzgegossene Polyetherimid-Platte weist auf der Oberfläche tiefergeleg
te Leiterbahnkanäle zum Beispiel entsprechend dem Design einer IPC-Testschal
tung auf. Die Breite des Leiterbahnkanals beträgt 500 m, der Abstand von der
Leiterbahngrundfläche bis zum planaren Hochplateau beträgt 350 m. Die Platte
weist zusätzlich spritzgegossene Löcher mit einem Durchmesser von 1,1 mm auf.
Die Rückseite der Platte ist planar und weist keine Vertiefungen auf.
Die Platte wird nun ganzflächig mit einem haftfesten Kupferüberzug von 35 µm
Schichtdicke versehen. Hierzu wird die Oberfläche des Polyetherimid-Formkörpers
mit Hilfe eines organischen Lösungsmittels angequollen, mit Chrom-Schwefelsäure
geätzt, mit Natriumbisulfit das sechswertige Chrom reduziert und anschließend
wird die Platte in eine Lösung getaucht, die einen zum Beispiel wasserlöslichen
Palladium(II)-Komplex enthält. Der auf der Oberfläche anhaftende Pd(II)-Komplex
wird mit Hilfe von Natriumborhydrid zum Pd-Metall reduziert.
Die mit Pd-Keimen versehene Polyetherimidoberfläche wird in einem chemischen
Kupferbad ganzflächig verkupfert, getempert und abschließend in einem elektro
lytischen sauren Kupferbad auf 35 µm Schichtdicke verstärkt.
Die so behandelte Probe wird nun auf der Oberfläche der Seite mit den tieferge
legten Leiterbahnzügen mit dem Flüssigresist AZ 119 V der Firma Kalle-Hoechst
versehen.
Mit Hilfe eines Rakels wird der Lack über die planare Fläche abgestreift. Die
Kanäle und Löcher sind nun alle mit Lack aufgefüllt. Der Lack wird in einem
Ofen ausgehärtet. Danach wird die Polyetherimid-Platte mit Hilfe einer Bürst
maschine auf dem Hochplateau der zu strukturierenden Seite vom Flüssigresist
befreit. Die Rückseite der Platte, die keine Vertiefungen aufweist, wird eben
falls dem Bürstvorgang unterzogen, um den Lack um die Kontaktierungslöcher
herum zu entfernen. Das so freigelegte Kupfer wird in Ammoniumperoxidisulfat
weggeätzt.
Anschließend wird der Lack in Aceton aufgelöst und somit die Oberfläche voll
ständig vom Flüssigresist befreit. Die Leiterbahnkanäle und Löcher weisen nun
eine funktionsfähige 35 µm dicke Kupferauflage auf.
Eine im Handel erhältliche glasfaserverstärkte Epoxidplatte ohne Kupferkaschie
rung der FR-4-Spezifikation entsprechend mit einer Dicke von 1,6 mm wird ent
sprechend dem Schaltungslayout gebohrt. Der Durchmesser der Bohrlöcher beträgt
1,0 mm. Die beiden planaren Oberflächen der Glasfaser-Epoxidplatte werden jetzt
dem Schaltdesign entsprechend und die Bohrlöcher verbindenden unter Verwendung
einer Fräsmaschine mit 350 m tiefen und 1,0 mm breiten Kanälen versehen.
Die so konstruierte Glasfaser-Epoxidplatte wird nach dem Arbeitsablauf einer
Leiterplattenfertigung für FR-4-Schaltungen behandelt.
Die Prozeßschritte umfassen:
Smear-removal (Quellen, Oxidation mit KMnO4 und Reduktion des Mangan (VII));
Reinigen/Konditionieren (alkalischer netzmittelhaltiger Reiniger);
Aktivieren/Reduzieren (Pd(II)-Komplex, Reduktion mit NaBH4):
Chemisch Kupfer (alkalisches formalinhaltiges Bad) und
Elektrolytisch Kupfer (schwefelsaures Bad, Schichtdicke bis 35 µm).
Smear-removal (Quellen, Oxidation mit KMnO4 und Reduktion des Mangan (VII));
Reinigen/Konditionieren (alkalischer netzmittelhaltiger Reiniger);
Aktivieren/Reduzieren (Pd(II)-Komplex, Reduktion mit NaBH4):
Chemisch Kupfer (alkalisches formalinhaltiges Bad) und
Elektrolytisch Kupfer (schwefelsaures Bad, Schichtdicke bis 35 µm).
Zwischen den einzelnen Arbeitsschritten wird mit Wasser gespült. Die in dieser
Art und Weise gefertigte ganzflächig verkupferte Glasfaser-Epoxidplatte wird
nun auf beiden Seiten mit einem im Handel erhältlichen photosensiblen Lötstopp
lack versehen. Die aufgetragene Lackmenge wird Seite für Seite mit einem Rakel
unter geringem Preßdruck verteilt und die Platte im Umlufttrockenschrank getem
pert.
Nach Auflegen eines Lotstoppfilmes wird die Plattenoberfläche belichtet (die
Belichtungszeit ist aufgrund der Schichtdicke der Lackschicht etwas länger als
bei der Standard-FR-4-Prozeßtechnik) und anschließend alkalisch wäßrig ent
wickelt. Die Lötstellen der Platte liegen jetzt als Kupferoberfläche vertieft
auf beiden Seiten der Platte vor.
Diese Lötstellen werden in einem sauren handelsüblichen Zinn-Blei-Bad mit 12 µm
Schichtdicke aufgebaut. Abschließend wird das Hochplateau der Platte durch
einen Bürstprozeß von der dünnen Lötstopplackschicht entfernt. Die tiefergeleg
ten Leiterbahnzüge sind in den Kanälen entweder durch das aufgebrachte Zinn-
Blei oder den nicht abgetragenen Lötstopplack geschützt. Das freigelegte
Kupfer wird abschließend auf dem Hochplateau weggeätzt.
Die so erhaltene Glasfaser-Epoxidplatte weist Lötstopplack-geschützte Kupfer
leiterbahnen mit verzinnbleiten Lötaugen auf dem Hochplateau eine Epoxidober
fläche auf.
Claims (25)
1. Verfahren zur Herstellung von Leiterzugnetzwerken auf nichtleitenden drei
dimensional gestalteten Substraten, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) die leitfähige Struktur des Formkörpers tiefergelegt wird als die Ebene des Dielektrikums der gebrauchsfertigen Schaltung,
- b) der so gestaltete Formkörper ganzflächig in üblicherweise metallisiert wird,
- c) ein Isolierlack oder -staub aufgebracht wird, der die Vertiefungen des Lei terzugnetzwerkes als Fließbett für seine Ausbreitung und Isolieraufgabe be nutzt,
- d) der Isolierlack oder -staub nach dem Aushärten von den erhöhten planaren Plateaus des Formkörpers, die nicht die Funktion als Leiterzugnetzwerk er füllen sollen, von der verkupferten Substratoberfläche abgetragen wird,
- e) der Isolierlack oder -staub in den tiefergelegten Leiterzugnetzwerken und Kontaktierungslöchern bestehen bleibt,
- f) das Leiterzugnetzwerk durch Auflösen der Kupferflächen, die nicht durch den Isolierlack oder -staub geschützt sind, in Ätzlösungen hergestellt wird.
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die nichtleitenden
Substrate spritzgegossene und extruierte Thermoplaste sowie durch Preßver
fahren hergestellt Duromere sein können.
3. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefungen des
nichtleitenden Substrates im Falle des thermoplastischen Kunststoffes
mittels Spritzgußtechnik und bei extruierten oder gepreßten Thermoplasten
beziehungsweise Duromeren durch Abtrag des Nichtleitersubstrates am Ort der
Bestimmung stattfindet.
4. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefungen des
Schaltungslayouts auf einer oder mehreren planaren Seitenflächen des drei
dimensional gestalteten Formkörpers sind.
5. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die gleit- oder
fließfähigen Lacke oder Stäube Nichtleiter sind.
6. Verfahren gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierlacke
lichtunempfindlich oder lichtsensibel sein können.
7. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die gleit- oder
fließfähigen Lacke durch mechanische Tätigkeiten in den Vertiefungen aufkon
zentriert werden.
8. Verfahren gemäß Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Lack oder Staub
mit einem mechanisch bedienbaren Rakel oder einem Schütteltisch in die Ver
tiefungen befördert wird.
9. Verfahren gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefungen
eine Höhe von 10 bis 2000 m und eine Breite je nach Anforderung aufweist,
wobei die optimale Höhe der Vertiefung 150-350 µm beträgt.
10. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das nichtleitende
Substrat vor dem Aufbringen des Lackes ganzflächig metallisiert wird.
11. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die nichtleitenden
Substrate mit einem organischen Lösungsmittel behandelt werden, welches
löslich ist in Wasser, Alkoholen oder Ethern.
12. Verfahren gemäß Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das organische
Lösungsmittel gleichzeitig ein Ouellmittel für den Kunststoff ist.
13. Verfahren gemäß Ansprüchen 11 und 12, dadurch gekennzeichnet, daß als Lö
sungsmittel und/oder Quellmittel Alkylsulfoxide, Dialkylsulfoxide, Dialkyl
carbonate, Dialkylacetamide, N,N-Dialkylformamide, Pyrrolidone, Alkohole
und/oder Ether verwendet werden.
14. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kunststoffe
nach erfolgter Vorbehandlung mittels eines Ätzbades. vorzugsweise eines
Bades enthaltend ein saures oder alkalisches Oxidationsmittel, aufgerauht
werden.
15. Verfahren gemäß Anspruch 14, gekennzeichnet durch die Verwendung eines
schwefelsauren Chrom-VI-oxid enthaltenden Ätzbades.
16. Verfahren gemäß Anspruch 14. gekennzeichnet durch die Verwendung eines
alkalischen KMnO4 enthaltenden Ätzbades.
17. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kunststoffe
nach erfolgter Vorbehandlung, gegebenenfalls nach anschließender Aufrauhung
in an sich bekannter Weise aktiviert und chemisch metallisiert werden.
18. Verfahren gemäß Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Aktivierung
mittels einer Lösung enthaltend kolloidales oder ionogenes Palladium
erfolgt, welches in an sich bekannter Weise vom Schutzkolloid befreit oder
zum nullwertigen Metall reduziert wird.
19. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die chemische Me
tallisierung mittels eines Kupfer-, Silber-, Gold-, Zinn-, Kobalt und/oder
Nickelbades erfolgt.
20. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Kunststoffe
Thermoplaste auf Basis der Polyamide, Polyethylen- Polybutylentherephtha
late, Polytetrafluorethylen, (Polyarylsulfone, Polyethersulfone, Polyether
imide, Polyphenylensulfide, Polyetherketone oder aromatische flüssig-kri
stalline Polyester verwendet werden.
21. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Kunststoffe
Duromere auf Basis Phenolharz, Melaminharz, Epoxidharz und Polyimide ver
wendet werden.
22. Verfahren gemäß Anspruch 20 und 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Kunst
stoffe zusätzlich mit Hartpapier, Glasfasern oder Mineralien gefüllt sein
können.
23. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennnzeichnet, daß die Kunststoffe
als Folie, als Spritzteil, als extrudierte Platte oder als Formteil vorlie
gen.
24. Verfahren gemäß Ansprüchen 1 bis 23 zur Herstellung von Leiterplatten be
ziehungsweise Leiterformkörpern.
25. Leiterplatten beziehungsweise Leiterformkörper hergestellt nach Verfahren
gemäß Ansprüchen 1 bis 23.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19883832299 DE3832299A1 (de) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | Verfahren zur herstellung eines 3-d-leiterformkoerpers mit einem tiefergelegten leiterbahnlavout |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19883832299 DE3832299A1 (de) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | Verfahren zur herstellung eines 3-d-leiterformkoerpers mit einem tiefergelegten leiterbahnlavout |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3832299A1 true DE3832299A1 (de) | 1990-03-22 |
Family
ID=6363530
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19883832299 Withdrawn DE3832299A1 (de) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | Verfahren zur herstellung eines 3-d-leiterformkoerpers mit einem tiefergelegten leiterbahnlavout |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3832299A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1988
- 1988-09-20 DE DE19883832299 patent/DE3832299A1/de not_active Withdrawn
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