JP2010246108A - 伝達特性測定装置、伝達特性測定方法、および、電子デバイス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被試験回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定装置であって、予め定められた周波数のキャリア信号に予め定められた周波数とは異なる周波数の加算信号を加算した試験信号を生成して、被試験回路に入力する試験信号入力部と、被試験回路が出力する出力信号を測定した結果に基づいて、加算信号の周波数における被試験回路の伝達特性を測定する伝達特性測定部とを備える伝達特性測定装置を提供する。被試験回路は、半導体チップに形成されてもよい。被試験回路は、半導体チップに入力される信号を補正して出力し、半導体チップには、被試験回路の出力信号を、キャリア信号の周波数でサンプリングするサンプリング回路が更に形成されてもよい。
【選択図】図1
Description
Claims (13)
- 被試験回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定装置であって、
予め定められた周波数のキャリア信号に前記予め定められた周波数とは異なる周波数の加算信号を加算した試験信号を生成して、前記被試験回路に入力する試験信号入力部と、
前記被試験回路が出力する出力信号を測定した結果に基づいて、前記加算信号の周波数における前記被試験回路の伝達特性を測定する伝達特性測定部と
を備える伝達特性測定装置。 - 前記被試験回路は、半導体チップに形成され、前記半導体チップに入力される信号を補正して出力し、
前記半導体チップには、前記被試験回路の前記出力信号を、前記キャリア信号の周波数でサンプリングするサンプリング回路が更に形成され、
前記試験信号入力部は、前記半導体チップに前記試験信号を入力し、
前記伝達特性測定部は、前記サンプリング回路におけるサンプリング結果に基づいて、前記加算信号の周波数における前記被試験回路の伝達特性を測定する
請求項1に記載の伝達特性測定装置。 - 前記試験信号入力部は、前記加算信号の振幅を順次変化させ、
前記伝達特性測定部は、
前記サンプリング結果が期待値と一致するか否かを判定するビット誤り判定部と、
前記ビット誤り判定部における判定結果、および、前記加算信号の振幅に基づいて、前記被試験回路のゲイン特性を算出するゲイン算出部と
を有する請求項2に記載の伝達特性測定装置。 - 前記試験信号入力部は、前記被試験回路に、前記試験信号のビットが予め定められた回数入力される毎に前記加算信号の振幅を増加させ、
前記ゲイン算出部は、前記ビット誤り判定部においてビット誤り率が予め定められた値となる前記加算信号の振幅に基づいて、前記被試験回路のゲイン特性を算出する
請求項3に記載の伝達特性測定装置。 - 前記ゲイン算出部は、前記キャリア信号の振幅と、前記ビット誤り判定部においてビット誤りが生じ始める前記加算信号の振幅との比に基づいて、前記キャリア信号の周波数における前記被試験回路のゲイン特性を基準とした、前記加算信号の周波数における前記被試験回路のゲイン特性を算出する
請求項4に記載の伝達特性測定装置。 - 前記試験信号入力部は、前記加算信号の周波数を順次変化させ、
前記伝達特性測定部は、前記加算信号のそれぞれの周波数における前記被試験回路の伝達特性を測定する
請求項2から5のいずれか一項に記載の伝達特性測定装置。 - 前記試験信号入力部は、前記加算信号の位相を順次変化させ、
前記伝達特性測定部は、
前記サンプリング結果が期待値と一致するか否かを判定するビット誤り判定部と、
前記ビット誤り判定部における判定結果、および、前記加算信号の位相に基づいて、前記被試験回路の位相特性を算出する位相算出部と
を有する請求項2から5のいずれか一項に記載の伝達特性測定装置。 - 前記試験信号入力部は、
前記被試験回路を介さずに前記試験信号を前記サンプリング回路に入力した場合に前記サンプリング回路におけるサンプリング結果においてビット誤りが生じるように、前記キャリア信号および前記加算信号の間の相対位相を予め調整する初期位相設定部と、
前記キャリア信号および前記加算信号の間の相対位相を、前記初期位相設定部が設定した値から順次変化させる位相制御部と、
を有し、
前記位相算出部は、前記被試験回路に前記試験信号を入力した場合の前記サンプリング回路におけるサンプリング結果にビット誤りが生じたときの、前記位相制御部が変化させた位相量に基づいて、前記被試験回路の位相特性を算出する
請求項7に記載の伝達特性測定装置。 - 被試験回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定装置であって、
前記被試験回路の実動作時に与えられるキャリア信号とは異なる周波数の試験信号を、前記被試験回路に入力する試験信号入力部と、
前記被試験回路が出力する出力信号を、前記キャリア信号の周波数に応じてサンプリングした結果に基づいて、前記試験信号の周波数における前記被試験回路の位相特性を測定する伝達特性測定部と
を備える伝達特性測定装置。 - 前記被試験回路は、半導体チップに形成され、前記半導体チップに入力される信号を補正して出力し、
前記半導体チップには、前記被試験回路の前記出力信号を、前記キャリア信号の周波数に応じてサンプリングするサンプリング回路が更に形成され、
前記試験信号入力部は、前記半導体チップに前記試験信号を入力し、
前記伝達特性測定部は、前記サンプリング回路におけるサンプリング結果に基づいて、前記試験信号の周波数における前記被試験回路の伝達特性を測定する
請求項9に記載の伝達特性測定装置。 - 前記試験信号入力部は、
前記被試験回路を介さずに前記試験信号を前記サンプリング回路に入力した場合に前記サンプリング回路におけるサンプリング結果が、予め定められた期待値パターンと一致するように、前記試験信号の位相を予め調整する初期位相設定部と、
前記試験信号の位相を、前記初期位相設定部が設定した値から順次変化させる位相制御部を有し、
前記伝達特性測定部は、前記被試験回路に前記試験信号を入力した場合の前記サンプリング回路におけるサンプリング結果が、予め定められた期待値パターンと一致したときの、前記位相制御部が変化させた位相量に基づいて、前記被試験回路の位相特性を算出する
請求項10に記載の伝達特性測定装置。 - 被試験回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定方法であって、
予め定められた周波数のキャリア信号に前記予め定められた周波数とは異なる周波数の加算信号を加算した試験信号を生成して、前記被試験回路に入力する試験信号入力段階と、
前記被試験回路が出力する出力信号を測定した結果に基づいて、前記加算信号の周波数における前記被試験回路の伝達特性を測定する伝達特性測定段階と
を備える伝達特性測定方法。 - 動作回路と、前記動作回路の入出力間の伝達特性を測定する伝達特性測定回路とを備える電子デバイスであって、
前記伝達特性測定回路は、
予め定められた周波数のキャリア信号に前記予め定められた周波数とは異なる周波数の加算信号を加算した試験信号を生成して、前記動作回路に入力する試験信号入力部と、
前記動作回路が出力する出力信号を測定した結果に基づいて、前記加算信号の周波数における前記動作回路の伝達特性を測定する伝達特性測定部と
を有する電子デバイス。
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